半导体材料与工艺之-晶体生长原理资料优秀PPT.ppt
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1、11晶体生长原理晶体生长原理半导体材料制备概述半导体材料制备概述2晶体生长作为一种相变过程大体分为晶体生长作为一种相变过程大体分为3 3类类:(1)(1)固相生长:即物态没有变更,仅有晶格结构发生变更的固相生长:即物态没有变更,仅有晶格结构发生变更的相变过程。譬如,离子注入后变成非晶态的注入层在退相变过程。譬如,离子注入后变成非晶态的注入层在退火过程中再结晶的过程,具有两种以上同质异构体的晶火过程中再结晶的过程,具有两种以上同质异构体的晶体在适当条件下的晶型转变过程等等。体在适当条件下的晶型转变过程等等。(2)液相生长液相生长:伴随在液伴随在液-固相变过程中的结晶过程,包括从固相变过程中的结晶
2、过程,包括从溶液中生长晶体溶液中生长晶体(通常是薄层通常是薄层)的液相外延过程和从熔体中的液相外延过程和从熔体中生长晶体的正常凝固过程和区域熔炼过程。例如。生长晶体的正常凝固过程和区域熔炼过程。例如。GaAs衬衬底上的底上的GaAlAs液相外延和用直拉法生长硅单晶等。液相外延和用直拉法生长硅单晶等。(3)气相生长气相生长:伴随在气伴随在气-固相变过程中的结晶过程,包括晶固相变过程中的结晶过程,包括晶体薄膜的气相外延生长过程和利用升华法生长难熔晶体的体薄膜的气相外延生长过程和利用升华法生长难熔晶体的过程。例如,过程。例如,SiH4生长硅薄膜的外延过程和碳化硅块状晶生长硅薄膜的外延过程和碳化硅块状
3、晶体的生长过程等。体的生长过程等。34Chapter Outline o8.1.1 结晶的条件和一般过程结晶的条件和一般过程o8.1.2 晶核的形成晶核的形成(Nucleation)o8.1.3 晶体的长大晶体的长大(Growth)o8.1.4 晶粒大小及其限制晶粒大小及其限制物质从液态到固态的转变过程,叫做凝固。凝固主要是指物质状态的变更,并不考虑固态的结构。只有物质从液态转变为具有晶体结构的固态的过程,才叫做结晶。广义的结晶概念,是指物质从一种原子排列状态过渡到另一种规则排列状态的转变过程。它包括液态的结晶和固态金属(晶态或非晶态)向另一种晶体结构的转变。前者称为一次结晶,后者称为二次结晶
4、或重结晶。它们都属相变过程。5o热分析法通过测定温度与时间的关系热分析法通过测定温度与时间的关系冷却曲线分析。冷却曲线分析。o在结晶过程中,由于结晶潜热的释放,补充了甚至超过了在结晶过程中,由于结晶潜热的释放,补充了甚至超过了容器的散热量,从而在冷却曲线上出现温度下降缓慢,或容器的散热量,从而在冷却曲线上出现温度下降缓慢,或保持不变甚至还有回升的现。由此确定结晶起先和结晶终保持不变甚至还有回升的现。由此确定结晶起先和结晶终了的温度和时间。了的温度和时间。o金属熔点或凝固点,就是结晶的理论温度金属熔点或凝固点,就是结晶的理论温度Tm。实际起先。实际起先结晶的温度结晶的温度Tn,总是低于,总是低于
5、Tm,称为过冷现象。过冷度,称为过冷现象。过冷度T=Tm-Tn。冷却速度越大。则过冷度越大,即实际结。冷却速度越大。则过冷度越大,即实际结晶温度越低。晶温度越低。o过冷度有一最小的临界过冷度,若过冷度小于此值结晶过过冷度有一最小的临界过冷度,若过冷度小于此值结晶过程就不能进行。程就不能进行。Section 结晶的条件和一般过程结晶的条件和一般过程冷却曲线与过冷冷却曲线与过冷(undercooling)现象现象6Figure(a)Cooling curve for a pure metal that has not been well inoculated.Liquid cools as spe
6、cific heat is removed(betweens points A and B).Undercooling is thus necessary(between points B and C).As the nucleation begins(point C),latent heat of fusion is released causing an increase in the temperature of the liquid.This process is known as recalescence(point C to point D).Metal continues to
7、solidify at a constant temperature(T melting).At point E,solidification is complete.Solid casting continues to cool from the point.(b)Cooling curve for a well inoculated,but otherwise pure metal.No undercooling is needed.Recalescence is not observed.Solidification begins at the melting temperature7o
8、等温等压下,系统总是从自由能较高的状态向自由能较低的状态自发转变最小自由能原理o液态和固态的体积自由能,都随温度的上升而降低。GL随温度的变更曲线较陡,GS随温度的变更曲线较缓。液态和固态自由能相等时所对应的温度,即为理论结晶温度Tm。8.1.1.2 结晶的热力学条件结晶的热力学条件液态和固态的体积自由能随温度的变更曲线8o当T=Tm时,GL=GS,液态并无转变为固态的自发趋势。只有当T Tm时,GS GL,才有可能使自由能降低,从而自发结晶。液相和固相的体积自由能之差,构成了结晶的驱动力。o液相和固相的界面能,构成了结晶的阻力。只有依靠体积自由能的降低来补充界面能的上升,结晶过程才能进行。o
9、液、固相的体积自由能差Gv=GS-GL。Gv0(T)0。所以,上式表明,晶体的气相生长要求。所以,上式表明,晶体的气相生长要求PPPP0 0,也就是气体压强要超过该温度下晶体的饱和蒸气,也就是气体压强要超过该温度下晶体的饱和蒸气压,系统处于气压过饱和状态。这就是晶体气相生长的压,系统处于气压过饱和状态。这就是晶体气相生长的热力学条件。相反,若热力学条件。相反,若PPP0。所以,上式表明,从溶液中生。所以,上式表明,从溶液中生长晶体要求。长晶体要求。CC0即溶液的浓度要超过相同即溶液的浓度要超过相同T、P下晶下晶体溶质体溶质i的饱和溶解度,使系统处于浓度过饱和状态。这的饱和溶解度,使系统处于浓度
10、过饱和状态。这就是从溶液生长晶体的热力学条件。相反,若就是从溶液生长晶体的热力学条件。相反,若CTm 时,体积自由能与表面能都上升,整个体系的自由能必定上升,相起伏极不稳定,即现即逝。当T0)的温度分布称为正的温度梯度。对于粗糙界面,晶体的表面在显微尺度下,其外形平整。对于光滑界面,由于表面取向有时不利于降低能量,也可能沿着几个能量较低的晶面形成锯齿状的台阶型表面。当然在整体外形上还是平行于等温面。平面长大的晶体外形,是以表面能较小的密排面围成的规则形态。例如亚金属Sb,Si等和合金中的一些金属间化合物,往往具有规则的形态。晶体长大方式及其形貌晶体长大方式及其形貌液态金属中的温度分布(a)正的
11、温度梯度(b)负的温度梯度正的温度梯度晶体的长大方式(a)光滑界面(b)粗糙界面 482在负的温度梯度下的长大状况 树枝状长大dendritic growth负的温度梯度,即从晶体表面对液体内部的温度渐渐降低,过冷度渐渐增大,液相中形核条件不好时,在固相形成之前,液相必须要过冷。晶核长大时所放出的结晶潜热,使界面的温度很快上升到接近金属熔点Tm的温度,随后放出的结晶潜热就主要由已结晶的固相流向四周的液体,于是在固液界面前沿的液体中就会建立起负的温度梯度。假如有部分固相凸出长入液体,就进入过冷度较大的界面前沿的液相区域,更有利于晶体的长大。于是,固液界面不再保持平面状态,而是形成了很多伸向液体内
12、部的晶轴。晶轴接着生长,直到过冷液相温度回升至凝固温度。最终剩余的液相按平面长大方式凝固。由于这些晶轴就似乎树枝一样,就称为枝晶。晶体长大方式及其形貌晶体长大方式及其形貌49p枝晶的生长有确定的方向性。如FCC,BCC结构,枝晶平行于晶向。HCP结构的枝晶平行于 晶向。p很纯的金属凝固后,不易看到枝晶,只能看到各个晶粒的边界。p若在枝晶间富集很多杂质,在金相样品上就可看到枝晶痕迹。合金的枝晶特征更易视察。由于金相样品的磨面多与很多二次枝晶相交,因而在金相样品中看不到完整的树枝,只看到一串串由很多椭圆组成的截面形象。p倘如在结晶过程中间,在形成了一部分金属晶体之后,马上把其余的液态金属抽掉,这时
13、就会看到,正在长大着的晶体的确呈树枝状。有时在金属锭的表面最终结晶终了时,由于枝晶之间缺乏液态金属去填充,结果就留下了树枝状的花纹。晶体长大方式及其形貌晶体长大方式及其形貌50纯金属中,枝晶生长只占生长方式的一小部分。其比例:式中,c是液体的比热。分子表示过冷液体吸取的热量。分母上的潜热表示在凝固中释放的总热量。当过冷度增加,更易产生枝晶生长。假如液体形核条件很好,过冷度几乎为零。以平面长大方式进行。具有光滑界面的物质在负的温度梯度下长大时,假如光滑度不太大,仍有可能形成树枝状晶体,但往往带有小平面的特征,例如锑出现带有小平面的树枝状晶体即为此例。但是负的温度梯度较小时,仍有可能长成规则的几何
14、外形。对于光滑度大的晶体来说,即使在负的温度梯度下,仍有可能长成规则形态的晶体。晶体长大方式及其形貌晶体长大方式及其形貌生长过程中晶面的扩展与消逝生长过程中晶面的扩展与消逝a密排面密排面b非密排面非密排面(a)金刚石结构)金刚石结构111密排面,外形正八面体密排面,外形正八面体(b)111籽晶。正八面体在籽晶。正八面体在(111)面上的投影,正六边形面上的投影,正六边形(c)111籽晶。籽晶旋转。三条棱线或者六条棱籽晶。籽晶旋转。三条棱线或者六条棱(d)001籽晶。籽晶旋转。四条棱线籽晶。籽晶旋转。四条棱线(e)110籽晶。籽晶旋转。二条棱线籽晶。籽晶旋转。二条棱线53晶体生长的速率取决于冷速
15、或者散热速度。高的冷速产生快速凝固并缩短凝固时间。简洁铸件完全凝固时间ts可以依据Chvorinov公式来计算:式中V是铸件的体积,表示在凝固前须要散掉的热量;A是和铸型接触的铸件的表面积,表示铸件的散热面积;n是常数(通常n=2),B是铸型常数,它取决于金属铸件、铸型的性能和起始温度。此公式说明白铸件尺寸和散热条件的关系。它表明在相同条件下,体积小、表面积较大的的铸件冷却速度更快。凝固从表面起先进行,热量通过表面释放到四周的铸型中。则铸件的凝固速度可以通过凝固表层厚度d生长状况来表示:式中t为浇铸后时间,ks是和确定铸件材料和铸型有关的常数,c1是和浇铸温度有关的常数。凝固时间和枝晶尺寸凝固
16、时间和枝晶尺寸54枝晶尺寸可以用二次枝晶臂间距(secondary dendrite arm spacing-SDAS)描述。凝固速度越快,二次枝晶臂间距越小。二次枝晶臂间距与凝固时间有关,可以表示为:SDAS=ktsm式中k和m是和材料有关的常数。二次枝晶臂间距越小,材料的强度越高,韧性越好,类似于细晶强化。快速凝固工艺可以得到超细的二次枝晶臂间距;喷射雾化(spray atomization)法可以将很细的金属液滴以104/s冷却速度,凝固成尺寸为5100m的细粉末颗粒。虽然这个冷却速度还不足以产生金属玻璃,但是可以得到很细的枝晶组织。用粉末冶金法将细粉末成型烧结,可以得到优异的性能。对很
17、多化学成分困难的合金,用喷射雾化法还可以得到成分特别匀整的粉末。对结构和性能的影响对结构和性能的影响55Figure When the temperature of the liquid is above the freezing temperature a protuberance on the solid-liquid interface will not grow,leading to maintenance of a planer interface.Latent heat is removed from the interface through the solid56Figure
18、(a)If the liquid is undercooled,a protuberance on the solid-liquid interface can grow rapidly as a dendrite.The latent heat of fusion is removed by raising the temperature of the liquid back to the freezing temperature.(b)Scanning electron micrograph of dendrites in steel(x 15)57Figure (a)The second
19、ary dendrite arm spacing(SDAS).(b)Dendrites in an aluminum alloy(x 50).(From ASM Handbook,Vol.9,Metallography and Microstructure(1985),ASM International,Materials Park,OH 44073-0002.)58Figure The effect of solidification time on the secondary dendrite arm spacings of copper,zinc and aluminum59Figure
20、 The effect of the secondary dendrite arm spacing on the properties of an aluminum casting alloy60干脆表示晶粒的平均直径。干脆表示晶粒的平均直径。用单位体积中的晶粒数用单位体积中的晶粒数Zv(1/mm3),或单位截面上的晶),或单位截面上的晶粒数粒数Zs (l/mm2)表示。)表示。用晶粒度表示用晶粒度表示(N):n=2N-1 m=2N-3式中式中n为放大为放大100倍下每平方英寸(约倍下每平方英寸(约645mm)面积的平均)面积的平均晶粒数目,晶粒数目,m为不放大状况下每平方毫米面积的平均晶粒为
21、不放大状况下每平方毫米面积的平均晶粒数目,数目,N为晶粒度,晶粒度的数字越大,晶粒越细。在实为晶粒度,晶粒度的数字越大,晶粒越细。在实际工作中,将金相样品用显微镜放大际工作中,将金相样品用显微镜放大100倍,按标准级别图倍,按标准级别图比照评定。比照评定。Section 8.1.4 晶粒大小及其限制.1 .1 晶粒大小的表示法晶粒大小的表示法61单位体积的晶粒数单位体积的晶粒数 Zv=0.9(N/G)3/4 单位截面上的晶粒数单位截面上的晶粒数 Zs=1.1(N/G)1/2 在过冷度不很大时,在过冷度不很大时,N,G都随都随T的增大而增大。但形核率的增大而增大。但形核率增加得快,故增加得快,故
22、N/G的值随的值随T而增大。因此,而增大。因此,在实际结晶条在实际结晶条件下,过冷度越大,晶粒越细。件下,过冷度越大,晶粒越细。.2 晶粒大小与过冷度的关系晶粒大小与过冷度的关系62晶粒越细,晶界越多,对位错运动的阻力越大,所以金属晶粒越细,晶界越多,对位错运动的阻力越大,所以金属的强度越高。此外,晶粒越细,位错塞积造成的应力集中的强度越高。此外,晶粒越细,位错塞积造成的应力集中也小,所以金属的塑性也得到改善。这种强化方式称为细也小,所以金属的塑性也得到改善。这种强化方式称为细晶强化。在全部强化方式中,只有细晶强化可以使强度和晶强化。在全部强化方式中,只有细晶强化可以使强度和塑性同时得到改善,
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