织构的控制与电工钢硅钢的应用..docx
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1、织构控制技术在电工钢中的应用北京科技大学材料学系杨平2016. 12.22报告顺序i.帝“识l-l, dR*,枇卜2. M9约A帝才总1-1 Jt.易帖渴、和犬便找米本知以2.取柳枝枝末4电工申的启用2-1, 112-2.衣无“*僧中的应用2T. AM内中17.&-欠电工*1中的0冏1.皆景加以1-1.电工/由景如识工偶电券K楣.用于,作与臭A. 机的快3.AR4l4tM.X角电化,过剃:10144工刎显产和。八万七,具比1101万七取南胡1万嘘;宾后父,816万4:其中无育070?万44育眸4777万/, 方惑高蚊3,2万.),占”.7充主妻何直二有序北, 色氏制木,/您过4;中、箍序疗的尢
2、向倒多含北优上广,土要从鼻灰桂悠依复城和袅而重堂上;表余户舄发量的鱼. ette高且出发;嘉 4HKi MB MHK 宁;F则而S.N崛.*辉光离子放电法测出表层附近Mn、C的分布。100TDRD95(TC继续脱碳 10分钟后的取向成像,近100%100011织构;71高硅高镒低碳钢制备立方织 构的可能性?四种不同成分在1100热轧后截面的金相组织照片冷轧织构,四种 成分,50%变形量;(p2=4500DF图。初始组织影响形变织构的强度,但类型不 变。8# Fe-0.056C-2.87Sil.73Mn 9# Fe-0.094C-3.00Sil.04Mn 8# 9# 10# Fe-0.09C-
3、2.86Sil.68Mn 11#Fe-0.058C-2.98Si 1.07Mn ; 10#72 11#1100真空脱镒30min后的组织表层晶粒难以继续长大;4种钢成分不同, 初始组织不同,最8#表层晶粒还能继续9#佳脱镒温长大度不同!因此高温下 中心层粗化程度不同。中心为单相区,晶粒粗10#表层晶粒还能继H#化,脱镒 后铁素体不能续长大;继续长大;73表层晶粒信息100 100含量(15。以内) 平均晶粒尺寸(|im) 100平均尺寸(|im) 111平均尺寸(|im) TD Pole Figure 1Z-05-10-1100-deg-30m Iron bcc (old (m3m Compl
4、ete data set 103788 data points Stereographic projection Upper hemisphere Half width: 10 Cluster size:5 Exp. densities (mud: M in= 0.00, M ax=18.67 2 4 RD 6 8 10 14 8# 60.9% 90 121 85 9# 55% 57 75 52 10# 81.3% 93 135 65 100 TD 11# 77.3% 120 155 61 Pole Figure 2Z-05-10-1100-deg- 30m Iron bcc (old (m3
5、m Complete data set 103788 data points Stereographic projection Upper hemisphere Half width: 10 Cluster size:5 Exp. densities (mud: M in= 0.01, Max= 17.43 2 4 RD 6 8 10 14 =500 |i m ; I P F; S t ep=4 M ; G r i d372x279 =500 |im ;I PF; St ep=4 汾;G r i d372x279 8# 100 织构100 TD Pole Figure 3Z-05-10- 11
6、00-deg-30m Iron bcc (old (m3m Complete data set 103788 data points Stereographic projection Upper hemisphere Half width: 10 Cluster size:5 Exp. densities (mud: M in= 0.00, Max=27.68 2 4 RD 6 8 10 14 9# 100织构100 TD Pole Figure 4Z-05-10- 1100-deg-30m Iron bcc (old (m3m Complete data set 103788 data po
7、ints Stereographic projection Upper hemisphere Half width: 10 Cluster size:5 Exp. densities (mud: M in二 0.009 M ax=22.91 2 4 RD 6 8 10 14 =500 |im;IPF;St ep=4 汾;G r i d372x279 10# 100织构11#100立方织构(注意初始粗晶,立方晶粒的生长优势 最大)表明:不同成分、不同初始组织会有不同取向的柱状晶种子。743.结语基于EBSD技术的织构分析方法可有效检测微观晶粒与取向的对应关 系,找到形成原因和控制方法。商用无取向
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