数字温度计课程设计报告.pdf
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1、v1.0 可编辑可修改一数字温度计的总体方案设计一数字温度计的总体方案设计根据系统设计的功能,本时钟温度系统的设计必须采用单片机软件系统实现,用单片机的自动控制能力来测量、显示温度数值。初步确定设计系统由单片机主控模块、测温模块、显示模块共 3 个模块组成,电路系统框图如图所示。图 系统基本方框图对于单片机的选择,如果用8051系列,由于它没有内部RAM,系统又需要一定的内存存储数据。AT89S52是一个低功耗、高性能CMOS 8位的单片机,片内含8k Bytes ISP的可反复擦写1000次的Flash只读程序存储器,兼容标准MCS-51指令系统及80C51引脚结构,功能强大的AT89S52
2、可为许多嵌入式控制应用系统提供高性价比的解决方案。而AT89S52与AT89C51相比,外型管脚完全相同,AT89C51的HEX程序无须任何转换可直接在AT89S52运行,且AT89S52比AT89C51新增了一些功能,相比较后,在本设计中选用AT89S52更能很好的实现温度计控制功能。测温电路可以使用热敏电阻之类的器件,利用其感温效应,将被测温度变化的电压或电流采集过来,进行 A/D 转换后,就可以用单片机进行数据处理。但是这种感温电路比较复杂,且采用热敏电阻精度低,重复性、可靠性都比较差。如果采用温度传感器 DS18B20 可以减少外部硬件电路,而且可以很容易直接读取被测温度值,进而转换,
3、且成本低、易使用,可以很好的满足设计要求。所以本文采用传感器 DS18B20 代替传统的测温电路。11v1.0 可编辑可修改温度的显示可以采用 LED 数码管来显示,LED 亮度高、醒目,但是电路复杂,占用资源多且信息量小。而采用液晶显示器有明显的优点:工作电流比 LED小几个数量级,功耗低;尺寸小,厚度约为 LED 的 1/3;字迹清晰、美观、使人舒服;寿命长,使用方便,可得性强。故本设计采用 LCD 来显示温度。二、系统器件的具体选择二、系统器件的具体选择单片机的选择单片机的选择本次设计采用的是单片机 AT89C52。AT89C52 是一个低电压,高性能 CMOS 8位单片机,片内含 8k
4、 bytes的可反复擦写的 Flash 只读程序存储器和 256 bytes 的随机存取数据存储器(RAM),器件采用 ATMEL 公司的高密度、非易失性存储技术生产,兼容标准 MCS-51 指令系统,片内置通用8 位中央处理器和 Flash 存储单元,AT89C52 单片机在电子行业中有着广泛的应用。图 PDIP 封装的 AT89C52 引脚图AT89C52 为 8 位通用微处理器,采用工业标准的C51 内核,在内部功能及管脚排布上与通用的8xc52 相同,其主要用于会聚调整时的功能控制。功能包括对会聚主 IC 内部寄存器、数据 RAM 及外部接口等功能部件的22初始化,会聚调整控制,会聚测
5、试图控制,红外遥控信号IR 的接收解码及与主板 CPU 通信等。主要管脚有:XTAL1(19 脚)和 XTAL2(18 脚)为振荡器输入输出端口,外接 12MHz 晶振。RST/Vpd(9 脚)为复位输入端口,外接电阻电容组成的复位电路。VCC(40 脚)和 VSS(20 脚)为供电端口,分别接+5V 电源的正负端。P0P3 为可编程通用 I/O 脚,其功能用途由软件定义,在本设计中,P0 端口(3239 脚)被定义为 N1 功能控制端口,分别与N1 的相应功能管脚相连接,13 脚定义为 IR 输入端,10 脚和 11 脚定义为 I2C 总线控制端口,分别连接N1 的 SDAS(18 脚)和
6、SCLS(19 脚)端口,12 脚、27 脚及 28 脚定义为握手信号功能端口,连接主板CPU 的相应功能端,用于当前制式的检测及会聚调整状态进入的控制功能。温度传感器的选择温度传感器的选择 DS18B20 DS18B20 的简单介绍的简单介绍DS18B20 温度传感器是一种改进型智能温度传感器,与传统的热敏电阻等测温元件相比,它能直接读出被测温度,并且可根据实际要求通过简单的编程实现912 位的数字值读数方式。DS18B20 的性能特点如下:独特的单线接口仅需要一个端口引脚进行通信;多个 DS18B20 可以并联在惟一的三线上,实现多点组网功能;无须外部器件;可通过数据线供电,电压范围为;零
7、待机功耗;温度以或位数字;负电压特性,电极接反时,温度计不会因发热而烧毁,只是不能正常工作。DS18B20 DS18B20 的外形和内部结构的外形和内部结构DS18B20 内部结构主要由四部分组成:64 位光刻 ROM、温度传感器、非挥发的温度报警触发器 TH 和 TL、配置寄存器。DS18B20 的管脚排列、各种封装形式如图所示,DQ 为数据输入/输出引脚。33v1.0 可编辑可修改开漏单总线接口引脚。当被用着在寄生电源下,也可以向器件提供电源;GND 为地信号;VDD 为可选择的 VDD 引脚。当工作于寄生电源时,此引脚必须接地。图外部封装形式图 DS18B20 的电路DS18B20 采用
8、 3 脚 PR35 封装或 8 脚 SOIC 封装,其内部结构框图如图 2-4所示。I/O64位存储器与控制逻温度传感器高温触发器 TH低温触发器 TLCROM和单高速缓存配置寄存器8 位 CRC 发生器Vdd图 2-4 DS18B20 内部结构64 位 ROM 的结构开始 8 位是产品类型的编号,接着是每个器件的惟一的序号,共有 48 位,最后 8 位是前面 56 位的 CRC 检验码,这也是多个 DS18B20 可以采用一线进行通信的原因。44DS18B20 温度传感器的内部存储器还包括一个高速暂存 RAM 和一个非易失性的可电擦除的 EERAM。高速暂存RAM 的结构为 9 字节的存储器
9、。头2 个字节包含测得的温度信息,第 3 和第 4 字节 TH 和 TL 的拷贝,是易失的,每次上电复位时被刷新。第 5 个字节,为配置寄存器,它的内容用于确定温度值的数字转换分辨率。DS18B20 工作时寄存器中的分辨率转换为相应精度的温度数值。低5 位一直为 1,TM 是工作模式位,用于设置 DS18B20 在工作模式还是在测试模式,DS18B20出厂时该位被设置为 0,用户要去改动,R1 和 R0 决定温度转换的精度位数,来设置分辨率。DS18B20 DS18B20 的测温原理的测温原理DS18B20 的温度值的位数因分辨率不同而不同,温度转换时的最大延时为750ms。DS18B20 测
10、温原理如图所示。图中低温度系数晶振的振荡频率受温度影响很小,用于产生固定频率的脉冲信号送给计数器1。高温度系数晶振随温度变化其振荡率明显改变,所产生的信号作为计数器 2 的脉冲输入。计数器 1 和温度寄存器被预置在55所对应的一个基数值。计数器 1 对低温度系数晶振产生的脉冲信号进行减法计数,当计数器 1 的预置值减到 0 时,温度寄存器的值将加 1,计数器 1 的预置将重新被装入,计数器 1 重新开始对低温度系数晶振产生的脉冲信号进行计数,如此循环直到计数器 2 计数到 0 时,停止温度寄存器值的累加,此时温度寄存器中的数值即为所测温度。图中的斜率累加器用于补偿和修正测温过程中的非线性,其输
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