广州大学数电实验报告TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试.pdf
《广州大学数电实验报告TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《广州大学数电实验报告TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试.pdf(3页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、附件 2:XXXX 大学学生实验报告大学学生实验报告开课学院及实验室:年月日开课学院及实验室:年月日年级、专年级、专学院学院机电学院机电学院业、班业、班实验课程名称实验课程名称实验项目名称实验项目名称一、实验目的一、实验目的二、实验原理二、实验原理三、使用仪器、材料三、使用仪器、材料四、实验步骤四、实验步骤五、实验过程原始记录五、实验过程原始记录(数据、图表、计算等数据、图表、计算等)六、实验结果及分析六、实验结果及分析一、实验目的一、实验目的1、掌握 TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 2、掌握 TTL 器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、
2、实验原理二、实验原理TTL 与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流 ICCL 和高电平输出电源电流 ICCH与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。ICCL 是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。ICCH 是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。通常ICCLICCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的最大功耗为 PCCLVCCICCL。手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。ICCL 和 ICCH测试电路如图 522(a)、(b)所示。注意:TTL 电路对电源电压要求较严,电源电压VCC
3、只允许在5V10的 X 围内工作,超过 5.5V 将损坏器件;低于 4.5V 器件的逻辑功能将不正常。数字电子技术实验数字电子技术实验TTLTTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试集成逻辑门的逻辑功能与参数测试成绩成绩XXXX学号学号指导教师指导教师(a)(b)(c)I(d)OLNOIiL图 522TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流 IiL 和高电平输入电流 IiH。IiL 是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中,IiL 相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 广州大学 实验 报告 TTL 集成 逻辑 功能 参数 测试
限制150内