一个基于LabVIEW的自动测试系统.doc

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1、一个基于LabVIEW的自动测试系统一个基于LabVIEW的自动测试系统 对于半导体(CMOS）芯片设计目前的趋势是在尺寸和功耗上尽可能减小。这种趋势给测试工程师带来了不少困难,尤其是对没有自动探头站这种少数设备的工程师而言，完成这样的任务几乎是不可能的。因此，为了减少工程师的工作量，提高测试效率和精度,一个基于LabVIEW的自动测试系统产生了。整个系统中,包括使用PXI（PCI扩展仪器）系统数据建立的检测采集（DAQ）模块和源测量单元（SMU）模块，并依据LabVIEW为基础设计的测试程序已经在本文中被提出。测试结果显示该系统能够改善检测效率，并实时评估测试结果。由于软件是建立在不同模块，

2、因此容易被扩展为不同的应用.作为数字处理和模拟信号之间的界面传递信号，数字 模拟转换器(DAC)已经广泛在集成电路（IC)中进行利用.因此，在许多算法的基础上使用ADC中已成为近年来的趋势.并且，随着相关的检测仪器数据采集(DAQ）技术的快速发展，DAC的测试变得更方便，比以往任何时候都准确。在这个项目中，高度集成的多功能互补半导体（CMOS）芯片被设计为一个应用发送接收（TR）系统。它有两种功能，一种是控制该系统的工作状态逻辑功能，第二种是提供对于所有的有源器件的偏置电压,例如功率放大器（PA)通过使用其内建的DAC可以实现一些功能。因此，芯片的逻辑功能,必须进行验证,以确保该芯片控制流程。

3、同时，由这些DAC提供的电压电平芯片内部已经被评估，从而保证供给到有源器件的偏压电压是在设计精度范围。之所以这样设计是因为不同的偏压电压对于有源器件的性能增益会产生影响，从而进一步影响整个系统的整体性能。在一般情况下，测试工程师对这种芯片的检测包括电源，信号发生器，数据采集系统，试验台，这需要很多连接从而导致检测仪器之间混乱。最重要的是，它使校正该系统的误差变得困难,并且还引入了额外测试误差来确定最终结果。此外，由于大量的数据已被简化和加工，因此自动测试系统必须设计成配合测量时间并且保留数据处理，同时减少通过手动操作和负载所带来的误差.该试验系统的软件是基于LabVIEW的平台。 LabVIE

4、W是一个图形化编程环境，帮助工程师快速发展而且功能强大的测试软件，有着美观又方便的用户界面(GUI）。 LabVIEW程序由虚拟仪器(一个VI由一个前面板，一个框图）组成,其中可以建立评估测试结果的图标，功能包括数据采集，存储和处理。然后将结果显示成相关联的波形的形式.软件流程 首先，在这个系统中，所述PXI的COM端口用于与FPGA沟通，他们对通讯参数必须一致彼此。相关的五个参数配置如下：波特率：每秒115200位。数据位：8。停止位：2。奇偶校验位:奇数。流量控制：无.同时，该数据采集的物理地址和SMU模块必须同时配置。来实现DAQ和SMU安装，以确保有正确的地址配置。根据CMOS芯片测试

5、有九个电压输出,因此，九个DAQ通道地址必须被改造用以配合。在这里，一个创建的虚拟通道被利用。在对逻辑电平测试的情况下,七个DAQ通道被使用,还有剩下的两个通道用于DAC测试。在这里使用的SMU包含四个通道和两个被选择为提供+3。3 V和3.3伏电源供电。 在这个项目的测试中，150个芯片的第一组已经通过使用自动测试系统进行测试.该测试时间为每个芯片可以在半分钟内完成对其中包括逻辑功能的评估和数模转换器的转换速度评估。为了证明所述DAC的结果,论文在下面详细叙述了芯片的测试方式和测试结果，并与传统方式进行了比较和说明. 在本文中,一个先进的自动测试系统的基础在NI PXI和LabVIEW编程环境中设计的芯片已被提出.它具有减小因连接而导致的测试系统错误的功能，并减少了测试工程师的手动错误；此外，提高了测试效率并减少了工程师在筛选过程中的工作量.在测试中,自动测试系统在5分钟内完成了CMOS的全测试,与工程师测试芯片的时间差是大于2小时。测试结果已经表明，文章中所提出的自动测试系统是能够执行逻辑芯片功能的评价并在短时间内对DAC的输出以极大的精度进行测试,它也同时表明，该测试系统可以实时工作的.此外,模块化的结构系统同样可以方便地进行扩展或修改，对于不同的应用程序，只要一点点的变化,就可以去测试一些更多的参数改变、硬件改变的系统。