芯片测试反压作业规范及品质要求.ppt
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1、1芯片测试反压作业规范及品质要求芯片测试反压作业规范及品质要求主讲人钟燕平2010年06月22日芯片测试反压作业规范及品质要求芯片测试反压作业规范及品质要求一、芯片测试工艺目的及品质要求二、芯片测试准备工作三、芯片测试四、芯片测试软件注意事项五、芯片测试操作注意事项六、芯片测试安全注意事项七、芯片反压工艺目的及品质要求八、芯片反压准备工作九、芯片反压作业步骤十、芯片反压异常判定十一、芯片反压操作注意事项十二、芯片反压安全注意事项一、芯片测试工艺目的及品质要求一、芯片测试工艺目的及品质要求1、工艺目的 测试非晶硅太阳电池芯片的电性参数;2、品质要求 、测试结果有较好的重复性,误差范围2%内;、测
2、试环境温度255;、光强分布误差:1005 mw/cm2;、测试过程中不造成人为破角或在背电极留下手指印,及探 针刮伤膜面;二、芯片测试准备工作二、芯片测试准备工作1、开机 A、打开计算机,双击桌面软件图标,进入测试软件工作界面;B、进入测试界面后,打开氙灯电源钥匙开关,待显示屏界面稳定后按“STOP”和“WORK”切换按钮;C、打开负载电源开关(如图1);图1 负载电源开关 图2 主电源电压显示界面 二、芯片测试准备工作二、芯片测试准备工作2、标准板清洁A、在搬运测试标准板时,需要戴上尼龙手套,减少标准板玻璃面的手指印残留;B、车间测试人员在较准标准板前,要先对标准板的玻璃表面进行清洁(用旧
3、尼龙手套或纱布沾上酒精进行清洁),清洁后才可以进行标准板较准;3、光强校准A、点击测试软件界面中的光强测试按钮,进入光强测试界面;B、在光强测试界面中,点击“重测”按钮(连续3-5次),若光强在1005mw/cm2范围内,则点击“平均”按钮,后再点击确定;若标准光强不在规定的范围内,则通过微调整主电源电压(调节幅度5V,)使标准光强达到1005mw/cm2;二、芯片测试准备工作二、芯片测试准备工作4、标准板校准A、在标准光强1005mw/cm2下测试非晶硅太阳电池组件标准片;B、根据测试结果和标准片所标示的参数对比,在控制面板界面进行修正校准因子:a、调整电压测量校准因子使Voc与标准板标称标
4、示值相近;b、调整电流测量校准因子使Isc与标准板标称标示值相近;c、在开关时间不变的情况下,调整修正电阻使FF、Pm与标准板标示 值 相近(此过程需要配合调整电压测量较准因子、电流测量较准因子);d、若调节修正电阻无法使FF、Pm与标准板标示值接近,则相应调节开关时 间,此时需按3的要求重新校正光强,并按至的步骤进行较准 标准板;e、标准板较准过程中的测试值(FF、Voc、Isc、Pm)需与标准板标 称值相 近,并且具有良好的重复性和一致性,相近值重复次数不少于4次;f、标准板生产校准过程中只允许修改电流测量校准因子、电压测量校准因 子、开关时间、修正电阻,禁止修改其他测试参数;g、标准板较
5、准时各项参数与标准板标示值的误差范围为:Pm()、Voc()、Isc()、FF();二、芯片测试准备工作二、芯片测试准备工作图3 工艺参数设定窗口 图4 测试软件窗口光强测试按钮三、芯片测试三、芯片测试1、作业员戴好尼龙手套,取待测试电池芯片置于测试机 进片口的万向轮平台上,电池芯片正极 边为靠近测 试电脑的那一边(单晶硅标准板),且芯片应在测试 机的测试区域内(如图5);三、芯片测试三、芯片测试2、用扫描仪把芯片上条码扫到测试软件界面中(或手 动输入芯片编号),后轻轻推动待测电池芯片,使待测电池芯片在测试机的中间位置(待测电池芯片的受光面面向光源);3、按下测试机气动阀的控制开关,使气缸下压
6、,从而使测试探针与电池芯片的正负极相接触;4、点击测试界面中的“测试”按钮(可使用快捷键“空格键”或“Alt+x”)或踩下脚踏开关进行测试并根据芯片的情况选择相应的产品形态;三、芯片测试三、芯片测试5、每片芯片至少需要测试两次,并记录最后一次测 试数据记录;6、测试人员按下气动阀控制开关让测试工装上升,脱离与芯片的接触;7、下片人员从下片口处拉出已测试的电池芯片,并 参照品保发行的非晶硅太阳能电池芯片/组件 等级判定标准将电池芯片进行等级分类放置于 相应的小推车上;8、车间每个班在下班前需要将本班的测试数据导出 并进行整理(需按单结、双结退火测试、反压测 试分开),并把测试数据保存在相应的电子
7、档文 中;四、芯片测试软件注意事项四、芯片测试软件注意事项1、每一片芯片或组件在测试后,会出现一个“客 户定制信息”对话框,对话框中内容有测试机 位、产品形态、有效数据无效数据;2、测试机位:每一台测试机有固定的编号,一车 间芯片段为101,一车间组件段为102;3、产品形态:每一片芯片或组件的产品形态(良 品芯片或不良芯片),若没有不良则为 “good”,若有不良则选择相应的不良项目;4、有效数据无效数据:若为有效数据则会被MES 系统采集;四、芯片测试软件注意事项四、芯片测试软件注意事项五、芯片测试操作注意事项五、芯片测试操作注意事项1、开机前检查电源线、各数据线是否连接上,是否牢 固;测
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- 关 键 词:
- 芯片 测试 作业 规范 品质 要求
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