半导体材料电学性能.pptx
![资源得分’ title=](/images/score_1.gif)
![资源得分’ title=](/images/score_1.gif)
![资源得分’ title=](/images/score_1.gif)
![资源得分’ title=](/images/score_1.gif)
![资源得分’ title=](/images/score_05.gif)
《半导体材料电学性能.pptx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《半导体材料电学性能.pptx(45页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、1一、本征半导体本征半导体:完全纯净的、结构完整的半导体晶体。1、本征半导体的结构特点(1)硅、锗原子的结构 GeSi第1页/共45页2在硅和锗晶体中,每个原子都处在正四面体的中心,而四个其它原子位于四面体的顶点,每个原子与其相邻的原子之间形成共价键,共用一对价电子。硅和锗的晶体结构(1)硅、锗原子的结构 第2页/共45页3共价键共用电子对+4+4+4+4+4表示除去价电子后的原子(2)硅、锗原子的共价键结构第3页/共45页4共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为束缚电子,常温下束缚电子很难脱离共价键成为自由电子,因此本征半导体中的自由电子很少,所以本征半导体的导电能力很弱。形成共价键后
2、,每个原子的最外层电子是八个,构成稳定结构。共价键有很强的结合力,使原子规则排列,形成晶体。+4+4+4+4(2)硅、锗原子的共价键结构第4页/共45页5在绝对0度(T=0K)和没有外界激发时,价电子完全被共价键束缚着,本征半导体中没有可以运动的带电粒子(即载流子),它的导电能力为 0,相当于绝缘体。(1)载流子:自由电子和空穴2、本征半导体的导电机理第5页/共45页6+4+4+4+4自由电子空穴束缚电子可以认为空穴是一种带正电荷的粒子。空穴运动的实质是共有电子依次填补空位的运动。(1)载流子:自由电子和空穴在常温下,由于热激发,使一些价电子获得足够的能量而脱离共价键的束缚,成为自由电子,同时
3、共价键上留下一个空位,称为空穴。第6页/共45页7电子和空穴在外电场的作用下都将作定向运动,这种作定向运动电子和空穴(载流子)参与导电,形成本征半导体中的电流。本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即自由电子和空穴。(2)导电情况+4+4+4+4第7页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度目前所应用的半导体器件和设备98%是由Si制作的。高纯单晶Si片在室温下载流子浓度为1010m-3-1.51011m-3,相当于电阻率几万.cm。而在500 时,其载流子浓度为1017m-3 相当于0.6.cm。Si片在9个9以上才会显示出优良的半导体特性。也就是每十亿个Si原子允许有一个杂质
4、存在。由此可见半导体材料的应用是建立在高村度高完整性的基础上第8页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度半导体Si和Ge的本证热平衡载流子的体积密度为1.51016m-3和2.51019m-3。与半导体材料中数量级为1028m-3的原子体积密度相比,相差甚远。因此,与金属材料相比,半导体中可参与导电的载流子体积密度甚低,因而成为导电性的限制因素。所以,对半导体材料导电性的讨论,首要关注对象是载流子的体积密度第9页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度导带底电子状态密度:利用导带的状态密度N C(E)和电子分布函数f(E)可以得到E E+E范围内的电子数为:根据费
5、米-迪拉克统计,在热平衡情况下,一个能量为E的量子态被电子占据的几率为:由于函数f(E)随着能量的增加而迅速减小,因此可以把积分范围由导带底EC一直延伸到无穷并不会引起明显误差,故倒带电子浓度为:第10页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度对于E-EFkT的能级将式(1)和(4)带入(3)中,令第11页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度则有半导体导带电子密度:令第12页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度类似处理可以得到价带空穴体积密度价带顶电子状态密度:一个量子态不被占据就是空着,所以能量为E的量子态未被电子占据的几率是:上式给出比EF
6、低得多的那些量子态被空穴占据的几率第13页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度令价带中空穴的体积密度为:第14页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度从前面电子和空穴的浓度表达式可以看出,电子和空穴浓度都是费米能及EF的函数。在一定温度下,由于杂质含量和种类不同,费米能级位置也不同,因此电子和空穴浓度可以有很大差别。上式表明,载流子浓度的成积np与EF无关,只依赖与温度和半导体本身的性质。在非简并条件下,当温度一定时,对于同种半导体材料,不管含杂质情况如何,电子和空穴浓度乘积都相同。第15页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度从前面电子和空穴
7、的浓度表达式还可以看出,只要知道费米能级EF就可以得到导带电子和价带空穴的浓度。在本征半导体中:将带入或,得到:第16页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度第17页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度本征载流子的浓度表达式:本征载流子的浓度表达式:式中,n和p分别为自由电子和空穴的浓度;K1为常数,其数值为4.82*1015K-2/3;T为热力学温度;k为波尔兹曼常数;Eg为禁带宽度。由上式可知,本征载流子n和p的浓度与温度T和禁带宽度Eg有关。随着温度T的增加,n和p显著增大;Eg小的,n和p大,而Eg大,n和p小。第18页/共45页(一)(一)本征载流子
8、的浓度本征载流子的浓度第19页/共45页(一)(一)本征载流子的浓度本征载流子的浓度半导体材料电导率理论公式式中n,p为半导体中电子和空穴的体积密度;e,h分别为电子和空穴的迁移率第20页/共45页21二、杂质半导体实际上,晶体总是含有缺陷和杂质的,半导体的许多特性是由所含的杂质和缺陷决定的。在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导体的导电性能发生显著变化。其原因是掺杂半导体的某种载流子浓度大大增加。N 型半导体:自由电子浓度大大增加的杂质半导体,也称为(电子半导体)。P 型半导体:空穴浓度大大增加的杂质半导体,也称为(空穴半导体)。在硅单晶中掺入十万分之一的硼原子,可使硅的导电能力增加一
9、千倍。第21页/共45页221、N 型半导体磷原子的最外层有五个价电子,其中四个与相邻的半导体原子形成共价键,必定多出一个电子,这个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原子就成了不能移动的带正电的离子。每个磷原子给出一个电子,称为施主原子。+4+4+5+4多余电子磷原子在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷(或锑),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代.第22页/共45页23(1)由施主原子提供的电子,浓度与施主原子相同。(2)本征半导体中成对产生的电子和空穴。因为掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,自由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子称为多数载流子(多子),空穴称为少数载
10、流子(少子)。N 型半导体中的载流子包括:第23页/共45页24N 型半导体中的载流子包括:可将N型半导体中掺杂原子和富余电子看成类氢原子结构。富余电子的能量:它高于成键电子(即位于价带顶之上)原因是该电子电离远比成键电子容易 但仍受到+1价掺杂离子库伦力的作用而 被束缚与掺杂原子周围,因此能量又低 于自由电子(即位于导带底之下)即处于禁带中,称为施主能级Ed利用类氢离子第一能级能量值(即电离能)进行初略计算由此得到掺杂P,As的掺杂能级位于导带下大约0.01eV以内的位置上。第24页/共45页25如果我们把若干施主原子磷或砷原子加进硅或锗中,则每有一个杂质原子,就有一个额外电子。这些额外的电
11、子(它们不能被容纳在原来结晶体的价带中)占有在导带下方的某些分立的能级(施主能级),离导带只差0.05ev,大约为硅的禁带宽度的5%,因此它比满带中的电子容易激发的多。半导体中的能带结构 (a)施主,或 n 型N型半导体的能带结构型半导体的能带结构第25页/共45页26(1)在本征半导体中掺入三价元素的原子(受主杂质)而形成的半导体。(2)每一个三价元素的原子提供一个空穴作为载流子。(3)P 型半导体中空穴是多子,电子是少子。+4+4+3+4空穴硼原子2、P 型半导体第26页/共45页27如果我们把若干受主杂质原子硼或铝加进硅或锗中,这两种原子都只贡献3个电子。在这种情况下,杂质引进空的分立能
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 半导体材料 电学 性能
![提示](https://www.taowenge.com/images/bang_tan.gif)
限制150内