气溶胶测量优秀课件.ppt
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1、气溶胶测量第1页,本讲稿共47页惯性、重力、离心和热收集技术 n n10.1绪论 n n10.2惯性分级器 n n10.3沉降装置和离心机 n n10.4热力沉降 第2页,本讲稿共47页10.1绪论n n粒子采样中常用的惯性分离器包括冲击式采样器(impactor)、虚拟冲击式采样器(virtual impactors)和旋风器(cyclone)。n n沉降室包括离心分离器和重力沉降装置,但不常用。n n热沉降器几乎不用。第3页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n粒子惯性分级器的原理相当简单,即利用粒子的惯性将其分离。在这些设备中调整风速,如果粒子的惯性大到足以使其穿过气流并逃离气流,那么
2、粒子将被俘获,惯性较小的粒子将留在气流中。n n一般使用4种惯性分级器,即机体冲击式采样器、常规冲击式采样器、虚拟冲击式采样器和旋风器。第4页,本讲稿共47页第5页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n常规冲击式采样器常规冲击式采样器 载有粒子的气体喷射冲击在一个平板上。载有粒子的气体喷射冲击在一个平板上。这种冲击式采样器还包括:圆形或矩形喷这种冲击式采样器还包括:圆形或矩形喷嘴冲击式采样器,单喷嘴或多喷嘴冲击式嘴冲击式采样器,单喷嘴或多喷嘴冲击式采样器以及平面或圆柱形冲击板。采样器以及平面或圆柱形冲击板。第6页,本讲稿共47页n n冲击式采样器由一个喷嘴和冲击式采样器由一个喷嘴和一个冲击板
3、组成,它可以根一个冲击板组成,它可以根据粒度把粒子有效地分为两据粒度把粒子有效地分为两部分部分 n n通常情况下,人们希望确定气通常情况下,人们希望确定气溶胶的整个粒径分布,而不仅溶胶的整个粒径分布,而不仅仅是小于特定粒径的粒子数量。仅是小于特定粒径的粒子数量。在这种情况下,应使用一系列在这种情况下,应使用一系列层叠的冲击级,即是使气流从层叠的冲击级,即是使气流从一级到达另一级,这样就可以一级到达另一级,这样就可以在不连续的粒径范围内去除粒在不连续的粒径范围内去除粒子子 第7页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n常规冲击式采样器常规冲击式采样器常规冲击式采样器常规冲击式采样器评估冲击板上的
4、沉积粒子的方法评估冲击板上的沉积粒子的方法评估冲击板上的沉积粒子的方法评估冲击板上的沉积粒子的方法 (1 1)将粒子收集在玻璃板、滤膜或金属薄片上,然后用)将粒子收集在玻璃板、滤膜或金属薄片上,然后用显微镜观察或计数;显微镜观察或计数;(2 2)将粒子收集在金属薄片上,称重金属薄片以确定每级)将粒子收集在金属薄片上,称重金属薄片以确定每级收集到的粒子质量;收集到的粒子质量;(3 3)将粒子收集在石英晶体上,根据晶体自然频率的)将粒子收集在石英晶体上,根据晶体自然频率的变化而确定粒子质量;变化而确定粒子质量;(4 4)在粒子通过冲击式采样器之前,对粒子充电,并测)在粒子通过冲击式采样器之前,对粒
5、子充电,并测量每个冲击板的电流强度以确定收集到的粒子数量量每个冲击板的电流强度以确定收集到的粒子数量 第8页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n常规冲击式采样器常规冲击式采样器常规冲击式采样器常规冲击式采样器 冲击式采样器存在冲击式采样器存在冲击式采样器存在冲击式采样器存在3 3个主要问题个主要问题个主要问题个主要问题粒子反弹、过量采集和级间粒子反弹、过量采集和级间粒子反弹、过量采集和级间粒子反弹、过量采集和级间损失损失损失损失 粒子反弹粒子反弹,因为从一个冲击板上反弹出的粒子将会由切割粒径更,因为从一个冲击板上反弹出的粒子将会由切割粒径更小的后级阶段收集或被后备滤膜收集,从而改变粒径分布
6、,而小的后级阶段收集或被后备滤膜收集,从而改变粒径分布,而且滞留下来的粒子会阻塞后级阶段的较小喷嘴。解决粒子反弹且滞留下来的粒子会阻塞后级阶段的较小喷嘴。解决粒子反弹问题的最合理方法就是在冲击板上使用粘性表面问题的最合理方法就是在冲击板上使用粘性表面 冲击板上粒子超负载沉积冲击板上粒子超负载沉积的问题更容易解决,因为收集到的粒子的问题更容易解决,因为收集到的粒子数量是采样时间的函数。数量是采样时间的函数。级间损失级间损失,与粒径有关因此再次歪曲了粒径分布的测量值,与粒径有关因此再次歪曲了粒径分布的测量值,用用实验确定粒径与级间损失之间的函数关系,那么就可以修正实验确定粒径与级间损失之间的函数关
7、系,那么就可以修正冲击式采样器的粒径分布数据。冲击式采样器的粒径分布数据。第9页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n虚拟冲击式采样器虚拟冲击式采样器 主要区别在于常规冲击式采样器中的冲击板被虚拟冲击式采样器的探头代替,带有粒子的喷射气流通过喷嘴进入探头并发生分离 第10页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n虚拟冲击式采样器虚拟冲击式采样器虚拟冲击式采样器虚拟冲击式采样器 虚拟冲击式采样器中,需要考虑的主要问题就是级间粒子损失。这虚拟冲击式采样器中,需要考虑的主要问题就是级间粒子损失。这些损失通常发生在收集探头的上边缘或喷嘴板的背面。粒径等于些损失通常发生在收集探头的上边缘或喷嘴板的背面
8、。粒径等于冲击式采样器切割点的粒子的损失量最大,而且,如果虚拟冲击冲击式采样器切割点的粒子的损失量最大,而且,如果虚拟冲击式采样器设计不精确或使用不正确,这些损失可高达式采样器设计不精确或使用不正确,这些损失可高达60%60%影响这些损失的主要因素包括:探头直径与喷嘴直径的比值、探头影响这些损失的主要因素包括:探头直径与喷嘴直径的比值、探头形状、喷嘴轴与探头轴的对准、伸出过喷嘴板的喷嘴形状、喷射形状、喷嘴轴与探头轴的对准、伸出过喷嘴板的喷嘴形状、喷射流的雷诺数及次气流的比例。流的雷诺数及次气流的比例。通常情况下,喷嘴和探头的轴必须对准,探头直径应比喷嘴通常情况下,喷嘴和探头的轴必须对准,探头直
9、径应比喷嘴直径大直径大30%40%30%40%,喷嘴的进口应该平滑,而喷嘴应当伸出,喷嘴的进口应该平滑,而喷嘴应当伸出入喷嘴板约入喷嘴板约2323个喷嘴直径,次气流应占总气流的个喷嘴直径,次气流应占总气流的5%15%5%15%。第11页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n机体冲击式采样器机体冲击式采样器 机体采样器仅使冲击表面(机体)通过空气或相反地使空气通机体采样器仅使冲击表面(机体)通过空气或相反地使空气通机体采样器仅使冲击表面(机体)通过空气或相反地使空气通机体采样器仅使冲击表面(机体)通过空气或相反地使空气通过机体而工作。研究成功的两类机体采样器是旋转棒采样器和过机体而工作。研究成
10、功的两类机体采样器是旋转棒采样器和过机体而工作。研究成功的两类机体采样器是旋转棒采样器和过机体而工作。研究成功的两类机体采样器是旋转棒采样器和NollNoll冲击式采样器冲击式采样器冲击式采样器冲击式采样器 第12页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n旋风采样器旋风采样器旋风采样器旋风采样器 在旋风采样器中,喷射的空气毫无约束地冲击在圆柱在旋风采样器中,喷射的空气毫无约束地冲击在圆柱在旋风采样器中,喷射的空气毫无约束地冲击在圆柱在旋风采样器中,喷射的空气毫无约束地冲击在圆柱体内表面,然后在圆柱体中以旋风的形式向下运动并体内表面,然后在圆柱体中以旋风的形式向下运动并体内表面,然后在圆柱体中以
11、旋风的形式向下运动并体内表面,然后在圆柱体中以旋风的形式向下运动并进入一个圆锥区。在圆锥区中,空气改变方向并围绕进入一个圆锥区。在圆锥区中,空气改变方向并围绕进入一个圆锥区。在圆锥区中,空气改变方向并围绕进入一个圆锥区。在圆锥区中,空气改变方向并围绕旋风器的轴呈螺旋状向上并在圆柱体的上边缘到达逃旋风器的轴呈螺旋状向上并在圆柱体的上边缘到达逃旋风器的轴呈螺旋状向上并在圆柱体的上边缘到达逃旋风器的轴呈螺旋状向上并在圆柱体的上边缘到达逃离管道。大于切割直径的粒子可以沉降在圆柱体和锥离管道。大于切割直径的粒子可以沉降在圆柱体和锥离管道。大于切割直径的粒子可以沉降在圆柱体和锥离管道。大于切割直径的粒子可
12、以沉降在圆柱体和锥形的内表面。粒子降落到圆锥的顶点并进入集尘罐。形的内表面。粒子降落到圆锥的顶点并进入集尘罐。形的内表面。粒子降落到圆锥的顶点并进入集尘罐。形的内表面。粒子降落到圆锥的顶点并进入集尘罐。旋风器的切割直径由流速、入口和出口大小及圆柱体的旋风器的切割直径由流速、入口和出口大小及圆柱体的旋风器的切割直径由流速、入口和出口大小及圆柱体的旋风器的切割直径由流速、入口和出口大小及圆柱体的大小决定大小决定大小决定大小决定.旋风器的严格理论分析要比冲击式采样器困旋风器的严格理论分析要比冲击式采样器困旋风器的严格理论分析要比冲击式采样器困旋风器的严格理论分析要比冲击式采样器困难得多,因为气流是难
13、得多,因为气流是难得多,因为气流是难得多,因为气流是3 3维的维的维的维的 第13页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n测量对策 在选择惯性分级器之前,首先必须明确收集粒子的目的。此外,还要确定采样是否受时间限制。另一个重要因素是待采集粒子的粒径范围。最后,选择采样器时还应考虑粒子的分析技术。第14页,本讲稿共47页10.2惯性分级器n n10.2.4设计仪器时的注意事项设计仪器时的注意事项n n10.2.5冲击式采样器应用举例冲击式采样器应用举例n n10.2.6粒度分布数据分析粒度分布数据分析第15页,本讲稿共47页10惯性、重力、离心和热收集技术惯性、重力、离心和热收集技术n n10
14、.3沉降装置和离心机沉降装置和离心机n n10.4热力沉降热力沉降第16页,本讲稿共47页大气气溶胶组分的化学分析方法 n n绪论绪论n n范围和目的范围和目的n n质量测量质量测量n n可萃取的阴阳离子的分析方法可萃取的阴阳离子的分析方法n n粒子中的碳粒子中的碳n n元素分析的非破坏性技术元素分析的非破坏性技术n n元素分析的破坏性技术元素分析的破坏性技术n n连续测量方法连续测量方法n n总结总结第17页,本讲稿共47页11.1绪论n n大气气溶胶是一种悬浮在大气中的液体和固体的复杂混合物。大气气溶胶是一种悬浮在大气中的液体和固体的复杂混合物。其形成方式有两种:直接排入大气(如一次粒子)
15、,或在其其形成方式有两种:直接排入大气(如一次粒子),或在其生命周期内通过化学反应形成(如二次粒子)。一次粒子的生命周期内通过化学反应形成(如二次粒子)。一次粒子的主要成分是与土壤有关的物质(如主要成分是与土壤有关的物质(如FeFe、SiSi、CaCa、MgMg)及有机)及有机物(如一些花粉或孢子)。人为二次粒子的前体物包括氮氧物(如一些花粉或孢子)。人为二次粒子的前体物包括氮氧化物、硫氧化物和有机物,有机物主要是由燃烧产生的。二化物、硫氧化物和有机物,有机物主要是由燃烧产生的。二次粒子大部分是由硝酸盐、硫酸盐、有机碳和元素碳(煤烟)次粒子大部分是由硝酸盐、硫酸盐、有机碳和元素碳(煤烟)组成。
16、大气粒子由多种化合物组成,因此就需要多种采集和组成。大气粒子由多种化合物组成,因此就需要多种采集和化学分析技术。化学分析技术。n nEPAEPA已经建立了已经建立了3 3个交织的监测网,用以提供空间、时间和气溶胶组成个交织的监测网,用以提供空间、时间和气溶胶组成的不同程度的信息的不同程度的信息.基础监测网、基础监测网、EPA EPA国家国家PM2.5PM2.5化学组分监测化学组分监测网(网(Chemical Speciation NetworkChemical Speciation Network)、超级站点()、超级站点(SupersitesSupersites)项目项目 第18页,本讲稿共
17、47页11.1绪论n n化学组分监测网检测化学物质的方法是:用几种不同类型的滤膜收集PM2.5,然后在实验室中进行化学分析n n用于质量测量的重力测量;用于阴阳离子测量的离子色谱;用于有机碳和元素碳分析的热光转化方法;用于微量和痕量元素分析的能量色散X射线荧光法(ED-XRF)。第19页,本讲稿共47页种种类类方法方法样样品准品准备备PM2.5PM2.5质量质量重量分析法重量分析法 衰减半连续法衰减半连续法惯性微量天平惯性微量天平(TEOM)(TEOM)半连续法(半连续法(TEOMTEOM)CAMMCAMM半连续法半连续法 在某一固定的相对湿度、温度和中和电荷内平衡在某一固定的相对湿度、温度和
18、中和电荷内平衡无无在在5050时平衡时平衡用一个用一个NafionNafion干燥器在干燥器在3030下平衡下平衡无无阴离子和阳离子物质阴离子和阳离子物质离子色谱法离子色谱法a a离子选择电极离子选择电极比色法比色法X X射线荧光射线荧光傅里叶变换红外光谱法傅里叶变换红外光谱法蒸汽浓缩蒸汽浓缩/离子色谱法离子色谱法硝酸盐自动监测器硝酸盐自动监测器在水中或别的液态溶剂中进行液相萃取在水中或别的液态溶剂中进行液相萃取在水中进行液相萃取在水中进行液相萃取在水中进行液体萃取在水中进行液体萃取无无无无无无浓缩到金属表面随之快速挥发浓缩到金属表面随之快速挥发 微粒碳微粒碳 热光反射(热光反射(TORTOR
19、)热光能见度测定法热光能见度测定法a(TOT)a(TOT)温度已安排好的挥发(温度已安排好的挥发(TPVTPV)AethalometerAethalometer原位热力学原位热力学/光学碳分析仪光学碳分析仪 烘烤石英滤膜几个小时,或者在烘烤石英滤膜几个小时,或者在1173K1173K下烘烤下烘烤3h3h。在高于在高于773K773K的温度下,烘烤石英滤膜几个小时或者在的温度下,烘烤石英滤膜几个小时或者在1173K1173K下烘烤下烘烤3h3h在高于在高于773K773K的温度下,烘烤石英滤膜几个小时或者在的温度下,烘烤石英滤膜几个小时或者在1173K1173K下烘烤下烘烤3h3h无无无无有机物
20、气溶胶有机物气溶胶 GC-MS GC-MS 在高于在高于773K773K的温度下,烘烤石英滤膜几个小时或者在的温度下,烘烤石英滤膜几个小时或者在1173K1173K下烘烤下烘烤3 3小时,样小时,样品收集后用试剂萃取。品收集后用试剂萃取。元素元素非破坏性技术非破坏性技术 X X射线荧光射线荧光质子诱导质子诱导X X射线发射射线发射中子活性的分析仪器中子活性的分析仪器(INAAINAA)无无无无把滤膜折叠起来或者做成小球状并且密封在聚丙烯袋子或者小瓶内。把滤膜折叠起来或者做成小球状并且密封在聚丙烯袋子或者小瓶内。元素元素破坏性技术破坏性技术 感应耦合等离子体质谱法感应耦合等离子体质谱法(ICP-
21、MSICP-MS)半连续金属监测器半连续金属监测器单粒子质谱法单粒子质谱法 在水或酸溶液中进行液相萃取在水或酸溶液中进行液相萃取用蒸汽浓缩法收集气溶胶,用用蒸汽浓缩法收集气溶胶,用GFAASGFAAS分析样品。分析样品。无无第20页,本讲稿共47页11.2范围和目的范围和目的n n气溶胶的化学成分和浓度存在着很大的变化,因此,可能需要使用几种分析技术才能得到正确数据。n n详细的有机气溶胶数据,极大提高了受体模型确定来源的能力 第21页,本讲稿共47页11.3质量测量n n滤膜上的气溶胶的重量分析是一种差额测量,即在滤膜上的气溶胶的重量分析是一种差额测量,即在一定条件下,分别称量采样前后的滤膜
22、重量。一定条件下,分别称量采样前后的滤膜重量。n n应用最广泛的采样介质是泰氟珑(即聚四氟乙烯)应用最广泛的采样介质是泰氟珑(即聚四氟乙烯)(TeflonTeflon)、石英纤维、泰氟珑包裹的石英纤维或玻璃)、石英纤维、泰氟珑包裹的石英纤维或玻璃纤维。纤维。n n对于对于PM2.5PM2.5,规定要求滤膜在很窄的温度范围(,规定要求滤膜在很窄的温度范围(293293到到296K20296K20到到2323,并且,并且24h24h内的变化不超过内的变化不超过2K22K2)和相对湿度下()和相对湿度下(30%4030%40,并且,并且24h24h内内的变化不超过的变化不超过5 5)达到平衡。)达到
23、平衡。第22页,本讲稿共47页11.3质量测量n nPMPM1010收集在标准的收集在标准的0.20m0.25m810in0.20m0.25m810in2 2 滤膜上,用刻度滤膜上,用刻度100g100g的分析天平称量采样前后的滤膜重量;细粒子收集在直径为的分析天平称量采样前后的滤膜重量;细粒子收集在直径为37mm37mm或者或者47mm47mm的的TeflonTeflon滤膜上,用刻度是滤膜上,用刻度是1g1g的分析天平称的分析天平称量。量。n n为了获得较高的准确度和精密度,称量区一定不能震动并且不能为了获得较高的准确度和精密度,称量区一定不能震动并且不能有气流经过天平。在称量前必须消除滤
24、膜上的静电以最小化静电有气流经过天平。在称量前必须消除滤膜上的静电以最小化静电对天平表面的吸引对天平表面的吸引 n n影响气溶胶质量测量的精密度和准确度的其它因素包括:影响气溶胶质量测量的精密度和准确度的其它因素包括:sampling artifacts sampling artifacts,采样、运输和存储过程中的影响。,采样、运输和存储过程中的影响。n n质量测量的精密度通常通过重复称量滤膜得出其再现性,或者通质量测量的精密度通常通过重复称量滤膜得出其再现性,或者通过平行测量而实现。标准的精密度在过平行测量而实现。标准的精密度在5 5范围内范围内 第23页,本讲稿共47页11.4可萃取的阴
25、阳离子的分析方法可萃取的阴阳离子的分析方法n n离子色谱是一种广泛使用的多组分分析技术,水中简单离子色谱是一种广泛使用的多组分分析技术,水中简单离子的浓度,如氯离子、钾离子和钠离子以及多原子离离子的浓度,如氯离子、钾离子和钠离子以及多原子离子,如硫酸根、硝酸根和有机酸根,都可以通过离子色子,如硫酸根、硝酸根和有机酸根,都可以通过离子色谱获得。谱获得。n n比色法和离子选择电极法,用来测量一些离子,如气溶胶比色法和离子选择电极法,用来测量一些离子,如气溶胶样品的液相萃取液中的铵离子和氢离子。样品的液相萃取液中的铵离子和氢离子。n n能够直接测量滤膜上气溶胶的某些组分的方法。例如,能够直接测量滤膜
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