清华模电课件第一章.ppt
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1、 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.1 半导体器件基础半导体器件基础1.1.1 本征半导体本征半导体一、半导体一、半导体 导体导体 绝缘体绝缘体 半导体:半导体:硅硅(Si)锗锗(Ge)二、本征半导体二、本征半导体 的晶体结构的晶体结构图图1.1.1 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 三、本征半导体中的两种载流子三、本征半导体中的两种载流子载流子:载流子:自由电子自由电子空穴空穴图图1.1.2 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 四、本征半导体中载流子的浓度四、本征半导体中载流子的浓度本征本征激发激发、复合复合、动态、动态平衡平衡ni、pi:自由电子
2、与空穴浓度(自由电子与空穴浓度(););T:热力学温度;热力学温度;k:玻尔兹曼常数(玻尔兹曼常数(););EGO:热力学零度时破坏共价键所需的能量;热力学零度时破坏共价键所需的能量;K1:与半导体材料载流子有效质量、有效能与半导体材料载流子有效质量、有效能 级密度有关的常量。级密度有关的常量。T=300K时,硅、时,硅、锗本征载流子浓度锗本征载流子浓度 分别为分别为 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.1.2 杂质半导体杂质半导体一、一、N型半导体型半导体 纯净硅晶体中掺入纯净硅晶体中掺入五价元素(如磷),使五价元素(如磷),使之取代晶格中硅原子的之取代晶格中硅原子的位置。杂质原子提供电
3、位置。杂质原子提供电子,所以称之为子,所以称之为施主原施主原子子。自由电子浓度大。自由电子浓度大,为为多数载流子多数载流子,空穴为,空穴为少数载流子少数载流子,简称,简称多子多子和和少子少子。图图1.1.3 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 二、二、P型半导体型半导体 纯净硅晶体中掺入纯净硅晶体中掺入三价元素(如硼),使三价元素(如硼),使之取代晶格中硅原子的之取代晶格中硅原子的位置。杂质原子提供空位置。杂质原子提供空穴,所以称之为穴,所以称之为受主原受主原子子。空穴为。空穴为多数载流子多数载流子,自由电子为自由电子为少数载流子少数载流子,简称简称多子多子和和少子少子。图图1.1.4 清华大
4、学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.1.3 PN结结一、一、PN结的形成结的形成图图1.1.5浓度差浓度差扩散扩散运动运动复复 合合空间电荷区空间电荷区内电场内电场漂移漂移运动运动多子扩散多子扩散=少子漂移少子漂移达到达到动态平衡动态平衡,形成,形成PN结结。在空间电荷区内自在空间电荷区内自由电子和空穴都很少,由电子和空穴都很少,所以称为所以称为耗尽层耗尽层。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 二、二、PN结的单向导电性结的单向导电性1、外加正向电压时、外加正向电压时PN结处于导通状态结处于导通状态图图1.1.6 PN结处于结处于正向偏置正向偏置。外电外电场将多数载流子推向空间电场将多数载流子推
5、向空间电荷区,使其变窄,削弱了内荷区,使其变窄,削弱了内电场,破坏了原来的平衡,电场,破坏了原来的平衡,扩散加剧,漂移减弱。电源扩散加剧,漂移减弱。电源作用下,扩散运动源源不断作用下,扩散运动源源不断地进行,从而形成正向电流,地进行,从而形成正向电流,PN结导通。正向导通电压只结导通。正向导通电压只有零点几伏,所以串联电阻有零点几伏,所以串联电阻以限制电流。以限制电流。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 2、外加反向电压时、外加反向电压时PN 处于截止状态处于截止状态 PN结处于结处于反向偏置反向偏置状状态。外电场使空间电荷区态。外电场使空间电荷区变宽,加强了内电场,阻变宽,加强了内电场,阻止
6、扩散运动的进行,加剧止扩散运动的进行,加剧漂移运动的进行,形成反漂移运动的进行,形成反向电流,也称为向电流,也称为漂移电流。漂移电流。因为少子的数目极少,即因为少子的数目极少,即使都参与漂移,反向电流使都参与漂移,反向电流也非常小,认为也非常小,认为PN结处于结处于截止截止状态。状态。图图1.1.7 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 三、三、PN结的电流方程结的电流方程IS:反向饱和电流;反向饱和电流;q:电子的电量;电子的电量;k:玻尔兹曼常数;玻尔兹曼常数;T:热力学温度。热力学温度。;将式中的将式中的kT/q用用UT取代,则得取代,则得 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 u0,正向特
7、性;正向特性;u0,反向特性;反向特性;反向电压大时反向击穿。反向电压大时反向击穿。高掺杂情况,耗尽层很高掺杂情况,耗尽层很 窄,不大的反向电压可产生窄,不大的反向电压可产生 很大的电场,直接破坏很大的电场,直接破坏 共价共价 键,产生电子键,产生电子-空穴对,称为齐纳击穿;掺杂浓度空穴对,称为齐纳击穿;掺杂浓度较低,反向电压较大时,电场使少子加快漂移速较低,反向电压较大时,电场使少子加快漂移速度,把价电子撞出共价键,产生电子度,把价电子撞出共价键,产生电子-空穴对,又空穴对,又撞出价电子,称为雪崩击穿。击穿时要限制电流撞出价电子,称为雪崩击穿。击穿时要限制电流,否则造成永久性损坏。否则造成永
8、久性损坏。四、四、PN结的伏安特性结的伏安特性图图1.1.10 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 五、五、PN结的电容效应结的电容效应1、势垒电容、势垒电容 耗尽层的宽窄随外加电压的变化而变化,这相耗尽层的宽窄随外加电压的变化而变化,这相当于电容的充、放电,其所等效的电容称为当于电容的充、放电,其所等效的电容称为势垒电势垒电容容Cb。如图如图1.1.11所示。所示。图图1.1.11 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 2、扩散电容扩散电容 PN结处于平衡状态时的少子称为结处于平衡状态时的少子称为平衡少子平衡少子。正向偏置时,参加扩散的正向偏置时,参加扩散的P区空穴和区空穴和N区的自由电子区的
9、自由电子均称为均称为非平衡少子非平衡少子。外加正向电压一定时,靠近耗。外加正向电压一定时,靠近耗尽层交界面的地方非平衡少子的浓度高,远离交界尽层交界面的地方非平衡少子的浓度高,远离交界面地方的浓度低。且浓度自高到低逐渐衰减,直到面地方的浓度低。且浓度自高到低逐渐衰减,直到零,形成一定的浓度梯度(浓度差),从而形成扩零,形成一定的浓度梯度(浓度差),从而形成扩散电流。外加正向电压增大时,非平衡少子的浓度散电流。外加正向电压增大时,非平衡少子的浓度增大且浓度梯度也增大,从外部看正向(扩散)电增大且浓度梯度也增大,从外部看正向(扩散)电流增大。当外加正向电压减小时,变化情况相反。流增大。当外加正向电
10、压减小时,变化情况相反。扩散区内,电荷的积累和释放过程与电容的充扩散区内,电荷的积累和释放过程与电容的充放电过程相同,这种电容效应称为放电过程相同,这种电容效应称为扩散电容扩散电容Cd。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 图图1.1.12 PN结的结电容结的结电容Cj是势垒电容是势垒电容Cb和扩散电容和扩散电容Cd之和,即之和,即 Cj=Cb+Cd 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.2 半导体二极管半导体二极管图图1.2.11.2.1 半导体二极管的常见结构半导体二极管的常见结构图图1.2.2(a)是点接触型;是点接触型;(b)是面接触型;是面接触型;(c)是平面型;是平面型;(d)是二
11、极管的符号。是二极管的符号。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.2.2 二极管的伏安特性二极管的伏安特性一、二极管和一、二极管和PN结伏安特性的区别结伏安特性的区别 因存在体电阻和引线电阻,电流相同时二极管因存在体电阻和引线电阻,电流相同时二极管端电压比端电压比PN结压降大。二极管开始导通的临界电结压降大。二极管开始导通的临界电压称为压称为开启电压(开启电压(Uon)。导通后的电压则为工作电。导通后的电压则为工作电压压。图图1.2.3材料开启电压导通电压反相饱和电流硅si0.5V 0.6-0.8V1V的来代替的来代替UCE1V的所有曲线。的所有曲线。二、输出特性曲线二、输出特性曲线 清华大
12、学 王宏宝 清华大学 王宏宝 图图 1.3.6三个工作区域:三个工作区域:1、截止区、截止区ICEO在几十甚至在几十甚至1微安以下,所微安以下,所以可近似认为以可近似认为 iC 0 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 2、放大区、放大区 uBEUon,且且uCE uBE 即发射结处于正向偏置,集电结处于反向偏置。即发射结处于正向偏置,集电结处于反向偏置。iC仅与仅与IB有关,而与有关,而与uCE无关。无关。3、饱和区、饱和区uBEUon,且且 uCE uBE 即发射结和集电结均处于正向偏置。即发射结和集电结均处于正向偏置。uCE=uBE,即即 uCB=0iC不随不随IB变化而变化。变化而变化。
13、当当uBE=uCE时,是临界饱和(临界放大)状态时,是临界饱和(临界放大)状态饱和区的重要标志是饱和区的重要标志是uCE约等于零约等于零.清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 在模拟电路中,绝大多数情况下应保证晶体管在模拟电路中,绝大多数情况下应保证晶体管工作在放大状态。工作在放大状态。状态状态UBEicUCE极电位极电位(NPN)截止截止UBUCUB放大放大=UoniB=UBEUCUB UE饱和饱和=UoniBUCUBUE 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.3.4 1.3.4 晶体管的主要参数晶体管的主要参数 一、直流参数一、直流参数 1、共射直流电流放大系数、共射直流电流放大系数2、共
14、基电流放大系数、共基电流放大系数 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 3、极间反向电流极间反向电流 ICBO、ICEO 硅管的极间反向电流硅管的极间反向电流 比锗管的小比锗管的小23个数量级,个数量级,且其温度稳定性也比锗管的好。且其温度稳定性也比锗管的好。二、交流参数二、交流参数1、共射交流电流放大系数、共射交流电流放大系数 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 2、共基交流电流放大系数、共基交流电流放大系数近似分析可以认为近似分析可以认为3、特征频率、特征频率fT 使使的数值下降到的数值下降到1的信号频率称为特征频率的信号频率称为特征频率fT。三、极限参数三、极限参数1、最大集电极耗散功率、
15、最大集电极耗散功率PCM 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 图图1.3.72、最大集电极电流、最大集电极电流ICM3、极间反向击穿电压极间反向击穿电压 UCBOUCEX UCES UCER UCEO 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.3.5 温度对晶体管特性及参数的影响温度对晶体管特性及参数的影响一、温度对一、温度对ICBO的影响的影响温度每升高温度每升高10oC,ICBO增加约一倍。增加约一倍。二、温度对输入特性的影响二、温度对输入特性的影响图图1.温度每升高温度每升高oC,|UBE|大约下降大约下降.mV。具有负温度系数。具有负温度系数。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 三、温度
16、对输出特性的影响三、温度对输出特性的影响图图1.3.9 温度升高时,温度升高时,晶体管的晶体管的值,值,ICEO值都增大,值都增大,且输入特性左且输入特性左移,所以导致移,所以导致集电极电流增集电极电流增大。如图中虚大。如图中虚线所示。线所示。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.3.6 光电三极管光电三极管图图1.3.10图图1.3.11 基极电流基极电流IB入射光照度入射光照度EE为为1000时,光电流从时,光电流从1mA到几到几mA不等不等 清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 1.4 场效应管场效应管1.4.1结型场效应管结型场效应管 一、结型场效应管一、结型场效应管 的工作原理的工作
17、原理图图1.4.1 一块一块N型半导体上制作两个高掺杂的型半导体上制作两个高掺杂的P区且连接区且连接在一起,形成在一起,形成栅极栅极g,N型半导体两端引出两个电极,型半导体两端引出两个电极,漏极漏极d和和源极源极s。P区与区与N区交界面形成耗尽层区交界面形成耗尽层,漏极与漏极与源极间的非耗尽层区域称为源极间的非耗尽层区域称为导电沟道导电沟道。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 图图1.4.2图图1.4.31、当、当uDS=0时,时,uGS对导电沟道的控制作用对导电沟道的控制作用uGS=0,耗尽层窄,导电沟道很宽;耗尽层窄,导电沟道很宽;|uGS|增大时,耗尽层加宽,沟道变窄,大到增大时,耗尽层
18、加宽,沟道变窄,大到 一定值时,耗尽层闭合,沟道消失,此时的电压一定值时,耗尽层闭合,沟道消失,此时的电压称为称为夹断电压夹断电压UGS(off)。分别如图分别如图1.4.3中的(中的(a)、)、(b)、()、(c)所示。正常工作时,所示。正常工作时,uGS0,则有电流则有电流iD,如图如图1.4.4(a)所示。所示。因为栅因为栅漏电压漏电压uGD=uGS-uDS,所以当所以当uDS从零逐从零逐渐增大时,渐增大时,uGD逐渐减小逐渐减小,靠近漏极一边的沟道变窄,靠近漏极一边的沟道变窄,到到UGD=UGS(off)时称为时称为预夹断预夹断。如图。如图(b)所示。在所示。在预夹断前,预夹断前,iD
19、随随uDS的增大而增大,的增大而增大,D-S间呈间呈电阻电阻特特性。性。预夹断后,若预夹断后,若uDS继续增加,则继续增加,则uGD夹断区加长,夹断区加长,如图如图(c)所示。夹断区加长将使所示。夹断区加长将使iD减小,但减小,但uDS增大增大使电场增强,从而又使使电场增强,从而又使iD增大,所以导致增大,所以导致iD基本不变,基本不变,呈呈恒流恒流特性。特性。清华大学 王宏宝 清华大学 王宏宝 这时这时uGD=uGS-uDS uGS-UGS(off)时,时,当当uDS为一常量为一常量UDS时,对于确定的时,对于确定的uGS就有确定对应就有确定对应的的iD。此时通过此时通过改变改变uGS的大小
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