扫描电子显微镜与电子探针.pptx
《扫描电子显微镜与电子探针.pptx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《扫描电子显微镜与电子探针.pptx(38页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、与普通显微镜的差别与普通显微镜的差别:电子波长 E E为电子能量,单位 eVeV 当 E=30KeV E=30KeV 时,0.007nm 0.007nm 普通显微镜 SEM 基本原理 光折射成象 同步扫描 入射束波长 400-700 nm 400-700 nm 能量为E E的电子 放大倍数 1600 1600 几十万 分辨率 200 nm 1.5 nm200 nm 1.5 nm 景深 是普通显微镜的300300倍第1页/共38页学习的重要性:是形貌分析的重要手段 二次电子象在其它分析仪器中的应用 基本物理概念、仪器参数及基本单元的通用性 第2页/共38页二、基本物理概念(一)电子与表面相互作用
2、及与之相关的分析技术(二)信息深度(三)电子作为探束的分析技术特点第3页/共38页(一)电子与表面相互作用及与之相关的分析技术 1 1信息种类及相应的分析技术:背散射:经弹性散射或一次非弹性散射后 以 90 90射出表面,E E E Ep p 特征能量损失 多次散射后射出形成本底 在样品中停止,变为吸收电流 从样品透射 (TEM)第4页/共38页 二次电子:外层价电子激发 (SEM)俄歇电子:内层电子激发 (AES)特征X X射线:内层电子激发 (EPMA)连续X X射线:轫致辐射(本底)对于半导体材料:阴极荧光 电子束感生电流 第5页/共38页2 2检测电子的能量分布第6页/共38页(二二)
3、信息深度信息深度 非弹性散射平均自由程:非弹性散射平均自由程:具有一定能量的电子连续发生两次非弹性碰撞具有一定能量的电子连续发生两次非弹性碰撞 之间所经过的距离的平均值。之间所经过的距离的平均值。衰减长度:衰减长度:I=II=Io oe et/t/当电子穿过当电子穿过t=t=厚的覆盖层后,它的强度厚的覆盖层后,它的强度 将衰减为原来的将衰减为原来的1/e,1/e,称称为衰减长度。为衰减长度。通常近似地把衰减长度通常近似地把衰减长度当作电子的非弹性散射平均当作电子的非弹性散射平均 自由程,亦称为逸出深度。自由程,亦称为逸出深度。衰减长度和电子能量的关系:衰减长度和电子能量的关系:实验结果:实验结
4、果:经验公式:经验公式:=(A=(Ai i/E/E2 2)+B)+Bi iE E1/21/2 其中其中A A、B B对于不同的元素及化合物对于不同的元素及化合物 有不同的值有不同的值.第7页/共38页 信息深度:信号电子所携带的信息来自多厚的表面层?通常用出射电子的逃逸深度来估计。但是当出射电子以同表面垂直方向成角射出时,电子所反映的信息深度应该是:d=cosd=cos 激发深度与信息深度:第8页/共38页在扫描电镜中,由电子激发产生的主要信号的信息深度:在扫描电镜中,由电子激发产生的主要信号的信息深度:俄歇电子俄歇电子 1 nm(0.5-2 nm)1 nm(0.5-2 nm)二次电子二次电子
5、 5-50 nm5-50 nm 背散射电子背散射电子 50-500 nm50-500 nm X X射线射线 0.1-1m0.1-1m第9页/共38页 产生大量二次电子,产生大量二次电子,产生少量二次电子,产生少量二次电子,信噪比差信噪比差 信噪比好信噪比好 电子探束 光子探束(三)电子作为探束的特点碰撞中E Ep p E E,碰撞中h=Eh=E,自身湮没损失部分能量后射出 可聚焦、偏转,获得 不易聚焦,束斑大且强度低 小束斑和高强度 电子束源价格低廉 X X光源复杂,价格较贵 宜为外层价电子电离源 宜为芯层电子电离源第10页/共38页 1放大倍数 荧光屏上的扫描振幅 电子束在样品上的扫描振幅
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 扫描 电子显微镜 电子探针
限制150内