基于轻敲模式AFM的纳米振动表征方法.pdf
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1、第 3 2 卷第 4 期 2 0 1 0年 8 月 压电与声光 PI EZ 0ELEC TRI CS AO OUS T00P TI CS VoL 32 No 4 A u g 2 01 0 文 章 编 号:1 0 0 4 2 4 7 4(2 0 1 0)0 4 0 6 7 7 0 5 基于轻敲模式 A F M 的纳米振动表征方法 徐 临燕 ,栗大超,刘瑞鹏,邱 晗,傅 星,胡 小唐,张文栋。(1 天津大学 精密测试技术及仪 器国家重点实验室,天津 3 0 0 0 7 2;2 天津航海仪器研究所,天津 3 0 0 1 3 1;3 中北 大学 电子测试技术 国家重点实验室,山西 太原 0 3 0 0
2、 5 1)摘 要:针对纳米振动测量方法 中存在 的间接性、低 分辨率、低带 宽等局 限性,建 立 了原子 力显微镜(A F M)的 轻敲模式下探针与振动样 品问相互作用 的振动 系统模 型,采 用 RL n g e-Ku t t a 数 值积 分方法 分析 了 AF M 测振技 术 的可行性和工作带宽。使用静 电激 励的双端 固支纳米梁 作为测试 结构,采用 A F M 轻 敲模式测试 了样 品的幅 频响 应特性。同时采用显微激 光多普 勒测振系统进行 了比对测试,测量结果与 A F M 轻 敲力 曲线模 式的测量结果相符,也表现 出 AF M 轻敲模式 的测量误差 具有与测试样 品相关 的频
3、率 特性。关键词:纳 机电系统;纳米 梁谐 振器;离 面振 动;原子力显微镜(AF M);轻敲模式 中 图分 类 号:TP 2 0 6 1 文献 标 识 码:A Cha r a c t e r i z a t i o n o f Na no s c a l e Vi b r a t i o n Us i n g Ta p pi n g M o d e AFM XU Li n y a n ,LI Da c h a o ,LI U Ru i p e n g ,QI U na n ,F U Xi n g ,HU Xi a o t a n g ,ZHANG We n d o n g。(1 S t a
4、t e Ke y L a b o f P r e c i s io n M e a s u r i n g Te c h n o l o g y a n d I n s t r u me n t s,Ti a n j i n Un i v e r s i t y。T i a n j i n 3 0 0 0 7 2,C h i n a:2 Ti a n j i n Na v i g a t i o n I n s t r ume nt s Re s e a r c h I n s t i t ut e,Ti a n j i n 3 0 01 31,Ch i n a;3 S t a t e Ke
5、y La b f o r El e m r o ni c M e a s u r e me n t Te c h no l o g y,No r t h Un i v e r s i t y o f Ch i n a,Ta i y u a n 0 3 0 0 5 1,Ch i na)A1bs t r a e t:Ai me d a t s o l v i n g t he pr o bl e ms of i ndi r e c t me a s ur e me nt,l ow r e s ol ution a n d low ba n dwi d t h e x i s tin g i n t
6、 h e m e t ho ds a pp l i e d t o t he na n o v i b r a tio n me a s ur e me nt,a v i br a tion s ys t e m mod e l of t he i nt e r a c tion b e t we e n t he p r o b e a n d t h e v i b r a ti o nmple u n d e r t h e l a p p i n g-一 mo d e AF M h a s b e e n e s t a b l i s h e c k Ru n g e-Ku t t
7、a n u me r i c a l me t h o d i s u s e d t o a na l y z e t he f e a s i bi l i t y a nd t h e b an dwi d t h of AFM vi br a t i o n me a s ur i ng t e c hni q ue Ta ki ng fixe d fix e d n a no be a m r e s o na t or un de r t h e e l e ctro s t a t i c a c t u atio n a s t he me a s ur e d s a mp
8、l e,t h e out o f pl a ne a mpl i t ud e f r e q ue n c y r e s p on s e c h ar a c t e r i s t i c s a r e me a s ur e d u nd er t h e t a ppi ng mo de AFM M e a n whi l e t h e c o mpa r i s on t e s ting i s c a r r i e d ou t b y t h e mi c r o l a s e r Dopp l e r vi br o me t er,a nd t h e a c
9、 c o r d a nt r es ul t s a r e g a i n e dThe f r e qu e nc y s p e c i a h t y o f vi br a t i on me a s ur e me nt e r r o r o f t a ppi ng mod e AFM i s re l a t e d wi t h t he me a s ur e d f r e qu e nc y of t h es a mpl e Ke y wo r ds:n a no e l e e t r o me c ha ni e a l s ys t e m;na n obe
10、 a m r e s o na t o r;out of-pl a ne v i br a t i on;AFM;t app i ng mod e 目前 在 实验 室条 件下,微 纳 谐振 器 _ 1 动 态 特性 测 试技 术 主 要 包 括 电 学 法l 2 、电 磁 法 和 光 学 法 l 6 。对 于微 纳谐 振 器离 面机 械振 动特 性 的检 测,电学法 属 于一种 间接 的 测 量 方 法,需 建 立 输 出 电特 性 值 与实 际机械 振 动 位 移 的模 型,同时 必 须 考虑 电 学 线路 对振 动测 量 值 的 衰 减 和 非线 性 影 响等 因素。光 学法 具有 直接
11、测 量 和非 接触 性 等 优 点,但 在平 面 纳米 尺 度下 必须 考虑 光学 法 的衍 射极 限和 带宽 是否 能满 足 测试要 求。原 子 力 显 微 镜(AF M)是 用 于 纳 米 尺度表 征 的重要 精 密 仪 器,具 有 3轴 方 向 的纳 米 测量 精 度,故 AF M 常 用 于样 品表 面三 维 形 貌 的扫 描,但 因其采 用栅 格式 逐行 逐 点 的扫描 方式,扫 描效 率低,且 仪器 基底 须 具 有 很 好 的 隔振 系 统,故 A F M 属 于一 种 准 静 态 的 精 密 测 量 仪 器。那 么,能 否 将 AF M 轻敲模式应用于高频纳米量级振 动特性 的
12、测 试 呢?如 果 答 案 是 肯 定 的,则 将 意 味 着 基 于 AF M 轻 敲模式 的动 态测 试技 术 是一 种 同时具 备 三维 纳米 分 辨率、微 弱作 用 力 和 高带 宽 的直 接 测 试 手 段。本 文将 首 先从 各种 轻 敲力模 型 中选 择 适 合 AF M 测 试 条 件 的一 种,随后 建 立 AF M 轻 敲模 式 下 探 针 和 振 动 表面 构 成 的 2阶 振 动 系 统 的 物 理 模 型,并 采 用 Ru n g eKu t t a 数值 求 解 法 计 算 轻 敲 模 式 下 样 品 探 针振 动 频率 比及 样 品 探 针 振 动 中 心距 离
13、对 探 针 机 械 响应 的影 响,以此 总 结 轻 敲 模 式 的工 作 带 宽 和 振 动测 量 方法。1 AF M 轻敲模 式测量 离面振 动的理论 通 常,与接触 模式 相 比,轻 敲模 式下 微探 针与样 品表 面 的接触 作 用力 小 3个数 量级。下 面首 先分 析 轻 敲模式 下 的力 模 型,并 以 此 为 基础 进 一 步 分 析轻 敲模 式 下针 尖一 样 品构成 的振 动 系统模 型。1 1轻 敲 力模 型 当 探针 以振 动 模 式接 近 样 品,且 两者 的 间隔 等 于或 小 于探针 振 动 的振 幅时,探 针 和样 品 表 面 实 际 收 稿 日期:2 0 09
14、 0 8 2 5 基金项 目:科技部国际科技合作与交流专项基金资助项 目(2 0 0 8 DF A7 1 6 1 0);国家 自然科学重点基金资助项 目(5 0 5 3 5 0 3 0)作者简介:徐临燕(1 9 8 1 一),女,黑龙 江人,讲 师,博 士,主要从 事微米 纳米技术 的研究。通信作 者:栗 大超(1 9 7 6 一),男,河南 人,副教 授,博 士,主 要 从 事 微 米 纳 米 技 术 的 研 究。6 7 8 压电与声光 上发生了周期性的直接碰撞,这种系统的相互作用 可使用轻敲力的理论来进行分析,较典型的理论 有 He r t z i a n理 论 I=9 、J KR 理 论
15、、DMT 理 论 和 Ma u g i s 理论等。每个理论的特点均由它们各 自依据的假设 决定,由于 D MT理 论 适 用 于刚 体 系 统 低 吸 附 4,曲率半 径 的情况 口 ,此 处 使用 DMT模 型,针 尖一 样 品间相互 作用力 l 1 f F(z)一 (1-d(z)d。)。(1)【E,g ()。一f o 式 中:()一 一,为 探针 陷进 样 品 的深度,为探 针位移(以样 品表面 为原 点),。为微 悬 臂梁 处 于平 衡 位置 时针尖 一 样 品 间距口 ;f 一2 ,为 粘 附 力,o y=3 1 l 1 0 1 J m。,为硅 的表面能 l l;R 为探针 的 针尖
16、 半径,可取 为 2 0 E l m,则 f o 一3 9 1 0 一 N;d。为一 个常量,表示针 尖 样 品作 用力可 近似 为零 的距 离,一 般可认 为力 曲线 中针 尖被样 品突 然吸 附,至微 悬臂 梁 偏 转 回到 零 值,Z 向 压 电 陶 瓷 的 位 移 即 为 d。_ 1;E 为样 品 的有 效 刚 度,用 来 描述 样 品 的 弹性 属 性,则 E 一号(+)式 中:E 和 E 分 别为探 针和样 品 的杨 氏模 量 和 分 别为探 针和样 品 的泊 松 比。1 2 轻 敲模式 振动 测量 系统模型 在 AF M 动态模式的振动测量模型中线性振动 理论 已不能满足实际问题
17、 的需要u ,故此处建立相 应 的非 线性振 动模 型。1 2 1 轻 敲模 式下 探针 的振动微 分方程 轻 敲模式 的简化模 型 为一个单 自由度 的非 线性 谐 振器,微 悬 臂梁 可 用 弹簧 肛质 量 m一 阻 尼 c等效 微悬 臂梁 根部采 用 双压 电晶 片提 供位 移 激 励,激励 频率选 为微 悬臂 梁 的 1阶谐 振频 率。,幅值 为“。,在此 强迫力作 用下,针尖保 持振动 状态,与样 品表 面 发生 间歇性接 触。针 尖 的偏 置。可 通 过 调节 探 针 的设定 振幅 比来 控制。轻 敲模 式振 动系统 微分方 程 为 m参+f 十 是 +F()一 一 m u o C
18、 O S(。f)(3)式 中:、f、。和 均 为 量纲 常 数;t 为 量纲 自变 量;z为量 纲因变 量。z、m、t 分 别具 有 长度 的量 纲、质 量 的量 纲和 时间 的量 纲。1 2 2 微 分方程 的无量 纲形式 和解 法 首先需 要判 断式(3)是否 为弱非线 性方 程,这 样 才能选择近似解 析方法或数值方法求解。假设式(3)具有初始条件(0)一A(A 为常数),z (O)一0。选 择无 量纲 变 量 一z A 和 一 ,并 记 阻尼 比 一c(k m)。2,以及 系数 1 一 f o A。k,e 2 一 E R 。A k,3 一 f o A k,则 有 d2 c,1 +o C
19、 OS f-0 Z o (4)I+2 5 警+(c 一 0【通常,线性 阻 尼 较 小,故 1;同 时可 证 明 、e 、e。均 为远小 于 1的常数,且 e 、e。可 忽略。显然,式(4)为弱非线性微分方程,这样便可用近似的解析 解来描 述,如 L i n d s t e d t P o i n c a 6扰 动法、D u f f i n g迭 代法、KB M 1 任 1阶 近 似 法,Mu l t i t i me展 开 法 等 砌 。若考虑到样 品表面的振动信号,在这种情况下 不为 常数,且具有 f Ct s i n(n t)O r l Z o(i)=z (5 j-C (2 v ;sin
20、(【r】+r 2 :2 r l+r。式 中:C为无量 纲常数、r:均 为无 量纲 时 间常 数;为被 测样 品与 AF M 微 悬臂梁 的 频率 比。当2 r :=r。一2 0 0,C=3 1 0 ,”一1 0时,样 品表 面 振动 模拟 信 号如 图 l 所 示。U l UU 2UU 3UU 400 归一化时间 图 1 轻敲模式下样品表面振动模 拟信号 当样 品表 面处 于 复 杂 的振 动状 态 时,利 用 常微 分方程的数值解法可得到针尖直观的响应信号。本 文 采 用 R u n g e Ku t t a方 法【_】。求 解 式(4),该 方 法 是求解初值问题的显式单步法,与 E u
21、l e r 法、T a y l o r 展开法相比,避免了求导运算,又具有较高精度。对 于常微分方程 d y d t 一_厂(t,),它把增量函数看成 函数 厂在某些点 的线性 组合,取 4阶经典 Ru n g m Ku t t a格式计 算 3 2 l O 1 2 3 掣 日 i一 一 一 第 4期 徐临燕等:基 于轻敲模式 AF M 的纳米振动表 征方 法 6 7 9 +一 +告(尼 +2 k。+3 k。+k 1 一f(t ,Y )k 2:f(t +h 2,Y +h k 2)k。一f(t +h 2,Y +h k 2 2)k 4 一f(t +,+h k 3)方法,对 于梁 结构 这样 的悬
22、浮结 构 的定位,轻 敲式 进 针 最 大 的优点 是探 针 扫描 中对测 试结 构 的作用 力很 微 弱,经测 试 结构 的两 个边 缘 时不 易发生 破坏 作用。(6)实践 证 明,测 试 中必 须 注 意以下 几点:(1)必 须首 先 将 激 励 电源 打开,待 输 出 电信 号 式 中:t 为 积分 起 点;Y 为 上 一 次 积分 结 果;h为 积 分 间隔。MATL AB软 件 中的 o d e 4 5函数 l_ 2 包 含 自动 步 长 显式 4、5阶结合 的 R u n g e Ku t t a算法。本 文选 用 o d e 4 5函数求 解 式(4),用 以分 析 对 探 针
23、 振 动 响应 的影 响。1 2 3 与探 针振 动 响应 的关 系 分别 设 置 7 2 0 1、1、5、5 0,得 到 探 针 响应 曲线,如 图 2 所 示。由图 2(a)可见,探 针 跟 踪 样 品表 面运 动;一1 时,在样品振动激励下探针发生共振;一 5和 5 O时,探针 的运 动包 络 与样 品 的运 动 包 络趋 势 一致,在 样 品振 幅增 加 时,探 针 亦 随 之 增 加,一 5 0 时,探针 受 到样 品振 动 的影响 较小,可将 样 品振 幅 的 变 化近 似 看 作 静 止 样 品 表 面 的 起 伏。即 5时 AF M 即可 实 现 振 动 测 量,探 针 的 高
24、 频 响 应 随 的 增 大线性 增 强,测 量 精度 随 n的增大 而增 高 证 明了 AF M 测 量 高 频 振 动 的可 能 性 并 确 定 了 AF M 测 振 法的工作带宽。同时,观察探针的位移响应幅度,其 最 大 运 动 位 移 明 显 小 于 样 品 振 动 幅 度,约 为 其 1 0 。原 因是式(3)代 表 的轻 敲 模 式 探 针 的 非线 性 振 动未 能将 AF M 的 比例 积分(P I)反 馈 作用 考虑 入 内。可想而知,在 AF M 的 P I 反馈 打开状态下,微 探 针可 跟踪 高频 样 品振 动 的包 络,实 现振 动测 量。图 2 探针位移 响应 与频
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- 基于 模式 AFM 纳米 振动 表征 方法
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