MEMS原理-06讲述.ppt
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1、MEMS原理Kunming University of Science and Technology Kunming University of Science and Technology Kunming,ChinaKunming,ChinaOctober,2014October,2014索春光06MEMS MaterialsMEMS材料用于MEMS的材料 MEMSMEMS和微电子技术是不可分离的,许多微系统和微电子技术是不可分离的,许多微系统制造技术与微电子制造技术非常接近制造技术与微电子制造技术非常接近 但是,但是,微系统的设计和封装技术与微电子技术有微系统的设计和封装技术与微电子技术有
2、很大的不同很大的不同 许多微系统使用微电子材料(如硅和砷化镓)许多微系统使用微电子材料(如硅和砷化镓)但是,但是,MEMSMEMS可使用许多其他的材料,如石英和可使用许多其他的材料,如石英和硼硅酸玻璃、聚合物和塑料、陶瓷等,这些材料却硼硅酸玻璃、聚合物和塑料、陶瓷等,这些材料却很少用于微电子产品。很少用于微电子产品。用于MEMS的材料 1.1 1.1 衬底和晶片衬底和晶片 1.2 1.2 活性衬底材料活性衬底材料 1.3 1.3 作为衬底材料的硅(作为衬底材料的硅(SiSi)1.4 1.4 硅化合物硅化合物 1.5 1.5 硅压电电阻硅压电电阻 1.6 1.6 砷化镓砷化镓 1.7 1.7 石
3、英石英 1.8 1.8 压电晶体压电晶体 1.9 1.9 聚合物聚合物 1.10 1.10 封装材料封装材料1.1 衬底和晶片微电子和微电子和MEMS中频繁使用的中频繁使用的“衬底衬底”指在其上进行微制造工艺的平坦的宏观物体。指在其上进行微制造工艺的平坦的宏观物体。MEMS中,中,“衬底衬底”的使用有其他的目的:的使用有其他的目的:除了支撑将机械动作转换为电输出或者反之的转换器之外,除了支撑将机械动作转换为电输出或者反之的转换器之外,还作为信号转换器。还作为信号转换器。半导体中,衬底是从所谓的大片晶片(半导体中,衬底是从所谓的大片晶片(Wafer)上切下来的)上切下来的单晶片。晶片可以是硅或其
4、他单晶材料,如石英或砷化镓。单晶片。晶片可以是硅或其他单晶材料,如石英或砷化镓。1.1 衬底和晶片材料 近似电阻率 r/Wcm 分类银(Ag)10-6 导体铜(Cu)10-58铝(Al)10-55铂(Pt)10-5锗(Ge)10-3101.5 半导体硅(Si)10-3104.5砷化镓(GaAs)10-3108 磷化镓(GaP)10-2106.5氧 109 绝缘体玻璃 1010.5镍(Ni)(纯态)1013金刚石 1014石英(熔融)1018典型绝缘体、半导体和导体的电阻率典型绝缘体、半导体和导体的电阻率1.2 活性衬底材料活性衬底材料主要用于微系统中的传感器和执行器,活性衬底材料主要用于微系统
5、中的传感器和执行器,或其他或其他MEMS器件。器件。应用于应用于MEMS器件的典型活性衬底材料包括硅、砷化镓、器件的典型活性衬底材料包括硅、砷化镓、锗和石英。锗和石英。这些衬底材料基本上都是具有四面体原子键的立方晶格。这些衬底材料基本上都是具有四面体原子键的立方晶格。选择依据:因为它们具有空间稳定性,对于环境条件相对选择依据:因为它们具有空间稳定性,对于环境条件相对不是很敏感。空间稳定性是高精度传感器和执行器的一个不是很敏感。空间稳定性是高精度传感器和执行器的一个重要要求。重要要求。1.3 作为衬底材料的硅(1)用于MEMS的理想衬底单晶硅是用于单晶硅是用于MEMS最广泛的衬底材料,主要因为:
6、最广泛的衬底材料,主要因为:1.1.硅的力学性能稳定,可被集成到相同衬底的电子器件上。硅的力学性能稳定,可被集成到相同衬底的电子器件上。2.2.硅几乎是一个理想的结构材料。硅几乎是一个理想的结构材料。3.3.硅的熔点为硅的熔点为14001400,约为铝的两倍。高熔点可使硅即使在,约为铝的两倍。高熔点可使硅即使在高温下也能保持尺寸的稳定。高温下也能保持尺寸的稳定。4.4.硅的热膨胀系数比钢小硅的热膨胀系数比钢小8 8倍,比铝小倍,比铝小1010倍。倍。5.5.硅在事实上没有机械迟滞,是传感器和执行器理想材料。硅在事实上没有机械迟滞,是传感器和执行器理想材料。6.6.硅衬底的处理和制作工艺已经比较
7、成熟。硅衬底的处理和制作工艺已经比较成熟。1.3 作为衬底材料的硅(1)Silicon wafer fabrication硅作为衬底材料,必须使用单晶纯硅。生产纯单晶硅最常用的方法是直拉法,Czochralski(CZ)法。如图所示,种晶放在拉伸机的尖端,使其与熔化的硅接触以形成更大的晶体。拉伸机随着熔在种晶上硅的不断沉积缓慢向上拉。随着拉伸机的上拉,沉积的熔融硅凝缩,形成了几英尺长的单晶硅芯棒。1.3 作为衬底材料的硅(1)Silicon wafer fabrication1.3 作为衬底材料的硅(1)Silicon wafer fabrication1.3 Silicon wafer fa
8、brication(1)slicing and polishing1.3 作为衬底材料的硅(2)晶体结构bb=0.543nm 晶格常数硅晶体的立体结构示意图硅晶体的立体结构示意图AB两个面心立方晶体的结合体两个面心立方晶体的结合体1.3 作为衬底材料的硅(2)晶体结构例题例题1.求纯硅每立方厘米的原子数。求纯硅每立方厘米的原子数。解:由于晶格常数b=0.543nm=0.543x10-9m,且每个立方晶胞中有18个原子,则在一立方厘米内的原子数为:1.3 作为衬底材料的硅(3)密勒指数直角坐标系中点P的方程为:上式可表示为另一种形式:用指定与平面(hkm)垂直的方向。表示为平面的密勒指数。1.3
9、 作为衬底材料的硅(3)密勒指数Miller Indices of a plane is determined by -Take the intercepts of the plane along the crystallographic axes eg.2,1,3 -The reciprocal of the three integers are taken and are multiplied by the smallest common denominator eg.1/2,1/1,1/3(multiple by 6)(3,6,2)-If a plane is parallel to a
10、n axis,its intercept is at infinity and its Miller index is zero -Important plans in Si lattice -1,0,0:(1,0,0),(01,0),(0,0,1),(1,0,0),(0,1,0),.-1,1,0 -1,1,11.3 作为衬底材料的硅(3)密勒指数硅片中主平面和副平面 800以下,硅基本上是无塑性和蠕变的弹性材料,以下,硅基本上是无塑性和蠕变的弹性材料,在所有的环境中几乎不存在疲劳失效。这些独特的性质使其成为在所有的环境中几乎不存在疲劳失效。这些独特的性质使其成为MEMS中理中理想的传感和执行
11、材料。想的传感和执行材料。硅是脆性材料。因此在设计承受冲击载荷的微系统时,需要考虑硅的这种硅是脆性材料。因此在设计承受冲击载荷的微系统时,需要考虑硅的这种不理想的脆性断裂行为。不理想的脆性断裂行为。硅的各向异性。由于需要引入与方向相关的力学性能,对硅结构的精确的硅的各向异性。由于需要引入与方向相关的力学性能,对硅结构的精确的应力分析变得很复杂。应力分析变得很复杂。下表给出硅晶体在不同方向上的杨氏模量和剪切模量下表给出硅晶体在不同方向上的杨氏模量和剪切模量密勒指数的取向 杨氏模量 E/GPa 剪切模量 G/GPa 129.5 79.0 168.0 61.7 186.5 57.51.3 作为衬底材
12、料的硅(4)硅的力学性能硅的力学性能MEMS材料的力学和热物理性能材料的力学和热物理性能材料ss(109N/m2)E1011N/m2r(g/cm3)cJ/(g)kW/(cm)a(10-6/)TMSi7.001.902.300.701.572.331400SiC21.007.003.200.673.503.302300Si3N414.003.853.100.690.190.801930SiO28.400.732.271.000.0140.501700铝0.170.702.700.9422.3625660不锈钢2.102.007.900.470.32917.301500铜0.070.118.900
13、.3863.9316.561080砷化镓2.700.755.300.350.506.861238锗1.035.320.310.605.80937石英0.50.70.760.972.660.821.200.0670.127.1017101.3 作为衬底材料的硅(4)硅的力学性能硅的力学性能例题例题2.材料的热扩散率是热量流入材料快慢的量度。材料的热扩散率是热量流入材料快慢的量度。列出硅、二氧化硅、铝和铜的热扩散率,并分析结果。列出硅、二氧化硅、铝和铜的热扩散率,并分析结果。解:热扩散率是材料的几个特性的函数,如下公式所示:材料 k/r/c/热扩散率 a/J/(scem)(g/m3)J/(g)(m
14、2/s)Si 157 2.3x106 0.7 97.52x106 SiO2 1.4 2.27x106 1.0 0.62x106铝 236 2.7x106 0.94 93x106铜 393 8.9x106 0.386 114.4x106 用于MEMS材料的热扩散率1.3 作为衬底材料的硅(4)硅的力学性能硅的力学性能1.4 硅化合物(1)二氧化硅(SiO2)二氧化硅在二氧化硅在MEMSMEMS中主要有三个应用:中主要有三个应用:1.1.作为热和电的绝缘体。作为热和电的绝缘体。2.2.作为硅衬底刻蚀的掩模。作为硅衬底刻蚀的掩模。3.3.作为表面微加工的牺牲层。作为表面微加工的牺牲层。干法氧化:湿法
15、氧化:1.4 硅化合物(2)碳化硅(SiC)碳化硅在碳化硅在MEMSMEMS中的基本应用是利用其中的基本应用是利用其在高温下尺寸和化学性质的稳定性。在高温下尺寸和化学性质的稳定性。采用铝掩模的干法腐蚀可以很容易实现采用铝掩模的干法腐蚀可以很容易实现碳化硅薄膜的图形化。碳化硅薄膜的图形化。碳化硅膜的生产可采用各种沉积技术。碳化硅膜的生产可采用各种沉积技术。1.4 硅化合物(3)氮化硅(Si3N4)氮化硅具有很多吸引氮化硅具有很多吸引MEMSMEMS的突出特性:的突出特性:1.1.有效阻挡水和离子(如钠离子)的扩散。有效阻挡水和离子(如钠离子)的扩散。2.2.超强抗氧化和抗腐蚀的能力使其适于作深层
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