数字电子技术-6.pptx
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1、数字电子技术数字电子技术本章内容1随机存取存储器3高速缓冲存储器2只读存储器第第6章章 半导体存储器半导体存储器 逻辑门电路中,用逻辑1和0来分别表示电路中高、低电平的逻辑赋值方式,称为正逻辑;反之,用逻辑1表示低电平,用逻辑0表示高电平的逻辑赋值方式,称为反逻辑。目前,数字系统大都采用正逻辑工作,本课程也采用正逻辑。2.1 概概 述述 获得高、低电平的基本方法:利用半导体开关元件的导通、截止(即开、关)两种工作状态,分别获得电路中的高、低电平。在数字集成电路的发展过程中,同时存在着两种类型器件的发展。一种是由三极管组成的双极型集成电路,如晶体管晶体管逻辑电路(简称TTL电路)及射极耦合逻辑电
2、路(简称ECL电路)。另一种是由MOS管组成的单极型集成电路,如NMOS逻辑电路和互补MOS(简称CMOS)逻辑电路。6.1 随机存取存随机存取存储器器RAM的的输入入/输出控制出控制电路路RAM的基本的基本结构构 RAM的工作的工作时序序 如图6-1所示为RAM的内部结构图,由存储矩阵、地址译码器、读/写控制器、输入/输出控制、片选控制等部分组成。6.1.1 RAM的基本结构的基本结构图6-1 RAM的内部结构图1存存储矩矩阵 如图6-2所示为 位存储矩阵和地址译码器。图6-2 位RAM的存储矩阵 其中,该 位存储矩阵属多字1位结构,1 024个字排列成 的矩阵,中间的每一个小方块代表一个存
3、储单元。为了存取方便,给它们编上号,行编号 ,列编号 ,这样每个存储单元都有了固定的编号,称为地址。2地址地址译码器器 址译码器的作用是将寄存器地址所对应的二进制数译成有效的行选信号和列选信号,从而选中该存储单元。存储器中的地址译码器常用双译码结构(参见图6-2),行地址译码器用532译码器,地址线(译码器的输入)为 ,输出为 ;列地址译码器也用532译码器,地址线(译码器的输入)为 ,输出 ,这样共有10条地址线。访问RAM时,对选中的寄存器进行读操作还是写操作,还需要通过读/写控制线实施控制。如果是读,则被选中单元存储的数据经数据线、输入/输出线传送给CPU;如果是写,则CPU将数据经过输
4、入/输出线、数据线存入被选中单元。RAM的读/写控制通常由控制线的高低电平来实现,高电平为读,低电平为写;也有的RAM读/写控制线是分开的,一根为读,另一根为写。3读/写控制写控制 RAM通过输入/输出端与计算机的中央处理单元(CPU)完成数据交换,读出时它是输出端,写入时它是输入端,即一线二用,因此需要读/写控制线实施控制。输入/输出端数据线的条数与一个地址中所对应的寄存器位数相同,例如,在 位的RAM中,每个地址中只有1个存储单元(1位寄存器),因此只有1条输入/输出线;而在 位的RAM中,每个地址中有4个存储单元(4位寄存器),所以有4条输入/输出线。4输入入/输出控制出控制 CPU访问
5、存储器时,一次只能访问RAM中的某一片(或几片),即存储器中只有一片(或几片)RAM中的一个地址接受CPU访问,与其交换信息,而其他片RAM与CPU不发生联系,片选就是用来实现这种控制的。通常一片RAM有一根或几根片选线,当某一片的片选线接入有效电平时,该片被选中,地址译码器的输出信号控制该片某个地址的寄存器与CPU接通;当片选线接入无效电平时,则该片与CPU之间处于断开状态。5片片选控制控制6.1.2 RAM的的输入入/输出出控制控制电路路如图6-3所示为一个简单的输入/输出控制电路。图6-3 输入/输出控制电路(1)当选片信号 时,G5,G4 输出为0,三态门 G0,G1,G3 均处于高阻
6、状态,输入/输出()端与存储器内部完全隔离,存储器禁止读/写操作,即不工作。(2)当 时,芯片被选通。当 时,G5 输出高电平,G3 被打开,于是被选中的单元所存储的数据出现在 端,存储器执行读操作。当 时,G4输出高电平,G1,G2 被打开,此时加在 端的数据以互补的形式出现在内部数据线上,并被存入到所选中的存储单元,存储器执行写操作。6.1.3 RAM的工作的工作时序序如图6-4所示为RAM操作时序图。1读操作操作时序分析序分析图6-4 RAM读操作时序图(1)欲读出单元的地址加到存储器的地址输入端ADD。(2)加入有效的选片信号CS。(3)在 线上加高电平,经过一段延时后,所选择单元的内
7、容出现在 端。(4)让选片信号CS无效,端呈高阻态,本次读出过程结束。由图6-4可知,读操作过程主要包括以下几点。如图6-5所示为RAM写操作过程的时序关系。2读操作操作时序分析序分析图6-5 RAM写操作时序图由图6-5可知,读操作过程主要包括以下几点。(1)将欲写入单元的地址加到存储器的地址输入端ADD。(2)在选片信号CS端加上有效电平,使RAM选通。(3)将待写入的数据加到数据输入端。(4)在 线上加入低电平,进入写工作状态。(5)使选片信号无效,数据输入线回到高阻状态。6.1.4 RAM的存的存储单元元 如图6-6所示为六管NMOS静态存储单元的电路结构。1六管六管NMOS静静态存存
8、储单元元图6-6 六管NMOS静态存储单元的电路结构六管NMOS静态存储单元主要由6只NMOS管(T1T6)组成。(1)T1 与T2 构成一个反相器,T3与 T4构成另一个反相器,两个反相器的输入与输出交叉连接,构成基本触发器,作为数据存储单元。其中,T1 导通、T3截止,存储单元为0状态;T1截止、T3导通,存储单元为1状态。(2)T5和 T6是门控管,由 Xi线控制其导通或截止,用来控制触发器输出端与位线之间的连接状态。(3)T7和 T8也是门控管,由 Yi线控制其导通或截止,用来控制位线与数据线之间连接状态的,工作情况与T5,T6 类似。但并不是每个存储单元都需要这两只管子,而是一列存储
9、单元用两只。如图6-7所示为双极型晶体管存储单元的电路结构。2双极型晶体管存双极型晶体管存储单元元图6-7 双极型晶体管存储单元的电路结构 双极型晶体管存储单元采用两只多发射极三极管和两只电阻构成一个触发器,同时将一对发射极接在同一条字线X上,将另一对发射极分别接在位线B 和 上。(1)在维持状态,字线电位约为0.3 V,低于位线电位(约1.1 V),因此存储单元中导通管的电流由字线流出,而与位线连接的两个发射结处于反偏状态,相当于位线与存储器断开。处于维持状态的存储单元可以是 T1导通、T2 截止(称为0状态),也可以是 T1截止、T2 导通(称为1状态)。(2)当单元被选中时,字线电位被提
10、高到2.2 V左右,位线的电位低于字线,于是导通管的电流转而从位线流出。如果要读出,只要检测其中一条位线有无电流即可。例如,可以检测位线 ,若存储单元为1状态,则T2导通,电流由 线流出,经读出放大器转换为电压信号,输出为1;若存储单元为0状态,则 T2截止,线中无电流,读出放大器无输入信号,输出为0。如果要写入,只要在存储器输入端接入写入信号即可。若要写入1,则存储器输入端的1信号通过写入电路使 ,将位线 B切断(无电流),迫使 T1截止、T2 导通,T2的电流由位线 流出。当字线恢复到低电平后,T2电流再转向字线,而存储单元状态不变,这样就完成了写1;若要写0,则令 ,使位线 切断,迫使T
11、2 截止、T1 导通。(4)在位线保持为高电平期间,当进行读操作时,X 线变为高电平,T3和 T4 导通。若存储单元原来为0态,即 T1导通、T2 截止,G2 点为低电平,G1 点为高电平,此时CB 通过导通的 T3和T1 放电,使位线B 变为低电平,而由于 T2截止,虽然此时T4 导通,位线 仍保持为高电平,这样就把存储单元的状态读到位线 B 和 上。如果此时 Y线亦为高电平,则 和 的信号将通过数据线被送至RAM的输出端。(5)在 T3和 T4 导通期间,如果位线没有事先进行预充电,那么位线 的高电平只能靠 C1通过 T4对 充电建立,这样 C1上将要损失掉一部分电荷。由于位线上连接的元件
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