DKDF测试仪器及方法.ppt

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1、Innovation,Teamwork,Excellence,QualityDK/Df測試設備及方法介紹測試設備及方法介紹Innovation,Teamwork,Excellence,Quality1.1.DK/DfDK/Df定義及機理定義及機理2.2.測試方法測試方法3.3.測試頻率測試頻率4.4.測試原理測試原理5.5.測試儀器設備測試儀器設備6.6.測試方法步驟測試方法步驟 內容內容Innovation,Teamwork,Excellence,Quality 介电常数定义介电常数定义 介电常数 又称电容率或相对电容率，表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用表示。它是指在同一电容器

2、中用同一物质为电介质和真空时的电容的比值，表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力。相对介电常数愈小绝缘性愈好。材料如果在受到外部电场作用时能够储存电能，就称为“电介质”。当给平行板电容器施加直流电压时，如果两板之间存在介电材料，那么可以储存比没有介电材料(真空)时更多的电荷。介电材料可以中和电极上的电荷，使电容器储存更多电荷，而通常情况下，这些电荷将流向外部电场。介电材料的电容与介电常数有关。当在平行板电容器上并联直流电压源 v 时(图 1)，两板之间有介电材料的配置可以比没有介电材料(真空)的配置储存更多的电荷。Innovation,Teamwork,Excellence,Quality 介

3、介質損耗質損耗定义定义DF:Dissipation Factor 損耗因子,在资讯及通信业最簡單的定义就是“訊號線中已漏失（Loss）到絕緣板材中的能量与尚存在（Stored）線中能量之比值”。Df 是絕緣材料的一種固有的性質,“損耗因子”與電功損失成正比，與週期頻率（f）、電位梯度的平方（E2），及單位體積成反比，其數學關係為:Innovation,Teamwork,Excellence,Quality介电机理介电机理 材料自身的多种介电机理或极化效应(图 7)。介电材料中包含有序排列的电荷载流子，这些载流子如果受到电场作用，将会发生位移。极化导致电荷对电场进行补偿，正电荷和负电荷会朝相反方

4、向移动。从微观角度上看，有多种介电机理会对介电特性产生影响。偶极子取向和离子传导在微波频率上会发生强烈的相互作用。例如，水分子是永久性偶极子，在交替电场的作用下会发生旋转。这些机理具有非常大的损耗 这可以解释为什么微波炉能够加热食物。原子和电子机理相对较弱，在微波范围内通常是恒定不变的。每个介电机理都具有特征的“截止频率”。随着频率的增加，较慢的机理会依次退出，只剩下较快的机理，用 表示。损耗因子(r)将会在每个临界频率上达到相应的峰值。对于不同的材料，每个机理的幅度和“截止频率”都是独一无二的。水在低频范围内具有非常强的偶极子效应，但是其介电常数在 22 GHz 附近会明显下降。另一方面，P

5、TFE 没有偶极子机理，其介电常数在毫米波范围内也是非常恒定的。Innovation,Teamwork,Excellence,Quality各种测量方法的比较各种测量方法的比较 在选择最适合的测量方法时，必须考虑到多个重要因素，例如精度、方便性，以及材料的外形和形态。下面总结了部分需要考虑的重要因素:频率范围 er 和 r 预期值 要求的测量精度 材料属性(例如均质、各向同性)材料形态(例如液体、粉末、固体、薄片)样品大小限制 对材料的破坏和非破坏性 接触或非接触 温度 成本Innovation,Teamwork,Excellence,Quality测量系统测量系统 阻抗分析仪和阻抗分析仪和

6、LCR 表表 使用阻抗分析仪和 LCR 表(例如图 12 中列出的仪器)可以测量材料在低频范围内的特性。使用交流电源为材料提供激励信号，并监测材料上的实际电压。通过测量材料的尺寸及其电容和耗散因子，可以推导出材料的测试参数。夹具夹具 在使用网络分析仪、阻抗分析仪或 LCR 表测量材料的介电特性之前，需要使用测量夹具(或样品夹持器)，一方面以可预测的方式对材料施加电磁场，另一方面使材料可以连接到测量仪器。夹具的类型根据选用的测量技术以及材料的物理特性(固体、液体、粉末、气体)而定。软件软件 仪器得到的测量数据不一定是直接可用的。在这种情况下，需要使用软件将测得的数据转换为介电常数或导磁率。另外，

7、软件还可以对夹具和 MUT之间的相互作用进行建模，从而提取出大部分材料特性。Innovation,Teamwork,Excellence,Quality测量系统测量系统 网络分析仪网络分析仪 通过测量已知物理尺寸的材料的反射和 入射 或传输性能，可以获得相应的数据，根据它们可以表征材料的介电常数和导磁率。PNA 系列、ENA 系列和 FieldFox 等矢量网络分析仪可在 9 kHz 至 1.1 THz 频率范围内进行扫描高频激励响应测量。(图 12)。矢量网络分析仪由信号源、接收机和显示器组成(图11)。信号源向被测材料发送一个单一频率信号。接收机调谐到该频率并检测材料所反射和传输的信号。根

8、据测得的响应可得出该频率上的幅度和相位数据。信号源随后步进到下一个频率，重复上述测量，得到随频率变化的反射和传输测量响应。Innovation,Teamwork,Excellence,Quality谐振腔法谐振腔法(窄带测量窄带测量)与与宽带测量宽带测量方法方法(例如例如,传输线法传输线法,平行平行板电容法等板电容法等)的比较的比较 谐振法 高阻抗环境 可以测量小尺寸样品进行适当的测量 只能在一个或几个频率上进行测量 非常适合测量低损耗材料其它宽带测量法 低阻抗环境 需要较大的样品才能进行适当的测量 可在“任意”频率上进行测量Innovation,Teamwork,Excellence,Qua

9、lity平行板法平行板法測試原理平行板法在 ASTM 标准 D15012 中又称为三端子法，其原理是通过在两个电极之间插入一个材料或液体薄片组成电容器，然后测量其电容，根据测量结果计算介电常数。在实际测试装置中，测量夹具均配有两个电极，用来加持介电材料。阻抗测量仪器测量电容(C)和耗散(D)的矢量分量，然后通过软件程序计算介电常数和损耗正切。该方法最适合对薄膜或液体进行精确的低频测量。采用平行板法的典型测量系统主要由阻抗分析仪或 LCR 表，以及工作频率至 1 GHz 的夹具(例如 16451B 和 16453A 电介质测试夹具)组成。Innovation,Teamwork,Excellenc

10、e,Quality平行板法平行板法測試儀器設備測試儀器名稱：DK/Df分析儀(E4991A)測試頻率：1M1.5GHZInnovation,Teamwork,Excellence,Quality平行板法平行板法測試方法步驟1.樣品：大小50*50inch，每組樣品3個，樣品厚度一般1.0mm。2.樣品預處理條件：105烘烤2h+120烘烤1h,放入防潮柜 (箱)內冷卻20min。Innovation,Teamwork,Excellence,Quality平行板法平行板法3.測試方法步驟：按如下儀器操作步驟最後算出DK/Df值來Innovation,Teamwork,Excellence,Qua

11、lity谐振腔法谐振腔法測試原理谐振腔体有比较高的 Q 值，可在特定频率上发生谐振。将一片材料样品插入到腔体中，会改变腔体的谐振频率(f)和品质因数(Q)。根据这些测得的参数，可以计算出材料在某一频率上的复数介电常数。典型的测量系统由网络分析仪、谐振腔体夹具以及计算软件组成。谐振腔法也有许多不同的子方法和夹具类型:Agilent 85071E 选件 200 谐振腔体软件支持三种子方法:分裂圆柱法(Split Cylinder)、分离介质谐振器(SplitPost Dielectric Resonator)法和 ASTM D252010 腔体微扰(Cavity Perturbation)法。可使

12、用外部计算机来控制网络分析仪，两者通过 LAN、USB 或 GP-IB 接口进行连接。对于 PNA 系列和 ENA 系列网络分析仪，软件可直接安装到分析仪中，无需使用外部计算机。安捷伦还为分裂圆柱柱法 和分离介质谐振器法 提供了高 Q 值谐振腔体夹具。图分别为这三种谐振腔结构。Innovation,Teamwork,Excellence,Quality谐振腔三种方法谐振腔三种方法Innovation,Teamwork,Excellence,Quality測試儀器設備測試儀器名稱：网络分析仪(PNA系列）測試頻率：1 30GHZ谐振腔法谐振腔法Innovation,Teamwork,Excellence,Quality測試方法步驟1.樣品：大小130*80mm，每組樣品3個，樣品厚度一般0.85mm。2.樣品預處理條件：120烘烤1h以上，放入防潮柜(箱)內冷卻20min。谐振腔法谐振腔法3.測試方法步驟：按如下儀器操作步驟最後算出DK/Df值來(參考測試操作步驟)。Innovation,Teamwork,Excellence,Quality THE END