大学物理11-4劈尖牛顿环.ppt
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1、明纹明纹暗纹暗纹PLDC34E5A1B2倾角倾角i相同相同的光线对应同一条干涉条纹的光线对应同一条干涉条纹 等倾等倾干涉干涉L fPo r环环B ennn n n i rA CD21Siii 厚度厚度均匀均匀的薄膜的薄膜:明纹明纹暗纹暗纹PLDC34E5A1B2厚度厚度d相同相同的地方对应同一条干涉条纹的地方对应同一条干涉条纹 等厚等厚干涉干涉厚度厚度不均匀不均匀的薄膜的薄膜:11-1 相干光相干光11-2 杨氏双缝干涉杨氏双缝干涉 劳埃德镜劳埃德镜11-3 光程光程 薄膜干涉薄膜干涉11-4 劈尖劈尖 牛顿环牛顿环11-5 迈克耳孙干涉仪迈克耳孙干涉仪第十一章第十一章 光学光学-光的干涉光的
2、干涉SM劈尖角劈尖角一一 劈劈 尖尖明纹明纹暗纹暗纹(明纹明纹)(暗纹暗纹)1)平行于棱边的)平行于棱边的直直条纹条纹.2)棱边)棱边为为暗暗纹纹.暗纹暗纹明纹明纹 劈尖干涉的条纹特点劈尖干涉的条纹特点SM3)相邻明纹)相邻明纹(暗纹暗纹)间的厚度差间的厚度差劈尖干涉劈尖干涉暗纹暗纹明纹明纹 干涉条纹的移动干涉条纹的移动 每一条每一条条纹对应劈条纹对应劈尖内的一个尖内的一个厚度,当此厚度,当此厚度位置改厚度位置改变时,对应变时,对应的条纹随之的条纹随之移动移动.4)条纹间距(明纹或暗纹)条纹间距(明纹或暗纹)3)相邻明纹(暗纹)间的厚度差)相邻明纹(暗纹)间的厚度差劈尖干涉劈尖干涉2)测膜厚)
3、测膜厚1)干涉膨胀仪)干涉膨胀仪 劈尖干涉的应用劈尖干涉的应用 例例 在在SiSi的平表面上氧化了一层厚度均匀的的平表面上氧化了一层厚度均匀的SiOSiO2 2薄膜为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形薄膜为了测量薄膜厚度,将它的一部分磨成劈形(示意图中的示意图中的ABAB段段)现用波长为现用波长为600nm600nm的平行的平行 光垂直照射光垂直照射,观察反射光观察反射光 形成的干涉条纹形成的干涉条纹.在图中在图中 ABAB段共有段共有8 8条暗纹,且条暗纹,且B B处处 恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度恰好是一条暗纹,求薄膜的厚度 (Si(Si折射率为折射率为3.423.42,SiOSiO2
4、2折射率为折射率为1.50)1.50)解:Si折射率为折射率为3.42SiO2折射率为折射率为1.50由于由于:AB段共有段共有8条暗纹,条暗纹,且且 B处恰好是一条暗纹处恰好是一条暗纹.暗纹暗纹 3)检验光学元件表面的平整度)检验光学元件表面的平整度暗纹暗纹明纹明纹e e 例例 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图所的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部
5、分部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分 A.凸起,且高度为凸起,且高度为/4 B.凸起,且高度为凸起,且高度为/2 C.凹陷,且深度为凹陷,且深度为/2 D.凹陷,且深度为凹陷,且深度为/4.C e e 例例 用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷,当波长为的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图所的单色平行光垂直入射时,若观察到的干涉条纹如图所示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线示,每一条纹弯曲部分的顶点恰好与其左边条纹的直线部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分部分的连线相切,则工件表面与条纹弯曲处对应的部分 A.凸起
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