超声波在食品工业的应用优秀PPT.ppt
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1、超声波在食品工业的应用现在学习的是第1页,共24页低强度超声波技术高强度超声波技术超声技术的分析测定原理低强度超声波技术的应用高强度超声波技术的应用超声波技术在轻工业中的应用1现在学习的是第2页,共24页超声波技术在食品领域的应用依能量强度主超声波技术在食品领域的应用依能量强度主要分为两大类要分为两大类:低强度超声波技术低强度超声波由于能量低,当超声波通过体系时不会对介质产生物化破坏作用。通常应用于食品分析检测领域,提供食品组成,质构及流变学性质数据。高强度超声波技术高强度超声波因为能量高足以使介质发生物理裂解和加速某些化学反应。用于促进乳化,破解细胞壁和分散聚沉物等。最近,超声波技术已应用于
2、食品起晶过程的控制、酶活力的钝化、肉的嫩化、加速干燥、缩短过滤时间及促进氧化反应等领域。1现在学习的是第3页,共24页超声技术的分析测定原理超声技术的分析测定原理 大多数超声设备为脉冲式或连续式。脉冲技术因易于操作,测量迅速,不干扰生产且容易自动化而被广泛使用。最简单且被广泛使用的超声波技术为脉冲技术。电子脉冲经超声波发送探头转变为超声脉冲,传播到测样室的远距离端器壁,然后返回。接着超声波发送探头又作为超声波接受器将脉冲复原为电子脉冲,脉冲信号显示在计时器上。因为超声波只有部分被吸收,部分被反射回,计时器将会显示一系列强度不同的信号。声速、衰减系数、声音阻抗三超声参数可由返回的信号进行测定。通
3、过测出介质体系的超声波参数便可以对食品体系的各种性质进行分析检测,这就是超声技术用于食品领域的分析检测原理。1现在学习的是第4页,共24页(1)声速测定)声速测定 当一个平面波通过介质时,超声波性质与介质的物理性质可用一个简单的数学式关联:(/)2=/由于衰减系数/C,和基本上与f无关,动态和静态测定的数值相差很小。上式简化为:c2=/只要测出介质的声速,即可探知介质的物理性质。所以可通过检测超声波性质的区别或变化来定性或定量监测介质的物理性质甚至分子水平的变化。1现在学习的是第5页,共24页(2)衰减测定)衰减测定当声波通过介质时,其振幅会出现减小。这种声波衰减主要是由于传递过程中声波能量发
4、生吸收和散射。吸收的机理可能是声能在过程中被转化成了其它形式的能量(最终成为热能)。而散射则是当声波入射到一个介质不连续处(如分散粒子的表面或其它两相界面)时,它会被散射而偏移入射波方向。不同于吸收机理的是散射机理中超声波的能量形式上并不发生改变,但由于被散射到其它方向以及相位发生了变化,所以接收器难以检测到这些能量。1现在学习的是第6页,共24页通常超声波在液态介质中的吸收表现为三种基本形式:热传导、粘滞耗散和分子弛豫 衰减系数a可以表述为:A=A0 exp(-ad)A为声波通过介质后检测到的振幅,A0为初始振幅,d为声波通过的距离。衰减系数的测定与测量声速的原理相同,只不过此时测量的参数不
5、是时间而是示波器上相邻回波的振幅及其变化。1现在学习的是第7页,共24页(3)声学阻抗测定)声学阻抗测定当一超声波入射到两不同介质所形成的界面时,波的一部分被吸收传播,另一部分则被反射回。反射波的振幅(Ar)与入射波振幅(Ai)的比值记作反射系数(R)。R=Ar/Ai=(Z1-Z2)/(Z1+Z2)其中Z 表示声学阻抗(Z=c)当介质与其周围环境的声学阻抗性质接近时,只有极少量的超声波被反射回。相反,当两介质的声学阻抗差别大时,超声波大部分被反射回。超声显影技术即建立在超声波从声学阻抗性质不同介质的内部边界反射回这一原理上的。声速、衰减系数、声学阻抗均为超声波的基本物理参数,都依赖于介质的结构
6、,组成等性质表现出来。因此通过测量声学阻抗可以获取食品体系的一些物理性。1现在学习的是第8页,共24页低强度超声波技术的应用低强度超声波技术的应用 低强度超声波技术应用于食品领域的定性测量约始于上世纪40 年代,这项技术一直到最近才得到研究人员的重视,这主要由如下三方面原因:a、食品工业界越来越重视形成一项分析检测复杂食品体系新技术,包括监控加工过程食品理化性质的变化,而超声波技术能够满足这些要求。b、超声波仪器能实行全自动操作,检测快速,精度能满足食品分析的要求,且低强度超声波技术检测时不破坏体系的物化性质同时能不干扰生产并能实现在线操作,另外能应用于光学非透明体系,这弥补了光学检测仪的一些
7、不足。c、微电子技术的快速发展降低了超声波仪器设备的造价。超声分析测量技术在食品工业中的应用主要基于可测量的超声波的几个主要特征参数(声速、衰减系数和声学阻抗)能反映食品体系物化特性参数(如组成、质构和流变学等物理性质)。1现在学习的是第9页,共24页(1)测定介质的厚度)测定介质的厚度超声仪器设备能准确测定介质的厚度。将一超声波发送探头安放在待测介质原料的一端,并使脉冲超声波输送到待测样中。测出超声波脉冲穿过待检样并返回到探头的时间t,则只要测出超声波在检样中的传播速度c 就能确定检样的厚度(d=ct/2)。目前此技术已用于糖果中巧克力涂层的厚度,肉的厚度,罐头中液层厚度以及蛋壳的厚度的测定
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