IQC来料检验规范标准书分类.pdf
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1、 IQC 来料检验规范标准书分类 Document serial number【NL89WT-NY98YT-NC8CB-NNUUT-NUT108】1.目的 本公司为管制采购物料品质,使其符合设计规格及允收品质水准,物制定本规定。2.范围 凡本公司采购物料或本公司自制加工产品均适用本规定。3.权责单位 品管部负责本规定制定、修改、废止之起草工作。总经办负责本规定制定、修改、废止之核准。作业部门:品管部 IQC 4.检验规定 抽样计划 依据 MIL-STD-105E 单次取样计划。品质特性 品质特性分为一般特性和特殊特性。一般特性 符合下列条件之一者属一般特性 检验工作容易者,如外观特性 品质特性
2、对产品品质有直接而重大之影响者 品质特性变异大者 特殊特性 符合下列条件之一者属特殊特性 检验工作复杂,费时或费用高者 品质特性可由其他特性之检验参考判断者 品质特性变异小者 破坏性之试验 检验水准 一般特性采用 MIL-STD-105E 正常单次抽样一般 II 级水准。特殊特性采用 MIL-STD-105E 正常单次抽样特殊 S-2 级水准。缺陷等级 抽样检验中发现之不符品质标准之瑕砒,称为缺陷,其等级有下列三种:致命缺陷(CR)能或可能危害制品的使用者、携带者的生命或财产安全之缺陷,称为致命缺陷又称为严重缺陷,用 CR 表示。主要缺陷(MAJ)不能达成支配的使用目的之缺陷,称为主要缺陷,或
3、重缺陷,MAJ 表示。次要缺陷(MIN)并不影响支配使用目的之缺陷,称为次要缺陷或轻微缺陷,用 MIN 表示 允收水准(AQL)定义 AQL 即 Acceptable Quality Leval,是何以接收的品质不良比率的上限,也称为允许接收品质水准,简称允收水准。允收水平 本公司对进料检验时个缺陷等级之进料允收水准为:CR 缺陷,AQL=0 MAJ 缺陷,AQL=%,具体按分类物料检验规范之要求 MIN 缺陷,AQL=%进料允收水准应严于或同于客户对成品的允收水准,因此,如客户对成品的允收水准高于上述标准,应以客户标准为依据。检验依据 外观,材质及包装材料 依据下列一项或多项 有关检验规则
4、国际、国家及行业标准 比照认可样品 5.作业内容 供应商交送物料,经仓管人员点收,核对物料、规格、数量相符合后,予以签收,再交进料品管部门(IQC)验收。品管 IQC 依抽样计划,予以检验判定,并将其检验记录填于进货检验报告表。品管 IQC 判定合格(允收)时,需在物料外包装之适当位置贴上合格标签并加盖“IQC PASS”章,由仓管人员办理入库手续。品管 IQC 判定不合格(拒收)之物料,须填写不合格品报告,交品管主管审核裁定。品管主管核准不合格(拒收)物料,由品管 IQC 将不合格品报告交给采购通知供应商处理退货及改善事宜,并在物料外包装标签上盖“REJECT”拒收章。品管部门判定不合格(拒
5、收)之物料,遇下列情况由供应商或采购向品管部提出予以特殊审核或提出特采申请。供应商或采购人员认定判定有误时 该项物料生产急需使用时 该缺陷对后续加工、生产影响甚微时 其他特殊情况时 品管部对供应商或采购之要求进行复核,可以作出如下判定:由品管部门重新抽样 指定某单位执行全数检验予以筛选 放宽标准特准使用 经加工后使用 维持不合格判定 通过核定属于特采(让步接收)范畴的物料,视同合格产品办理入库手续,由品管部“特采”章标识并作后续跟踪。供应商对判定不合格之物料,须在限期内,配合本公司之需求予以必要之处理后,再送请品管部重新验收。进料品管 IQC 应对每批物料检验之记录予以保存,并作为对供应商评鉴
6、考核的依据。无法检验之物料 本公司无法检验的物料成分以及部分物料特性,品管部可如下处理:由供应商提供检验记录或品质保证书,本公司视同合格物料接收;由本公司委托外部检验机构进行检验,费用由供应商承担或依双方约定分摊;本公司视同合格物料接收,所导致之任何损失或影响由供应商承担。其他规定 IQC 应规定每日、每周、每月汇总进料检验记录,作成日报、周报、月报;IQC 日报、周报、月报除品管部了解、自存外,应送采购部了解,必要时需让总经理了解;本公司自制产品参照上述检验规定进行必要之验收作业。进料检验流程图 7.参考资料 来料检验规范 来料异常分析报告 进货检验报告 修订记录 批准 审核 制定 日期 版
7、本 内容 供应商来料 货仓核对数量及规格 OK 进料送至待检区通知 IQC IQC 进料检验 OK IQC 盖 PASSNG 紧急物料 YES NO IQC 盖 REJ 拒收物料评审(MRB)退回供应NG 特采(让步接收)IQC 盖特采章 通知入库 存标识特采使用内容 NG 到料录单 PCB 检验标准 1.目的 作为 IQC 检验 PCB 物料之依据。2.适用范围 适用于本公司所有之 PCB 检验。3.抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。4.职责 供应商负责 PCB 品质之管制执行及管理,IQC 负责供应商之管理及进料检验。5
8、.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.6.参考文件 1.IPC A-600E,Acceptability of Printed Circuits Boards.2.IPC R-700C,Rework Methods&Quality Conformance.7.检验标准定义:检验项目 缺点名称 缺点定义 检验标准 检验方式 备注 线 路 断路与短路 CR 线路或锡垫之间绝不容许有断路或短路之现象。放大镜、万用表 线路裂痕 MA 在线路或线路终端部分的裂痕,不可超过原线宽1/3。带刻度放大镜 线路变形 MA 线路不可弯曲或扭折。放大镜 线路变色 MA 线
9、路不可因氧化或受药水、异物污染而造成变色。目检 线路剥离 CR 线路必须附着性良好,不可翘起或脱落。目检 板边余量 MA 线路距成型板边不得少于。带刻度放大镜 刮伤 MA 刮伤长度不超过 6mm,深度不超过铜铂厚度的1/3。放大镜 孔 塞孔 MA 零件孔不允许有塞孔现象。目检 孔黑 MA 孔内不可有锡面氧化变黑之现象。目检 变形 MA 孔壁与锡垫必须附着性良好,不可翘起,变形或脱落。目检 防焊色差 Minor 防焊漆表面颜色在视觉上不可有明显差异。目检 防焊气泡 MA 防焊漆面不可内含气泡而有剥离之现象。目检 防焊剥离 MA 以 3M scotch 宽度胶带密贴于防焊面,密贴长度约 25mm,
10、经过 30 秒,以 90 度方向垂直拉起,不可有脱落或翘起之现象。目检 空泡&分层 MA 空泡和分层完全不允许。目检 板弯、板翘与板扭之测量方法 1.板弯:将 PCB 凸面朝上,放置于平板玻璃上,用塞规测量其凸起的高度。(如图一)2.板翘与板扭:将 PCB 翘曲面朝上,放置于平板玻璃上,用塞规测量其翘起的高度。(如图二)IC 类检验规范 1.目的 作为 IQC 人员检验 IC 类物料之依据。2.适用范围 适用于本公司所有 IC(包括 BGA)之检验。3.抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。外 观 尺寸 MA 根据工程图纸测量産
11、品的长度、宽度、固定孔位置尺寸符合图纸要求。卡尺 板弯&板翘 MA 板弯,板翘与板扭之允收百分比最大值为%。塞规 平板玻璃 板面污染 MA 板面不得有外来杂质,指印,残留助焊剂,标签,胶带或其他污染物。目检 基板变色 MA 基板不得有焦状变色。目检 丝 印 文字清晰度 Minor 所有文字、符号均需清晰且能辨认,文字上线条之中断程度以可辨认该文字为主。目检 重影或漏印 MA 文字,符号不可有重影或漏印。目检 印错 MA 极性符号、零件符号及图案等不可印错。目检 文字脱落 MA 文字不可有溶化或脱落之现象。目检 异丙醇 文字覆盖 锡垫 MA 文字油墨不可覆盖锡垫(无论面积大小)。目检 Model
12、 No.MA MODEL NO 不可印错或漏印。目检 焊锡性 焊锡性 MA 手焊作业,用 40W 烙铁在焊点位加热,循环2 次后检查,外观应无损伤或变形,铜箔无翘起脱落、绿油无脱落现象;目检 手焊作业 金 手 指 G/F 刮伤 MA 金手指不可有见内层之刮伤。放大镜 G/F 变色 MA 金手指表面层不得有氧化变色现象。目检 放大镜 G/F 镀层剥离 MA 以 3M scotch 宽度胶带密贴于 G/F 镀层上,密贴长度约 25mm,经过 30 秒,以 90 度方向垂直拉起,不可有脱落或翘起之现象。目检 G/F 污染 MA 金手指不可沾锡、沾漆、沾胶或为其他污染物。目检 G/F 凹陷 MA a.
13、金手指凹陷、凹洞见底材或铜面刮伤,不得在金手指中间 3/5 的关键位置,唯测试探针之针点可允收,凹陷长度不可超过。放大镜 G/F 露铜 MA a.金手指上不可有铜色露出。放大镜 4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.5.参考文件 无 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检 数量检验 MA a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合
14、,若不吻合不可接 受。目检 点数 外观检验 MA a.Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;b.来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c.本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过,且未露出基质,可接受;否则不可接受;e.Pin 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;f.元件脚弯曲,偏位,缺损或少脚,均不可接受;目检或 10 倍以上 的放大镜 检验时,必须佩带静电带。备注:凡用于真空完全密闭方式包装的 IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,IQC 仅进行包装检验,并加盖免检印章;该 IC 在 SMT 上拉前 IQC 须进
15、行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡 20%RH 对应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。贴片元件检验规范 1.目的 便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。2.适用范围 适用于本公司所有贴片元件(电容,电阻,电感)之检验。3.抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.5.参考文件 LCR 数字电桥操作指引 数字万用表操作指引 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA 根据来料送检单核
16、对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是 否都正确,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检 数量检验 MA 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数 外观检验 MA Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过,且未露出基质,可接受;否则不可接受;Pin 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;目检 10 倍以上的放大镜 检验时,必须佩带静电带
17、。电性检验 MA 元件实际测量值超出误差范围内.LCR 测试仪 数字万用表 检验时,必须佩带静电带。二极管类型 检 测 方 法 LED 选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED 需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光;否则该二极管不合格。注:有标记的一端为负极。其它二、三 极管 选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于 1K,而反向测量读数需无穷大;否则该管不合格。注:二极管有颜色标记的一端为负极。备注 抽样计划说明:对于 SMT 二极管、三极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每盘中取 35pcs 元件进行检测;AQL 不变。检验方法见LCR 数字
18、电桥测试仪操作指引 和 数字万用表操作指引。插件用电容、电阻类 1.目的 作为 IQC 人员检验插件用电解电容类物料之依据。2.适用范围 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3.抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.5.参考文件 LCR 数字电桥操作指引、数字电容表操作指引。检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检 数量检验
19、MA 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数 外观检验 MA a.极性、色环等标记符号印刷不清,难以辨认不可接受;b.电解电容之热缩套管破损、脱落,不可接受;c.元件本体变形,破损等不可接受;生锈氧化,均不可接受。目检 可焊性检验 MA Pin 上锡不良,或完全不上锡不可接受。(将 PIN 沾上现使 用之合格的松香水,再插入小锡炉 5 秒钟左右后拿起观看 PIN 是否 100%良好上锡;如果不是则拒收)实际操作 每 LOT 取510PCS 在 小锡炉上验 证上锡性 尺寸规格检验 MA 外形尺寸不符合规格要
20、求不可接受。卡尺 若用于新的Model,需在 PCB 上对应的位置进行试插 电性检验 MA 电阻、电容值误差超标不可接受 用数字电容表或 LCR 数字电桥测试仪量测 血压计用电解电容须用1KHz 进行检验 晶体类检验规范 1.目的 作为 IQC 人员检验晶体类物料之依据。2.适用范围 适用于本公司所用晶体之检验。3.抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.5.参考文件 数字频率计操作指引 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA
21、 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检 数量检验 MA 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。目检 点数 外观检验 MA a.字体模糊不清,难以辨认不可接受;b.有不同规格的晶体混装在一起,不可接受;元件变形,或受损露出本体等不可接受;Pin 生锈氧化、上锡不良,或断 Pin,均不可接受。目检 每 LOT 取510PCS 在小锡炉上验证上锡性 电性检验 MA a.晶体不能起振不可接受;b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工位 和数字频率计 电性
22、检测方法 晶体 检 测 方 法 在好的样板的相应位置插上待测晶体,再接通电源开机;在正常开机后,用调试好的数字频率计测量晶体,看 测量的频率是否在规格范围内,若不能开机或测量值不在规格范围内,则该晶体不合格。在正常开机显示后,用调试好的数字频率计测量晶体,看测量的频率是否在规格范围内 三极管检验规范 1.目的 作为 IQC 人员检验三极管类物料之依据。2.适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。3.抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.5.参考文
23、件 无 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检 数量检验 MA 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。目检 点数 外观检验 MA Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过,且未露出基质,可接受;否则不可接受;Pin 氧
24、化生锈,或上锡不良,均不可接受。目检 10 倍以上的放大镜 检验时,必须佩带静电带。电性检验 MA a)放大倍数 hFE:在常温条件下,设定好各参数后进行测试,其放大倍数要符合产品规格书的要求。b)截止电流 Icbo:在常温条件下,设定好各参数后进行测试,其截止电流要符合产品规格书的要求。c)饱和电压 Vces:在常温条件下,设定好各参数后进行测试,其饱和电压要符合产品规格书的要求。d)集电极-发射极的击穿电压 Vceb:在常温条件下,设定好各参数后进行测试,其击穿电压要符合产品规格书的要求。e)集电极-基极的击穿电压 Vcbo:在常温条件下,设定好各参数后进行测试,其击穿电压要符合产品规格书
25、的求。?f)发射极-基极的击穿电压 Vebo:在常温条件下,设定好各参数后进行测试,其击穿电压要符合产品规格书的 晶体管测试仪?排针&插槽(座)类检验规范 1.目的 作为 IQC 人员检验排针&插槽(座)类物料之依据。2.适用范围 适用于本公司所有排针&插槽(座)之检验。3.抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.5.参考文件 无 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及
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