2022年机构名称名硕电脑有限公司技术服务部.doc

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1、机构名称：名硕电脑（苏州）技术效劳部注册号：L3232地 址：A：江苏省苏州市金枫路233号获准认可才能索引序号地址才能范围评审类型更新时间1A复评+扩项2012年12月14日2复评+扩项2012年12月14日3A复评+扩项2012年12月14日4复评+扩项2012年12月14日5A复评+扩项2012年12月14日6复评+扩项2012年12月14日Name：Technology Service Department of Maintek Computer (Suzhou) Co., Ltd.Registration No.：L3232 ADDRESS：A: No.233, Jinfeng Ro

2、ad, Suzhou, Jiangsu, ChinaINDEX OF ACCREDITED SIGNATORIES No.AddressRangeTypeUpdate date1AReassessment+Extending assessment2012-12-142Reassessment+Extending assessment2012-12-143AReassessment+Extending assessment2012-12-144Reassessment+Extending assessment2012-12-145AReassessment+Extending assessmen

3、t2012-12-146Reassessment+Extending assessment2012-12-14中国合格评定国家认可委员会认 可 证 书 附 件（注册号：CNAS L3232）名称: 名硕电脑（苏州）技术效劳部 地址：江苏省苏州市金枫路233号签发日期：2012年12月14日 有效期至：2015年12月13日更新日期：2012年12月14日附件1 认可的受权签字人及领域序号姓 名受权签字领域备 注1樊宏刚低温、高温、恒定湿热、交变湿热、温度/湿度组合循环、跌落等检测工程2左丽低温、高温、恒定湿热、温度/湿度组合循环、正弦振动、随机振动、跌落等检测工程3陈文军低温、高温、恒定湿热

4、、交变湿热、温度变化、温度/湿度组合循环、正弦振动、随机振动、跌落、盐雾、能耗等检测工程4楼晓波低温、高温、恒定湿热、交变湿热、温度变化、温度/湿度组合循环、盐雾、晶粒度、非金属夹杂物、金属和氧化物覆盖层厚度、维氏/洛氏硬度等检测工程5戈侠固体废弃物中全部认可的检测工程6刘杰固体废弃物中全部认可的检测工程7杨萍包装抗压、瓦楞纸板破裂强度、金属镀层厚度、胶带粘合、漆膜硬度等检测項目8邱海涛卡尺、环境试验设备等校准工程9马俊卡尺、环境试验设备等校准工程CHINA NATIONAL ACCREDITATION SERVICE FOR CONFORMITY ASSESSMENTAPPENDIX OF

5、ACCREDITATION CERTIFICATE(Registration No. CNAS L3232) NAME:Technology Service Department of Maintek Computer (Suzhou) Co., Ltd. ADDRESS:No.233, Jinfeng Road, Suzhou, Jiangsu, China Date of Issue:2012-12-14 Date of Expiry:2015-12-13 Date of Update：2012-12-14APPENDIX 1 ACCREDITED SIGNATORIES AND SCOP

6、EName Authorized Scope of SignatureNote1Dream FanCold test, Dry heat test, Damp heat-steady state, Damp heatcyclic Test, Composite temperature/humidity cyclic test, Drop test2Viola ZuoCold test, Dry heat test, Damp heat-steady state, Composite temperature/humidity cyclic test ,Sinusoidal Vibration,

7、Random vibration,Drop Test3Wenjun ChenCold test, Dry heat test, Damp heat-steady state,Damp heatcyclic Test,Composite temperature/humidity cyclic test, Salt mist test,Sinusoidal Vibration, Random vibration, Drop test, change of temperature,Energy consumption measurement4Becky LouCold test, Dry heat

8、test, Damp heat-steady state, Damp heatcyclic Test, Composite temperature/humidity cyclic test ,Change of temperature，Metal-methods for estimating the average grain size,Steel-Determination of content of nonmetallic inclusions-Mircograghic method using standards diagrams,Metallic and oxide coatings-

9、Measurement of coating inckness-Microscopical method,Rockwell hardness，Vickers hardness5Xia GeDetection of chemical composition of (Lead 、Mercury、Hexavalent Chromium、Polybrominated Biphenyls、Polybrominated Biphenyls Ether、Fluorine 、Chlorine 、Bromine、Iodine、Arsenic、TBBP-A、HBCDDand Phthalates in Rabbi

10、sh materiat6Jie LiuDetection of chemical composition of (Lead 、Mercury、Hexavalent Chromium、Polybrominated Biphenyls、Polybrominated Biphenyls Ether、Fluorine 、Chlorine 、Bromine、Iodine、 Arsenic、TBBP-A、HBCDDand Phthalates in Rabbish materiat7Emma YangCompression test、Bursting Strength of Corrugated Fibr

11、eboard、Measurement of Coating Thickness,Tape adhension test,Film hardness test8Haitao QiuApproved the recommendation of the Caliper and Equipment of the Environmental Testing projects9Jun MaApproved the recommendation of the Caliper and Equipment of the Environmental Testing projects 中国合格评定国家认可委员会认

12、可 证 书 附 件认 可 证 书 附 件（注册号：CNAS L3232）名称: 名硕电脑（苏州）技术效劳部 地址：江苏省苏州市金枫路233号认可根据：ISO/IEC 17025:2005以及CNAS特定认可要求签发日期：2012年12月14日 有效期至：2015年12月13日更新日期：2012年12月14日附件2 认可的检测才能范围序号检测对象工程/参数领域代码检测标准（方法）名称及编号（含年号）限制范围说明序号名称1固体废弃物1铅0240堆积物,淤泥,土壤的酸消解法 US EPA 3050B:1996硅酸盐和有机物基质的微波辅助酸消解法US EPA 3052:1996电感耦合等离子原子发射光

13、谱法US EPA 6010C:2007 电子电气产品中限用的六种物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚）的测定 IEC 62321:2008只用ICP-OES法1固体废弃物2镉0240堆积物,淤泥,土壤的酸消解法 US EPA 3050B:1996硅酸盐和有机物基质的微波辅助酸消解法US EPA 3052:1996塑料镉的测定湿分解法BS EN 1122:2001电感耦合等离子原子发射光谱法US EPA 6010C:2007 电子电气产品中限用的六种物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚）的测定 IEC 62321:2008只用ICP-OES法1固体废弃物3汞0240硅酸盐和有

14、机物基质的微波辅助酸消解法US EPA 3052:1996电感耦合等离子原子发射光谱法US EPA 6010C:2007 电子电气产品中限用的六种物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚）的测定 IEC 62321:2008只用ICP-0ES法4六价铬六价铬的碱消解法US EPA 3060A :1996六价铬(比色法)US EPA 7196A ：1992 电子电气产品中限用的六种物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚）的测定 IEC 62321 :2008只用ICP-0ES法5砷0240堆积物,淤泥,土壤的酸消解法 US EPA 3050B:1996 硅酸盐和有机物基质的微波辅助

15、酸消解法US EPA 3052:1996 电感耦合等离子原子发射光谱法US EPA 6010C:2007只用ICP-0ES法1固体废弃物6多溴 联苯0240微波辅助萃取法US EPA 3546:2007气质联用仪测试半挥发性有机化合物US EPA 8270D:2007 电子电气产品中限用的六种物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚）的测定 IEC 62321:2008 索氏萃取法 US EPA 3540C:1996 超声波萃取法 US EPA 3550C:20077多溴联苯醚8卤素 含量废弃物特性描绘卤素和硫含量密闭系统内氧气燃烧法和测定方法 BS EN14582:2007只测F、Cl

16、、Br、I9邻苯二甲酸酯索氏萃取法 US EPA 3540C:1996 气质联用仪测试半挥发性有机化合物US EPA 8270D:2007 超声波萃取法 US EPA 3550C:2007只測試BPP、DBP、DEHP、DINP、DIDP、DNOP10四溴双酚A11六溴环十二烷2电子电工产品1低温0431.01电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温GB/T 2423.1-2008只测: 温度范围:常温-40 容积 2m32高温0431.02电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温GB/T 2423.2-2008只测: 温度范围:常温90, 容积 2m33恒定湿热0

17、431.03电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验GB/T 2423.3-2006只测: 温度范围:(-4090);湿度范围:(20%96%)R.H.容积 2m32电子电工产品4交变 湿热0431.03电子电工产品环境试验: 第2部分：试验方法 试验Db:交变湿热（12h+12h循环） GB/T 2423.4-2008只测: 温度范围:(-4090);湿度范围: (20%96%)R.H.容积 2m35温度 变化0431.11电子电工产品环境试验: 第2 部分：试验方法 试验N:温度变化GB/T2423.22-2002只测:容积 2m3温度范围：-4090；升降温速率

18、：3/min；不用两液槽法2电子电工产品6温度/湿度组合循环0431.03电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验GB/T2423.34-2005只测: 温度范围:(-4090);湿度范围: (20%96%)R.H,容积 2m37正弦 振动0431.05电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc和导则:振动(正弦)GB/T 2423.10-2008只测：频率:5Hz320Hz；位移:5mm(峰峰)；加速度幅值:50m/s2；推力:600N；2电子电工产品8随机 振动0431.05电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动(数

19、字操纵)和导则GB/T 2423.56-2006只测：频率:5Hz320Hz；位移:5mm(峰峰)；加速度幅值:50m/s2；推力:600N；9自由 跌落0431.17电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落GB/T 2423.8-1995只测：方法1自由跌落 跌落高度：120cm；10盐雾0431.09电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:Ka盐雾 GB/T 2423.17-2008只测：容积108L11胶带粘合性0355胶带试验测定粘合性的方法ASTM D3359-20092电子电工产品12漆膜硬度0355铅笔试验测定漆膜硬度的方法ASTM D3363-200

20、53金属及金属制品1晶粒度0351金属平均晶粒度测定方法 GB/T6394-2002不作比拟法2非金属夹杂物0351钢中非金属夹杂物含量的测定 标准评级图显微检验法 GB/T10561-2005只作A法3镀层 厚度0202金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法GB/T 16921-2005只用发射法4金属和氧化物覆盖层厚度0355金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法 GB/T6462-20055洛氏硬度0301金属洛氏硬度试验方法第1部分：试验方法 GB/T 230.1-2009只作HRA、HRB、HRC6维氏 硬度0301金属维氏硬度试验方法 第1部分：试验方法 GB/T 4340.1-2

21、009只作HV0.2、HV0.3、HV0.5、HV14运输包装件1抗压0329包装 运输包装件根本试验 第4部分：采纳压力试验机进展的抗压和堆码试验方法 GB/T 4857.4-2008只测： 载荷20kN2跌落0431.17包装 运输包装件 跌落试验方法GB/T 4857.5-1992只测：跌落高度：120cm；5瓦楞纸板1耐破 强度0313.04瓦楞纸板耐破强度的测定方法GB/T 6545-19986计算机1关机形式能耗试验0438计算机节能认证技术标准CQC3114:2009只测:台式计算机2空闲形式能耗试验只测:台式计算机3睡眠形式能耗试验只测:台式计算机B类，睡眠形式下唤醒为网络连接

22、提供信号唤醒 CHINA NATIONAL ACCREDITATION SERVICE FOR CONFORMITY ASSESSMENTAPPENDIX OF ACCREDITATION CERTIFICATE(Registration No. CNAS L3232) NAME:Technology Service Department of Maintek Computer (Suzhou) Co., Ltd. ADDRESS:No.233, Jinfeng Road, Suzhou, Jiangsu, China Accreditation Criteria:ISO/IEC 17025:

23、2005 and relevant requirements of CNASDate of Issue:2012-12-14 Date of Expiry:2015-12-13 Date of Update：2012-12-14APPENDIX 2 ACCREDITED TESTINGTest ObjectItem/ParameterCode of Field Title, Code of Standard or Method Limitation NoteItem/ Parameter1Solid Waste1Lead0240Acid digestion of sediments,sludg

24、es,and soilsUS EPA 3050B:1996Microwave assisted acid digestion of siliceous and organically based matrices US EPA 3052:1996Inductively coupled plasma-atomic emission spectrometryUS EPA 6010C:2007 Electrotechnical Products - Determination of levels of six regulated substances (lead, mercury, cadmium,

25、 hexavalent chromium, polybrominated biphenyls, polybrominated diphenyl ethers) IEC62321:2008Accredited only for ICP-OES method1Solid Waste2Cadmium0240Acid digestion of sediments,sludges,and soilsUS EPA 3050B:1996Microwave assisted acid digestion of siliceous and organically based matrices US EPA 30

26、52:1996Plastics-Determination ofcadmium-Wet decomposition methodBS EN 1122:2001Inductively coupled plasma-atomicemission spectrometryUS EPA 6010C:2007 Electrotechnical Products - Determination of levels of six regulated substances (lead, mercury, cadmium, hexavalent chromium, polybrominated biphenyl

27、s, polybrominated diphenyl ethers) IEC62321:2008 Accredited only for ICP-OES method1Solid Waste3Mercury0240Microwave assisted acid digestion of siliceous and organically based matricesUS EPA 3052:1996Inductively coupled plasma-atomic emission spectrometryUS EPA 6010C: 2007 Electrotechnical Products

28、- Determination of levels of six regulated substances (lead, mercury, cadmium, hexavalent chromium, polybrominated biphenyls, polybrominated diphenyl ethers) IEC62321:2008Accredited only for ICP-OES method4HexavalentchromiumAlkaline digestion for hexavalent chromium US EPA 3060A:1996Chromium,hexaval

29、ent (colorimetric)US EPA 7196A:1992 IEC62321:20081Solid Waste5Arsenic0240Acid digestion of sediments,sludges,and soilsUS EPA 3050B:1996 Microwave assisted acid digestion of siliceous and organically based matrices US EPA 3052:1996 Inductively coupled plasma-atomic emission spectrometryUS EPA 6010C:2

30、0071Solid Waste6PBB0240Microwave ExtractionUS EPA 3546:2007Semivolatile organic compounds by gas chromatography/mass spectrometry (GC/MS) US EPA 8270D:2007Electrotechnical Products - Determination of levels of six regulated substances (lead, mercury, cadmium, hexavalent chromium, polybrominated biph

31、enyls, polybrominated diphenyl ethers) IEC62321:2008Soxhlet extraction US EPA 3540C:1996 Ultrasonic extractionUS EPA 3550C:20077PBDE1Solid Waste8Halogen0240Characterization of waste-Halogen and sulfur content-Oxygen combustion in closed systems and determination methods BS EN 14582:2007Accredited on

32、ly for F、Cl、Br、I9Phthalates0240Soxhlet extractionUS EPA 3540C:1996 Semivolatile organic compounds by gas chromatography/mass spectrometry (GC/MS) US EPA 8270D:2007 Ultrasonic extractionUS EPA 3550C:2007Accredited only for BPP、DBP、DEHP、DINP、DIDP、DNOP101,2,5,6,9,10-Hexabromocy-clododecane (HBCDD)11Tet

33、rabromob-isphenol A2Electronic electricianProducts1Cold0431.01Environmental testing for electric and electronic productsPart 2:Test methods-Tests A: Cold GB/T 2423.1-2008Accredited only for Capacity2m; Temperature range:room temperature-402Dry heat0431.02Environmental testing for electric and electronic productsPart 2:Test methods-Tests B: Dry heat