《电力行业标准》GB T 2423.1-2001.pdf

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1、i c s 1 9.0 4 0K 0 4噶8中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 c B/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1i d t I E C 6 0 0 6 8-2-1:1 9 9 0电工电子产品环境试验 第 2 部分:试验方法 试验 A:低温E n v i r o n m e n t a l t e s t i n g f o r e l e c t r i c a n d e l e c t r o n i c p r o d u c t s-P a r t 2:T e s t me t h o d s-T e s t s A:C o l d2 0 0 1 一 0 7 一

2、1 2 发布2 0 0 1 一 1 2 一 0 1 实施中 _ 华人民共和国.*国家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局p L 7 WG B/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1目次前言 。1I E C前言 。A试验A:低温试验的历史概况 。V试验A:低温与试验B:干热 下标字 母之间的 关系 。二v引言1概述 。2 引用标准 。.。3 非散热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比 4 非散热试验样品:温度突变试验和温度渐变试验应用对比5 散热试验样品有或无强迫空气循环的试验 6图解 。第一篇试验 A 8:非散热试验样品温度突变的低温试验1目的 ，。42 一般说明 ，43 试验设备 。4

3、4 严酷等级 。45预处理 。46初始 检测 。47 条件试验 。，二5S 中间检测 。，59 恢复 。51。最后检测 。5n 相关规范应给出的信息 一 一 二 二 5 第二篇试验 A b:非散热试验样品温度渐变的低温试验1 2 目的。1 3 一般说明.1 4 试验设备。1 5 严酷等级 。1 6预处理 1 7 初始检测 。1 8 条件试验。1 9中间检测 ，GB/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1恢复 .。最后检测 。相关规范应给出的信息 。.第三篇试验 A d:散热试验样品温度渐变的低温试验门11C/n一月曰02 3目的.82 4 一般说明 82 5 试验设备 。82 6 严酷等级 9

4、2 7 预处理 。92 8 初始检测 92 9 条件试验 93 0 中间检测 。1 13 1 恢复 。1 13 2 最后检测 ，1 13 3 相关规范应给出的信息 ，.1 1附录A(标准的附录)环境温度校准计算图 。.1 3附录B(标准的附录)试验 A d方法A:有强迫空气循环试验温度状态的图示 1 4附录 C(标准的附录)试验 A d方法B:有强迫空气循环试验温度状态的图示 .1 4附录 D(提示的附录)试验A d(2 9.1.2)中方法 A简要流程图 。1 6附录 E(提示的附录)试验A d(2 9.1.2)中方法B简要流程图 一1 7G B/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1前言 本

5、标准等同采用国际电工委员会 I E C 6 0 0 6 8-2-1:1 9 9 0(第五版)环境试验第2部分:试验试验A:低温 及其修改1:1 9 9 3,修改2:1 9 9 4,本标准与 I E C 6 0 0 6 8-2-1:1 9 9 0(第五版)的差异:为与 G B/T 2 4 2 3 电工电子产品环境试验 系列标准的名称协调一致，本标准名称为:电工电子产品环境试验第 2 部分:试验方法试验A:低温。本标准与 G B/T 2 4 2 3.1-1 9 8 9 主要有下列差异:本标准的技术内容、编写格式及表达方法与I E C 6 0 0 6 8-2-1:1 9 9。相一致。而G B/T 2

6、 4 2 3.1-1 9 8 9 虽然等效采用I E C 6 0 0 6 8-2-1:1 9 7 4(第四版)，但编写格式与表达方法与I E C 6 0 0 6 8-2-1:1 9 7 4 相差很多，如将试验A s、试验 A b及试验Ad三种试验相同的内容归纳编辑成章;将其附录B、附录C改为标准正文图 1、图 2;删去了“试验 A a,A b,Ad的相同点和不同点示意图。”根据 G B/T 1.1 标准编写模板，在引言中加人引用标准一条。本标准增加了 附录D和附录E(根据I E C 6 0 0 6 8-2-1:1 9 9 0 的 修改2:1 9 9 4),删去了G B/T 2 4 2 3.1-

7、1 9 8 9 中6.2 第 3 段(本标准为4.2,1 5.2 和 2 6.2)最后一句:“但在任何情况下，持续时间不应少于 3 0 m i n ,根据 G B/T 2 4 2 2-1 9 9 5，本标准将r e l e v a n t s p e c if i c a t io n译成“相关规范”，而G B/T 2 4 2 3.1-1 9 8 9 是译成“有关标准”。本标准是GB/T 2 4 2 3 电工电子产品环境试验 系列标准之一 在本标准涉及到的与 I E C出版物相对应的国家标准有:G B/T 2 4 2 1-1 9 9 9 电工电子产品环境试验第 1 部分:总则(i d t I

8、E C 6 0 0 6 8-1:1 9 8 8)G B/T 2 4 2 2-1 9 9 5 电工电子产品环境试验术语(e q v I E C 6 0 0 6 8-5-2:1 9 9 0)G B/T 2 4 2 4.1-1 9 8 9 电工电子产品环境试验规程高低温试验导则(e q v I E C 6 0 0 6 8-3-1:1 9 7 4)本标准的附录 A、附录B、附录C为标准的附录。本标准的附录D、附录E为提示的附录。本标准从实施之日 起，同时 代替G B/T 2 4 2 3.1-1 9 8 9,本标准由国家机械工业局提出并由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会归 口。本标准起

9、草单位:广州电器科学研究所。本标准主要起草人:赵世杰、陈洁、张永彬。本标准首次发布于 1 9 8 1年，第 1 次修订于 1 9 8 9 年2 月。本标准委托全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会负责解释。G B/T 2 4 2 31-2 0 0 1I E C前言 1)I E C关于技术事项的正式决议或协议，是由对该问题有特殊兴趣的所有国家委员会派代表参加的技术委员会制定 的，它尽可能地 表达国际上对 所讨论 问题 的一致意见。2)这些决议或协议以推荐形式供国际上使用，并在此意义上为各国委员会所接受。3)为了促进国际间的统一性，I E C希望所有国家委员会，在其国家条件允许的范围内

10、采用 I E C推荐的标准的正文形式为 国家 标准形式。在国家标准与 I EC标准 之间存在任何不一致时，要尽可能在 国家标准中明确指出。本标准 由 I EC TC5 0环境试验技术委员会 5 0 B气候分技术委员会制定。I EC 6 0 0 6 8-2-1(第 五版)是以 I EC 6 0 0 6 8-2-1 09 7 4)第 四版(包 括第 四版校正版 I E C 6 0 0 6 8-2-1 A:1 9 7 6和第四版修订:1 9 8 3)和下列文件为基础:表 1 LH N oi阵环局 法而票 雍 窖而不 q a一m#R o6 0 0 6 8-2-1(第四版)第一次修订本 6 0 0 6

11、8-2-1 A5 0 B(C O)1 5 85 0 B(C O)2 3 95 0 B(C O)1 8 25 0 B(C O)1 6 35 0 B(C O)2 5 05 0 B(C O)1 8 75 0 B(C O)1 6 75 0 B(CO)1 7 2有关同意本标准的全部投票资料，可在上表投票报告中找到。本标准引用了以下 I E C出版物:出版号I E C 6 0 0 6 8-1:1 9 8 8 环境试验 第一部分:总 则 I E C 6 0 0 6 8-3-1:1 9 7 4 环境试验第三部分:背景信息第一章:低温和干热试验G B/T 2 4 2 31-2 0 0 1试验 A:低温试验的历史

12、概况第一次出版(1 9 5 4)只包含试验 A:低温试验，仅涉及温度的突变，标准试验时间6h第二次出版(1 9 6 0)与试验 A同，但标准试验时间改为 2 h,第三次出版(1 9 6 6)介绍试验Aa:与前版试验A同。试验Ab:温度渐变的新方法。第四次出 版(1 9 7 4)介绍:试验Aa:与前版试验Aa 同。试验Ab:与前版试验 A b同。试验 Ad:散热样 品温度渐变 的新方法。试验A:低温与试验B:干热下标字母之间的关系试验A:低温与试验B:干热下标字母之间的关系，见下表:一去二启尸土1试验A 低温试验试验B:干热试验!乍 1 P 月样品类型温 度 变 化试验开始时的样品温度样 品类

13、型温度变化试验开始时的样品温度abCd非散热非 散 热非 散 热突 变渐 变渐 变稳 定 圣稳 定 于稳 定 务非 散 热非散热散 热 散热突 变渐 变突 变渐 变稳 定 并稳 定 资稳 定 妥稳 定 书 *:在试验持续时间开始之前，试验样品要达到温度稳定。在特殊情况下，也可能不是这样，这需要在相关规范中提供附加信息，见引言的第 1 节和I E C 6 0 0 6 8-3-1(所涉及的这些情况的修改正在考虑中)。中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准电工电子产品环境试验第 2部分:试验方法 试验 A:低温 G B/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1id tI E C 6 0 0 6 8

14、-2-1:1 9 9 0代替 G B/T 2 4 2 3.1-1 9 8 9E n v i r o n m e n t a l t e s t i n g f o r e l e c t r i c a n d e l e c t r o n i c p r o d u c t s-P a r t 2 1 Te s t me t h o d s-T e s t s A:C o l d引言概述 本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热两类试验样品。对于非散热试验样品，试验 A。和A b不违背早期发行的标准。本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产品(包括元件、设备及其他产品)在低温环境条件下贮存和

15、(或)使用的适应性d 这一低温试验不能用来评价试验样品对温度变化的耐抗性和在温度变化期间的工作能力，在这种情况下，应当采用试验N:温度变化试验方法。低温试验方法分为以下三类:非散热试验样品低温试验:试验A a:温度突变 试验Ab:温度渐变 散热试验样品低温试验:试验A d:温度渐变 本试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱(室)达到规定试验温度时开始计算。相关规范应规定:a)试验箱(室)内温度变化速率;b)试验样品放人试验箱(室)的时间;C)试验样品在试

16、验条件下暴露试验开始的时间;d)试验样品通电或加负载的时间。在这些条件下，相关规范的制定者可根据 G B/T 2 4 2 4.1-1 9 8 9 导则选定以上4个参数(以上条件下的修订正在考虑之中)。引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。G B/T 2 4 2 1-1 9 9 9 电工电子产品环境试验第 1 部分:总则(i d t I E C 6 0 0 6 8-1:1 9 8 8)G B/T 2 4 2 2-1 9 9 5 电工电子产品环境试验术语(e q

17、 v I E C 6 0 0 6 8-5-2:1 9 9 0)中华人民共和国国家质f监督检验检疫总局2 0 0 1 一 0 7-1 2批准2 0 0 1 一 1 2-0 1 实施GB/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1 G B/T 2 4 2 4.1-1 9 8 9 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则 (e q v I EC 6 0 0 6 8-3-1:1 9 7 4)3 非散热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比 试验样品温度达到稳定后，在自由 空气条件(即没 有强迫空气循环)下测量时，试验样品表面上 最热点温度高于周围大气温度5 K以 上的，认为是散热的(见G B/T 2

18、4 2 1-1 9 9 9 中的4.3).对于贮存试验及试验期间没特别说明加负载的试验样品，试验采用低温试验方法 A b,4 非散热试验样品:温度突变试验和温度渐变试验应用对比 温度突变试验 A a:先将试验箱(室)温度调节到规定试验温度，然后放人具有室温的试验样品，这是一种简便的节约时间的方法，本试验方法适用于已知温度突变对试验样品不产生损伤时的情况。温度渐变试验 A b:先将具有室温的试验样品放人亦为室温的试验箱(室)内，然后将试验箱(室)温度逐渐冷却到规定试验温度。这种试验方法不会因温度变化对试验样品产生损伤作用。若由于试验样品尺寸太大，或由于复杂的功能试验接线，在突变试验时不能做到将其

19、放人低温箱而不产生结霜情况时，也应采用试验Ab,散热试验样品有或无强迫空气循环的试验 散热试验样品较好的试验方法是在无强迫空气循环下进行的，若难以达到这一要求，当散热试验样品在有强迫空气循环时可采用试验 A d这一方法。有强迫空气循环的试验有两种方法:方法A和方法 B。方法 A是用于试验箱(室)足够大而不需用强迫空气循环也能满足试验需求，但在试验箱(室)内不用强迫空气循环就不能保持规定的低温环境。方法 B用于试验箱(室)太小，不用强迫空气循环就不能符合试验要求。6图解 为了便于试验方法选择，各种方法分类框图如图 1 所示。为了方便本标准使用者，本标准给出了对于每一试验方法无交叉引用关系的完整内

20、容。有些条款是相同的，特别是试验方法 A a和Ab,图2的框图表明哪些是相同的，哪些是不同的。图 1 低温试验方法分类的方框图各种试验方法图解程序GB/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1Aa试脸试脸Ab Ad引言一般说明试脸设 备严 酷等 级一预 处 理初始 植翻一条件 试毅 一中 间检 测一恢 健最 后检 洲一相 关规 范 应给 出 的信 息a+b+dababd ab .a+b+d .a+b+da+b+daba+b十dab+da+b+dda+b图 2 试验A:低温试验方法框图试验 A a,A b和A d的相同点与不同点图示GB/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1第一篇试验 A a:非

21、散热试验样品温度突变的低温试验目的 提供一种标准的试验程序，用以确定经受温度突变不致产生损伤作用的非散热电工、电子产品(包括元件、设备及其他产品)低温下贮存和使用的适应性。试验样品应在低温下放置足够长时间达到温度稳定。试验持续时间通常从样品达到温度稳定时开始计算，不能满足这一条件时，则参见引言第 1 章。2 一般说 明 本试验是将具有室温的试验样品放人温度为相关规范规定的符合严酷等级的试验箱(室)内。试验样品达到温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。试验样品通常处于不工作状态下。本试验通常采用强迫空气循环。试验设 备试验箱(室)工作空间内，应能提供 4.1 所规定的温度条件，可以用强迫空气

22、循环来保持温度均匀。为了限制辐射影响，箱(室)内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过 8%(按开尔文温度计33.1脚算)，且试验样品不应受到不符合上述要求的任何加热与冷却元件的直接辐射。严酷等级 试验的严酷等级主要由试验温度和试验持续时间决定，相关规范应优先从 4.1和4.2所给数值中选取。4 门温度 一 6 5 士 3C 一 5 5 士 3C 一 4 0 士 3 一 2 5 士 3 C 一 1 0 士 3C +5 士3C 一 5 士 3 4.2 持续时间 2 h,1 6 h,7 2 h,9 6 h 当本标准作为与耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则其试验所需的持续时间由相关规范规定。若试验

23、的目的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常工作，则试验的时间只限于使样品温度达到稳定。预处理按相关规范规定的要求进行。初始检测按相 关规 范规定对试 验样 品进行外 观检查 及电气和机械性能的检测。G B/T 2 4 2 31-2 0 0 17条件试验了.飞 将处于室温下的试验样品，在不包装、不通电、“准备使用”状态，按正常位置或其他规定的位置放人试验箱(室)内。此时，该试验箱(室)的温度也为室温。当实际上试验样品是和某种特定的安装架一起使用时，试验时就应使用这些装置一起进行试验。试验箱温度测量按G B/T 2 4 2 1-1 9 9 9中4.4的规定进行。7.2 将试验箱(室)的温度调控到符合

24、严酷等级的温度值，并有足够时间使样品达到温度稳定(温度稳定的定义参见G B/T 2 4 2 2-1 9 9 5的4.8),7.3 对于功能性试验，必须按相关规范规定对试验样品给予通电或加电气负载，并检查确定其能否达到规定功能。若相关规范有所要求，试验样品应按其规定的工作循环和负载条件(若可行时)处于运行状态，或者不予通电。注:此时试验样品处于运行或在负载条件下，只要表面温度不超过周围大气温度 5 K，均认为是非散热的7.4 试验样品在低温条件下暴露的持续时间，应由相关规范规定。持续时间从温度达到稳定时算起。注:对于一些小试验样品，没有必要通过测f来检查其是否达到温度稳定，见GB/T 2 4 2

25、 1-1 9 9 9 的4.8注2 j7.5 若相关规范要求进行中间检测，按本标准第一篇中第 8 章的要求进行。了.6 在条件试验结束时，应使试验样品恢复原状，对通电运行或加电气负载的试验样品，应在恢复程序前停止通电或卸去负载。8中间检测 相关规范可规定在条件试验期间或结束时(试验样品仍在试验箱(室)内功日 负载和(或)测量，若需要时应规定测量的项目和时间。测量时，试验样品不应从试验箱(室)中取出。注 在条件试验期间，不允许把试验样品从试验箱(室)内取出进行恢复前的测量后又重新放人试验箱(室)内。如果 在持续时间结束前需要了解试验样品在特定时间的性能，则对每个特定的时间应另外增加一批试验样品，

26、进行 恢复和最后的测量，应对每一批试验样品分别进行9 恢复9.1 试验样品应在标准大气条件下进行恢复直到解冻。9.2 为了除去水滴，可用手抖动试验样品，或用室温的空气进行短时吹风。9.3 试验样品在标准大气条件下恢复时，恢复时间要足以使其达到温度稳定，最少为 I h，当几个样品同时进行试验，而 1 h的恢复时间又足够时，则最长恢复时间为 2h，所有测量必须在这一时间终了前进行 完毕。若相关规范有要求，要在恢复期间对试验样品通电或加负载，并连续地测量其性能。当标准大气条件对试验样品不适宜时，相关规范可规定其他恢复条件。最后检 测月r，口 .卜日OJns月.按相关规范的规定对试验样品进行外观检查及

27、电气和机械性能的检测。1 1相关规范应 给出的信 息当相关规范包含低温试验时，应给出下列项目的尽可能适用的细节:采 用 说 明:1 刁I E C 6 0 0 6 8-2-1 原文I E C 6 0 0 6 8-1中4.6 的注 2，但根据I E C 6 0 0 6 8-1应为4.8的注 2G B/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1a)预处理;b)初始检测;c)条件试验期间，试验样品的安装状态;d)严酷等级(温度和试验持续时间);e)条件试验期间的测量和(或)负载;f)恢复(如不是标准条件下恢复);B)最后检测;h)供需双方同意的对试验程序的任何更改。第二篇试验A b:非散热试验样品温度渐变

28、的低温试验1 2目的 提供一种标准试验程序，用以确定非散热的电工电子产品(包括元件、设备和其他产品)在低温贮存和(或)使用的适应性。试验样品应在低温下放置足够长时间以达到温度稳定。试验持续时间通常从试验样品达到温度稳定时开始计算，如不能满足这一条件，则参见引言第 1章。1 3 一般说明 本试验是将具有室温的试验样品放人温度也为室温的试验箱(室)内，然后将试验箱(室)的温度调整到符合相关规范规定的严酷等级的温度值。在试验样品达到温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。试验样品通常处于不工作状态下。本试验通常采用强迫空气循环。1 4试验设备1 4.1 试验箱(室)工作空间内，应能提供 1 5.1

29、 所规定的温度条件，可以用强迫空气循环来保持温度均匀。1 4.2 为了限制辐射影响，箱(室)内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过 8%(按开尔文温度计算)，且试验样品不应受到不符合上述要求的任 何加热与 冷却元件的 直接辐射。1 5 严酷等级 试验的严酷等级主要由试验温度和试验持续时间决定，相关规范应从 1 5.1和 1 5.2所给数值中选取。1 5.1 温度 一6 5 C士3 C 一5 5 C士3C 一4 0 士3C 一2 5 C士3C 一1 0 C士3C 千5 士3 一5 C士3 C1 5.2 持续时间 2h.1 6h.7 2h.9 6hG B/T 2 4 2 31-2 0 0 1 当

30、本标准作为与耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则其试验所需的持续时间由相关规范规定。若试验的目的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常工作，则试验的时间只限于使样品温度达到稳定。1 6 预处理按相关规 范规定 的要求进行。1 7 初始检测 按相关规范规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。1 8 条件试验1 8.1 将处于室温下的试验样品，在不包装、不通电、“准备使用”状态，按正常位置或其他规定的位置放人试验箱(室)内。此时，该试验箱(室)的温度也为室温。当实际上试验样品是和某种特定的安装架一起使用时，试验时就应使用这些装置一起进行试验。1 8.2 将试验箱(室)的温度调控到符合严酷等级

31、的温度值，并有足够时间使样品达到温度稳定(温度稳定的定义按G B/T 2 4 2 2-1 9 9 5中4.8 规定)。试验箱(室)内温度变化速率不大于 1 K/min(不超过5 mi n时间的平均值)。试验环境温度应按G B/T 2 4 2 1-1 9 9 9 中4.6 规定进行测量。1 8.3 对于功能性试验，必须按相关规范规定对试验样品给予通电或加电气负载，并检查确定其能否达到规定功能。若相关规范有所要求，试验样品应按其规定的工作循环和负载条件(若可行时)处于运行状态，或者不予通 电。注:此时试验样品处于运行或在负载条件下，只要表面温度不超过周围大气温度5K，均认为是非散热的。1 8.4

32、试验样品在低温条件下暴露的持续时间，应由相关规范规定。持续时间从温度达到稳定时算起。注:对于一些小样品，没有必要通过测量来检查其是否达到温度稳定，见 G B/T 2 4 2 1-1 9 9 9中4.8注21 8.5 若相关规范要求进行中间检测，按本标准第 1 9 章进行。1 8.6 在试验周期结束时，试验样品仍保留在试验箱(室)内，将试验箱(室)温度逐渐升至标准的试验大气条件。试验箱(室)温度变化速率不超过 1 K/mi n(不超过 5 mi n时间的平均值)。在试验周期结束后，试验样品的恢复可在试验箱(室)内或在其他合适的方式下进行。若条件试验期间，试验样品是处于通电运行或加电气负载状态，应

33、在升温前停止通电或卸去负载。1 9 中间检测 相关规范规定在条件试验期间或结束时(试验样品仍在试验箱(室)内)加负载和(或)测量，若需要时应规定测量的项目和时间。测量时，试验样品不应从试验箱(室)中取出 注:在条件试验期间，不得把试验样品从试验箱 室)内取出进行恢复前的测量后又重新放入试验箱(室)内。若在持 续时间结束前，需要了解试验样品在特定时间的性能，则对每个特定的时间应另外增加一批试验样品，进行恢 复和最后的测量，应对每一批试验样品分别进行侧量2 0恢复2 0.1 为除去水滴，可用手抖动试验样品，或用室温的空气进行短时吹风。2 0.2试验样 品在标 准大气条件下恢 复时，恢 复时间要足以

34、使其达到 温度稳定，最少 为 1h，当几个样G B/T 2 4 2 31-2 0 0 1品同时进行试验，而 1h的恢复时间又足够时，则最长恢复时间为2h，所有测量必须在这一时间终了前进行完毕。若相关规范有要求，要在恢复期间对试验样品通电或加负载，并连续地测量其性能。当标准大气条件对试验样品不适宜时，相关规范可规定其他恢复条件。最后检测勺口月 :nUn仲月.八乙勺0 按相关规范的规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。2 2 相关规范应给出的信息 当相关规范包含低温试验时，应给出下列项目的尽可能适用的细节:a)预处理;b)初始检测;c)条件试验期间，试验样品的安装状态;d)严酷等级(温

35、度和试验持续时间);e)条件试验期间的侧量和(或)负载;f)恢复(如不是标准条件下恢复);9)最后检测;h)供需双方同意的对试验程序的任何更改。第三篇试验 A d:散热试验样品温度渐变的低温试验2 3目的 提供一个标准的试验程序，用以确定散热的电工电子产品(包括元件、设备和其他产品)低温条件下使用的适应性。试验样品应在低温下放置足够长时间以达到温度稳定。试验持续时间通常从样品达到温度稳定时开始计算，如不能满足这一条件，则参见引言第 1 章。2 4 一般说明 本试验是将具有室温的试验样品放人温度也为室温的试验箱(室)内，然后将试验箱(室)的温度调整到相关规范规定的符合严酷等级的温度值。在试验样品

36、达到温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。相关规范必须说明受试验样品的功能。应注意试验样品的冷却装置是否符合相关规范的规定。所设计的试验条件应能模拟试验样品安装在具有规定的传导特性的安装架上时，经受“自由空气”条件影响的状态。所规定的试验温度为试验箱(室)内的环境温度。本试验优先选用无强迫空气循环的方法，但当没有强迫空气循环就难于或不可能满足试验规定的条件时，可以使用强迫空气循环。附录 A、附录B和附录c为本标准的组成部分。2 5 试验设备2 5.1 试验箱(室)2 5.1.1 试验箱(室)内温度应采用温度传感装置来进行检测，温度传感装置的放置应按 G B/T 2 4 2 1-1 9 9

37、9中4.6.2 规定。c s/T 2 4 2 3.1-2 0 0 12 5-1.2 在无强迫空气循环试验情况下，试验箱(室)与试验样品大小及其散热总量比较起来应足够大，要大到可以模拟“自由空气，条件的影响。如果试验样品任何表面与其对应的试验箱(室)壁间的最小距离大于 1 5 c m，且试验箱(室)体积对试验样品体积之比不小于 5:1，则样品应尽可能安放在靠近试验箱(室)中心位置，以便在试验样品与试验箱(室)壁之间任何部分有足够空间，则就认为符合这一要求。2 5.1.3 为了限制辐射影响，试验箱(室)内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过8%(按开尔文温度计算)，且试验样品不应受到不符合上述要

38、求的任何加热与冷却元件的直接辐射。2 5-1-4 用有强迫空气循环的试验箱(室)进行试验时，风速尽可能低。2 5-1.5 当相关规范对试验样品规定了工作循环制时，必须采取措施使试验温度保持稳定，当试验样品是一些元件，且任一时间带负荷元件在试验箱(室)内分布是相当均匀时，则通常可采用元件交错带负荷的方法使试验温度保持稳定。注:对试验样品规定有工作循环的试验，在无负载期间试验箱(室)温度不应降到规定温度之下(见附录C 2 5.2 安装2 5.2.1 试样的安装架和联接件的导热性及其他有关特性应在相关规范中加以规定.当试验样品用于特定的安装设备时，则试验时应将这些安装设备一起进行试验。2 5-2.2

39、 若对安装架的特性一无所知时，则要求安装架有高的导热率。2 6 严酷等级 试验的严酷等级主要由试验温度与试验持续时间决定，相关规范应从 2 6.1和2 6.2 所给的数值中选取。2 6.1 温度 一6 5 士3 一5 5 士3 一4 0 C士3 C 一 2 5 士 3 C 一1 0 C士3C +5 士3 一 5 士 3 2 6.2 持续时间 2 h,1 6 h,7 2 h,9 6 h 当本标准作为与耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则其试验所需的持续时间由相关规范规定。若试验的目的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常工作，则试验的时间只限于使试验样品达到温度稳定。2 了 预 处理 按相关规范规定

40、的要求进行。2 8 初始检测 按相关规范规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。2 9 条件试验2 9.1 无人工冷却的试验样品2 9.1.1 无强迫空气循环的试验 9G B/T 2 4 2 31-2 0 0 12 9.1.1.1 处 于室温的试验箱(室)先将具有室温的试验样品放人有同样温度的试验箱(室)内，试验样品处于不包装、不通电、“准备使用”状态，按正常位置或其他规定的位置放人试验箱(室)内。2 9.1.1.2 将试验箱(室)内温度调控到符合严酷等级的温度值，并有足够时间使样品达到稳定温度。试验箱(室)内温度变化速率不超过 1 K/mi n(不超过 5 m i n时间的平均值)

41、。2 9 门门.3 对试验样品通电或加上负载，并检查确定能否达到规定的功能。试验样品应按相关规范规定的工作循环和负载条件(若可行)保持在运行状态。2 9.1-1.4 试验样品在低M条件下，暴露的持续时间应由相关规范规定，持续时间从温度达到稳定开始计算。注:对于 一 些小样品，没有必要通过测量来检查其是否达到温度稳定，见G B/T 2 4 2 1-1 9 9 9中4.8注2.2 9-1.1.5 若相关规范要求进行中间检测，按第 3 0章进行2 9 门门 6 在条件试验结束时，试验样品仍保留在试验箱(室)内，将试验箱(室)的温度逐渐升至正常的试验大气条件范围内，试验箱(室)温度变化速率不超过 1

42、K/m i n(不超过 5 mi n时间的平均值)。若条件试验期间，试验样品是处于运行或加负载状态，应在温度升高以前停止通电或卸去负载。2 9.1.1.7 在试验结束时，试验样品应经受恢复程序。恢复可在试验箱(室)内或在其他合适的方式下进行。2 9 门 2 有强迫空气循环的试验 当不用强迫空气循环就不能符合规定的试验条件时，如果采用强迫空气循环，则有下列两种方法:方法 A:这种方法是用于试验箱(室)足够大，不用强迫空气循环可满足试验要求，但仅能借助空气循环才能保持试验箱(室)内的环境温度 这一方法是将试验样品放人或安装在处于室温的试验箱(室)内，在试验箱(室)内的循环气流和冷却系统都关断的情况

43、下，对试验样品加上进行低温试验时规定的负载，当试验样品达到温度稳定后，用适当的检测装置测量若十代表点的温度，记录各点的温升。然后，开启试验箱(室)的通风装置，使空气流通，一旦试验样品重新达到温度稳定，再对各代表点的温升进行测量。如果这些代表点温升在无和有强迫空气循环时.前后温升相差大于3K或达到相关规范规定的其他值则说明空气循环速度太快，应予降低，至满足 3 K或其他规定温差为止，若不可能满足这一要求，就应采用方法 B o 此后，接通试验箱(室)冷却装置的电源并进行冷却，环境温度的测量应按G B/T 2 4 2 1-1 9 9 9 中4.6 2 规定进行。试验按2 9.1.1 规定进行。方法A

44、的图解见附录B e 有关方法 A的简要流程图见附录D,方法 B:这一方法用于方法A不能应用的场合，例如做试验用的试验箱(室)当无强迫空气循环就不能符合试验要求的场合。它基于假定在 自由空气条件下试验样品上最热点的温度和周围环境空气温度之差 T 与其环境温度几乎无关的，这一假定只在 TG2 5 K时适用 若用附录A的图校准，则 T 值可以扩大到 8 0 K,该校准包括对流误差和辐射误差 温差 A T 超过8 0 K时，方法 I 3 的有效性尚未得到证实 把试验样品合适地安装在试验室中，使之不要遭受诸如日 光和气流的干扰影响，使其在试验环境温度下经受低温试验时所规定的负载条件。当温度达到稳定后，测

45、量最热点的温度，对较大或较复杂的试c B/T 2 4 2 31-2 0 0 1验样品，测量若干代表点的温度，记录每一点的温升 T 如果 T，小于2 5 K，试验程序按本标准 2 9-1.1 进行。如果 T,大于2 5 K，则应根据规定的试验温度按附录A要求校正试验样品的表面温度T,，将T,校正后成为T,，在试验样品和箱体均为室温时，将试验样品放人试验箱(室)内，然后按相关规范规定将试验样品通电或加电气负载，并开动箱体冷源降温，温度变化速率不大于1 K/m i n(不超过 5 m i n时间内平均值)，箱(室)温的最后值应调控到这样一个数值，即试验样品表面上受测点的温度达到上述温度稳定的校正值

46、T 几，该温度应在整个条件试验期间加以保持，并按2 9.1-1.4 到 2 9.1-1.7 进行试验。有关试验方法 B的图解见附录C。有关方法 B的简要流程图见附录E,2 9.2 有人工冷却的试验样品 若试验样品有冷却时，相关规范应规定供给试验样品冷却剂的特性，若冷却剂为空气时，应不受油的污染，并干燥得足以避免潮湿的影响。2 9.2.1 冷却系统和试验箱(室)“分开”的有人工冷却的试验样品 这类试验样品的冷却系统或是自身装有的，或是外部供给冷却剂的冷却剂循环流动管道是与试验箱(室)相隔开的。这类试验样品可按本标准 2 9.1.1 进行试验,2 9.1.2中的方法 A作为替用方法。2 9-2.2

47、 冷却系统和试验箱(室)“不分开”的人工冷却的试验样品 a)试验样品用新鲜冷却空气取自试验箱(室)外，在冷却试验后空气流入试验箱(室)内。这类试验样品可按本标准 2 9-1.1 进行试验,2 9-1.2 中的方法A作为替用方法。b)试验样品用冷却空气取自试验箱(室)内，在完成其冷却任务后又回到试验箱(室)内。这类试验样品可按本标准 2 9-1.1 进行试验，用 2 9-1.2中的方法 A作为替用方法，但应对进入试验样品的空气进行监测，该空气的温度必须在规定的极限范围内。3 0 中间检测 相关规范可规定在条件试验期间或结束时，试验样品仍在试验箱(室)内时加负载和(或)测量，若需要时应规定测量的项

48、目和时间，测量时，试验样品不应从试验箱(室)中取出。注在条件试脸期间，不得将试验样品从试验箱(室)内取出进行恢复前的侧量后又重新放人试脸箱(室)内。如果在 持续时间结束前，需要了解试验样品在特定时间的性能，则对每个特定的时间应另外增加一批试验样品，进行 恢复和最后的测量，应对每一批试验样品分别进行测量恢复为了除去水滴，可用手抖动试验样品，或用室温空气进行短时吹风。试验样品在标准大气条件下恢复时，恢复时间要足以使其达到温度稳定，最少为 1h，当几个试3131.1312验样品同时进行试验，而 1 h的恢复时间又足够时，则最长恢复时间为2h，所有测量必须在这一时间终了前进行完毕。3 1.3 若相关规

49、范要求，要在恢复期间对试验样品通电或加负载，并连续地测量其性能。3 1.4 当以上标准条件不适于样品试验时，相关规范可给出其他的恢复条件。3 2最后检测按相关规范的规定对试验样品进行外观检查及电气和机 械性 能的检测。3 3 相关规范应给出的信息 当相关规范包含低温试验时，应给 出下列项 目的尽可能适用的细节:c B/T 2 4 2 31-2 0 0 1a)预处理;b)初始检测;c)安装或支承的详图;d)条件试验期间试验样品(包括冷却系统)的状况;e)严酷等级(温度和试验持续时间);f)条件试验期间的测量和(或)负载;9)恢复(如不是在标准条件下恢复);h)最后检测;i)供需双方同意的对试验程

50、序的任何更改。GB/T 2 4 2 3.1-2 0 0 1 附录A (标准的附录)环境温度校准计算 图1000905040口卜卜二卜卜巨卜卜卜卜卜卜巳卜卜亡巨卜日卜片儿80706050406050403020+-盆.丁.les30别100-十1十枢轴线日月困习月州日月州口J刁州，10010即30402030405060环境温 度 示例:问:耗散一定功率的一台产品，在 2 0 自由空气中表面温度达7 0 0C。那么在一4 0 的自由空气中耗散同一功率时，其表面温度是多少?答:从T。尺上+2 0 C 点到T、尺上+7 0 点之间画一直线，记下它与枢轴线的交点，再从T。尺上-4 0 点通过枢轴线上的