第三章--堆芯外核检测仪表及系统..ppt
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1、第三章第三章 堆芯外核检测仪表及系统堆芯外核检测仪表及系统章节内容章节内容3.1 堆芯外的定堆芯外的定堆芯外的定堆芯外的定义义3.2 核反核反应堆功率的堆功率的测量量3.3 3.3 中子探中子探中子探中子探测仪测仪表表表表3.4 3.4 反反反反应应堆堆芯外核堆堆芯外核堆堆芯外核堆堆芯外核检测仪检测仪表系表系表系表系统统3.1 堆芯外的定义堆芯外的定义n堆芯外的定堆芯外的定义习惯上把堆芯外中子敏感元件定上把堆芯外中子敏感元件定义为受低于受低于10 11 n cm-2 s-1 的的中子通量照射的敏感元件。通常中子通量照射的敏感元件。通常安置在安置在压力壳外壁力壳外壁处,也可置于,也可置于热屏蔽区
2、域内。屏蔽区域内。堆功率仪表系统用来测量反应堆功率及监视堆内中子堆功率仪表系统用来测量反应堆功率及监视堆内中子通量密度通量密度(中子注量率中子注量率)变化信息的。具有:变化信息的。具有:1 1、运行功能、运行功能 监测堆功率、功率变化及其分布。监测堆功率、功率变化及其分布。2 2、安全功能、安全功能 向保护系统提供停堆信号等向保护系统提供停堆信号等。3.2 核反应堆功率的测量核反应堆功率的测量 反应堆是依靠反应堆是依靠核燃料的链式反应核燃料的链式反应来维持工作的,链式反来维持工作的,链式反应中产生初级碎片和一系列裂变产物,还有裂变中子、瞬应中产生初级碎片和一系列裂变产物,还有裂变中子、瞬发发等
3、辐射线,它们都是裂变能的载体,它们的等辐射线,它们都是裂变能的载体,它们的核辐射强核辐射强度度与反应堆功率成正比,它们消耗在堆内的与反应堆功率成正比,它们消耗在堆内的热量热量也与堆功也与堆功率成正比,因此,可以通过测量中子或率成正比,因此,可以通过测量中子或射线的强度,及射线的强度,及测量堆芯温度等来间接测量反应堆的功率。测量堆芯温度等来间接测量反应堆的功率。通常是用通常是用堆芯外中子监测仪表堆芯外中子监测仪表来测量反应堆功率。来测量反应堆功率。3.3 中子探测仪表中子探测仪表3.3.1 3.3.1 中子探测的基本方法中子探测的基本方法基本原理:探测中子是通过中子与原子核相互作用,产生基本原理
4、:探测中子是通过中子与原子核相互作用,产生可以被探测的次级粒子,并记录这些次级粒子。因此,中可以被探测的次级粒子,并记录这些次级粒子。因此,中子探测仪表必须具备子探测仪表必须具备“辐射体辐射体”,即能同中子发生核相互,即能同中子发生核相互作用产生可被探测的次级粒子的物质。作用产生可被探测的次级粒子的物质。基本方法:基本方法:核反应法、核反冲法、核裂变法、活化法核反应法、核反冲法、核裂变法、活化法。特点:不同能量中子的探测原理和探测器结构差别较大。特点:不同能量中子的探测原理和探测器结构差别较大。3.3 中子探测仪表中子探测仪表一、核反应法一、核反应法主要测量慢中子,有以下三种主要测量慢中子,有
5、以下三种核反应:核反应:1010 B(n,)B(n,)7 7 Li +2.792 MeV Li +2.792 MeV 0 0=3840 11 b=3840 11 b 6 6 Li(n,)Li(n,)3 3 T+4.786 MeV T+4.786 MeV 0 0=936 6 b=936 6 b 3 3 He(n,p)He(n,p)3 3 T+0.764 MeV T+0.764 MeV 0 0=5327 10 b=5327 10 b能量为能量为E E n n 的中子微观截面的中子微观截面=0 0(1(1)3.3 中子探测仪表中子探测仪表二、核反冲法二、核反冲法 中子与物质原子核发生弹性碰撞,原子核
6、被反冲,且带一定正电荷,中子与物质原子核发生弹性碰撞,原子核被反冲,且带一定正电荷,选用反冲核弹性碰撞截面大的材料作为探测器灵敏物质,就可以简接测选用反冲核弹性碰撞截面大的材料作为探测器灵敏物质,就可以简接测量中子的注量率。通常是利用量中子的注量率。通常是利用含氢物质含氢物质作为辐射体。作为辐射体。反冲核的反冲能表示为:反冲核的反冲能表示为:所以,反冲核的质量越小反冲动能越大,通常取氢物质,所以,反冲核的质量越小反冲动能越大,通常取氢物质,A=1 A=1,上,上式为:式为:当当 En 20 MeVEn 20 MeV 时散射截面能谱见右图。时散射截面能谱见右图。在在 0.10.110 MeV 1
7、0 MeV 之间遵从之间遵从1 1 定律。定律。设:中子注量率为设:中子注量率为,单位体积靶物质的原单位体积靶物质的原子核数目为子核数目为 N N,厚度为,厚度为 d d,面积为,面积为S S,散射,散射截面为截面为 s s,则靶内单位时间的反冲核数,则靶内单位时间的反冲核数N N p p 为:为:3.3 中子探测仪表中子探测仪表三、核裂变法三、核裂变法 由于裂变碎片是核裂变能量的载体,利用核裂变产生由于裂变碎片是核裂变能量的载体,利用核裂变产生的两个碎片,使物质电离,可产生大的输出脉冲,极的两个碎片,使物质电离,可产生大的输出脉冲,极易甄易甄别别射线对测量中子通量的干扰射线对测量中子通量的干
8、扰。233U、235 U、239 U 对热中子的裂变截面分别为:对热中子的裂变截面分别为:530b、580b、742b,所以常用作裂变探测器的辐射体。,所以常用作裂变探测器的辐射体。许多重物质对中子裂变有一定阈值,可制成多阈探测许多重物质对中子裂变有一定阈值,可制成多阈探测器,以确定中子能量。器,以确定中子能量。裂变材料裂变材料热中子裂变截面热中子裂变截面 (b)裂变阈裂变阈 (MeV)3MeV时的裂时的裂变截面变截面(b)半衰期半衰期 (天天)232 Th 231Pa 234U 236U 238U 237Np 0 0.00020002 0.01 0.0006 0.0005 0.019 1.3
9、 0.5 0.4 0.85 0.55 1.5 0.00019 0.0011 0.0015 0.00085 0.00055 0.0015 1.411010 3.381010 2.45105 2.34107 4.47109 2.4106常用裂变阈探测器材料的特性表常用裂变阈探测器材料的特性表3.3 中子探测仪表中子探测仪表四、活化法四、活化法 稳定的原子核吸收中子后,转变为放射性原子核,它稳定的原子核吸收中子后,转变为放射性原子核,它们通常在衰变时会放出带电粒子,由此可以间接测出中子们通常在衰变时会放出带电粒子,由此可以间接测出中子的通量密度。例如:的通量密度。例如:n+n+115115 In I
10、n 116116In+In+116116In In 116116Sn+Sn+测量测量 的强度就能够确定中子的通量密度。的强度就能够确定中子的通量密度。小结小结从上述从上述4 4种中子探测方法可知,中子探测过程可分为种中子探测方法可知,中子探测过程可分为两个部分:(两个部分:(1 1)首先是中子和辐射体发生相互作用产生带)首先是中子和辐射体发生相互作用产生带电粒子或感生放射性;(电粒子或感生放射性;(2 2)其次是在某种探测仪表中记录)其次是在某种探测仪表中记录这些带电粒子或感生放射性。这些带电粒子或感生放射性。四种中子探测方法比较四种中子探测方法比较方法方法核反应靶材料截面 (b)用途核反应核
11、反应(n,)(n,p)10B,6Li,3He103热、慢中子的注量率核反冲核反冲(n,n)H 1快中子注量率核裂变核裂变(n,f)233U,235U,239Pu 等 5102 热中子注量率活活 化化(n,)In,Au,Dy 等热中子:1102共振中子:103快中子:1慢中子的注量率3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类一、气体探一、气体探测器器 正比区正比区:V V2 2VV3 3:电子在子在电场加速中加速中获得能量足以得能量足以产生二次生二次电离,离,产生了生了电离离雪崩。雪崩。输出出ANAN0 0正正负离子离子对,脉冲幅度,脉冲幅度为:G-M G-M区区 当当电压大于大于V V4
12、 4 以后,室内的激以后,室内的激发光子起主光子起主导作用,使整个作用,使整个室内气体放大,室内气体放大,发生生电子雪崩,子雪崩,输出脉冲大小与粒子能量无关。出脉冲大小与粒子能量无关。、复合区、复合区:0 V0 V1 1 、电离区、电离区:V V1 1VV2 2,原电离离子全原电离离子全被电极收集。被电极收集。有限正比有限正比 区区:V V3 3 V V4 4 当当电压大于大于V V3 3后,原后,原电离离电荷大的,比小的荷大的,比小的其放大倍数相其放大倍数相对变小,小,即放大倍数即放大倍数A A与人射粒子能量有关。与人射粒子能量有关。3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类(一一)、
13、电离室、电离室 工作原理与结构工作原理与结构 中子在中子在涂硼涂硼电极上产生带电粒子,当它进入室内时,与室内充气电极上产生带电粒子,当它进入室内时,与室内充气(氦、氦、氩氩)体发生相互作用,产生正、负离子对,被收集极收集,产生输出电体发生相互作用,产生正、负离子对,被收集极收集,产生输出电流流 I,这一电流量,这一电流量 I 的大小反映了中子注量率的大小。的大小反映了中子注量率的大小。式中:式中:V 电离室的有效体积电离室的有效体积;N0 单位体积、单位时间原电离子数单位体积、单位时间原电离子数;3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类2.电离室的输出脉冲电离室的输出脉冲 电离室输出脉
14、冲幅度电离室输出脉冲幅度 Um为:为:式中:式中:E 中子间接产生的粒子损失在电离室的能量中子间接产生的粒子损失在电离室的能量;C 电离室输电离室输出有效电容出有效电容(法法);W 平均电离能平均电离能;e 是电子电荷量。是电子电荷量。3.3.电离室输出脉冲形状电离室输出脉冲形状 电离室输出脉冲形状反映了入射粒子的信息,与之连接的二次线路也电离室输出脉冲形状反映了入射粒子的信息,与之连接的二次线路也要以此进行设计,尽量保持原有信息。所以,分折脉冲形状尤为重要。要以此进行设计,尽量保持原有信息。所以,分折脉冲形状尤为重要。电离室电流是电离室电流是I Ii i由正、由正、负离子电流负离子电流 I
15、I+、I I-所组成的。即:所组成的。即:I Ii i=I=I+I+I-正、负离子运动速度分别为:正、负离子运动速度分别为:电场强度电场强度 E(x)=V(b-a)3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类首先首先讨论平行板平行板电离室。离室。设平行板平行板电离室内,正、离室内,正、负离子离子都都产生在生在x0处,以速度,以速度为w+(x)的正离子由的正离子由x0到达到达b 处的的时间为T,则电离室电流是电离室电流是Ii由正、由正、负离子电流负离子电流 I+、I-所组成的。即:所组成的。即:Ii=I+I-_平行板电离室内,负离子由平行板电离室内,负离子由x0以速度为以速度为w-(x)到达
16、到达a 处的时处的时间为间为T-,同理可以求得:,同理可以求得:4.平行板电离室输出电流平行板电离室输出电流 I 一个电子在电场一个电子在电场E的作用下所作的功率为的作用下所作的功率为eEw-,又等于,又等于VIe,所以,所以 VIe=eEw-其中:其中:E=V(b-a);w-=-.EP 一个电子生成的电流:一个电子生成的电流:假设一个入射粒子产生的电离电子数为假设一个入射粒子产生的电离电子数为n,则它产生的电流,则它产生的电流为为I-(t),正离子电流为,正离子电流为I+(t):3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类5.平行板电离室输
17、出电压脉冲平行板电离室输出电压脉冲 电离室电流输出经过电离室电流输出经过RC 网网络积分,就会得到一输出脉冲,络积分,就会得到一输出脉冲,RC时间常数不同,则脉冲形状时间常数不同,则脉冲形状不同。对于不同。对于 RCR1C1 R2C2 R3C3 情况的电离室电压脉冲如情况的电离室电压脉冲如右下图所示。右下图所示。6 6.圆柱形电离室圆柱形电离室 输出电流及电压脉冲输出电流及电压脉冲 圆柱形电离室电流输出圆柱形电离室电流输出 情况与平行板电离室电压情况与平行板电离室电压脉冲相似,如图所示。脉冲相似,如图所示。圆柱形电极的电场强度为:圆柱形电极的电场强度为:3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪
18、表的种类 通过同样计算可求得正、负离子的收集时间通过同样计算可求得正、负离子的收集时间 T T+、T T-,及输出电流及输出电流I I+、I I-,u u+max+max、u u-max-max的表示式为:的表示式为:3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类7.补补 偿偿 电电 离离 室室 在有强在有强场的情况下,要探测中子场的情况下,要探测中子的强度,就需要消除的强度,就需要消除在电离室产生的在电离室产生的电流的影响,通常使用电流的影响,通常使用补偿电离室。补偿电离室。参见右图就可了解其工作原理。参见右图就可了解其工作原理。在中子电离室区,中子产生的电流在中子电离室区,中子产生的电流
19、In,产生的电流产生的电流I,在在电离室区内,电离室区内,只有只有产生的电流产生的电流I,它与前者的方向,它与前者的方向相反,所以,电流表的读数为:相反,所以,电流表的读数为:I=(In+I)I =In 通过调节电压通过调节电压 V1 使使电流值抵消,电流值抵消,就可补偿就可补偿影响,测量电流即为中子产影响,测量电流即为中子产生的电流。生的电流。它对热中子的灵敏度为:它对热中子的灵敏度为:410410-12-12A A(n(ncmcm2 2 S)S)适用于热中子通量范围:适用于热中子通量范围:2.5102.5102 2 10101010 n n(cm(cm2 2 S)S)3.3.2 中子探测仪
20、表的种类中子探测仪表的种类8.长中子电离室长中子电离室 在反应堆功率测量中,中子通量很高,设计几个短中子在反应堆功率测量中,中子通量很高,设计几个短中子电离室,组成一个长中子电离室,各短中子电离室的中子灵电离室,组成一个长中子电离室,各短中子电离室的中子灵敏度可达敏度可达 2.310-14 A(n.cm2.s)。电离室高压电极电离室高压电极(负极负极)的内壁及收集极外壁涂硼,室内的内壁及收集极外壁涂硼,室内充充1的氦和的氦和6的氮,的氮,93的氩气。的氩气。由于中子产生的电流较大,由于中子产生的电流较大,的影响较小。的影响较小。3.3.2 中子探测仪表的种类中子探测仪表的种类(二二)、BFBF
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