《ATE测试系统》PPT课件.ppt
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1、ATE測試系統操作使用注意事項ATE(Auto test equipment)自動測試設備ATE的組成(架構)1/4lAC SOURCE (ATE最底層提供 測試用之各種形態 交流電壓)ATE的組成(架構)2/4lPower analyzer(功率分析儀)Model:6632Model:6630ATE的組成(架構)3/4lExtended Measurement Unit (EMU擴展測試單元)ATE的組成(架構)4/4lSwitch Analyzer(開關分析儀)相當于精密負載機開開/關機關機l為減低開機瞬間湧浪電流(Inrush Current)對ATS產生的衝擊效應,開機的先後順序建議為
2、交流或直流輸入電源供應器(AC/DC Source),Power Analyzer,EMU,各Switcher Analyzer,最後再開啟個人電腦及其週邊設備。l 關機則反之.待測物連接方式l先將待測物輸出端連接到測試治具再連接測試電源線.ATE測試步驟1/2l1)選擇檢驗機種對應的預設測試程式.l2)先按下GO/NOGO TEST鍵,進入測試操作介面.l3)把待測物輸出端連接到測試治具再連接測試電源線.l4)按下“F10”鍵,幵始測試;如機台為再次測試按F11鍵.ATE測試步驟2/2l5)正在測試的項目會顯示為黃色測試通過顯示為綠色,不良顯示紅色l6)當測試結果且通過所有測試項目顯示器上顯
3、示PASSl7)當測試過程中有項目不良時,顯示器上會顯示FAIL“l8)按下“F3”鍵,可查看測試結果并記錄在檢驗報告中測試中朮語簡介1/6l1.Input/Output Test:用以量測在靜態負載條件下待測物輸入端及輸出端的特性l2.Dynamic Test:用以量測在動態負載條件下待測物輸出端的特性l3.Sync Dynamic Test:用以量測在同步動態負載條件下待測物輸出端的特性l4.Load Regulation Test:用以量測在負載改變時對於待測物該組輸出電壓所產生的影響測試中朮語簡介2/6l5.Cross Regulation Test:用以量測在他組輸出電源之負載改變時
4、,對於某組輸出電壓所 產生的影響l6.Line Regulation Test:用以量測在改變輸入電源電壓時,對於輸出電壓所產生的影響l7.Combine Regulation:用以量測在負載大小及輸入電源之電壓同時改變時對於待測物輸出電壓所產生的影響l8.Turn on&Seq.Test:用以量測在開機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序關係,過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間等特性。測試中朮語簡介3/6l9.Hold up&Seq.Test:用以量測在關機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序關係,及穩定時間等特性。l10.OLP Test:用以量測在過載保護點瞬間待測物的輸出特性。l11.O
5、PP Test:用以量測在過功率保護點瞬間待測物的輸出特性l12.Hold on Adjust:用以於測試種中調整待測物的內部電路以達到正確的電壓輸出和電流輸出。測試中朮語簡介4/6l13.External Wave Test:用以量測以外加信號變化負載大小時待測物的輸出特性。l14.Static Test:用以量測在靜態負載條件下待測物的輸出特性。l15.Extra Timing Test:以外加信號控制待測物的輸出Enable/Disable,並量測待測物各組輸出電壓的時序關係,過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間等特性l16.Set Up Function:用以設定自動測試系統各
6、模組的硬體初始狀態或測試條件測試中朮語簡介5/6l17.Extended Measurement Test:用以量測自選的特定點的直流電壓,或交流電壓(Vrms)l18.Short Circuit Test:用以量測待測物的一組輸出短路到地的整體輸出入反應特性l19.OVP/UVP Test:用以量測待測物的過電壓或低電壓保護點l20.Total Regulation Test:用以量測在改變測待物輸入電源及負載大小,至最壞狀況時之輸出特性測試中朮語簡介6/6l21.Cycle Dropout:用以量測在中斷待測物輸入電源段時間對輸出電壓的影響l22.Voltage Ramp Up/Down:
7、用以量測在待測物輸入電源電壓逐步增加或減少時對其輸出電壓的影響l23.Frequency Ramp Up/Down:用以量測在待測物輸入電源頻率逐步增加或減少時對輸出電壓的影響l24.Noise Carry Through:用以量測在待測物輸入電源外加雜訊時對其輸出電壓的影響l25.Sync Dynamic:在和Sync Dynamic Test 相同測試過程中量測輸出電壓因負載變動產生的spike 值軟體設置注意事項(Input/Output Test1)lInput/Output測試必須使用Power Analyzer(PA)圖示選擇為2軟體設置注意事項(Input/Output Test
8、2)lPower Saving測試時間必須在2秒以上建議設置為3秒l在圖示位置設置3秒軟體設置注意事項(Input/Output Test3)l如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von,系統將停止本項測試,並輸出“Von not reached”訊息。lEMU延遲時間係自本項測試開始起即計算,而Switcher Analyzer係自待測物電壓達到Von時開始計算。所以若待測物有Soft Start的功能時,建議要設定較長的Delay time,以確保EMU可以得到精確的量測值。l當系統未安裝EMU時所有輸入端的讀值為“-”。軟體設置注意事項(DYNAMIC TEST)l當系統安裝Extende
9、d Measurement Unit時本項測試不得放在第一個測試程序l如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von,系統將停止本項測試,並輸出“Von not reached”的訊息。l測試之“PERIOD-1(mS)”及“PERIOD-2(mS)”係用Switcher Analyzer內的振盪器產生的,其誤差為100 ppm,所以任何兩部Switcher Analyzer間的偏差有可能到200ppm,因此對多組輸出的電源供應器若需要負載同步變化時,須使用同步動態特性測試(Sync Dynamic Test)。軟體設置注意事項(SYNC DYNAMIC TEST)l當系統安裝Extended Me
10、asurement Unit時本項測試不得放在第一個測試程序l如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von,系統將停止本項測試,並輸出“Von not reached”訊息。l第一組Switcher Analyzer背板25Pin D-Type接頭的Pin 1要接到所有其他Switcher Analyzer背板同一接點的Pin 14,以達到各部Switcher Analyzer的負載同步變化的效果。軟體設置注意事項(LOAD REGULATION TEST)l當系統安裝E M U時本項測試不得放在第一個測試程序l如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von,系統將停止本項測試,並輸出“Von not
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