《其它化学合成方法》PPT课件.ppt
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1、等离子体化学1、等离子体化学等离子体定义、分类;等离子体产生的方法与、等离子体定义、分类;等离子体产生的方法与、机理;等离子体应用机理;等离子体应用2、光化学光化学的基本定律;光化学的特征;光化学的应用光化学的基本定律;光化学的特征;光化学的应用等离子体化学定义、发展过程与分类 等离子体化学是研究等离子体中各种粒子之间或这些粒子与电磁辐射及周围物质间相互化学作用的一门分支学科。此名称最早出现在1967年出版的书:Plasm chemistry in electrical discharges一、等离子体的发展过程 19世纪初,物理学家便提出:是否存在着与已知的物质“三态”有本质区别的第四态?1
2、927年朗格谬在研究水银蒸气的电离状态时最先引入plasma(等离子体)这一术语。1929年汤克斯和朗格谬给等离子体赋予“电离气体”的涵义。由此可见,发现物质第四态已经有100多年了。1835年,法拉第用低压放电管观察到气体的辉光放电现象。1879年,英国物理学家克鲁克斯在研究放电管中“电离气体”的性质之后,第一个指出物质还存在一种第四态。1、按存在分类:1)天然等离子体。宇宙中99%的物质是以等离子体状态存在的,如恒星星系、星云,地球附近的闪电、极光、电离层等。如太阳本身就是一个灼热的等离子体火球。2)人工等离子体如:*日光灯、霓虹灯中的放电等离子体。*等离子体炬(焊接、新材料制备、消除污染
3、)中的电弧放电等离子体。*气体激光器及各种气体放电中的电离气体。二、等离子体分类2、按系统温度分类u高温等离子体u低温等离子体Tg=Te=Ti=108-9 Ku热等离子 Te TiTg(5000 KTg TiTg 100KTg1000K3、按电离度 分忽略二次电离,ni=ne、nn为中性粒子的浓度完全弱电离等离子体 =1部分电离等离子体0.01 1 弱电离等离子体10-6 Ei(4)离子碰撞电离)离子碰撞电离(5)光电离)光电离光子能量光子能量或辐射能大于电离能或辐射能大于电离能Ei,可发生光电离。可发生光电离。激发与激发截面激发与激发截面基态原子与自由电子的非弹性碰撞得到能量,发生的跃迁基态
4、原子与自由电子的非弹性碰撞得到能量,发生的跃迁过程可分为:过程可分为:光学允许跃迁和光学禁阻跃迁光学允许跃迁和光学禁阻跃迁。后者是由入。后者是由入射电子与外层电子的交互作用而引起的,激发态能级为亚射电子与外层电子的交互作用而引起的,激发态能级为亚稳能级,也叫亚稳跃迁。从能级稳能级,也叫亚稳跃迁。从能级A跃迁到能级跃迁到能级B的激发截的激发截面,通常为入射电子运动能的函数。面,通常为入射电子运动能的函数。3)复合过程)复合过程(1)三体碰撞复合)三体碰撞复合电离的逆过程。发生在气相或器壁或电极等固体表面,分电离的逆过程。发生在气相或器壁或电极等固体表面,分别称为空间和表面复合。别称为空间和表面复
5、合。氦原子跃迁时激发截面与电子动能的关系。氦原子跃迁时激发截面与电子动能的关系。两个电子在某个离子附近相互作用,其中一电子将能量交给另两个电子在某个离子附近相互作用,其中一电子将能量交给另一个电子后落入离子的静电场中形成束缚电子,刚束缚的电子一个电子后落入离子的静电场中形成束缚电子,刚束缚的电子一般处于高能级上,再通过自发辐射或碰撞激发回到基态,即,一般处于高能级上,再通过自发辐射或碰撞激发回到基态,即,(2)辐射复合)辐射复合(3)双电子复合)双电子复合三体复合中第三体并不限于电子,也可以是气体原子、器壁或三体复合中第三体并不限于电子,也可以是气体原子、器壁或电极表面。电极表面。(4)正负离
6、子碰撞复合)正负离子碰撞复合 辐射复合辐射复合电荷交换复合电荷交换复合三三体复合体复合4)附着和离脱)附着和离脱5)扩散和迁移)扩散和迁移原子离子捕获电子生成负离子的过程。附着的逆过程为离脱。原子离子捕获电子生成负离子的过程。附着的逆过程为离脱。辐射、三体、离解附着三种机制。辐射、三体、离解附着三种机制。扩散运动和扩散系数扩散运动和扩散系数非平衡等离子体中存在的带电粒子的分布不均匀引起扩散运动。非平衡等离子体中存在的带电粒子的分布不均匀引起扩散运动。从扩散第一定律和气体分子运动论有电子和离子的扩散系数。从扩散第一定律和气体分子运动论有电子和离子的扩散系数。迁移运动与迁移率迁移运动与迁移率带电粒
7、子在电场作用下被加速运动,称之为迁移运动。粒子沿带电粒子在电场作用下被加速运动,称之为迁移运动。粒子沿电场方向的平均迁移速度电场方向的平均迁移速度与电场强度与电场强度E成正比。成正比。k为迁移率。离子迁移率为为迁移率。离子迁移率为爱因斯坦关系式:爱因斯坦关系式:表明扩散系数与迁移率之比与温度成正比。表明扩散系数与迁移率之比与温度成正比。热致电离等离子体热致电离等离子体高平动能原子、分子碰撞导致电离,如高温燃烧、爆炸、冲高平动能原子、分子碰撞导致电离,如高温燃烧、爆炸、冲击波。击波。辐射电离等离子体辐射电离等离子体(光电离)光电离)X射线、紫外光射线、紫外光 低温等离子体的形成与放电特性低温等离
8、子体的形成与放电特性气体放电等离子气体放电等离子低气压放电低气压放电:直流辉光放电、高频放电直流辉光放电、高频放电(射频、微波射频、微波)高气压放电高气压放电:直流弧光放电、电晕放电、介质阻挡放电直流弧光放电、电晕放电、介质阻挡放电1、产生方式、产生方式HV(a.c.)介质阻挡放电介质阻挡放电特点:特点:高气压(高气压(105106Pa)、高)、高电压降电压降103105V、低电流密、低电流密度度10-210-3A/cm2,TeTi Tg电晕放电线电极电晕层电晕层外区筒状电极形成条件:两电极曲率半径相差悬殊(线筒、线板、针板)特点:高气压(105106Pa)、高电压降103105V、低电流密度
9、 10-210-3 A/cm2TeTiTg2、放电特性、放电特性 He在相距离在相距离50cm、直径为、直径为2cm的圆板的圆板电极间,于电极间,于 102Pa气压条件下放电过程气压条件下放电过程的伏安特性。的伏安特性。气体放电伏安特性气体放电伏安特性辉光放电是低温等离子体的同义语辉光放电是低温等离子体的同义语特点:是一稳定的自特点:是一稳定的自持放电、是低温等离持放电、是低温等离子化学中广泛采用的子化学中广泛采用的放电形式,既可提供放电形式,既可提供反应活性种或作为化反应活性种或作为化学反应的介质,又能学反应的介质,又能使体系保持非平衡状使体系保持非平衡状态。态。低温等离子体的放电特性低温等
10、离子体的放电特性(1)直流辉光放电)直流辉光放电(2)高频辉光放电)高频辉光放电指放电电源频率在指放电电源频率在兆周以上的放电形兆周以上的放电形式,与直流有些相式,与直流有些相似,但放电机制不似,但放电机制不同,有许多新的特同,有许多新的特征和现象征和现象。外电极式以称无电外电极式以称无电极式,可避免电极极式,可避免电极溅射而造成的污染,溅射而造成的污染,可产生均匀而纯净可产生均匀而纯净的电离气体。的电离气体。(3)微波放电)微波放电将微波的能量转化为气体分子的内能,使之激发、电离以发生将微波的能量转化为气体分子的内能,使之激发、电离以发生等离子体的一种放电形式。等离子体的一种放电形式。发生装
11、置发生装置微波等离子体的特征微波等离子体的特征无电极放电能获得纯净的等离子体且密度高,适于高纯物无电极放电能获得纯净的等离子体且密度高,适于高纯物质的制备和处理,且工艺效率更高;质的制备和处理,且工艺效率更高;对同种气体放电时,微波等离子体的发射谱带更宽,更能对同种气体放电时,微波等离子体的发射谱带更宽,更能增加气体分子的激发电离和离解过程;增加气体分子的激发电离和离解过程;利用微波电磁场的分布特点,有可能将封闭在特定的空间,利用微波电磁场的分布特点,有可能将封闭在特定的空间,或利用磁场来输送等离子体或利用磁场来输送等离子体3、等离子体化学的特征、等离子体化学的特征 1)反应过程低温化、高效率
12、反应过程低温化、高效率2)易于转化为基团)易于转化为基团3)等离子体等离子体-固体表面的相互作用固体表面的相互作用7.2.4 等离子体化学的应用等离子体化学的应用1、等离子体蚀刻、等离子体蚀刻将等离子体导至固体样品,可与表面原子发生化学反应,生将等离子体导至固体样品,可与表面原子发生化学反应,生成挥发性物质逸出而将表面原子去除,这称为等离子刻蚀。成挥发性物质逸出而将表面原子去除,这称为等离子刻蚀。选用不同气体的等离子体,几乎可刻蚀所有材料,刻蚀的分选用不同气体的等离子体,几乎可刻蚀所有材料,刻蚀的分辨率高,线条可控制在辨率高,线条可控制在lmm间。间。刻蚀刻蚀SiSi(s)+4F(g)SiF4
13、(g)刻蚀刻蚀SiO2SiO2(s)+4F(g)SiF4(g)+O2(g)刻蚀刻蚀Si3N4Si3N4(s)+12F(g)3SiF4(g)+2N2(g)式中式中表示自由基原子或分子,它们可分别与表示自由基原子或分子,它们可分别与Si、SiO2和和Si3N4等反应而进行刻蚀,主要反应为等反应而进行刻蚀,主要反应为对硅系材料常用对硅系材料常用CF4产生等离子体。产生等离子体。CF4(g)eCF3(g)+F(g)2、光刻与刻蚀光光刻刻与与刻刻蚀蚀是是一一种种图图形形复复印印和和刻刻蚀蚀相相结结合合的的精精密密表表面面加加工工技术技术就就是是要要按按照照器器件件设设计计的的要要求求,在在半半导导体体薄
14、薄膜膜上上面面,形形成成与与掩掩模模版版完完全全对对应应的的几几何何图图形形,以以实实现现选选择择性性刻刻蚀蚀以以获获得得相相应结构的目的应结构的目的光光刻刻工工艺艺大大致致包包括括涂涂胶胶(匀匀胶胶或或甩甩胶胶),前前烘烘,曝曝光光,显显影,坚膜等工序。影,坚膜等工序。光刻与刻蚀硅晶片的光刻与刻蚀工艺流程示意图硅晶片的光刻与刻蚀工艺流程示意图1、光刻的具体工艺、光刻的具体工艺甩甩胶胶工工序序是是在在晶晶片片表表面面形形成成适适当当厚厚度度的的均均匀匀的的光光刻胶刻胶前烘前烘则使光刻胶中的水分蒸干则使光刻胶中的水分蒸干曝曝光光则则是是让让紫紫外外光光透透过过模模板板使使光光刻刻胶胶的的化化学学
15、性性质质发生改变,使相应部分能够被显影液溶解发生改变,使相应部分能够被显影液溶解显显影影则则是是要要将将曝曝光光过过后后的的胶胶用用显显影影液液处处理理过过,让让该去掉的地方被溶解掉。该去掉的地方被溶解掉。坚坚膜膜工工艺艺是是要要使使光光刻刻胶胶在在较较高高的的温温度度下下变变得得坚坚固固紧密,在后面的腐蚀工艺中能够相当地牢靠紧密,在后面的腐蚀工艺中能够相当地牢靠2、刻蚀、刻蚀刻蚀刻蚀包括化学腐蚀和干法刻蚀包括化学腐蚀和干法刻蚀化学腐蚀化学腐蚀化学腐蚀液通过化学反应腐蚀掉需要去掉的部分化学腐蚀液通过化学反应腐蚀掉需要去掉的部分不需要被腐蚀的地方有光刻胶或介质掩模保护不需要被腐蚀的地方有光刻胶或
16、介质掩模保护简单易行,缺点是腐蚀控制不精确,有侧蚀问题简单易行,缺点是腐蚀控制不精确,有侧蚀问题干法刻蚀干法刻蚀反反应应气气体体在在等等离离子子体体条条件件下下形形成成活活化化原原子子,在在电电场场作作用用下下定定向向运运动动与与半半导导体体材材料料进进行行化化学学反反应应,反反应应生成物为气体被排出,达到定向刻蚀的目的生成物为气体被排出,达到定向刻蚀的目的通通常常有有RIE(反反应应离离子子刻刻蚀蚀),RIBE(反反应应离离子子束刻蚀),束刻蚀),ICP(感应耦合型等离子体)等方法(感应耦合型等离子体)等方法干干法法刻刻蚀蚀一一般般需需要要用用光光刻刻胶胶或或SiO2等等介介质质膜膜作作为为
17、掩掩模模干干法法刻刻蚀蚀的的突突出出优优点点是是没没有有侧侧蚀蚀问问题题,而而且且腐腐蚀蚀深深度可以精确控制度可以精确控制3、溅射成膜和离子镀、溅射成膜和离子镀薄膜是在基片上形成厚度从单原子层到约薄膜是在基片上形成厚度从单原子层到约5 m的物质层。的物质层。溅射:氩气电离后作为溅射气体的离子源,通过阴极上方溅射:氩气电离后作为溅射气体的离子源,通过阴极上方的强电场被加速,在轰击靶阴极时,靶原子溅射到空间的现的强电场被加速,在轰击靶阴极时,靶原子溅射到空间的现象。利用溅射形成薄膜的方法称为射法。象。利用溅射形成薄膜的方法称为射法。溅射机制:分热蒸发机制和动量转移机制溅射机制:分热蒸发机制和动量转
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