IC成品检验标准.doc
《IC成品检验标准.doc》由会员分享,可在线阅读,更多相关《IC成品检验标准.doc(4页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、 版本/版次AO页码/页数4 OF 4文件编号:WI-QA-05I C检 验 标 准发布日期实施日期文 件 首 页DOCUMENT REVISION RECORDS(FILL IT FROM THE LAST TO THE FIRST)DRAFTED BY CHECKED BY APPROVED BY DATEDATEDATE1、目的:本标准旨在使公司的成品的检验有依据、合理化,确保产品品质满足顾客要求。 2、适用范围: 适用于检验三晶电子生产销售的IC类产品。 3、定义 A面:IC的面B面:IC的底部4、职责权限: 4.1品质部负责本检验标准的拟定.4.2研发部负责检验标准的审核4.3品质部
2、QA按标准进行成品的交收检验5、管理要求: 5.1交收检验:适用于品质部对经过生产部全数检验的连续批生产的产品的交收检验及订货方对生产厂的产品交收检验。 5.1.1检验项目 5.1.1.1开箱检验 检验内容:包装质量、外观质量和功能音 5.2抽样方案: 抽样方案是遵照MIL-STD-105E的单次抽样方式,检测水平II进行正常检验,严格或简化的抽样方案经本厂与客户商讨决定也可以使用,如果一批产品被本厂QA检验判定为不合格,该批产品必须由生产部返工,工程必须分析不良原因,制定所返工的工艺,并且把相关资料提前送交公司各相关部门,任何批次运出的产品仅有在通过本公司QA检验确认为“合格品”才能放行出货
3、。抽样方案见表1表1 交收检验抽样方案 类别AQL允收水准抽样方案检验水平CRMAJMINIC00.100.25MIL-STD-105E的单次抽样方式一般检验水平II级5.3缺陷分类与判据 5.3.1 缺陷分类 致命缺陷Critical defective (CR):指对产品的使用及维护人员可能导致人身或财产危害的缺陷。重缺陷Major defective (MAJ):指导致产品失效或严重降低产品使用功能,为用户不可接受之缺陷。 轻缺陷Minor Defective(MIN):指产品性能降低,但为一般用户可以接受之缺陷。5.3.2合格品与不合格的判定 a、 开箱检查不合格判据表,以每个单位统计
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- IC 成品 检验 标准
限制150内