椭偏仪操作规程.pdf
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1、椭偏仪操作规程 一.目的 使用椭偏仪测量经 PECVD 镀膜后的 SiN 膜的厚度(d)和折射率(n).二.适用范围 适用于 CENTECH 公司的 SE 400advanced 型号的椭偏仪 三.设备主要性能及相关参数 设备型号:SE 400advanced 设备构成:A 光学系统部分:由支架、定位显微镜、线偏振光发射器(包括激光源)、椭圆偏振光接受和分析器组成。此部分完成整个光学部分的测试。B PC 机部分。此部分完成数据的分析和输出。四.运行前的检查 主要检查设备光学仪器部分是否损坏和电脑是否可正常使用。五.设备操作 1.启动软件 将椭偏仪控制器和 PC 的电源打开,为了仪器快速可用和延
2、长激光器寿命,推荐将椭偏仪控制器连续运转。SE 400advanced 程序通常被安装在文件夹:C:program filesSE 400AdvApplicationFrame.使用资源管理器或者直接双击桌面的 SE 400advanced 图标,启动软件。Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-1:SE 400advanced图标 软件打开时会自动进入上次退出时的登陆用户界面。Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-2:SE 400advanced 用户认证 通过菜单Logon,能够添加、更改或删除用户和用户权限。2.用户主窗口 3241 Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-3:S
3、E 400advanced主窗口 最后一次使用的模式会被自动加载。通过菜单,工具栏或模式列表,能够选择另外的模式。在软件界面的右下角,一个图标(2)用来显示椭偏仪控制器的连接状态,它通常显示为绿色。如果显示不为绿色,请检查椭偏仪和控制器之间的网络连接是否正常,并检查屏幕右下角的任务栏的网络状态。3.样品测试 1)在 recipe 下拉菜单中选择 08 Si3N4 on silicon 100 nm.2)将样品平放于测试台,并定位 3)通过按来开始测量,测量完成后,结果被显示在主结果区(3)和 protocol 区(4)。4.测量选项 在Measurement options页面中,能够按照测量
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