日化企业制程能力分析报告31119.pptx
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1、一、工序質量控制一、工序質量控制二、過程能力的概念、度量、分析評價二、過程能力的概念、度量、分析評價三、過程能力指數與不合格品率三、過程能力指數與不合格品率四、正態性檢驗四、正態性檢驗五、過程能力調查五、過程能力調查六、六、正態總體假設檢驗正態總體假設檢驗七七、制程能力電腦分析、制程能力電腦分析一、工序質量控制一、工序質量控制 通常要解決兩個問題通常要解決兩個問題:一是過程狀態的穩定一是過程狀態的穩定,即過程處於統計控即過程處於統計控制狀態制狀態 二是過程具有生產合格品的保證能力二是過程具有生產合格品的保證能力二、過程能力的概念、度量、分析評價二、過程能力的概念、度量、分析評價 1.過程能力概
2、念過程能力概念 (1).6M 或稱或稱 5MIE 構成了過程的六大要構成了過程的六大要,其其 綜合效果加以量化時綜合效果加以量化時,就構成過程能力就構成過程能力 (2).過程控制系統圖過程控制系統圖人人機機料料法法環環量測量測資源組合轉換資源組合轉換中間產品中間產品半成品半成品成品成品零部件零部件行動行動統計方法統計方法 制程能力制程能力量度量度2.(3).六大因素將各自對產品品質產生影響六大因素將各自對產品品質產生影響,產品產品/服務量化的結果綜合反應出服務量化的結果綜合反應出:2 變量概率分布的方差變量概率分布的方差標準偏差標準偏差 過程能力大小的度量基礎過程能力大小的度量基礎 變量之平均
3、值變量之平均值 (4).正確理解正確理解、及及 X、S 試試 比比 較較 樣樣 本本 與與 群群 數數SamplePopulationStatisticX averageS Sample stand deviationParameter Mean Standard deviation -(5).正態分布之形成過程正態分布之形成過程 Sample Population 標準測量標準測量:少少多多 群數群數X X X X X X X (6).正態分布概率密度函數正態分布概率密度函數:當收集到的數據為計量數據時當收集到的數據為計量數據時,質量特性質量特性 X 會會 是一個連續性隨機變量是一個連續性隨
4、機變量,變量的分布便是正態變量的分布便是正態 分布分布,符合下式符合下式:概率密度函數概率密度函數:其中其中:=3.14159 e=2.71828Xi-Z=(Z)-3-2 2 3 68.26%95.44%99.73%(Z)=e =0.3989 e1Z22Z22Z22 2 Z22Z22Z22(7).6 應用應用 概率正態分布之性質在概率正態分布之性質在 3 範圍之概率範圍之概率 為為0.9973,幾乎包含了全部的質量特性值幾乎包含了全部的質量特性值.所以所以:6 範圍被認為是產品品質正常波動的範圍被認為是產品品質正常波動的合理的最大幅度合理的最大幅度,它代表了一個過程所能達到的它代表了一個過程所
5、能達到的質量水平質量水平,所以過程能力一般用所以過程能力一般用 6 來表示來表示.越大越大 過程質量波動越大過程質量波動越大,過程能力越低過程能力越低 越小越小 過程能力越高過程能力越高?想一想想一想:6 之範圍之範圍,對我們對我們會有怎樣的意義會有怎樣的意義,可以用來可以用來作品質設計嗎作品質設計嗎?小結小結:所謂過程能力所謂過程能力,就是過程處於統就是過程處於統計控制狀態下計控制狀態下,加工品質正常波動的經加工品質正常波動的經濟幅度濟幅度,通常用品質特性值分布的通常用品質特性值分布的 6 倍倍標準偏差表示標準偏差表示,記為記為6 試問試問:過程本身與公差有無關係過程本身與公差有無關係?2.
6、過程能力指數過程能力指數 比較評價比較評價:工序自身實際存在的能力工序自身實際存在的能力(質量水質量水平平)6;給定的技術要求給定的技術要求 T(公差公差)比值比值 衡量過程能力衡量過程能力,滿足工藝技術要求程度指滿足工藝技術要求程度指標標 CpCp=TU-TL6 T6 TLTU分布中心與公差中心重合分布中心與公差中心重合?想一想想一想:如果如果T 的中心的中心(公差中心公差中心),與與6 之中心不之中心不重合時重合時,CP會是一種怎樣的值會是一種怎樣的值,不重合時不重合時CP該如何考該如何考慮呢慮呢?TLTUT/2M 分布中心與公差中心不重合分布中心與公差中心不重合 偏移量偏移量:=M-公差
7、中心公差中心 M 與與分佈中心分佈中心 之差值之差值?偏移是過程中存在甚麼因素的影響偏移是過程中存在甚麼因素的影響?CP 與不良率有與不良率有甚麼關係甚麼關係?三、過程能力指數與不合格品率三、過程能力指數與不合格品率1.假定假定XTL為合格品為合格品,那麼那麼XTL時為不合格品時為不合格品,如圖示如圖示 -AreaT=1.000陰影部份的面積即為不合格品陰影部份的面積即為不合格品,查表可求出查表可求出-TL Area1=()TL 即即 PL=P(X TU 時為不合格品時為不合格品-Area1=1.000Area2 Area1 +-TU陰影部份的面積查表可求陰影部份的面積查表可求:Area1=A
8、reaT-Area2=1-()TU 不合格品率不合格品率 PU=P(X TU)=1-()TU 由上可知由上可知:TU 的不同值的不同值,會有不同的不合格品率會有不同的不合格品率PU,因此因此,定義過程能力指數定義過程能力指數CPU=TU 3+3.假設特性假設特性 X 規格為規格為(TL,TU),當特性值當特性值X 在在(TL,TU)為合格為合格,那麼那麼 X TU 即為不合格品即為不合格品4.如圖示如圖示:Area3-Area2Area1TL TU陰影部份即為不合格品之率陰影部份即為不合格品之率:P=PL+PU =P(X TU)a).當公布中心當公布中心 與公差中心與公差中心 M 重合時重合時
9、 M=PL=PUb).當當M 則則:P(X TU)不合格品主要出現在不合格品主要出現在 質量上限質量上限T-TL M TUArea+c).當當M 則則:P(X TU)不合格品主要出現在不合格品主要出現在 達不到規格之下限部份達不到規格之下限部份所以可定義過程能力指數所以可定義過程能力指數CPK=min(CPU ,CPL)=min(,)TU 3 TL 3=min(,)M+T/2 3 M+T/2-3=+min(,)=-M 3 M-3 T6 T6 M-3 T6=-=(1-K)Cp (K=)KT/23 M-T/2K 即為偏移系數即為偏移系數T-TL M TUArea小結小結:由於在實際問題中由於在實際
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