《锡须试验方案》PPT课件.ppt

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2、些很精密的元件，除了元器件本身可能因为应力导致开裂外，产生的锡须会导致产品的跳火和短路等故障。力导致开裂外，产生的锡须会导致产品的跳火和短路等故障。因此在生产工艺中，对锡须生长的实验就对元件可靠性验证愈发重要。因此在生产工艺中，对锡须生长的实验就对元件可靠性验证愈发重要。Whiskers Seen Right After Plating Incubation period reported in literatures:3 weeks Can be as short as 80 min Very sensitive to current density,especially in the in

3、itial stage Whisker growing depends on the stress at the interface of Plating/Base metal地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼；电话：0512-89579031；手机：；网址：二、锡须试验所用设备回流焊炉回流焊炉回流焊炉回流焊炉温度范围：温度范围：常温+10+280温度波动度：温度波动度：0.5温度均匀度：温度均匀度：2作用：作用：模拟焊接过程中温度应力对材料内应力的激发交变湿热箱交变湿热箱交变湿热箱交变湿热箱温度范围温度范围:-60+170升降温速率升降温速率：0.75/min波动度波动度/均匀度

4、均匀度：0.5/2湿度范围湿度范围：常湿98%R.H湿度波动湿度波动：+2-3%电子扫描显微镜观察电子扫描显微镜观察用来观察物体表面形貌，并对发现的异物进行元素分析。应用范围包括晶圆，封装材料表面的微裂纹观察，断口观察分析，引线键合失效和芯片内部物理缺陷观察分析，锡须量测等。光学显微镜光学显微镜 用立体显微镜或者金相显微镜来对样品进行外观观察，常规可放大几十几千倍地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼；电话：0512-67703240；传真：0512-66552016；网址：三、参考标准及推荐方案三、参考标准及推荐方案序号序号No.检测项目检测项目Description计价单位计价单位

5、Unit数量数量QTY备注备注Remark1过回流焊炉过回流焊炉小时小时1样品数为样品数为20个个.2过回流焊炉后电镜观察过回流焊炉后电镜观察样品样品20共共20个样品个样品,建议应用建议应用.3过回流焊炉后光学显微镜观察过回流焊炉后光学显微镜观察样品样品20客户自选客户自选.4TCT（1000循环循环)小时小时834共共1000cyle.本次试验样品总数为本次试验样品总数为10个个.注意：注意：500个循环的时候进行电镜观察一次锡须个循环的时候进行电镜观察一次锡须生长情况，后续在生长情况，后续在1000个循环的时候用电镜观个循环的时候用电镜观察一次锡须生长情况。察一次锡须生长情况。5分别在分

6、别在TCT500循环和循环和1000循环后循环后的电镜观察的电镜观察样品样品20共共10个样品个样品,每个样品电镜观察每个样品电镜观察2次次,样品数即为样品数即为20个计算个计算.6高温高湿存储高温高湿存储小时小时4320试验时间试验时间:6个月个月.注意注意:试验试验1个月的时候进行电个月的时候进行电镜观察一次锡须生长情况镜观察一次锡须生长情况,后续在进行后续在进行6个月时个月时候用电镜再次观察一次锡须生长情况候用电镜再次观察一次锡须生长情况.7分别在高温高湿存储分别在高温高湿存储1个月后和个月后和6个个月后的电镜观察月后的电镜观察样品样品20共共10个样品个样品,每个样品电镜观察每个样品电

7、镜观察2次次,样品数即为样品数即为20个计算个计算.参考标准：JEDEC地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼；电话：0512-89579031；手机：；网址：1.根据ANSI标准进行抽样2.对样品进行观察，将焊点开裂、焊点刮伤或者焊丝的现象剔除3.对真正的锡须(多晶和单晶)和焊丝挂连、毛刺进行辨别）进行拍照分析验证四、锡须试验案例四、锡须试验案例地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼；电话：0512-89579031；手机：；网址：1.某元器件公司的锡须案例Whisker seen in Cerquad package地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼；电话：0512-89579031；手机：；网址：五、锡须试验案例五、锡须试验案例2.某半导体公司的锡须案例地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼；电话：0512-89579031；手机：；网址：3.某芯片公司的锡须案例地址：苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼；电话：0512-89579031；手机：；网址：