刻蚀+PECVD车间工艺.ppt
《刻蚀+PECVD车间工艺.ppt》由会员分享,可在线阅读,更多相关《刻蚀+PECVD车间工艺.ppt(41页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、刻蚀+PECVD工艺报告北京中联科伟达技术股份有限公司工艺研发部概述q 等离子刻蚀等离子刻蚀:q 等离子刻蚀原理q 等离子体刻蚀机组成q 等离子体刻蚀质量控制及检测q 拟解决的问题q PECVDPECVD镀镀SiNx:HSiNx:H薄膜薄膜q PECVD镀膜技术q PECVD工作流程q SiN薄膜质量异常q 拟解决的问题等离子体刻蚀是采用高频辉光放电反应,使反应气体激活等离子体刻蚀是采用高频辉光放电反应,使反应气体激活成活性粒子,如原子或游离基,这些活性粒子扩散到需刻成活性粒子,如原子或游离基,这些活性粒子扩散到需刻蚀的部位,在那里与被刻蚀材料进行反应,形成挥发性生蚀的部位,在那里与被刻蚀材料
2、进行反应,形成挥发性生成物而被去除。它的优势在于快速的刻蚀速率同时可获得成物而被去除。它的优势在于快速的刻蚀速率同时可获得良好的物理形貌良好的物理形貌 。(这是各向同性反应)。(这是各向同性反应)这种腐蚀方法也叫做这种腐蚀方法也叫做干法腐蚀干法腐蚀。等离子刻蚀的基本原理等离子刻蚀的基本原理等离子刻蚀的基本原理等离子刻蚀的基本原理等离子刻蚀的基本原理等离子刻蚀的基本原理母体分子母体分子CFCF4 4在高能量的电子的碰撞作用下分解成多种中性基团或在高能量的电子的碰撞作用下分解成多种中性基团或离子。离子。这些活性粒子由于扩散或者在电场作用下到达这些活性粒子由于扩散或者在电场作用下到达SiOSiO2
3、2表面,并在表表面,并在表面上发生化学反应。面上发生化学反应。生产过程中,生产过程中,CFCF4 4中掺入中掺入O O2 2,这样有利于提高,这样有利于提高SiSi和和SiOSiO2 2的刻蚀速率。的刻蚀速率。以及以及它们的离子它们的离子CF,CF,CF,CFCF23e4等离子刻蚀机的组成等离子刻蚀机的组成等离子刻蚀机的组成:等离子刻蚀机的组成:1 1、反应室、反应室 2 2、真空系统、真空系统 3 3、送气系统、送气系统 4 4、高频电源、高频电源5 5、匹配器、匹配器反应室:反应室:里面是石英缸,外面里面是石英缸,外面是线圈,线圈在高频是线圈,线圈在高频电的激发下起辉,产电的激发下起辉,产
4、生微波与石英缸内的生微波与石英缸内的特气反应,生成活性特气反应,生成活性离子基。离子基。等离子刻蚀机的组成等离子刻蚀机的组成石英缸石英缸线圈线圈真空系统:真空系统:采用机械泵采用机械泵抽真空抽真空(上海鑫磊上海鑫磊公司生产公司生产)。主要。主要是用泵对反应室是用泵对反应室抽真空,把一些抽真空,把一些反应生成物通过反应生成物通过真空系统抽到尾真空系统抽到尾气排放管道。气排放管道。等离子刻蚀机的组成等离子刻蚀机的组成送气系统:送气系统:刻蚀常用的工艺气体刻蚀常用的工艺气体CF4CF4和和O2O2,在车间外面有,在车间外面有特气房,通过管道和刻蚀特气房,通过管道和刻蚀机的进气孔连接到一起,机的进气孔
5、连接到一起,在车间内有阀门,用的时在车间内有阀门,用的时候打开阀门就可以使用了候打开阀门就可以使用了高频电源:高频电源:给线圈放高压电给线圈放高压电等离子刻蚀机的组成等离子刻蚀机的组成高频电源高频电源匹配器匹配器 使功率稳定在一个固定的位置,只能微调,主要还是调高频电使功率稳定在一个固定的位置,只能微调,主要还是调高频电源上的功率调节旋扭。源上的功率调节旋扭。等离子刻蚀机的组成等离子刻蚀机的组成等离子刻蚀操作流程等离子刻蚀操作流程负载容量负载容量(片)(片)工作气体流量(工作气体流量(sccmsccm)气压气压(mbar)mbar)辉光功率辉光功率(W W)反射功率反射功率(W W)CFCF4
6、 4O O2 2N N2 228628621021021211001005005000 0工作阶段时间(工作阶段时间(s s)辉光颜色辉光颜色预抽预抽主抽主抽充气充气辉光辉光清洗清洗充气充气腔体内呈腔体内呈乳白色,乳白色,腔壁处呈腔壁处呈淡紫色淡紫色80806060150150100010006060180180等离子刻蚀质量控制等离子刻蚀质量控制工艺参数工艺参数工艺参数工艺参数*可根据生产实际做相应的调整可根据生产实际做相应的调整 短路形成途径短路形成途径 在扩散过程中,即使采用背靠背扩散,硅片的所有表面在扩散过程中,即使采用背靠背扩散,硅片的所有表面(包括边缘)都将不可避免地扩散上磷。(包
7、括边缘)都将不可避免地扩散上磷。PNPN结的正面所收集结的正面所收集到的光生电子会沿着边缘扩散有磷的区域流到到的光生电子会沿着边缘扩散有磷的区域流到PNPN结的背面,结的背面,而造成短路。此短路通道等效于降低并联电阻。而造成短路。此短路通道等效于降低并联电阻。控制方法控制方法 对于不同规格的硅片,应适当的调整辉光功率和刻蚀时对于不同规格的硅片,应适当的调整辉光功率和刻蚀时间使达到完全去除短路通道的效果。间使达到完全去除短路通道的效果。边缘刻蚀质量控制及检测边缘刻蚀质量控制及检测-质量问题质量问题刻蚀时间不足:刻蚀时间不足:电池的并联电阻下降。电池的并联电阻下降。射频功率过高射频功率过高:等离子
8、体中离子的能量较高会对硅片边缘造成较大的轰等离子体中离子的能量较高会对硅片边缘造成较大的轰击损伤,导致边缘区域的电性能变差从而使电池的性能下击损伤,导致边缘区域的电性能变差从而使电池的性能下降。在结区(耗尽层)造成的损伤会使得结区复合增加。降。在结区(耗尽层)造成的损伤会使得结区复合增加。边缘刻蚀质量控制及检测边缘刻蚀质量控制及检测-质量问题质量问题 刻蚀时间过长:刻蚀时间过长:刻蚀时间越长对电池片的正反面造成损伤影响越大,时刻蚀时间越长对电池片的正反面造成损伤影响越大,时间长到一定程度损伤不可避免会延伸到正面结区,从而导致间长到一定程度损伤不可避免会延伸到正面结区,从而导致损伤区域高复合。损
9、伤区域高复合。射频功率太低:射频功率太低:使等离子体不稳定和分布不均匀,从而使某些区域刻蚀过使等离子体不稳定和分布不均匀,从而使某些区域刻蚀过度而某些区域刻蚀不足,导致并联电阻下降。度而某些区域刻蚀不足,导致并联电阻下降。边缘刻蚀质量控制及检测边缘刻蚀质量控制及检测-质量问题质量问题边缘刻蚀质量控制及检测边缘刻蚀质量控制及检测-检测检测 冷热探针法冷热探针法冷热探针法测导电型号冷热探针法测导电型号检验操作及判断检验操作及判断边缘刻蚀质量控制及检测边缘刻蚀质量控制及检测-检测检测1.1.确认万用表工作正常,量程置于确认万用表工作正常,量程置于200mV200mV。2.2.冷探针连接电压表的正电极
10、,热探针与电压表的负极连。冷探针连接电压表的正电极,热探针与电压表的负极连。3.3.用冷、热探针接触硅片一个边沿不相连的两个点,电压表用冷、热探针接触硅片一个边沿不相连的两个点,电压表显示这两点间的电压为正值,说明导电类型为显示这两点间的电压为正值,说明导电类型为P P型,刻蚀合格。型,刻蚀合格。相同的方法检测另外三个边沿的导电类型是否为相同的方法检测另外三个边沿的导电类型是否为P P型。型。4.4.如果经过检验,任何一个边沿没有刻蚀合格,则这一批硅片如果经过检验,任何一个边沿没有刻蚀合格,则这一批硅片需要重新装片,进行刻蚀。需要重新装片,进行刻蚀。等离子体刻蚀拟解决的问题等离子体刻蚀拟解决的
11、问题刻蚀均匀性的控制刻蚀均匀性的控制刻蚀效果监测刻蚀效果监测 等刻常见问题1,过刻2,钻刻3,刻蚀不足刻蚀不足:指的是刻蚀不足边缘测试结果仍成N型的硅片。原因:由于设备刻蚀效果不好或出现其他异常情况以及一些人为因素导致硅片边缘刻蚀不足处理措施:根据不同情况进行补刻工艺,时间在200800s范围内过刻和钻刻:刻蚀后显P型的距离范围超过1.5mm的情况或钻蚀严重者。原因:1夹具的原因导致夹好的硅片一边松一边紧受力不均,或四周不整齐有突出来的现象,还有就是硅片崩边所致的局部过刻和钻刻现象。2 由于操作员的操作不规范的原因,选用的陪片有缺角崩边的现象。3设备压力时常不稳定。处理措施:此种情况下的硅片应
12、挑捡出不予流到下一工序。规范操作员的操作。避免使用有缺角崩边陪片。设备压力不稳定时,我们可以采取改变气体流量来稳定压力。应及时更换夹具。PECVD的作用在硅片表面(扩散面)沉积一层深蓝色的SiNx膜。而这层SiNx膜的作用是:a)减少电池表面光的反射;b)进行表面及体钝化,减少电池的反向漏电流;c)具有良好的抗氧化和绝缘性能,同时具有良好的阻挡钠离子、阻挡金属和水蒸汽扩散的能力。n0n2r1r2121减反膜对硅片反射率的影响减反膜对硅片反射率的影响PECVDPECVD镀镀SiNx:HSiNx:H薄膜薄膜-单层介质减反射膜单层介质减反射膜PECVD的作用的作用PECVD的作用的作用PECVD镀膜
13、前 PECVD镀膜后SiNxSiNx的优点:的优点:优良的表面钝化效果优良的表面钝化效果高效的光学减反射性能(厚度和折射率匹配)高效的光学减反射性能(厚度和折射率匹配)低温工艺(有效降低成本)低温工艺(有效降低成本)含氢含氢SiNx:HSiNx:H可以对可以对mc-Simc-Si提供体钝化提供体钝化 PECVDPECVD镀镀SiNx:HSiNx:H薄膜薄膜-SiNxSiNx的优点的优点26 钝化技术v对于McSi,因存在较高的晶界、点缺陷(空位、v填隙原子、金属杂质、氧、氮及他们的复合物)对材料表面和体内缺陷的钝化尤为重要,除前面提到的吸杂技术外,钝化工艺一般分表面氧钝化和氢钝化。v表面氧钝化
14、:通过热氧化使硅悬挂键饱和是一种比较常用的方法,可使Si-SiO2界面的复合速度大大下降,其钝化效果取决于发射区的表面浓度、界面态密度和电子、空穴的俘获截面。在氢气氛围中退火可使钝化效果更加明显。27 钝化技术v氢钝化:钝化硅体内的悬挂键等缺陷。在晶体生长中受应力等影响造成缺陷越多的硅材料,氢钝化的效果越好。氢钝化可采用离子注入或等离子体处理。在多晶硅太阳电池表面采用PECVD法镀上一层氮化硅减反射膜,由于硅烷分解时产生氢离子,对多晶硅可产生氢钝化的效果。应用PECVD Si3N4可使表面复合速度小于20cm/s。晶界PECVD(PECVD(Plasma Enhanced Chemical V
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 刻蚀 PECVD 车间 工艺
限制150内