SN∕T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分：能量色散X射线荧光光谱定量筛选法(出入境检验检疫).pdf

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1、中华人民共和国出入境检验检疫行业标准SN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、隶、铭、铺和澳的测定第5部分:能量色散X射线荧光光谱定量筛选法Determination of lead,mercury,chromium,cadmium and bromine in electrical and electronic equipment一Part 5:Quantitative screening by energy dispersive X-ray fluorescence spectrometric method 2006-11-10发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局2007-

2、05-16实施发布中华人民共和国出入境检验检疫行业标准电子电气产品中铅、隶、锚、铺和误的测定第5部分:能量色散X射线荧光光谱定量筛选法SN/T 2003.5-2006 关中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址WWW.spc.口et.c口电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷关开本880X 1230 1/16 印张O.5 字数8千字2007年3月第一版2007年3月第一次印刷印数1-2000 今令书号155066.2-17479定价6.00兀本部分为SN/T2003的第5部分。本部分的附录A为资料性附录。目。吕本部分由国家认证认可

3、监督管理委员会提出并归口。SN/T 2003.5-2006 本部分起草单位:中华人民共和国浙江出入境检验检疫局、中华人民共和国上海出入境检验检疫局O本部分主要起草人:朱晓雨、周敏、阮毅、卫碧文、袁晶、缪俊文O本部分系首次发布的出入境检验检疫行业标准OSN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、隶、铭、铺和漠的测定第5部分:能量色散X射线荧光光谱定量筛选法1 范围本部分规定了用能量色散X射线荧光光谱法定量筛选电子电气产品中铅、录、铝、俑和澳的测定方法O本部分适用于电子电气产品中铅、it、铭、隔和漠的定量筛选。本部分适用的待测元素的浓度范围如表1所示O表1不同基体材料铅、隶、锚、铺和j臭的

4、定量筛选测定范围单位为毫克每千克元素聚合物材料金属制品电子元件Cd 1(70-3)XCl30+3)F 1(70-3)X030十3)FLODX(250+3)F Pb P(700-3)XO 300+3)F P(700-3)XO 300十3)FP(500-3)XO 500十3)FHg P(700-3)XO 300+3)豆豆FP豆豆(700-3)XO300十3)FP豆豆(500-3)XO500十3)豆豆FBr 1(300-3)X l豆豆(250-3)XCr 1(700-3的Xl豆豆(700-3的Xl豆豆(500-3的99.9%04.4 标准物质:含有铅、末、铭、隔和澳这五种元素的有证标准物质或参考标准

5、物质。SN/T 2003.5-2006 5 仪器5.1 能量色散型X射线荧光光谱仪:符合GB/T16597的规定，其中X射线荧光光谱仪的检出限应满足表2规定的要求O表2不同基体材料铅、隶、锚、搞和澳对仪器检出限的要求单位为毫克每千克元素Cd lb Hg Br Cr 5.2 切割机。5.3 液氮冷冻粉碎机。5.4 研磨机。5.5 压片机:压力不小于20to 6 试样的制备6.1 均质样品的制备聚合物材料金属制品电子元件15 30 30 30 60 60 30 60 60 15 30 30 60 30 聚合物类材料和金属制品类材料可用X射线荧光光谱仪直接测定。样品经切割机切割成10 mm40 mm

6、大小，适合放入仪器的样品杯中，表面要求平整光滑。液体试样要加在一特定的以塑料薄膜为底的塑料杯里，高度大于5mm，塑料杯上应有塑料盖盖住，样品送入能量色散型X射线荧光仪测量室之前，测量室应将真空状态转化为充氨保护惰性气体状态O6.2 非均质样品的制备电子元件、集成线路板和其他非均质样品需经冷冻粉碎机粉碎成小于1.0 mm的颗粒，1昆匀，再取一定代表性样品经压片机在一定压力下制成压片试样O对于无法压片的液体同样要加在一特定的以塑料薄膜为底的塑料杯里，高度大于5mmo 7 测量步骤7.1 测量次数同一试样至少做两份平行测定，测定结果按GB/T16597进行处理O7.2 测量条件电子电气产品中铅、末、

7、铭、隔和漠的能量色散X射线荧光光谱仪测量条件参见附录A。7.3 工作曲线的制作和校正按GB/T15000.5选择有证标准物质或参考标准物质来制作工作曲线，这些标准物质应含有铅、录、错、俑和澳五种元素O7.4 测量按照仪器的操作规程开启仪器，并按照仪器厂商的规定预热仪器直至仪器稳定后，选用标准物质先对仪器作漂移校正和工作曲线校正，标准物质的基体应尽可能与样品类似，由制作的工作曲线计算实际样品中铅、末、铭、隔和漠的含量。为了确保不同时间的检测数据都准确可靠，要求每隔20个样或每隔半小时穿插一个校准样品作为测试样对整个测试过程进行监控，如果测定值与校准样品的推荐值偏离太大，即不在标准样品推荐值的95

8、%105%范围内，需对工作曲线重新校正或重新制作工作曲线，然后再对样品进行测试。8 结果处理SN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、录、错、俑和1臭的测定结果以mg/kg表示，按照GB/T8170数值修约规则保留整数。如果定量分析报告所有元素的测试结果都低于表1列出的最低限，样品合格，无需进一步用其他方法验证确认O如果定量分析报告铅、录、隔元素的测试结果都高于表1列出的最高限，样品不合格，无需进一步用其他方法验证确认O如果定量分析报告铅、录、隔元素的测试结果处于表1给出的范围及总锚和总澳高于表1列出的最低限，需要进一步采用其他方法进行验证确认。CON-m.的OONH军SN/T 20

9、03.5-2006 附录(资料性附录)能量色散X射线荧光光谱仪测量参考条件A 电子电气产品中铅、录、铝、铺和澳的能量色散X荧光光谱仪测量参考条件参见表A.L表A.l能量色散型X射线荧光光谱仪测量参考条件元素分析线激发能电压/电流检测器滤光片kcV kV/mA Cd K 23.12 50/Auto Si/Li Mo lb L/L，10.56 50/Auto Si/Li.Ii Hg L 9.98 50/Auto Si/Li.Ii Br K 11.90 50/Auto Si/Li.Ii Cr K 5.42 60/Auto Si/Li None 书号:155066.2-17479定价:6.00元SN/T 2003.5-2006