工学电子显微分析7课件.pptx
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1、 对材料进行微观分析,要看其形态如何,晶粒大小、析出相、是等轴的还是条状的,等等,可以用光学显微镜、SEM、TEM等来观察;要研究其微区成分,可用SEM+EDS,用EPMA,用分析电镜等来分析;要研究其结构,用x射线衍射仪,用TEM作电子衍射等来分析。分析电镜可以观察形貌、测定微区成分、作微区结构分析。但样品制备很困难,分析区域也非常微小,不能对试样进行大面积的分析工作。80年代发展了EBSD,安装在SEM上,可对样品进行结构分析,配合EDS,在一台设备上完成形貌观察、结构分析和成分分析,而且试样制备容易,分析面积大。第1页/共16页第2页/共16页 入射电子的弹性相干散射会产生衍射,产生衍射
2、花样,入射电子的非弹性散射,构成背底。对于单次非弹性散射,入射电子能量损失很小(50ev),近似认为波长不变,非弹性散射在晶体中空间的各个方向传播电子波,如果符合布拉格定律,也会发生衍射,出现成对的亮、暗平行线条,叫做菊池线。菊池线的产生第3页/共16页OP,OQ二束非弹性散射波,OP强度小于OQ(散射角大,强度小),与晶面发生衍射,衍射波OP强度小于OQ,造成背底衬度上亮暗不同,由于非弹性散射波在空间所有方向上传播,二个衍射波构成二个圆锥面,在底片上显示出一对平行的亮、暗直线。第4页/共16页 E l e c t r o n b a c k s c a t t e r d i f f r a
3、 c t i o n p a t t e r n s (o r EBSPs)are obtained in the S c a n n i n g E l e c t r o n M i c r o s c o p e (S E M)b y f o c u s i n g a s t a t i o n a r y e l e c t r o n b e a m o n a crystal l i ne sampl e.The s a m p l e i s t i l t e d t o approximately 70 degrees w i t h r e s p e c t t o t
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