液晶屏质量检验标准.pdf

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1、奥创微电子有限公司奥创微电子有限公司 产品质量检验标准产品质量检验标准 文件编号：OT-QS-01 版本：A 一、适用范围 该标准适用质量部、生产部员工对具体型号各项质量指标（如功能、外观）进行检验及退货重检。二、抽样方案 抽样按照 MIL-STD-105D 中的一般检验水准，AQL 为：主缺陷：0.4 次缺陷：0.65 三、检验条件 眼睛离产品距离为 30cm，在 800lus(20W)日光灯照射下，在 LCD 法线前后左右45范围内。四、检验区划分 C B A A 区：显示区 B 区：可视区（A 区+B 区=最小视角区域）C 区：非可视区（装配产品后不可见区域）说明：一般来讲，当缺陷对质量

2、及装配无影响时，C 区缺陷可忽略不计 五、主缺陷定义 1）所有功能缺陷 如：缺划、短路、显示效果不一致、功耗电流过大 2）外形尺寸超出图纸范围 六、次要缺陷定义 不影响功能，只影响外观的主缺陷以外的缺陷（如内污、划伤、偏光片气泡等）七、质量检验标准的分类 分为两类：加严标准：适用于加严 STN、高档 HTN、TN 产品 普通标准：适用于普遍 STN、HTN、TN 产品 八、内容 1）加严标准（共 21 项）：编号编号 检验项目检验项目 内容内容 判定标准判定标准 缺陷缺陷 类别类别 8.1.1 白点、黑点、顶伤 X=(a+b)/2 大小 可接受数 A 区B 区 C 区 0.1 不计不计 0.1

3、0.15 0 0 X0.40 可接受 次缺陷8.1.2 黑线、白线 大小 可接受数 长 b 宽 a A 区 B 区 C 区 不计 a0.015 可接受 可接受 0.40.0150.04 按点状缺陷(8.11)判定 次缺陷8.1.3 玻璃外 划伤 大小 可接受数 长 b 宽 a A 区 B 区 C 区 不计 a0.015 可接受 可接受 2 0.0150.04 按点状缺陷(8.11)判定 次缺陷 8.1.4 玻璃四周 突出 不影响外形尺寸可接受，可接受数：1 次缺陷 引脚上玻璃突出 DW/5 W 为引线脚的宽度，可接受数：1 次缺陷8.1.5 漏晶 不允许 主缺陷8.1.6 彩虹 见限度样板 次

4、缺陷贴错片 不允许 主缺陷气泡 A 区 B 区C 区 X0.15 1 1 X0.15 0 0 X0.40 可接受 次缺陷8.1.7 偏光片 印痕、皱纹、水纹 见限度样板 次缺陷 8.1.8 玻璃裂缝 不允许 主缺陷8.1.9 引脚上破损 a、b、c、为破损长、宽、高，W为引线脚宽度、T为玻璃厚度 大小 可接受数 a b c 1.5 W/5 T/2 1 1.0 W/5 T/2W/5 不可接受 次缺陷8.1.10 玻璃封接面破损 大小(mm)可接受数 a b c 1.5 T/2 见说明 1 1.0 T/2T 见说明 1 说明：C 不超过边框外缘且边框完整 次缺陷 玻璃非封接面破损 大小(mm)可接

5、受数 a b c 1.5 T/2 见说明 1 1.0 T/2T 见说明 1 说明：C0.5mm,且边框完整 次缺陷 8.1.11 角上破损 银点、边框完整 破损面积1mm 破损体积1mm 允许数 2 次缺陷 8.1.12 图形凹缺 大小 可接受数 X0.1mm 不计 0.10.15 0 次缺陷 8.1.13 图形多点 大小 可接受数 X0.1mm 不计 0.10.15 0 次缺陷 8.1 14 图形变形 a 为测量值 W：设计值 大小(mm)可接受数 0.9Wa1.1W 2 a1.1W 0 次缺陷 8.1 15 缺划 不允许 主缺陷 8.1 16 短路 不允许 主缺陷 8.1 17 视角错 不

6、允许 主缺陷 8.1 18 大电流 不允许 主缺陷 8.1 19 显示不均 见限度样品 主缺陷 8.1 20 交叉效应 见限度样品 主缺陷 8.1 21 显示偏深或偏浅 见限度样品 主缺陷 2）普通标准（共 21 项）：编号编号 检验项目检验项目 内容内容 判定标准判定标准 缺陷缺陷 类别类别 8.2.1 白点、黑点、顶伤 X=(a+b)/2 大小 可接受数 A 区B 区 C 区 0.1 不计不计 0.10.20 0 0 X0.50 可接受 次缺陷8.2.2 黑线、白线 大小 可接受数 长 b 宽 a A 区 B 区 C 区 不计 a0.020 可接受 可接受 0.50.0200.05 按点状

7、缺陷(8.11)判定 次缺陷8.2.3 玻璃外 划伤 大小 可接受数 长 b 宽 a A 区 B 区 C 区 不计 a0.020 可接受 可接受 2 0.0200.05 按点状缺陷(8.11)判定 次缺陷 8.2.4 玻璃四周 突出 不影响外形尺寸可接受，可接受数：2 次缺陷 引脚上玻璃突出 DW/5 W 为引线脚的宽度，可接受数：2 次缺陷8.2.5 漏晶 不允许 主缺陷8.2.6 彩虹 见限度样板 次缺陷8.2.7 偏光片 贴错片 不允许 主缺陷气泡 A 区 B 区C 区 X0.20 1 1 X0.20 0 0 X0.50 可接受 次缺陷印痕、皱纹、水纹 见限度样板 次缺陷 8.2.8 玻

8、璃裂缝 不允许 主缺陷 8.2.9 引脚上破损 a、b、c、为破损长、宽、高，W为引线脚宽度、T为玻璃厚度 大小 可接受数 a b c 1.5 W/5 T/2 2 1.0 W/5 T/2W/5 不可接受 次缺陷8.2.10 玻璃封接面破损 大小(mm)可接受数 a b c 1.5 T/2 见说明 2 1.0 T/2T 见说明 2 说明：C 不超过边框外缘且边框完整 次缺陷 玻璃非封接面破损 大小(mm)可接受数 a b c 1.5 T/2 见说明 2 1.0 T/2T 见说明 2 说明：C0.5mm,且边框完整 次缺陷8.2.11 角上破损 银点、边框完整 破损面积1mm 破损体积1mm 允许

9、数 3 次缺陷8.2.12 图形凹缺 大小 可接受数 X0.1mm 不计 0.10.20 0 次缺陷8.2.13 图形多点 大小 可接受数 X0.1mm 不计 0.10.20 0 次缺陷8.2 14 图形变形 a 为测量值 W：设计值 大小(mm)可接受数 0.9Wa1.1W 2 a1.1W 0 次缺陷8.2 15 缺划 不允许 主缺陷8.2 16 短路 不允许 主缺陷8.2 17 视角错 不允许 主缺陷8.2 18 大电流 不允许 主缺陷8.2 19 显示不均 见限度样品 主缺陷8.2 20 交叉效应 见限度样品 主缺陷8.2 21 见限度样品 显示偏深或偏浅 主缺陷 3）放宽标准（共 21

10、 项）：编号编号 检验项目检验项目 内容内容 判定标准判定标准 缺陷缺陷 类别类别 8.3.1 白点、黑点、顶伤 X=(a+b)/2 大小 可接受数 A 区B 区 C 区 0.1 不计不计 0.10.20 0 0 X0.50 可接受 次缺陷8.3.2 黑线、白线 大小 可接受数 长 b 宽 a A 区 B 区 C 区 不计 a0.020 可接受 可接受 0.50.0200.05 按点状缺陷(8.11)判定 次缺陷8.3.3 玻璃外 划伤 大小 可接受数 长 b 宽 a A 区 B 区 C 区 不计 a0.020 可接受 可接受 3 0.0200.05 按点状缺陷(8.11)判定 次缺陷 8.3

11、.4 玻璃四周 突出 不影响外形尺寸，可接受数：2 次缺陷 引脚上玻璃突出 DW/5 W 为引线脚的宽度，可接受数：2 次缺陷8.3.5 漏晶 不允许 主缺陷8.3.6 彩虹 见限度样板 次缺陷贴错片 不允许 主缺陷气泡 A 区 B 区C 区 X0.20 1 1 X0.20 0 0 X0.50 可接受 次缺陷8.3.7 偏光片 印痕、皱纹、水纹 见限度样板 次缺陷 8.3.8 玻璃裂缝 不允许 主缺陷8.3.9 引脚上破损 a、b、c、为破损长、宽、高，W为引线脚宽度、T为玻璃厚度 大小 可接受数 a b c 2.0 W/5 T/2 2 1.5 W/5 T/2W/5 不可接受 次缺陷8.3.1

12、0 玻璃封接面破损 大小(mm)可接受数 a b c 2.0 T/2 见说明 2 1.5 T/2T 见说明 2 说明：C 不超过边框外缘且边框完整 次缺陷 玻璃非封接面破损 大小(mm)可接受数 a b c 2.0 T/2 见说明 2 1.5 T/2T 见说明 2 说明：C0.5mm,且边框完整 次缺陷8.3.11 角上破损 银点、边框完整 破损面积1mm 破损体积1mm 允许数 3 次缺陷 8.3.12 图形凹缺 大小 可接受数 X0.1mm 不计 0.10.20 0 次缺陷8.3.13 图形多点 大小 可接受数 X0.1mm 不计 0.10.20 0 次缺陷8.3 14 图形变形 a 为测

13、量值 W：设计值 大小(mm)可接受数 0.8Wa1.2W 2 a1.2W 0 次缺陷8.3 15 缺划 不允许 主缺陷8.3 16 短路 不允许 主缺陷8.3 17 视角错 不允许 主缺陷8.3 18 大电流 不允许 主缺陷8.3 19 显示不均 见限度样品 主缺陷8.3 20 交叉效应 见限度样品 主缺陷8.3 21 见限度样品 显示偏深或偏浅 主缺陷 奥创微电子有限公司奥创微电子有限公司 产品质量检验标准产品质量检验标准 OT-QS-01/A OT-QS-01/A 第 1 页（共 8 页）拟制：日期：审核：日期：批准：日期：修 改 提 示 修 改 提 示 修改 状态 修改 页码 修改 单号 修改 日期 修改 状态 修改 页码 修改 单号 修改 日期 200 年 月 日发布 200 年 月 日实施