数字电子技术基础PPT第7章存储器.ppt
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1、第第7章章存存储储器器存储器是一种能存储大量二进制信息的电子器件,它是由许多存储器是一种能存储大量二进制信息的电子器件,它是由许多存储单元组成的。每个存储单元都有唯一的地址代码加以区分,能存储单元组成的。每个存储单元都有唯一的地址代码加以区分,能存储存储1位(或位(或1组)二进制信息,存储器被大量用在嵌入式(单片机)组)二进制信息,存储器被大量用在嵌入式(单片机)系统中。本章主要介绍只读存储器与随机存储器的结构、工作原理系统中。本章主要介绍只读存储器与随机存储器的结构、工作原理与实际的存储器与实际的存储器7.1只读存储器只读存储器7.1.1只读存储器概述只读存储器概述只读存储器(只读存储器(R
2、OM)的特点是存储单元断电后,数据不会丢失。)的特点是存储单元断电后,数据不会丢失。1不可写入数据的只读存储器不可写入数据的只读存储器(1)二极管)二极管ROM以二极管作为存储单元的存储器。以二极管作为存储单元的存储器。(2)掩模存储器()掩模存储器(MROM,MaskROM)掩模只读存储器是数据在存储器的制作过程中就永久地保存在存储阵列中的只读存掩模只读存储器是数据在存储器的制作过程中就永久地保存在存储阵列中的只读存储器。储器。2可写入数据的存储器可写入数据的存储器(1)一次编程存储器()一次编程存储器(PROM,ProgrammableROM)一次编程存储器是用户使用专用编程设备可以进行一
3、次编程的只读存储器。一次编程存储器是用户使用专用编程设备可以进行一次编程的只读存储器。(2)可擦除存储器()可擦除存储器(EPROM,ErasableProgrammableROM)可擦除只读存储器,常用的紫外线可擦除可编程只读存储器(可擦除只读存储器,常用的紫外线可擦除可编程只读存储器(UVEPROM)是可用)是可用紫外线擦除数据、用专用编程设备写入数据的只读存储器。擦除数据时,需要将该紫外线擦除数据、用专用编程设备写入数据的只读存储器。擦除数据时,需要将该存储器芯片用紫外光照射几十分钟。存储器芯片用紫外光照射几十分钟。(3)电擦除存储器()电擦除存储器(E2PROM,ElectricalE
4、rasableProgrammableROM)电可擦除可写入的只读存储器,是电擦除、写入数据的只读存储器。数据的擦除与电可擦除可写入的只读存储器,是电擦除、写入数据的只读存储器。数据的擦除与写入在毫秒数量级。写入在毫秒数量级。(4)快闪存储器()快闪存储器(FLASHROM)快闪电可擦除、写入存储器,是读写速度更快、容量更大的电可擦除可写入的只读快闪电可擦除、写入存储器,是读写速度更快、容量更大的电可擦除可写入的只读存储器。存储器。7.1.2不可写入数据的不可写入数据的ROM1不可写入数据的不可写入数据的ROM不可写入数据的不可写入数据的ROM结构如图结构如图7-1所示。该存储器由地址译码器、
5、存储单元矩阵和所示。该存储器由地址译码器、存储单元矩阵和输出控制电路组成。输出控制电路组成。用二极管作为存储单元实现用二极管作为存储单元实现的的ROM存储器如图存储器如图7-3所示。所示。2掩模存储器掩模存储器MROM掩模存储单元结构存储器中的数据是在存储器工厂生产存储器时,通过工艺掩模存储单元结构存储器中的数据是在存储器工厂生产存储器时,通过工艺手段保存在存储器中的,因此需要用户向存储器生产工厂提供写入存储器中的数据。手段保存在存储器中的,因此需要用户向存储器生产工厂提供写入存储器中的数据。(1)NOR型型MROM例如,只有例如,只有W1=1时,有时,有MOS管的地方位管的地方位线接地,无线
6、接地,无MOS管的地方,位线为高电平,管的地方,位线为高电平,位线输出位线输出0101。对于其他情况有:。对于其他情况有:只有只有W2=1时,位线输出为时,位线输出为0011;只有只有W3=1时,位线输出为时,位线输出为1001;只有只有W4=1时,位线输出为时,位线输出为0110。(2)与非(NAND)结构的MROM例如,当只有字线例如,当只有字线W1为为0,其他字线为,其他字线为1时,由于与时,由于与W3相连的相连的MOS管导通,所管导通,所以位线以位线C1输出输出0;由于与;由于与W1相连的相连的MOS管不导通,位线管不导通,位线C2输出输出1;由于与;由于与W2和和W4相连的相连的MO
7、S管导通,位线管导通,位线C3输出输出0;由于与;由于与W1相连的相连的MOS管不导通,管不导通,位线位线C4输出输出1。因此位线输出为。因此位线输出为0101。对于其他情况有:对于其他情况有:只有只有W2=0时,位线输出为时,位线输出为0011;只有只有W3=0时,位线输出为时,位线输出为1001;只有只有W4=0时,位线输出为时,位线输出为0110。7.1.3可写入数据的可写入数据的ROM1可写入数据可写入数据ROM组成组成(1)地址译码器)地址译码器为减少译码器输出线的根数,采用行列双译码方式。为减少译码器输出线的根数,采用行列双译码方式。(2)存储单元)存储单元由于存储矩阵中的存储单元
8、可以写入数据,因此常用熔丝、浮置栅极场效应管等实由于存储矩阵中的存储单元可以写入数据,因此常用熔丝、浮置栅极场效应管等实现。现。(3)读擦写控制电路)读擦写控制电路除像不可写入数据的除像不可写入数据的ROM一样实现读数据操作之外,还有写数据操作。一样实现读数据操作之外,还有写数据操作。(4)充电泵电路)充电泵电路充电泵电路用于提高存储器的擦写电压到充电泵电路用于提高存储器的擦写电压到812V,满足擦除与写入数据的需求。,满足擦除与写入数据的需求。2可写入数据可写入数据ROM中的存储单元中的存储单元(1)可一次编程存储器)可一次编程存储器PROM熔丝存储单元结构的一次编程只读存储单元如图熔丝存储
9、单元结构的一次编程只读存储单元如图7-8所示。可所示。可以看出,每个存储单元中都有连接以看出,每个存储单元中都有连接MOS管源极和位线的熔丝,管源极和位线的熔丝,该熔丝通表示存储该熔丝通表示存储1,熔丝断表示存储,熔丝断表示存储0。(2)紫外线擦除电编程的存储器)紫外线擦除电编程的存储器UVEPROMUVEPROM使用浮置栅极注入使用浮置栅极注入MOS管作为存储单元。浮置栅极周围都是氧化物管作为存储单元。浮置栅极周围都是氧化物绝缘材料,因而与外界没有任何导电连接,所以可以长时间地保存电荷。绝缘材料,因而与外界没有任何导电连接,所以可以长时间地保存电荷。浮置栅极中是否存有电荷来表示数据,浮置栅极
10、中是否存有电荷来表示数据,编程过程是在浮栅注入管的漏极与控制栅极上加高电压,使源极与漏极之间出编程过程是在浮栅注入管的漏极与控制栅极上加高电压,使源极与漏极之间出现雪崩击穿产生热电子,在控制栅极高电压的作用下,电子进入浮置栅极,使正常现雪崩击穿产生热电子,在控制栅极高电压的作用下,电子进入浮置栅极,使正常的控制栅极电压不能使浮栅注入管导通。的控制栅极电压不能使浮栅注入管导通。擦除过程是用紫外线通过封装表面的透明石英玻璃窗照射存储单元,使氧化层擦除过程是用紫外线通过封装表面的透明石英玻璃窗照射存储单元,使氧化层产生电子产生电子-空穴对,为栅极电荷放电提供放电通道,使电荷消失,这样正常的栅极空穴对
11、,为栅极电荷放电提供放电通道,使电荷消失,这样正常的栅极电压就可以使浮栅注入管导通。电压就可以使浮栅注入管导通。(3)电擦除的可编程只读存储器()电擦除的可编程只读存储器(E2PROM)E2PROM的存储单元中采用了一种叫做浮栅隧道的存储单元中采用了一种叫做浮栅隧道MOS管,结构和符号见图管,结构和符号见图7-10。浮栅隧道管是浮栅隧道管是N沟道增强型沟道增强型MOS管,有两个栅极管,有两个栅极控制栅极控制栅极Gc和浮置栅极和浮置栅极Gf。该管的浮置栅与漏区之间有一个氧化层极薄的区域,这个区域称为隧道区,当。该管的浮置栅与漏区之间有一个氧化层极薄的区域,这个区域称为隧道区,当隧道区的电场强度大
12、于隧道区的电场强度大于107V/cm时,就会形成导电隧道,电子可以双向通过,形成时,就会形成导电隧道,电子可以双向通过,形成电流,这种现象称为隧道效应。电流,这种现象称为隧道效应。用浮栅隧道管组成的存储单元,其中用浮栅隧道管组成的存储单元,其中T1管是浮栅隧道管,管是浮栅隧道管,T2的作用是使浮栅的作用是使浮栅隧道管与位线连接。隧道管与位线连接。擦除时,在浮栅隧道管的控制栅极擦除时,在浮栅隧道管的控制栅极Gc加加20V电压,使浮栅隧道管漏极接地,电压,使浮栅隧道管漏极接地,在强电场的作用下,漏区的电子通过隧道区进入浮置栅极。擦除后的浮栅隧道管在强电场的作用下,漏区的电子通过隧道区进入浮置栅极。
13、擦除后的浮栅隧道管具有高的开启电压,在正常读操作栅极电压时不会导通。具有高的开启电压,在正常读操作栅极电压时不会导通。编程时,将要写入数据的浮栅隧道管浮置栅极中的电荷移出,在控制栅极编程时,将要写入数据的浮栅隧道管浮置栅极中的电荷移出,在控制栅极Gc加加0V电压,然后在漏极加电压,然后在漏极加20V的电压,在强电场的作用下,使浮置栅极中的的电压,在强电场的作用下,使浮置栅极中的电荷通过隧道区放电。电荷通过隧道区放电。读出数据时,在控制栅极读出数据时,在控制栅极Gc加正常读栅极的电压(小于加正常读栅极的电压(小于5V),若是浮置栅),若是浮置栅极中没有电荷,浮栅隧道管导通,位线通过浮栅隧道管接地
14、,读出极中没有电荷,浮栅隧道管导通,位线通过浮栅隧道管接地,读出0;若是浮置;若是浮置栅极中有电荷,浮栅隧道管不导通,位线上读出栅极中有电荷,浮栅隧道管不导通,位线上读出1。(4)闪速存储器)闪速存储器闪速(闪速(FLASH)存储器按照存储矩阵的结构不同,分为)存储器按照存储矩阵的结构不同,分为NOR及及NAND两类,其两类,其矩阵结构与前述掩模存储器基本相同。矩阵结构与前述掩模存储器基本相同。FLASH与与E2PROM的主要区别是的主要区别是E2PROM具有位擦除能力,而具有位擦除能力,而FLASH存储器不存储器不具有这个能力,只能块或字节擦除,因此存储单元可以使用一个浮栅具有这个能力,只能
15、块或字节擦除,因此存储单元可以使用一个浮栅MOS管实现,管实现,占有更小的面积,具有更大的容量。占有更小的面积,具有更大的容量。NORFLASH读写速度较读写速度较NANDFLASH快,可以块或字节为单位读写快,可以块或字节为单位读写.NANDFLASH的单元尺寸比的单元尺寸比NORFLASH的小,因此同样大小的芯片面积,的小,因此同样大小的芯片面积,NANDFLASH的容量比的容量比NORFLASH大得多。大得多。NORFLASH具有与具有与E2PROM相同的专用地址线、数据线与控制线,通过这些连相同的专用地址线、数据线与控制线,通过这些连线可以直接从线可以直接从NORFLASH中存取数据,
16、中存取数据,NANDFLASH不具有专用的地址线,而是间接使用不具有专用的地址线,而是间接使用I/O接口,将外部命令与数据接口,将外部命令与数据通过通过8位总线送入内部的命令寄存器与数据寄存器。位总线送入内部的命令寄存器与数据寄存器。a)NORFLASH存存储器。储器。NORFLASH存储单存储单元结构如图元结构如图7-11所示。所示。NORFLASH的擦除的擦除是将电荷从浮置栅极中移走,为移走电荷,需要在浮栅是将电荷从浮置栅极中移走,为移走电荷,需要在浮栅管的控制栅极上加管的控制栅极上加0V电压,在源极上加擦除正电压,漏极悬空,在栅源电压的作用电压,在源极上加擦除正电压,漏极悬空,在栅源电压
17、的作用下,电子通过隧道移出浮置栅极。在编程前,下,电子通过隧道移出浮置栅极。在编程前,FLASH总是先进行擦除操作。总是先进行擦除操作。NORFLASH的写入的写入是向存储单元浮栅管的浮置栅极中注入电荷,方法是在是向存储单元浮栅管的浮置栅极中注入电荷,方法是在浮栅管的漏极接正电压,源极接地,在控制栅极加正电压,这样,漏源极之间雪崩浮栅管的漏极接正电压,源极接地,在控制栅极加正电压,这样,漏源极之间雪崩击穿产生的热电子,被吸引到浮置栅中,浮置栅中的电子使读操作时的控制栅极电击穿产生的热电子,被吸引到浮置栅中,浮置栅中的电子使读操作时的控制栅极电压不能使浮栅管导通。压不能使浮栅管导通。NORFLA
18、SH的读出的读出是在浮栅管的控制栅极上加读电压,将浮栅管的导通与是在浮栅管的控制栅极上加读电压,将浮栅管的导通与否状态读出到浮栅管的漏极。否状态读出到浮栅管的漏极。b)NANDFLASH存储器。存储器。NANDFLASH的存储单元结构与的存储单元结构与NOR结构基本相同,但是其擦除与编程都利用隧结构基本相同,但是其擦除与编程都利用隧道效应实现。道效应实现。3可写入可写入ROM的主要技术指标的主要技术指标(1)存储容量)存储容量存储容量存储容量M是存储矩阵的存储单元数,是能够存储的一位二进制数的数量,若是存储矩阵的存储单元数,是能够存储的一位二进制数的数量,若一个存储器可以存储一个存储器可以存储
19、N个二进制数据(具有个二进制数据(具有N个地址),每个二进制数据为个地址),每个二进制数据为L位,则位,则存储器的存储容量存储器的存储容量M为为N L。存储容量单位是二进制的位(存储容量单位是二进制的位(bit),),1024个个bit为为1K。有时存储器还以字节。有时存储器还以字节(Byte)为单位表示存储器容量,)为单位表示存储器容量,存储地址数存储地址数N与地址线数与地址线数A有关,有关,N=2A,因此存储容量,因此存储容量M=2AL。存储器地址数与字数不同,只有在一个地址内保存的数据位数与字长相同时,存储器地址数与字数不同,只有在一个地址内保存的数据位数与字长相同时,存储地址数才等于字
20、数。通常计算机字长分为存储地址数才等于字数。通常计算机字长分为4位、位、8位、位、16位、位、32位,位,(2)读、写与擦除时间)读、写与擦除时间早期的不可写入存储器主要操作是读操作,而编程(写入)操作和擦除操作很早期的不可写入存储器主要操作是读操作,而编程(写入)操作和擦除操作很少,因此读时间就是很重要的参数,通常按照读出数据方式的不同,读操作时间又分少,因此读时间就是很重要的参数,通常按照读出数据方式的不同,读操作时间又分为随机读时间与序列读时间。为随机读时间与序列读时间。可写入存储器由于写入、擦除操作频繁,因此写入、擦除操作时间也是重要参可写入存储器由于写入、擦除操作频繁,因此写入、擦除
21、操作时间也是重要参数。数。(3)编程次数)编程次数对于现在正在使用的对于现在正在使用的NANDFLASH存储器,一般具有存储器,一般具有100万次以上的编程万次以上的编程次数,但是次数,但是E2PROM存储器的编程次数一般小于存储器的编程次数一般小于10万次,有些产品甚至少到万次,有些产品甚至少到100次次(4)数据保存时间)数据保存时间一般可达一般可达20年以上。年以上。(5)功耗)功耗低功耗可以使存储器用于便携式产品设计,例如移动数据采集、手机等,低功耗可以使存储器用于便携式产品设计,例如移动数据采集、手机等,因此也是很重要的技术指标。超低功耗存储器的工作电流为微安级。因此也是很重要的技术
22、指标。超低功耗存储器的工作电流为微安级。7.1.4并行接口并行接口EPROM存储器存储器2725627256是紫外线擦除的是紫外线擦除的EPROM存储器,存储容量为存储器,存储容量为32K 8,引脚具有,引脚具有TTL兼容逻兼容逻辑电平,其双列直插封装(辑电平,其双列直插封装(DIP)引脚排列如图)引脚排列如图7-12所示,所示,该存储器采用紫外线擦除数据,用编程器写入数据,常在早期该存储器采用紫外线擦除数据,用编程器写入数据,常在早期8031单片机组成单片机组成的电子系统中用于存储用户编制的程序。该存储器与的电子系统中用于存储用户编制的程序。该存储器与8031单片机接线如图单片机接线如图7-
23、14所示。所示。*7.1.5并行接口并行接口E2PROM存储器存储器AT28C64BAT28C64B是并行存取容量为是并行存取容量为8192字的字的8位位E2PROM。内部结构如图。内部结构如图7-16所示。所示。在在AT28C64B的结构中,除了的结构中,除了X、Y地址译码器、存储器矩阵和、和控制逻辑外,地址译码器、存储器矩阵和、和控制逻辑外,还有数据锁存、输入还有数据锁存、输入/输出缓冲、输出缓冲、Y轴门控和器件辨识模块。轴门控和器件辨识模块。AT28C64B的引脚排列的引脚排列如图如图7-17所示,引脚功能如表所示,引脚功能如表7-1所示。所示。该芯片处于非选择状态时的电源电流小于该芯片
24、处于非选择状态时的电源电流小于100mA。编程次数可达到。编程次数可达到100000以上,以上,数据可以保存数据可以保存10年。年。该芯片电源电压为该芯片电源电压为5V,运行电流为,运行电流为40mA时耗散功率时耗散功率220mW,具有,具有CMOS/TTL兼容的输入与输出引脚。兼容的输入与输出引脚。1)读操作)读操作读操作时序如图读操作时序如图7-18所示。由时序图可知,在或为高电平时,输出引脚为高阻所示。由时序图可知,在或为高电平时,输出引脚为高阻状态。当地址有效后,在和同为低电平时,给定地址的数据呈现在输出引脚状态。当地址有效后,在和同为低电平时,给定地址的数据呈现在输出引脚I/O0I/
25、O7。读操作时间参数如表。读操作时间参数如表7-3所示。所示。(3)页写操作)页写操作AT28C64B页写操作允许在一个内部写周期内,实现页写操作允许在一个内部写周期内,实现164个字节的写入操作。个字节的写入操作。(4)数据查询)数据查询AT28C64B具有内部写周期结束检查的数据查询功能。具有内部写周期结束检查的数据查询功能。(5)跳变位查询)跳变位查询除了数据查询外,除了数据查询外,AT28C64B还提供了确定写操作结束的跳变位方法。还提供了确定写操作结束的跳变位方法。(6)数据保护)数据保护工业现场的环境都比较恶劣,电网电压的大幅度波动、闪电、雷击等都可能造成工业现场的环境都比较恶劣,
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