电子封装材料与工艺.ppt
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1、 电子封装材料与工艺电子封装材料与工艺Electronic Packaging Materials&Technology余琨余琨中南大学中南大学材料科学与工程学院材料科学与工程学院2011References:1.C.A.哈珀哈珀美美主编主编,贾松良等译贾松良等译,电子组装制造电子组装制造,科科学出版社学出版社,北京北京,20042.宣大荣编著宣大荣编著,无铅焊接无铅焊接 微焊接技术分析与工艺设计微焊接技术分析与工艺设计,电子工业出版社电子工业出版社,北京北京,20083.刘汉诚刘汉诚美美著著,冯士维等译冯士维等译,化学工业出版社化学工业出版社,北京北京,2006第第1章章 集成电路芯片的发展
2、和制造集成电路芯片的发展和制造1.1 真空管(电子管)真空管(电子管)是由一个带有电极引线的玻璃或金属泡组成,电极引是由一个带有电极引线的玻璃或金属泡组成,电极引线通过玻璃引出并与模铸在一个塑料管座内的金属管脚线通过玻璃引出并与模铸在一个塑料管座内的金属管脚相连接。相连接。当电子管含有当电子管含有2个电极(阴极和阳极)时,这种电路称个电极(阴极和阳极)时,这种电路称为二极管。为二极管。在阴极和阳极间加入一个栅极(精细的金属丝网),在阴极和阳极间加入一个栅极(精细的金属丝网),控制电子从阴极到金属板(阳极)的流动方法,对电子控制电子从阴极到金属板(阳极)的流动方法,对电子从阴极向阳极流向产生巨大
3、影响。在三电极的情况下可从阴极向阳极流向产生巨大影响。在三电极的情况下可以使用一个真空管整流和放大微弱的无线信号,称为三以使用一个真空管整流和放大微弱的无线信号,称为三极管。极管。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.2 半导体材料半导体材料l 半导体具有完全不同于金属的物理特性。半导体是共半导体具有完全不同于金属的物理特性。半导体是共价的固体。价的固体。l 最重要的半导体材料是周期表最重要的半导体材料是周期表AA族的硅和锗。族的硅和锗。l 两种或两种以上的元素形成共价键可以形成半导体化两种或两种以上的元素形成共价键可以形成半导体化合物,如镓和砷结合成的砷化镓。合物,
4、如镓和砷结合成的砷化镓。l 在在ICIC芯片制造中使用的典型半导体材料:芯片制造中使用的典型半导体材料:硅、锗、硒硅、锗、硒 GaAsGaAs、GaAsPGaAsP、InPInP第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.2 半导体材料半导体材料l Ge是制造第一个晶体管和固态器件的元素半导体,但是制造第一个晶体管和固态器件的元素半导体,但难加工,目前使用少;难加工,目前使用少;l Si是最常用的半导体材料,是最常用的半导体材料,90的芯片由它制造。硅储的芯片由它制造。硅储量丰富且在高温下仍能保持良好的电性能。量丰富且在高温下仍能保持良好的电性能。SiO2也具有也具有IC制
5、造的理想性能;制造的理想性能;l GaAs可工作在较高工作频率,具有低热耗散、耐辐射、可工作在较高工作频率,具有低热耗散、耐辐射、相邻元件之间漏电少,属于高性能用途半导体,但晶体相邻元件之间漏电少,属于高性能用途半导体,但晶体生长和生长和IC制造困难;制造困难;第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.3 集成电路(集成电路(IC)l 一个集成电路芯片是把元器件连在一起的集合体,在一个集成电路芯片是把元器件连在一起的集合体,在一个单片半导体材料上制造出一个完整的电子电路;一个单片半导体材料上制造出一个完整的电子电路;l 第一块第一块IC的构思和建造为的构思和建造为1958
6、年年Texas Instruments 公公司的司的Jack Kilby。将晶体管、二极管、电阻、电容等用。将晶体管、二极管、电阻、电容等用“飞线飞线”互连;互连;1959年年Fairchild 公司的公司的Robert Noyce 将将IC半导体元件在芯片内互连,消除了半导体元件在芯片内互连,消除了“飞线飞线”。l IC的复杂程度从的复杂程度从1960年代的小规模集成(年代的小规模集成(SSI)发展到)发展到中规模集成(中规模集成(MSI)、大规模集成()、大规模集成(LSI)并发展到)并发展到105元元件的超大规模集成(件的超大规模集成(VLSI)。)。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造
7、集成电路芯片的发展和制造1.3 集成电路(集成电路(IC)IC的五个主要用途:的五个主要用途:l 汽车汽车l 高性能产品高性能产品l 高性价比产品高性价比产品l 手提式产品手提式产品l 存储器存储器第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造 硅是使用最多的硅是使用最多的IC制造材料制造材料第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.1 晶体生长和晶圆片的制备晶体生长和晶圆片的制备晶圆片是构成晶圆片是构成IC的半导体衬底。的半导体衬底。l 精炼
8、粗硅(制备化学纯多晶硅精炼粗硅(制备化学纯多晶硅加热到加热到14151415熔化熔化生长单晶硅生长单晶硅切割晶圆片)切割晶圆片)l 晶圆片厚度为晶圆片厚度为0.5mm0.5mm到到0.75mm0.75mm,采用,采用0.152mm0.152mm厚的金刚厚的金刚石涂层的不锈钢刀片。石涂层的不锈钢刀片。l 在在410mm410mm的晶锭上用的晶锭上用0.17mm0.17mm的线锯一次切出所有晶圆片,的线锯一次切出所有晶圆片,采用黄铜涂层的不锈钢丝。采用黄铜涂层的不锈钢丝。l 晶圆片进行镜面光洁度研磨。晶圆片进行镜面光洁度研磨。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成
9、电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.1 晶体生长和晶圆片的制备晶体生长和晶圆片的制备第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.2 氧化氧化在晶圆片上形成在晶圆片上形成SiO2层。层。SiO2是用来构造是用来构造IC 元件电容和元件电容和MOS晶体管的有效介质。晶体管的有效介质。1200 氧气中生长氧气中生长0.2m厚度的厚度的SiO2层需要层需要6min;生长生长0.4 m厚度需要厚度需要220min。影响因素:干燥的氧或氧与水蒸气的混合气体、压力、影响因素:干燥的氧或氧与水蒸气的混合气体、压力、
10、温度、晶体取向、时间温度、晶体取向、时间第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片)芯片的制造的制造1.4.3 光刻光刻是一种图形化工艺,组成是一种图形化工艺,组成IC电路的元件通过光掩模和刻蚀电路的元件通过光掩模和刻蚀转移到晶圆片上。类似照相过转移到晶圆片上。类似照相过程,在玻璃的制成的光刻版上程,在玻璃的制成的光刻版上形成各种半导体层的图形,然形成各种半导体层的图形,然后转移到硅晶圆片表面的光刻后转移到硅晶圆片表面的光刻胶上。胶上。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造
11、)芯片的制造1.4.4 扩散扩散扩散或掺杂是把杂质原子注入纯硅的单晶内,使其转变扩散或掺杂是把杂质原子注入纯硅的单晶内,使其转变成成n-型或型或p-型半导体。型半导体。掺入锑、砷、磷得到掺入锑、砷、磷得到n-型半导体;型半导体;掺入硼得到掺入硼得到p-型半导体;型半导体;第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.5 外延外延把一个薄层的硅(厚度约把一个薄层的硅(厚度约25 m)沉积在原来的硅表面)沉积在原来的硅表面上,并使用扩散工艺中同样的掺杂剂进行掺杂,也属于上,并使用扩散工艺中同样的掺杂剂进行掺杂,也属于p-
12、n结制造技术。主要采用结制造技术。主要采用CVD技术。技术。常压常压CVD(APCVD););低压低压CVD(LPCVD);等离子体增强等离子体增强CVD(PECVD).第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.6 金属化金属化l 在芯片表面上电路元器件部件与键合焊盘之间沉积导在芯片表面上电路元器件部件与键合焊盘之间沉积导电材料,形成互连引线,称为金属化工艺。电材料,形成互连引线,称为金属化工艺。l 铝、铝合金、铂、钛、钨、钼、金可用于金属化工艺。铝、铝合金、铂、钛、钨、钼、金可用于金属化工艺。l 铝是最常用的金
13、属化材料,与铝是最常用的金属化材料,与Si和和SiO2可以很好的粘附可以很好的粘附(低接触电阻),容易真空沉积(沸点低),导电率高,(低接触电阻),容易真空沉积(沸点低),导电率高,容易通过光刻工艺布图。容易通过光刻工艺布图。l 真空沉积和溅射是沉积铝金属化层的方法。真空沉积和溅射是沉积铝金属化层的方法。l 问题:问题:Al-Si共晶合金。解决办法:共晶合金。解决办法:TiW阻挡层;将阻挡层;将1的的Si加入加入Al中。中。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.7 钝化钝化l 在芯片金属化后,为防止铝互连电路
14、受到水汽和污染在芯片金属化后,为防止铝互连电路受到水汽和污染的侵蚀,通过气相沉积在芯片电路上形成二氧化硅或氮的侵蚀,通过气相沉积在芯片电路上形成二氧化硅或氮化硅绝缘层或钝化层。化硅绝缘层或钝化层。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.8 背面研磨背面研磨l 覆盖钝化层后,芯片需要减薄满足封装高度要求,晶覆盖钝化层后,芯片需要减薄满足封装高度要求,晶圆片进行背面研磨圆片进行背面研磨第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.9 背面
15、金属化背面金属化l 芯片背面要有一层金膜,通过真空蒸发或溅射沉积,芯片背面要有一层金膜,通过真空蒸发或溅射沉积,使芯片背面与芯片粘接区电接触。使芯片背面与芯片粘接区电接触。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.10 电性能测试电性能测试l 按照预先确定的规范对芯片进行电性能测试。按照预先确定的规范对芯片进行电性能测试。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯片的制造)芯片的制造1.4.11 管芯分割管芯分割芯片采用两种方法分割芯片采用两种方法分割l 厚度
16、小于厚度小于0.25mm的芯片,采用金刚石刀具在晶圆片的芯片,采用金刚石刀具在晶圆片上划出细的切割线,再用剥离胶带使晶圆片断裂;上划出细的切割线,再用剥离胶带使晶圆片断裂;l 厚度大于厚度大于0.25mm的芯片,采用剥离胶带和金刚石圆的芯片,采用剥离胶带和金刚石圆锯切割。锯切割。第第1章章 集成电路芯片的发展和制造集成电路芯片的发展和制造1.4 集成电路(集成电路(IC)芯)芯片的制造片的制造1.4.12 p-n-p双极晶体管的双极晶体管的典型结构典型结构第第2章章 金属金属2.1 金属和合金的选择金属和合金的选择 选择金属材料时,要针对电子电气工业中的要求进行权选择金属材料时,要针对电子电气
17、工业中的要求进行权衡。衡。判据:判据:l 物理性能;物理性能;l 力学性能;力学性能;l 可制造性;可制造性;l 经济性;经济性;第第2章章 金属金属2.2 金属和合金产品的形式金属和合金产品的形式l 铸造金属产品铸造金属产品l 加工金属产品加工金属产品 铸造金属形式是通过把熔融的金属浇入需要的形状的铸造金属形式是通过把熔融的金属浇入需要的形状的模具内形成,没有金属变形发生。金属的性能取决于:模具内形成,没有金属变形发生。金属的性能取决于:l 铸造工艺(砂模铸造、熔模铸造、压铸);铸造工艺(砂模铸造、熔模铸造、压铸);l 铸件致密性;铸件致密性;l 化学成分;化学成分;l 热处理。热处理。第第
18、2章章 金属金属2.2 金属和合金产品的形式金属和合金产品的形式 铸造金属产品的重要性能铸造金属产品的重要性能l 致密度致密度孔隙度和非金属缺陷少;孔隙度和非金属缺陷少;l 力学性能;力学性能;l 晶粒尺寸晶粒尺寸冷却速度快则晶粒尺寸小,强度大;冷却速度快则晶粒尺寸小,强度大;l 金属形状金属形状薄壁小铸件比致密度相同的厚壁大铸件薄壁小铸件比致密度相同的厚壁大铸件强度高;强度高;l 铸型材料;铸型材料;l 铸造技术和工艺铸造技术和工艺特殊铸造工艺的使用,如半固态特殊铸造工艺的使用,如半固态金属加工技术、金属注射成形技术制造金属加工技术、金属注射成形技术制造Al/SiC和和W/Cu第第2章章 金
19、属金属2.2 金属和合金产品的形式金属和合金产品的形式 压力加工金属产品的重要性能压力加工金属产品的重要性能l 加工的形式加工的形式轧制、挤压、拉拔、锻造轧制、挤压、拉拔、锻造l 组织结构组织结构晶粒尺寸、晶体取向、致密度、夹杂物晶粒尺寸、晶体取向、致密度、夹杂物尺寸形状、相尺寸形状、相l 变形条件变形条件温度(冷、热加工)温度(冷、热加工)l 强化强化加工硬化、沉淀强化、相变硬化加工硬化、沉淀强化、相变硬化第第2章章 金属金属2.3 金属和合金产品的性能金属和合金产品的性能2.3.1 力学性能力学性能l 常规力学性能常规力学性能室温屈服强度、抗拉强度和延伸率室温屈服强度、抗拉强度和延伸率l
20、交变载荷(疲劳)交变载荷(疲劳)允许的应力远远低于材料的抗允许的应力远远低于材料的抗拉强度,金属将在低于屈服强度和极限抗拉强度的应力拉强度,金属将在低于屈服强度和极限抗拉强度的应力水平下失效。水平下失效。l 持续载荷持续载荷长时间持续载荷导致低于屈服强度的蠕长时间持续载荷导致低于屈服强度的蠕变和断裂发生,在高温下和室温下都有发生。变和断裂发生,在高温下和室温下都有发生。l 温度影响温度影响强度随温度升高而降低。强度随温度升高而降低。第第2章章 金属金属2.3 金属和合金产品的性能金属和合金产品的性能2.3.2 物理性能物理性能l 冷加工冷加工导致电导率降低;导致电导率降低;l 热处理热处理对合
21、金元素和相结构及分布有不同影响对合金元素和相结构及分布有不同影响l 温度温度物理性能随温度变化逐渐变化。物理性能随温度变化逐渐变化。第第2章章 金属金属2.3 金属和合金产品的性能金属和合金产品的性能2.3.3 制造可行性制造可行性l 可成形性可成形性深拉深拉l 可机械加工性可机械加工性 l 连接连接螺栓连接、铆接、焊接、硬钎焊、软钎焊螺栓连接、铆接、焊接、硬钎焊、软钎焊l 可焊接性可焊接性焊接开裂、焊缝耐蚀性、焊接接头脆性焊接开裂、焊缝耐蚀性、焊接接头脆性l 硬钎焊硬钎焊考虑后续热处理考虑后续热处理l 软钎焊软钎焊第第2章章 金属金属2.3 金属和合金产品的性能金属和合金产品的性能2.3.4
22、 性能比较性能比较l 屈服强度屈服强度 零件可承受的零件可承受的最大应力。最大应力。第第2章章 金属金属2.3 金属和合金产品的性金属和合金产品的性能能2.3.4 性能比较性能比较l 弹性模量弹性模量表征了零件的刚度表征了零件的刚度 比刚度比刚度Ti/Mg/Al,铍的,铍的比刚度是常用结构材料的比刚度是常用结构材料的612倍。倍。第第2章章 金属金属2.3 金属和合金产品的性能金属和合金产品的性能2.3.4 性能比较性能比较l 比强度比强度第第2章章 金属金属2.3 金属和合金产品的性能金属和合金产品的性能2.3.4 性能比较性能比较l 热导率:热导率:Ag/Cu/Au/Al具有具有高热导率,
23、合金化会降低热导率。高热导率,合金化会降低热导率。第第2章章 金属金属2.4 铁基合金铁基合金2.4.1 铁基合金概述铁基合金概述l 铁元素含量大于或等于铁元素含量大于或等于50的合金被称为铁基合金。的合金被称为铁基合金。也包含铁含量低于也包含铁含量低于50但其性能要求和铁系合金很相似但其性能要求和铁系合金很相似的合金。的合金。l 分类:分类:结构用钢结构用钢碳素钢碳素钢合金钢合金钢高强度高强度低合金钢低合金钢超高强钢超高强钢轧制轧制热处理钢热处理钢特殊用钢特殊用钢第第2章章 金属金属2.4 铁基合金铁基合金2.4.2 常用铁基合金常用铁基合金l 碳素钢和合金钢碳素钢和合金钢 1xxx属于属于
24、C为主要合金元素的钢;为主要合金元素的钢;2xxx属于属于Ni为主要合金元素的钢;为主要合金元素的钢;l 不锈钢和特殊钢不锈钢和特殊钢 含有至少含有至少11左右左右Cr的铁基合金;的铁基合金;l 磁钢磁钢 高磁导率合金、永磁合金、不锈钢、温度补偿合金高磁导率合金、永磁合金、不锈钢、温度补偿合金第第2章章 金属金属2.4 铁基合金铁基合金2.4.3 铁基合金磁学性能铁基合金磁学性能l 高磁导率合金(软磁合金)在合金内磁流密度变化引起的高磁导率合金(软磁合金)在合金内磁流密度变化引起的磁滞损失小,在强磁场作用后剩磁低,在高度磁化后并不保磁滞损失小,在强磁场作用后剩磁低,在高度磁化后并不保留明显的永
25、久性磁性。留明显的永久性磁性。l Ni-Fe合金(合金(3080Ni,其余其余Fe)l 80Ni-4Mo-Fe合金、合金、77Ni-1.5Cr-5Cu-Fe合金、合金、49Ni-Fe合合金金l 硅铁合金(硅钢片)硅铁合金(硅钢片)钴铁合金钴铁合金l 永磁合金(硬磁材料)永磁合金(硬磁材料)l 温度补偿合金温度补偿合金第第2章章 金属金属2.4 铁基合金铁基合金2.4.4 铁基合金热膨胀性能铁基合金热膨胀性能l 合金的热膨胀性能一般用材料的温度变化引起单位长度的合金的热膨胀性能一般用材料的温度变化引起单位长度的变化来表示;变化来表示;l Invar合金(合金(36Ni-Fe)是所有金属(合金)中
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