无损检测技术学习教案.pptx

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1、会计学1无损无损(w sn)检测技术检测技术第一页，共147页。声振检测是激励被测件，使其产生机械振动，发出声波，通过测量声波的特征，例如振幅（振动的强弱）、频率（振动的快慢）、损耗（振动持续时间）、振动形式(xngsh)（单频或多频振动、谐振）以及与物体振动方式有关的力阻抗等，来判定被测件的状况。如果响应声波发生改变，说明被测件出现异常。7.1.1 声振检测声振检测(jin c)第2页/共147页第二页，共147页。最常用的声振检测方法：敲击法（声冲击法）由检测者利用敲击工具敲击被检工件，在工件上有缺陷与无缺陷区域的回声将因自然频率不同而有差异，从而可以辨别缺陷的存在。这种方法有点类似我们日

2、常生活中用拍击(pi j)法挑选西瓜、用敲击法挑选瓷器等。第3页/共147页第三页，共147页。敲击法简便易行，但在很大程度上依赖检测人员的经验，多用作其他(qt)无损检测方法的补充手段或粗略检查（例如铁路车辆的车轴、弹簧等在行车途中的检查）。也可用专用的电子敲击器敲击，用传感器拾取声波。第4页/共147页第四页，共147页。机器设备在运行过程中，如果零部件发生故障或出现缺陷，往往会产生强烈振动，发出噪声(zoshng)。这种振动和噪声(zoshng)，一方面反映了设备内部状态的变化，一方面也污染环境。通过检测噪声(zoshng)，可以找出噪声(zoshng)的原因和部位，以便采取措施抑制故障

3、，并对噪声(zoshng)进行有效控制。7.1.2 噪声噪声(zoshng)检检测测第5页/共147页第五页，共147页。噪声(zoshng)听诊器 监听噪声异响的方法较多，如直接用耳朵监听，这是用得最多的；借助于听棒、螺丝刀、胶管和听诊器等工具监听某部细微(xwi)声音，可收到直接用耳朵听听不到的声音。第6页/共147页第六页，共147页。例如：运用(ynyng)机械听诊器对16V240ZJC 型柴油机主机油泵轴承、高温水泵轴承、低温水泵轴承、柴油机控制端板上的中间齿轮轴承、左右过轮轴承、曲轴主轴承进行振动监测。当发现异常时，再利用轴承振动诊断仪进行精密诊断。第7页/共147页第七页，共14

4、7页。超声波检测是先用发射探头向被检物内部(nib)发射超声波声波，用接收探头接收缺陷处反射(或透射)的超声波，并将其显示在屏幕上。通过观测反射波(或透射波)的时延与衰减情况来判断缺陷的类型、大小、数量及位置。7.1.3 超声波检测超声波检测(jin c)第8页/共147页第八页，共147页。超声波检测的优点是：适用范围广(可检查厚度100cm钢材内部裂纹和其他缺陷，也可检测表面裂纹)、灵敏度高、设备简单、操作方便，并可以现场检测。其缺点是：不好检测结构复杂的零件(ln jin)、需要标样、一些组织结构对回波花样有影响。第9页/共147页第九页，共147页。一、超声波基础(jch)超声波是一种

5、频率高于20kHz的机械波，指向性好、穿透能力强。无损检测用的超声波频率一般为0.2M25MHz。第10页/共147页第十页，共147页。1.超声波的分类超声波可分为纵波、横波、表面波(瑞立波)和板波(兰姆波)。纵波：质点的振动方向与波的传播方向平行。质点受交变的拉压应力时产生(chnshng)。可在任何弹性介质(固体、液体、气体)中传播。可检测几何形状简单的工件的内部缺陷。横波：质点的振动方向与波的传播方向垂直。质点受交变的剪切应力时产生(chnshng)。只能在固体中传播。可以探测管件、杆件和其他几何外形复杂工件的内部缺陷。在同样工作频率下，横波检测的分辨率要比纵波几乎高一倍。表面波：沿介

6、质表面传播，表面质点做椭圆运动，可看作纵波与横波的合成。只能在固体中传播。适宜于探测表面缺陷。板波：在厚度与波长相当的弹性波板中传播。第11页/共147页第十一页，共147页。2超声波的传播超声波在媒介中传播，有波的叠加、反射、折射、透射、衍射(ynsh)、散射及吸收衰减等特性，一般遵循几何光学的原则。纵波的传播速度大于横波的传播速度。第12页/共147页第十二页，共147页。波形波形(b xn)转换：转换：当纵波倾斜入射到异质界面时，除产生反射纵波和折射纵波之外，还可能产生反射横波和折射横波。横波入射时也一样。当纵波倾斜入射到异质界面时，除产生反射纵波和折射纵波之外，还可能产生反射横波和折射

7、横波。横波入射时也一样。波形波形(b xn)转换只在固体介质中产生。转换只在固体介质中产生。第13页/共147页第十三页，共147页。第一临界角第一临界角I、第二临界角、第二临界角II：当纵波入射的入射角当纵波入射的入射角L小于小于I时，第二介质中存在折射时，第二介质中存在折射(zhsh)纵波和折射纵波和折射(zhsh)横波；横波；当当L介于介于I和和II之间时，第二介质中只存在折射之间时，第二介质中只存在折射(zhsh)横波；横波；当当aL大于大于II时，第二介质中只存在表面波。时，第二介质中只存在表面波。第14页/共147页第十四页，共147页。二、超声波检测设备超声波检测设备包括(bok

8、u):超声波检测仪、探头、试块、耦合剂。第15页/共147页第十五页，共147页。1超声波检测仪超声波检测仪是检测的主体设备，作用是产生电振荡作用于探头，使之发射超声波，同时将探头送回的电信号进行滤波、检波(jinb)、放大等，并以一定的方式显示出来。第16页/共147页第十六页，共147页。超声波检测仪按发射超声波的方式分为(fn wi)脉冲波检测仪、连续波检测仪和调频波检测仪。其中使用最广的是脉冲波检测仪，它向工件周期性地发射频率固定的超声波。第17页/共147页第十七页，共147页。第18页/共147页第十八页，共147页。超声波检测仪按显示方式分为：A超探伤：是一种波型显示，在显示屏幕

9、上以横坐代表声波的传播时间(shjin)(距离)，纵坐标代表反射波的幅度。B型探伤：是一种图像显示，可显示工件纵截面的图像。C型探伤：也是一种图像显示，可显示工件平行截面的图像。目前(mqin)使用最广的是A型脉冲反射式检测仪。第19页/共147页第十九页，共147页。第20页/共147页第二十页，共147页。2探头超声波检测一般采用压电型探头，其作用是利用压电晶片，在高频电振荡激励下产生高频机械振动发射超声波(发射探头)，或在超声波作用下产生机械变形，并因此(ync)产生电荷(接收探头)。第21页/共147页第二十一页，共147页。超声波探头按结构形式分为：直探头：用于交替地发射和接收纵波，

10、波束垂直于工件表面(biomin)。斜探头：利用楔块将声束倾斜于工件表面(biomin)而射入工件。一般用于横波探伤。第22页/共147页第二十二页，共147页。第23页/共147页第二十三页，共147页。斜探头的标称方式有三种：1)以纵波(zn b)入射角标称：常用的有30、45、50、55。2)以横波折射角标称：常用的有40、45、50、60、70。3)以折射角的正切值K标称：常用的有K1、K1.5、K2、K2.5、K3。第24页/共147页第二十四页，共147页。3试块试块是具有标准反射体的试件，其作用有：1)确定探伤灵敏度2)标定探测距离、评价缺陷的大小3)测试仪器和探头的性能(如扫描

11、(somio)特性、盲区、分辨率、探头波束特性等)。4)辅助测定材料的声学性能(如声速、材料衰减程度等)，以便选择合适的探伤方法。试块按制定的来历可分为标准试块和参考试块；按用途可分为检验试块和定量试块。第25页/共147页第二十五页，共147页。第26页/共147页第二十六页，共147页。4耦合剂耦合剂的作用(zuyng)是排除探头与工件之间的空气。使超声波有效地传入工件。常用的耦合剂有机油、甘油、水玻璃、水。第27页/共147页第二十七页，共147页。三、超声波检测方法超声波探伤按其原理可分为:脉冲反射法、穿透(chun tu)法和共振法。第28页/共147页第二十八页，共147页。1.脉

12、冲反射法脉冲反射法利用超声波探头发射脉冲到被检测试件内，根据(gnj)反射波的情况来检测试件缺陷。第29页/共147页第二十九页，共147页。其基本原理为：当试件完好时，超声波可顺利传播(chunb)到达底面，探伤图形中只有表面发射脉冲T及底面回波B两个信号；若试件中存在缺陷，在探伤图形中，底面回波前有表示缺陷的回波F。脉冲反射法灵敏度较高。第30页/共147页第三十页，共147页。第31页/共147页第三十一页，共147页。第32页/共147页第三十二页，共147页。2.穿透法根据超声波能量(nngling)变化情况来判断工件内部状况的。第33页/共147页第三十三页，共147页。穿透法是将

13、发射探头和接收探头分别(fnbi)置于工件的两相对表面。发射探头发射的超声波能量是一定的，在工件不存在缺陷时，超声波穿透一定工件厚度后，在接收探头上所接收到的能量也是一定的。而工件存在缺陷时，由于缺陷的反射使接收到的能量减少，从而断定工件存在缺陷。第34页/共147页第三十四页，共147页。穿透法探伤的灵敏度不如(br)脉冲反射法高，且受工件形状的影响较大，但较适宜检查成批生产的工件。如板材一类的工件，可以通过接收能量的精确对比而得到高的精度，宜实现自动化。第35页/共147页第三十五页，共147页。3共振法：共振法是根据声波(shn b)（频率可调的连续波）在工件中呈共振状态来测量工件厚度或

14、判断有无缺陷的方法。这种方法主要用于表面较光滑的工件的厚度检测，也可用于探测复合材料的粘合质量和钢板内的夹层缺陷检测。第36页/共147页第三十六页，共147页。声波在工件内传播(chunb)时，如入射波与反射波同相位（即工件厚度为超声波波长的一半或成整数倍时），则引起共振。共振法测厚的公式为：在测得共振频率f和共振次数n后，便可计算材料的厚度。共振法的特点是：1可精确的测厚，特别适宜测量薄板(bo bn)及薄壁管；2工件表面光洁度要求高，否则不能进行测量。第37页/共147页第三十七页，共147页。四、缺陷评定1缺陷的定位缺陷的定位是根据缺陷反射波在荧光屏时间扫描线上出现(chxin)的位置

15、来确定缺陷在工件中的位置。第38页/共147页第三十八页，共147页。对于纵波探伤，缺陷定位比较简单：假定仪器已按1:n调节好扫描速度，而缺陷波对应的水平刻度(kd)为SF，则缺陷至探头的垂直距离为x=nSF。或者x=hSFSB，h为工件厚度，SB为底波的水平刻度(kd)。第39页/共147页第三十九页，共147页。对于横波(hngb)探伤，若探头中心至缺陷的声程为S，探头折射角为B，则:第40页/共147页第四十页，共147页。2缺陷的定量缺陷的定量指确定缺陷的大小和数量。定量方法大致(dzh)可分为两类：当量法：用于缺陷小于声束截面的情况。测长法：用于缺陷大于声束截面的情况第41页/共14

16、7页第四十一页，共147页。1)当量法当量法根据缺陷波高度来对缺陷进行定量。目前的超声波探伤并不能确定缺陷的实际大小，而一般采用“当量”的概念(ginin)。当量法有当量试块比较法、底波高度百分比法、AVG曲线法等。第42页/共147页第四十二页，共147页。u 当量试块比较法：u用标准反射(fnsh)体的反射(fnsh)波高度作为基准对缺陷进行定量。由于需要大量试块，现在己很少使用。第43页/共147页第四十三页，共147页。u 底波高度百分比法：u用缺陷波和底面反射波的高度相比较。底波高度可以是有缺陷与无缺陷时的两种情况。u这种方法(fngf)不需要试块，只给出相对高度，不给出缺陷的当量大

17、小。由于缺陷距离对百分比有影响，所以存在不足。第44页/共147页第四十四页，共147页。uAVG曲线法：u根据超声场的特性(txng)，用数学物理计算的方法，得出声程距离(A)、增益(V)和缺陷当量大小(G)三者之间关系的一组曲线。根据AVG曲线即可确定缺陷的当量大小。第45页/共147页第四十五页，共147页。AVG曲线(qxin)第46页/共147页第四十六页，共147页。2)测长法缺陷大于声束截面时，缺陷波高度不会再随缺陷的增大而增加(zngji)，这时一般根据缺陷波高度和探头移动距离来对缺陷进行定量，即所谓的测长定量法。第47页/共147页第四十七页，共147页。测量(cling)缺

18、陷的指示长度的基本原理是建立在声束指向性上的。当缺陷与声束中心轴相遇时，放射波较强。随着探头的移动，缺陷逐渐偏离声束中心，缺陷波也就随之降低直到消失。测长法有:半波高度法、两端6dB法、绝对灵敏度测长法等。第48页/共147页第四十八页，共147页。半波高度法(6dB测长法)：用探头移动过程中，缺陷波高降低6dB(即一半)时，探头中心线之间的距离Lu作为缺陷的指示(zhsh)长度。第49页/共147页第四十九页，共147页。两端6dB法：当缺陷不规则时，探头移动(ydng)时，可能出现很多峰值，应用半波高度法就有困难，因为无法确定用哪个峰值作为最大反射波。端点6dB法的做法是：以最靠两端的峰值

19、为基准。第50页/共147页第五十页，共147页。以上为相对绝对灵敏度测长法。绝对灵敏度测长法：绝对灵敏度是在仪器灵敏度一定的条件下，探头(tn tu)沿缺陷长度方向移动时，当缺陷波高度降到规定位置时，探头(tn tu)移动的距离即为缺陷的指示长度。第51页/共147页第五十一页，共147页。3缺陷的定性缺陷的定性指确定缺陷的类型(如裂纹(li wn)、气孔、夹渣、白点等)。目前在实际检测中尚有一定困难。第52页/共147页第五十二页，共147页。第53页/共147页第五十三页，共147页。第54页/共147页第五十四页，共147页。DF4D型机车车轴超声波检测小修机车探伤检查：将8纵波探头分

20、别放置在车轴两侧(lin c)端面上，将6纵波探头放置在齿轮侧车轴端面上。中修机车探伤检查：将K1横波斜探头放置在车轴轴身上，将K1.8横波斜探头放置在车轴抱轴颈上。第55页/共147页第五十五页，共147页。一、原理与特点材料受力作用，产生变形或断裂时，以弹性波的形式放出应变能的现象称为声发射(简称AE)。用仪器探测、记录、分析声发射信号和利用(lyng)声发射信号推断声发射源的技术称为声发射检测技术(AET)。7.1.4 声发射声发射(fsh)检检测测第56页/共147页第五十六页，共147页。声发射波的频率范围很宽，从次声频、声频直到超声频，可包括数Hz到数MHz；其幅度从微观的位错转动

21、到大规模宏观断裂在很大的范围内变化，按传感器的输出可包括数V到数百mV，不过多数为只能用高灵敏传感器才能探测(tnc)到的微弱振动。用最灵敏的传感器，可探测(tnc)到约为10-11mm 表面振动。第57页/共147页第五十七页，共147页。声发射源发出的弹性波，经介质传播到达被检体表面，引起表面的机械振动。声发射传感器将表面的瞬态位移(wiy)转换成电信号。声发射信号在经放大、处理后，其波形和特性参数被纪录与显示。最后，经数据的分析与解释，评定出声发射源的特性。第58页/共147页第五十八页，共147页。AET技术的主要目的是：确定声发射源的部位；分析(fnx)声发射源的性质；确定声发射发生

22、的时间或载荷；按照有关的声发射标准评定声发射源的严重性。第59页/共147页第五十九页，共147页。AET技术具有以下特点：1)声发射法适用实时(sh sh)动态监控检测。2)缺陷定位时不需要使传感器在被检物体表面扫描。3)受材料的性能和组织的影响要小些。可以检测复合材料。5)使用比较简单，检测费用较低。缺点和不足：受噪声干扰大；不能给出声发射源处缺陷的性质和大小。第60页/共147页第六十页，共147页。二、声发射信号的表征参数1.声发射事件：指一个声发射脉冲激发声发射传感器所形成的一个完整振荡波型。2.声发射振幅：一个完整的声发射振荡波型中的最大幅度。它反映声发射事件释放能量的大小(dxi

23、o)。3.事件持续时间：一个声发射事件所经历的时间，通常用振荡波型与门槛值的第一个交点到最后一个交点所经历的时间来表示。它反映声发射事件规模的大小(dxio)。单个声发射事件持续时间一般很短(0.01100s)。4.上升时间：振荡波型与门槛值的第一个交点到最大幅度所经历的时间。它反映声发射事件的突发程度。第61页/共147页第六十一页，共147页。第62页/共147页第六十二页，共147页。三、影响声发射(fsh)特性的因素声发射(fsh)来自材料的变形与断裂机制，因而所有影响变形与断裂机制的因素均构成影响声发射(fsh)特性的因素，主要包括：1.材料，包括成分、组织、结构，例如金属材料中的晶

24、格类型、晶粒尺寸、夹杂、第二相、缺陷，复合材料中的基材、增强剂、接口、纤维方向、残余应力等。2.试件，包括尺寸与形状。3.应力，包括应力状态、应变率、受载历史。4.环境，包括温度、腐蚀介质。第63页/共147页第六十三页，共147页。四、声发射(fsh)检测仪声发射(fsh)检测仪由传感器、信号处理器(前置放大器、滤波器、主放大器、门槛值检测器、声发射(fsh)计数器等)和信号显示器组成。第64页/共147页第六十四页，共147页。第65页/共147页第六十五页，共147页。声发射传感器：通常用压电材料，利用(lyng)压电效应，把声发射信号转换为电信号。第66页/共147页第六十六页，共14

25、7页。门槛(mnkn)值检测器：是一种幅度鉴别装置，它把低于门槛(mnkn)值的信号遮蔽掉，而把大于门槛(mnkn)值的信号变成一定幅度的脉冲，供计数器计数用。第67页/共147页第六十七页，共147页。四、声发射信号的分析方法1.事件计数法和振铃计数法事件计数法用事件数或单位时间内的事件数来处理声发射信号。常与振铃计数法一起使用。振铃计数法对声发射信号中超越门槛值的峰值数进行计数。该法应用广泛，特别适用于疲劳裂纹扩展的研究(ynji)。也可用单位时间内的振铃数来表示。第68页/共147页第六十八页，共147页。2能量分析方法能量分析法是直接度量传感器振荡信号的振幅(或有效值)和信号的持续时间

26、。检测振动能量：R为电压测量电路的输入电阻。能量分析法通常以二种数据型式给出，即能量值和能量率。能量值指在给定的测量时间内所测量到的能量，能量率则为单位时间的能量值。能量分析法比振铃计数更能反映裂纹(li wn)开裂特征。第69页/共147页第六十九页，共147页。3振幅分布分析振幅分布按信号峰值的大小范围对声发射信号进行计数。它可以从能量(nngling)角度来观察不同材料声发射特性的差异，或同种材料在不同阶段声发射特性的变化。第70页/共147页第七十页，共147页。4.4.频谱分析法频谱分析法 前面几种方法中，声发射信号的振幅是测量的主要参数，因为它表征了声发射的能量大小。但许多研究者认

27、为声发射的频率成分前面几种方法中，声发射信号的振幅是测量的主要参数，因为它表征了声发射的能量大小。但许多研究者认为声发射的频率成分(chng fn)(chng fn)和振幅一样，也包含着声发射微观过程的重要信息，也应作为测量的参数之一。这样便产生了声发射信号处理的频谱分析法和振幅一样，也包含着声发射微观过程的重要信息，也应作为测量的参数之一。这样便产生了声发射信号处理的频谱分析法 。第71页/共147页第七十一页，共147页。五、缺陷的定位与评定1.声发射源的定位进行声发射源的定位时，要求将传感器布置成一定的阵列形式。对一维问题，采用两个传感器。声发射源的位置为：x(s十vt)2s为两个传感器

28、之间的距离，t为AE信号(xnho)到达两个传感器的时间差，v为AE信号(xnho)在材料中的传播速度。第72页/共147页第七十二页，共147页。对于(duy)二维问题，可采用正方形、三角形、菱形等形式布置传感器。同样根据s、v、t可确定声发射源的位置。第73页/共147页第七十三页，共147页。2缺陷的评定声发射缺陷的评定目前尚无标准，下面以压力容器为例介绍。1)按升压过程声发射频度分类评价只考虑升压过程声发射信号出现的频度，而不注意声发射信号的强度。按这种方法将缺陷分为三级。A级：严重声发射信号，对这种缺陷，应采用(ciyng)其他无损检测方法复验。B级：重要声发射信号，对这种缺陷，需重

29、点监视。c级：无关紧要的声发射信号。2)按声发射源活动性和强度分类评价声发射源活动性是指声发射事件计数或振铃计数随压力变化出现的频度。第74页/共147页第七十四页，共147页。声发射(fsh)检测的应用类型检测信息应用验收检测设计、材料缺陷，包括：焊接缺陷及结构薄弱区新制品验收试验中安全监视与结构完整性评价，主要用常规方法受限制或有特殊要求的对象，包括：复合材料结构、多层容器、危险物内装容器、现场竖装储罐等定期检测使用中新生缺陷，包括：应力腐蚀、轻脆、疲劳裂文及材料脆化定期加载试验中安全监视与结构完整性评价，包括：金属、复合材料压力容器、储罐、管道、地下管线、运输储槽等运行中连续或断续监视运

30、行中活动性缺陷，包括：应力腐蚀、轻脆、疲劳、泄漏及轴承异常结构关键部位破坏的早期预报，包括：核电站反应容器、一次冷却管、发电站轴承、飞机机翼等第75页/共147页第七十五页，共147页。例1：2001年1月和3月，水利部质检中心和清华大学无损(w sn)检测技术工程中心组成检测组，先后对三峡水利枢纽工程水轮发电机组座环和蜗壳在充水升压和保压阶段进行了声发射监控检测。通过声发射实时监测，发现了蜗壳03管节与大舌板对接焊缝的咬边在充水升压和保压阶段萌生、扩展的裂纹，。第76页/共147页第七十六页，共147页。例2：铁路货车(huch)轴承的声发射故障诊断第77页/共147页第七十七页，共147页

31、。一、射线(shxin)检测原理与特点射线(shxin)检测是利用射线(shxin)(x射线(shxin)、Y射线(shxin)、中子射线(shxin)等)穿过材料时的强度衰减，检测其内部结构不连续性。7.2 射线射线(shxin)检测检测诊断诊断第78页/共147页第七十八页，共147页。当射线穿过物质时，若物质的内部有气孔、夹渣等缺陷，射线穿过有缺陷的路径比没有缺陷的路径所透过(tu u)的物质密度要小得多，其强度就减弱得少些，即透过(tu u)的强度就大些。若用底片接收，则感光量就大些，就可以从底片上反映出缺陷垂直于射线方向的平面投影；若用其它接收器也同样可以反映缺陷垂直于射线方向的平面

32、投影和射线的透过(tu u)量。第79页/共147页第七十九页，共147页。射线检测的主要优点是：1)几乎适用于所有材料，且对工件形状和表面粗糙度无特别要求。2)能直观显示缺陷影像，便于观察分析。3)射线底片能长期保存。射线检测的局限性在于(ziy)：1)射线探伤适于检测体积型缺陷(如气孔、夹渣等)探伤，但不适宜检测面积型缺陷(如裂纹)。2)检测费用较高，且需做特殊防护。第80页/共147页第八十页，共147页。二、射线检测装置1x射线检测仪x射线检测仪主要由x射线管、高压(goy)发生器、控制柜和冷却装置组成。第81页/共147页第八十一页，共147页。ux射线管：用于产生x射线的一种真空二

33、极管，其阴极(灯丝)用来产生热电子，在阳极与阴极之间加高电压(称为管电压)，电子以高速度向阳极靶撞击(zhungj)，其动能大部分转换为热能，小部分则转换为x射线。第82页/共147页第八十二页，共147页。u高压发生器：用于在阳极与阴极(ynj)之间产生高电压。u冷却装置：用于对x射线管进行循环冷却，防止阳极烧损。第83页/共147页第八十三页，共147页。2射线检测仪射线检测仪一般由射线源(常用(chn yn)的有钴60、铱192、铯137)、源容器、输源机构和控制机构组成。第84页/共147页第八十四页，共147页。三、射线检测诊断(zhndun)方法射线检测根据内部结构显示方法不同，可

34、分为：射线照相法、荧光屏法(发展为工业电视)、层析摄影(工业CT)技术等。目前应用最广泛的是射线照相法。第85页/共147页第八十五页，共147页。工业(gngy)CT（Computed Tomography）第86页/共147页第八十六页，共147页。1基本透照参数（曝光规范）射线照相检验的基本透照参数是：射线能量、焦距(jioj)、曝光量。对于x射线检验：x射线管所施加的管电压反应射线的能量，即穿透金属的能力。焦距(jioj)是射线源与胶片之间的距离。曝光量是透照时间(曝光时间)与射线强度(实际中常用管电流代替)的乘积，它决定底片的黑度。第87页/共147页第八十七页，共147页。探伤前，

35、应根据曝光曲线(qxin)找出正确的曝光规范。第88页/共147页第八十八页，共147页。对于射线检验：射线能量取决于射线源的种类(zhngli)；射线源的剂量反映射线的强度。曝光量是射线源剂量与曝光时间的乘积。第89页/共147页第八十九页，共147页。2射线照相检测的灵敏度在底片上所能发现的工件中沿射线穿透(chun tu)方向上最小缺陷的尺寸，称为绝对灵敏度。所能发现的最小缺陷的尺寸与被透照厚度的比值，称为相对灵敏度。一般所说的灵敏度即指相对灵敏度。一般用带有人工缺陷的像质计(透度计)来确定相对灵敏度。第90页/共147页第九十页，共147页。像质计有金属(jnsh)线型和金属(jnsh

36、)槽型两类。像质计使用时，安放在曝光区工件的表面上，与检验部位一起曝光。根据胶片上所发现的像质计的最小直径，来确定灵敏度:相对灵敏度K=C/S*100%第91页/共147页第九十一页，共147页。3影像质量的基本因素射线照相影像的质量由对比度、不清晰度和颗粒度决定(judng)。对比度：指影像的黑度与背景的黑度之差。不清晰度：描述影像边缘扩展的程度。产生不清晰度的原因主要有几何不清晰度、胶片不清晰度。颗粒度：是影像黑度分布不均匀的描述，它是感光剂微粒分布的随机性、射线光最子吸收的随机性的反映。第92页/共147页第九十二页，共147页。4散射线控制被照射的工件及其周围物体会产生散射线，降低影像

37、质量。减少到达胶片(jiopin)的散射线的方法有：滤波、光阑、遮蔽、屏蔽等。第93页/共147页第九十三页，共147页。滤波：是在x射线管窗口附近放置滤光板，吸收(xshu)长波部分的x射线。光阑与遮蔽：是采用对射线具有强烈吸收(xshu)性能的材料(如铅板)，盖住检验区以外的部位。屏蔽：是在工件与胶片之间放置屏蔽板，吸收(xshu)从工件产生的散射线，在胶片暗袋后放置铅板，吸收(xshu)从胶片后方来的散射线。第94页/共147页第九十四页，共147页。5增感射线胶片吸收射线的能量很少(大部分透过胶片)，为了更多地吸收射线能量，减少(jinsho)曝光时间，常使用增感屏与胶片紧贴在一起进行

38、射线照相。常用的增感屏有荧光增感屏、金属增感屏。第95页/共147页第九十五页，共147页。荧光增感屏是利用(lyng)荧光物质受射线照射后，吸收射线能量，并发出荧光，来使胶片感光。金属增感屏是利用(lyng)金属受射线照射后，产生二次电子，来使胶片感光。第96页/共147页第九十六页，共147页。四、胶片处理（暗室处理）1）显影：利用显影液，将已曝光的胶片中的潜像变成可见(kjin)像。2）停显：停止显影液对胶卷乳剂的显影作用，防止显影液对定影液的污染。此过程一般用停显液进行，也可用清水代替停显液。3）定影：利用定影剂，除去未感光和未被显影的银盐使底片的影像固定下来。4）冲洗5）干燥：自然干

39、燥或干燥器干燥。第97页/共147页第九十七页，共147页。五、缺陷评定首先对底片反映出来的缺陷进行性质、大小、数量(shling)及位置的识别，然后根据这些情况，与探伤标准进行比较定级。第98页/共147页第九十八页，共147页。GB/T5677-1985 铸钢件射线照相及底片等级分类方法(fngf)规定了厚度为5300mm铸钢件的射线照相方法(fngf)及底片等级分类方法(fngf)。JB928-67 焊缝射线探伤标准将焊缝质量分为五个等级，一级焊缝缺陷最少、质量最好。第99页/共147页第九十九页，共147页。缺陷位置的确定缺陷的长度、宽度(kund)以及水平方向的相对位置可直接得到。但

40、是缺陷的厚度和埋藏的深度，还需要其他办法才能确定。由于解决方法比较麻烦，因此事前须考虑是否有必要和有价值。第100页/共147页第一百页，共147页。1）缺陷埋藏深度的确定采用二次曝光(bo gung)的方法，x光机在F1和F2位置各曝光(bo gung)一次，在底片上得到缺陷O的两个投影E1和E2。则在忽略c时，缺陷埋藏深度第101页/共147页第一百零一页，共147页。2）缺陷在射线方向的厚度(hud)确定采用黑度计测定。用光源射向底片上的缺陷影像，光线穿过底片照射到光电管，产生光电流。缺陷越厚，光电流越小。因此由电流值可得到缺陷厚度(hud)。第102页/共147页第一百零二页，共147

41、页。六、射线的安全防护(fngh)1）采用防护(fngh)装置2）缩短接触射线的时间3）加大与射线源的距离第103页/共147页第一百零三页，共147页。例：平板对接焊缝的X射线检测透照时将暗盒放在工件的背面射线束中心对准焊缝中心线，像质计、标记号码放在靠近射线源一侧的焊缝表面上，以便确定底片(dpin)的灵敏度。为防止散射线的干扰，在焊缝的表面的两侧可用铅板屏蔽。第104页/共147页第一百零四页，共147页。为了检查V形和X形坡口焊缝(hn fn)边缘附近及焊层间较小的未焊透和未熔合缺陷，除了射束对准焊缝(hn fn)中心线透照外，还可以再做两次射束方向沿坡口方向左右两侧进行的透照。用此种

42、方法也容易发现沿断面方向延伸的裂缝等缺陷。第105页/共147页第一百零五页，共147页。一、检测原理与特点 磁粉检测是建立在漏磁原理基础上的一种磁力探伤方法。当磁力线穿过铁磁材料时，在其不连续处将产生漏磁场，形成磁极。此时撒上干磁粉或浇上磁悬液，磁极就会吸附磁粉，产生用肉眼可直接观察的明显(mngxin)磁痕，借助该磁痕可显示铁磁材料的缺陷情况。7.3 磁粉检测磁粉检测(jin c)诊诊断断第106页/共147页第一百零六页，共147页。磁粉检测可探测(tnc)露出表面，用肉眼或借助于放大镜也不能直接观察到的微小缺陷，也可探测(tnc)未露出表面，和埋藏在表面下几毫米的近表面缺陷。用这种方法

43、虽然也能探查气孔、夹杂、未焊透等体积型缺陷，但对垂直于磁力线的面积型缺陷更敏感。也可以不用磁粉显示，而借助予感应线圈、磁敏管、霍尔元件等来反映缺陷，习惯上称为漏磁检测，它比磁粉检测更卫生，但不如前者直观。第107页/共147页第一百零七页，共147页。二、磁化与退磁对工件的磁化方法(fngf)主要有两种：1）采用通电线圈或电磁铁对工件进行磁化；2）给工件通大电流。第108页/共147页第一百零八页，共147页。磁化电流可以是交流电或直流电。直流磁化：给磁化线圈(或工件(gngjin)通直流电或半波整流电流，工件(gngjin)获得磁化场较均匀，能发现较深的缺陷。但由于不易调整电压，通常只用于磁

44、圈、磁轭等。交流磁化：给磁化线圈(或工件(gngjin)通交流电。由于交流电有集肤效应，工件(gngjin)表面的磁化场较强，适合检测表面缺陷。第109页/共147页第一百零九页，共147页。退磁：经磁力探伤的工件会有剩磁，给使用带来不利影响。因此带有剩磁的零件如果不再进行热处理（加热过居里点后，剩磁会消失），一般需要进行退磁。常用(chn yn)的退磁方法有：直流电退磁：用直流电磁化的工件，必须用直流电退磁。交流电退磁：退磁的检验：回形针、磁粉第110页/共147页第一百一十页，共147页。三、检测方法磁粉检测有好几种分类方法：1.依磁场方向可分为：纵向磁化和周向磁化 1)纵向磁化：使电流通

45、过线圈或磁轭等，产生的磁力线与工件轴向平行(pngxng)，适于检查横向裂纹。纵向磁化法包括线圈磁化法、磁轭法和电磁铁法。第111页/共147页第一百一十一页，共147页。n线圈磁化法是一种开路磁化方法，主要用于细长轴、杆件的探伤(tn shng)；n磁轭法是一种闭路磁化法，在线圈法的基础上再加一个铁轭，磁力线在磁轭和工件中形成闭合回路。灵敏度比线圈法高。n电磁铁法是一种局部闭合磁化方法，使用较灵活，但效率较低。第112页/共147页第一百一十二页，共147页。2)周向磁化：使电流通过试件(或试件中心的导体)，产生的磁力线与电流方向垂直，适于检查纵向裂纹(li wn)。包括直接通电法、心棒通电

46、法、电极触点法。第113页/共147页第一百一十三页，共147页。3)联合磁化法：同时使用(shyng)纵向磁化和周向磁化第114页/共147页第一百一十四页，共147页。2.依磁性介质种类可分为：干式和湿式。干式磁粉，通常(tngchng)又称为磁粉，通常(tngchng)以喷散方式施加于试件表面。湿式磁粒，通常(tngchng)是磁粒悬浮液，或俗称磁浴，以喷洒或涂刷等方式施加于试件表面。第115页/共147页第一百一十五页，共147页。3.依施加磁粒和磁化的先后顺序可分为连续(linx)法和剩磁法。连续(linx)法：磁化电流和磁粉同时施加或连续(linx)施加，此法适合检测保磁性低的材料

47、，如低碳钢等。剩磁法：磁化电流停止后才施加磁粉，此法适合检测保磁性高的材料，如高碳钢等。第116页/共147页第一百一十六页，共147页。四、磁粉检测设备与规范1磁粉探伤机可分为携带式磁粉探伤机和固定式探伤机。携带式磁粉探伤机一般只采用一种磁化(chu)方式。固定式探伤机一般都可进行多种磁化(chu)，如纵向磁化(chu)采用直流闭路线圈法，周向磁化(chu)采用交流电。第117页/共147页第一百一十七页，共147页。2磁粉和磁悬液磁粉和磁悬液磁粉分普通磁粉和荧光磁粉两大类。磁粉分普通磁粉和荧光磁粉两大类。普通磁粉通常是用普通磁粉通常是用Fe3O4和红色和红色Fe2O3制成的细微颗粒；制成的

48、细微颗粒；荧光磁粉是以荧光物质处理过的磁粉荧光磁粉是以荧光物质处理过的磁粉(如用化学合成的方法在普通磁粉外面包一层荧光物质如用化学合成的方法在普通磁粉外面包一层荧光物质)。磁粉必须具有适当的磁性、粒度磁粉必须具有适当的磁性、粒度(l d)、分散性、颜色。、分散性、颜色。第118页/共147页第一百一十八页，共147页。磁悬液是将磁粉悬浮于载液磁悬液是将磁粉悬浮于载液(变压器油、煤油或水溶液变压器油、煤油或水溶液)中。中。磁悬液应具有适当的粘度磁悬液应具有适当的粘度(zhn d)、浓度。、浓度。第119页/共147页第一百一十九页，共147页。3检测规范检测规范磁粉检测的主要规范有：磁粉检测的主

49、要规范有：磁化电流：磁化电流：直接通交流电磁化时：直接通交流电磁化时：I=(6-18)d (安安)，d是工件是工件(gngjin)直直径径(mm)间接通交流电磁化时：间接通交流电磁化时：I=(20-30)d (安安)用直流电时，计算值降低用直流电时，计算值降低2035 第120页/共147页第一百二十页，共147页。磁粉的性能和粒度磁粉的性能和粒度(l d)(或磁悬液的性能和浓度或磁悬液的性能和浓度)磁化时间。磁化时间。第121页/共147页第一百二十一页，共147页。五、五、磁痕分析磁痕分析磁痕分析是通过观测磁痕评价缺陷的性质和真伪磁痕分析是通过观测磁痕评价缺陷的性质和真伪(zhn wi)。

50、磁痕分为缺陷磁痕和伪磁痕。磁痕分为缺陷磁痕和伪磁痕。缺陷磁痕包括裂纹磁痕、发纹磁痕和点状磁痕。缺陷磁痕包括裂纹磁痕、发纹磁痕和点状磁痕。伪磁痕是由于零件本身磁导率不均匀、或磁力线分布不均伪磁痕是由于零件本身磁导率不均匀、或磁力线分布不均匀造成的磁痕。匀造成的磁痕。第122页/共147页第一百二十二页，共147页。一、一、涡流检测的原理与特点涡流检测的原理与特点涡涡 流流 检检 测测(ET)是是 以以 电电 磁磁 感感 应应(dinc-gnyng)理论为基础的。理论为基础的。涡涡流流检检测测用用正正弦弦波波电电流流激激励励探探头头线线圈圈，当当探探头头接接近近金金属属表表面面时时，线线圈圈周周围