第三章原子发射基本原理课件.ppt
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1、第三章第三章 原子发射光谱分析法原子发射光谱分析法一、概述一、概述generalization二、原子发射光谱的产生二、原子发射光谱的产生formation of atomic emission spectra 三、谱线强度三、谱线强度spectrum line intensity四、谱线自吸与自蚀四、谱线自吸与自蚀self-absorption andselp reversal of spectrum line 第一节第一节 原子发射光谱分析原子发射光谱分析基本原理基本原理atomic emission spectrometry,AESbasic principle of AES一、概述原原
2、子子发发射射光光谱谱分分析析法法(AESAES):根根据据待待测测物物质质的的气气态态原原子子或或离离子子受受激激发发后后所所发发射射的的特特征征光光谱谱的的波波长长及及其其强强度度来来测测定定物物质中元素组成和含量的分析方法。质中元素组成和含量的分析方法。原子发射光谱法的一般分析步骤:原子发射光谱法的一般分析步骤:(1 1)在激发光源中,将待测物质蒸发、解离、电离、激)在激发光源中,将待测物质蒸发、解离、电离、激发,产生光辐射。发,产生光辐射。(2 2)将待测物质发射的复合光经分光装置色散成光谱)将待测物质发射的复合光经分光装置色散成光谱(3 3)通过检测器检测待测物质中元素光谱线的波长和强
3、)通过检测器检测待测物质中元素光谱线的波长和强度,进行元素的定性和定量分析度,进行元素的定性和定量分析优点:选择性好,分析速度快,多种元素同时分析优点:选择性好,分析速度快,多种元素同时分析。二、原子发射光谱的产生二、原子发射光谱的产生 formation of atomic emission spectra 在在正正常常状状态态下下,元元素素处处于于基基态态,元元素素在在受受到到外外界界能能量量(热热能能或或电电能能)激激发发时时,由由基基态态跃跃迁迁到到激激发发态态,返返回回到到基基态态时,发射出时,发射出特征光谱特征光谱(线状光谱线状光谱););特征辐射基态元素基态元素M激发态激发态M*
4、热能、电能E原子的共振线与离子的电离线 非共振线非共振线:激发态与激发态之间跃迁形成的光谱线:激发态与激发态之间跃迁形成的光谱线 共振线:共振线:激发态与基态之间的跃迁产生的光谱线激发态与基态之间的跃迁产生的光谱线 原子线原子线:原子发射的谱线原子发射的谱线 离子线:离子发射的谱线离子线:离子发射的谱线 元素谱线表元素谱线表:I 表示原子发射的谱线;表示原子发射的谱线;II 表示一次电离离子发射的谱线;表示一次电离离子发射的谱线;III表示二次电离离子发射的谱线;表示二次电离离子发射的谱线;如Mg I 285.21 nm;Mg II 279.55 nm;同种元素的原子和离子所产生的同种元素的原
5、子和离子所产生的原子线和离子线原子线和离子线都是该元都是该元素的特征谱线,习惯上素的特征谱线,习惯上统称为原子光谱统称为原子光谱。三、谱线强度三、谱线强度 spectrum line intensity原原子子由由某某一一激激发发态态 i 向向基基态态或或较较低低能能级级 j 跃跃迁迁,所所发发射射的的谱线强度与激发态原子数成正比谱线强度与激发态原子数成正比。在在热热力力学学平平衡衡时时,单单位位体体积积的的基基态态原原子子数数N0与与激激发发态态原原子数子数Ni的之间的分布遵守玻耳兹曼分布定律:的之间的分布遵守玻耳兹曼分布定律:gi、g0为激发态与基态的统计权重;Ei:为激发能;k为玻耳兹曼
6、常数;T为激发温度;发射谱线强度发射谱线强度:Iij=Ni Aijh ijh为Plank常数;Aij两个能级间的跃迁几率;ij发射谱线的频率。将Ni代入上式,得:谱线强度谱线强度影响谱线强度的因素影响谱线强度的因素:(1)激发能)激发能 激发能越小,谱线激发能越小,谱线强度越强;强度越强;(2)温度)温度 温度升高,谱线强度温度升高,谱线强度增大,但易电离。增大,但易电离。影响谱线强度的因素影响谱线强度的因素:(3)基态原子数)基态原子数 谱线谱线强度强度与与基态原子数成正比基态原子数成正比,在一,在一定条件下,定条件下,基态原子数基态原子数与试样中该与试样中该元素浓度成正比元素浓度成正比。因
7、此,。因此,在一定的实验条件下在一定的实验条件下谱线强度与被测元素浓度成正比谱线强度与被测元素浓度成正比,这,这是光谱是光谱定量定量分析的依据。分析的依据。四、谱线的自吸与自蚀四、谱线的自吸与自蚀 self-absorption and self reversal of spectrum line 等等离离子子体体:包包含含分分子子、离离子子、电电子子等等粒粒子子,其其正正负负电电荷荷相相等等的的电电离离气气体体。它它具具有有电电中中性性和导电性。和导电性。等等离离子子体体有有一一定定的的体体积积,温温度度与与原原子子浓浓度度在在其其各各部部位位分分布布不不均均匀匀,中中间间的的温温度度、激激
8、发发态态原原子子浓浓度度高高,边边缘缘温温度度低低,基基态态与与较较低低能能级的原子较多。级的原子较多。自自吸吸:某某元元素素的的原原子子从从中中心心发发射射电电磁磁辐辐射射,必必然然要要通通过过边边缘缘到到达达检检测测器器,这这样样所所发发射射的的电电磁磁辐辐射射就就可可能能被被处处在在边边缘缘的的同同一一元元素素基基态态原原子子或或较较低低能能级级的的原原子子吸吸收收,使使接接受受到到的的谱谱线强度降低。线强度降低。这这种种原原子子在在高高温温发发射射某某一一波波长长的的辐辐射射,被被处处在在边边缘缘低低温温状态的同种原子所吸收的现象称为自吸状态的同种原子所吸收的现象称为自吸。元元素素浓浓
9、度度低低时时,不不出出现现自自吸吸。随随浓浓度度增增加加,自自吸吸越越来来越越严严重重,当当达达到到一一定定值值时时,谱谱线线中中心心完完全全吸吸收收,如如同同出现两条线,这种现象称为自蚀。出现两条线,这种现象称为自蚀。基态原子对共振线的自吸最严重基态原子对共振线的自吸最严重谱线表,谱线表,r:自吸;:自吸;R:自蚀;:自蚀;第三章第三章 原子发射光谱原子发射光谱分析法分析法一、光源一、光源二二、光谱仪、光谱仪第二节第二节 原子发射光谱分析原子发射光谱分析装置与仪器装置与仪器device and instrument of AESatomic emission spectrometry,AES
10、 仪器流程仪器流程 process of AES 原子发射光谱仪通常由三大部分构成:原子发射光谱仪通常由三大部分构成:激发光源、分光系统(光谱仪)及进行光谱分析的检测系统;激发光源、分光系统(光谱仪)及进行光谱分析的检测系统;一、光源一、光源 作为光谱分析用的光源对试样都具有作为光谱分析用的光源对试样都具有两个作用过程。首先,把试样中的组分蒸发。首先,把试样中的组分蒸发离解为气态原子,然后使这些气态原子激离解为气态原子,然后使这些气态原子激发,使之产生特征光谱。因此光源的主要发,使之产生特征光谱。因此光源的主要作用是对试样的蒸发、解离和激发作用是对试样的蒸发、解离和激发提供提供所所需的需的能量
11、能量。最常用的光源有直流电弧、交。最常用的光源有直流电弧、交流电弧、电火花等流电弧、电火花等1.1.直流电弧(直流电弧(DC)DC)直流电直流电作为激发作为激发能源能源,电压,电压220 380V,电流,电流5 30A;两支石墨电极,试样放置在一支电极两支石墨电极,试样放置在一支电极(下电极下电极)的凹槽内;的凹槽内;使分析间隙的两电极接触或用导体接触两电极,通电,电使分析间隙的两电极接触或用导体接触两电极,通电,电极尖端被烧热,点燃电弧,再使电极相距极尖端被烧热,点燃电弧,再使电极相距4 6mm;电弧点燃后,热电子流高速通过分析间隙冲击阳极,产电弧点燃后,热电子流高速通过分析间隙冲击阳极,产
12、生高热,试样蒸发并原子化,电子与原子碰撞电离出正离子生高热,试样蒸发并原子化,电子与原子碰撞电离出正离子冲向阴极。电子、原子、离子在分析间隙相互碰撞,发生能冲向阴极。电子、原子、离子在分析间隙相互碰撞,发生能量交换,使原子跃迁到激发态,返回基态时发射出该原子的量交换,使原子跃迁到激发态,返回基态时发射出该原子的光谱。光谱。弧焰温度弧焰温度:40007000 K 可使约70多种元素激发;2.2.低压低压交流交流电弧电弧 工作电压:工作电压:110220 V。采用采用高频引燃装置高频引燃装置点燃电弧,在每一交流半周时引燃一点燃电弧,在每一交流半周时引燃一次,保持电弧不灭;次,保持电弧不灭;工作原理
13、工作原理(1)接通电源,由变压器)接通电源,由变压器B1升压至升压至2.53kV,电容器,电容器C1充电;达到一定值时,放电盘充电;达到一定值时,放电盘G1击穿;击穿;G1-C1-L1构成振荡回构成振荡回路,产生高频振荡;路,产生高频振荡;(2)振荡电压经)振荡电压经B2的次级线圈升压到的次级线圈升压到10kV,通过电容器,通过电容器C2将电极间隙将电极间隙G的空气击穿,产生高频振荡放电;的空气击穿,产生高频振荡放电;(3)当)当G被击穿时,电源的低被击穿时,电源的低压部分沿着已造成的电离气体通道,压部分沿着已造成的电离气体通道,通过通过G进行电弧放电;进行电弧放电;(4)在放电的短暂瞬间,电
14、压)在放电的短暂瞬间,电压降低直至电弧熄灭,在下半周高频降低直至电弧熄灭,在下半周高频再次点燃,重复进行再次点燃,重复进行;特点:特点:(1)电弧电弧温度高,激发能力强温度高,激发能力强;(2)电极电极温度稍低,蒸发能力稍低;温度稍低,蒸发能力稍低;(3)电弧)电弧稳定性好稳定性好,使分析重现性好,使分析重现性好,适用于定量分析适用于定量分析。.高压火花高压火花(1)交流电压交流电压经变压器经变压器T后,产生后,产生1025kV的高压,然后的高压,然后通过扼流圈通过扼流圈D向电容器向电容器C充电,达到充电,达到G的击穿电压时,通过电的击穿电压时,通过电感感L向向G放电,产生振荡性的火花放电放电
15、,产生振荡性的火花放电;并伴有爆裂声。并伴有爆裂声。高压火花的特点:高压火花的特点:(1)放电瞬间能量很大,产生的温度高,激发能力强,)放电瞬间能量很大,产生的温度高,激发能力强,某些难激发元素可被激发,且多为离子线某些难激发元素可被激发,且多为离子线;(2)放电间隔长,使得电极温度低,蒸发能力稍低,适)放电间隔长,使得电极温度低,蒸发能力稍低,适于低熔点金属与合金的分析;于低熔点金属与合金的分析;(3)稳定性好,重现性好,适用定量分析;)稳定性好,重现性好,适用定量分析;缺点:缺点:(1)火花光源的背景较大,灵敏度)火花光源的背景较大,灵敏度较差,适合做较高含量的分析较差,适合做较高含量的分
16、析;(2)噪音较大;)噪音较大;ICP光源是高频光源是高频感应电流产生的类感应电流产生的类似火焰的激发光似火焰的激发光源。源。由高频发生由高频发生器、等离子体炬管器、等离子体炬管和雾化器组成。和雾化器组成。4.电感耦合等离子体光源电感耦合等离子体光源(inductively coupled plasma,ICP)ICP是是宏观中性的离子化气体宏观中性的离子化气体,即具有相同,即具有相同数目的正粒子(正离子)及负粒子(电子)数目的正粒子(正离子)及负粒子(电子)工作原理工作原理 当高频发生器接通电源后,高频当高频发生器接通电源后,高频电流电流I通过感应线圈产生交变磁场通过感应线圈产生交变磁场(绿
17、色绿色)。开始时,管内为开始时,管内为Ar气,不导电,气,不导电,需要用高压电火花触发,使气体电离需要用高压电火花触发,使气体电离后,在高频交流电场的作用下,带电后,在高频交流电场的作用下,带电粒子高速运动,碰撞,形成粒子高速运动,碰撞,形成“雪崩雪崩”式放电,产生等离子体气流。在垂直式放电,产生等离子体气流。在垂直于磁场方向将产生感应电流(涡电流,于磁场方向将产生感应电流(涡电流,粉色),其电阻很小,电流很大粉色),其电阻很小,电流很大(数百数百安安),产生高温。又将气体加热、电离,产生高温。又将气体加热、电离,在管口形成稳定的等离子体焰炬。在管口形成稳定的等离子体焰炬。ICP 的特点的特点
18、 (1)温度高,惰性气氛,原子化条件好,有利于难熔化温度高,惰性气氛,原子化条件好,有利于难熔化合物的分解和元素激发,有很高的灵敏度和稳定性;合物的分解和元素激发,有很高的灵敏度和稳定性;(2)“趋肤效应趋肤效应”,涡电流在外表面处密度大,使表面温,涡电流在外表面处密度大,使表面温度高,轴心温度低,中心通道进样对等离子的稳定性影度高,轴心温度低,中心通道进样对等离子的稳定性影响小。也有效消除自吸现象,线性范围宽(响小。也有效消除自吸现象,线性范围宽(45个数量个数量级);级);(3)ICP中电子密度大,碱金属电离造成的影响小;中电子密度大,碱金属电离造成的影响小;(4)Ar气体产生的背景干扰小
19、;气体产生的背景干扰小;(5)无电极放电,无电极污染;无电极放电,无电极污染;ICP焰炬外型像火焰,但不是化学燃烧火焰,气体放电;焰炬外型像火焰,但不是化学燃烧火焰,气体放电;缺点:对非金属测定的灵敏度低,仪器昂贵,操作费用缺点:对非金属测定的灵敏度低,仪器昂贵,操作费用高。高。5.试样引入激发光源的方法试样引入激发光源的方法 试样引入激发光源的方法,试样引入激发光源的方法,依试样的性质而定。依试样的性质而定。(1)固体试样)固体试样 金属与合金金属与合金本身能导电,可直接做成电本身能导电,可直接做成电极,称为自电极。极,称为自电极。粉末试样,通常放入制粉末试样,通常放入制成各种的小孔或杯形电
20、极中,成各种的小孔或杯形电极中,作为下电极。作为下电极。(2)溶液试样)溶液试样 ICP光源,光源,直接用雾化器将试样溶液引直接用雾化器将试样溶液引入等离子体内。入等离子体内。对比对比二、光谱仪二、光谱仪 spectrophotometer 将原子发射出的辐射分光后观察其光谱的仪器。将原子发射出的辐射分光后观察其光谱的仪器。按接受光谱方式分:看谱法、摄谱法、光电法;按接受光谱方式分:看谱法、摄谱法、光电法;按仪器分光系统分:棱镜光谱仪、光栅光谱仪;按仪器分光系统分:棱镜光谱仪、光栅光谱仪;光栅光谱仪比棱镜光谱仪有更大的分辨率光栅光谱仪比棱镜光谱仪有更大的分辨率。1.1.摄谱仪光路图摄谱仪光路图
21、中阶梯光栅分光系统(实物图)中阶梯光栅分光系统(实物图)感光板与谱线黑度感光板与谱线黑度 感光板主要由玻璃片基和感光层(乳剂)组成,感光板主要由玻璃片基和感光层(乳剂)组成,它是由感光物质卤化银、明胶和增感剂等物质组它是由感光物质卤化银、明胶和增感剂等物质组成。感光处理后,呈现黑色的光谱线。成。感光处理后,呈现黑色的光谱线。感光板上的谱线黑度感光板上的谱线黑度S主要决定于曝光量主要决定于曝光量H,而,而曝光量曝光量H在一定时间内,又与光的强度在一定时间内,又与光的强度I成正比成正比 H=KIt 但谱线黑度但谱线黑度S与曝光量与曝光量H之间的关系比较复杂,之间的关系比较复杂,很很难用简单的数学公
22、式表达,通常用图解法难用简单的数学公式表达,通常用图解法S-lgH表表达。人们把达。人们把S-lgH关系曲线称为乳剂特性曲线。关系曲线称为乳剂特性曲线。在在实实际际工工作作中中,由由于于谱谱线线强强度度I I与与曝曝光光量量H成成正正比比,可可导导出关系式出关系式 S=S=lglgK KI It ti i 摄谱仪的观察装置摄谱仪的观察装置(1)光谱投影仪)光谱投影仪(映谱仪),光谱定性分(映谱仪),光谱定性分析时将光谱图放大,放大析时将光谱图放大,放大20倍。倍。(2)测微光度计)测微光度计(黑度计);定量分析时,(黑度计);定量分析时,测定接受到的光谱线强度;测定接受到的光谱线强度;谱线越强
23、,感光板上谱线谱线越强,感光板上谱线越黑。越黑。2.2.光电直读等离子体发射光谱仪光电直读等离子体发射光谱仪 光电直读是利用光电法直接获得光谱线的强度光电直读是利用光电法直接获得光谱线的强度;U=kItU=kIt;两种类型:多道固定狭缝式和单道扫描式;两种类型:多道固定狭缝式和单道扫描式;单道扫描式是转动光栅单道扫描式是转动光栅进行扫描,在不同时间检测进行扫描,在不同时间检测不同谱线;不同谱线;多多道道固固定定狭狭缝缝式式则则是是安安装装多多个个(多多达达70个个)固固定定的的出出射射狭狭缝缝和和光光电电倍倍增增管管,同同时测定多个元素的谱线;时测定多个元素的谱线;一一个个出出射射狭狭缝缝和和
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- 第三 原子 发射 基本原理 课件
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