微电子的规律.pptx
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1、Moore定律1965年Intel公司的创始人之一Gordon E.Moore预言集成电路产业的发展规律集成电路的集成度每三年增长四倍,特征尺寸每三年缩小 倍第1页/共72页Moore定定律律10 G1 G100 M10 M1 M100 K10 K1 K0.1 K19701980199020002010存储器容量存储器容量 60%/年年 每三年,翻两番每三年,翻两番1965,Gordon Moore 预测预测半导体芯片上的晶体管数目每两年翻两番半导体芯片上的晶体管数目每两年翻两番第2页/共72页 1.E+91.E+91.E+81.E+81.E+71.E+71.E+61.E+61.E+51.E+
2、51.E+41.E+41.E+31.E+370 70 74 74 78 78 82 82 86 86 90 90 94 94 98 98 20022002芯片上的体管数目芯片上的体管数目 微处理器性能微处理器性能 每三年翻两每三年翻两番番Moore定律:定律:i8080:6,000i8080:6,000m68000:68,000m68000:68,000PowerPC601:2,800,000PowerPC601:2,800,000PentiumPro:5,500,000PentiumPro:5,500,000i4004:2,300i4004:2,300M6800:M6800:4,0004,0
3、00i8086:28,000i8086:28,000i80286:134,000i80286:134,000m68020:190,000m68020:190,000i80386DX:275,000i80386DX:275,000m68030:273,000m68030:273,000i80486DX:1,200,000i80486DX:1,200,000m68040:1,170,000m68040:1,170,000Pentium:3,300,000Pentium:3,300,000PowerPC604:3,600,000PowerPC604:3,600,000PowerPC620:6,900
4、,000PowerPC620:6,900,000“Itanium”:15,950,0“Itanium”:15,950,00000Pentium II:7,500,000Pentium II:7,500,000第3页/共72页微处理器的性能微处理器的性能100 G10 GGiga100 M10 MMegaKilo19701980199020002010Peak Peak Advertised Advertised Performance Performance(PAP)(PAP)MooresMooresLawLawReal AppliedReal AppliedPerformance Perfo
5、rmance(RAP)(RAP)41%Growth41%Growth8080808080868086802880286 6803880386 6804880486 6PentiumPentiumPentiumProPentiumPro第4页/共72页集成电路技术是近集成电路技术是近50年来发展最快的技术年来发展最快的技术微电子技术的进步微电子技术的进步按此比率下降,小汽车价格不到按此比率下降,小汽车价格不到1美分美分第5页/共72页第6页/共72页Moore定律定律 性能价格比性能价格比在过去的20年中,改进了1,000,000倍在今后的20年中,还将改进1,000,000倍很可能还将持续 4
6、0年 第7页/共72页信息技术发展的三大规律信息技术发展的三大规律q摩尔定律即电子定律:集成电路的集成摩尔定律即电子定律:集成电路的集成度每度每1818个月翻一番;个月翻一番;q超摩尔定律即光子定律:光纤传输的数超摩尔定律即光子定律:光纤传输的数据总量每据总量每9 9个月翻一番;个月翻一番;q迈特卡夫定律:网络的价值以联网设备迈特卡夫定律:网络的价值以联网设备数的平方关系成正比数的平方关系成正比第8页/共72页等比例缩小(Scaling-down)定律第9页/共72页等比例缩小等比例缩小(Scaling-down)定律定律1974年由Dennard基本指导思想是:保持MOS器件内部电场不变:恒
7、定电场规律,简称CE律等比例缩小器件的纵向、横向尺寸,以增加跨导和减少负载电容,提高集成电路的性能电源电压也要缩小相同的倍数第10页/共72页漏源电流方程:由于VDS、(VGS-VTH)、W、L、tox均缩小了倍,Cox增大了倍,因此,IDS缩小倍。门延迟时间tpd为:其中VDS、IDS、CL均缩小了倍,所以tpd也缩小了倍。标志集成电路性能的功耗延迟积PWtpd则缩小了3倍。第11页/共72页恒定电场定律的问题恒定电场定律的问题阈值电压不可能缩的太小源漏耗尽区宽度不可能按比例缩小电源电压标准的改变会带来很大的不便第12页/共72页恒定电压等比例缩小规律(简称CV律)保持电源电压Vds和阈值电
8、压Vth不变,对其它参数进行等比例缩小按CV律缩小后对电路性能的提高远不如CE律,而且采用CV律会使沟道内的电场大大增强CV律一般只适用于沟道长度大于1m的器件,它不适用于沟道长度较短的器件。第13页/共72页准恒定电场等比例缩小规则,缩写为QCE律CE律和CV律的折中,世纪采用的最多随着器件尺寸的进一步缩小,强电场、高功耗以及功耗密度等引起的各种问题限制了按CV律进一步缩小的规则,电源电压必须降低。同时又为了不使阈值电压太低而影响电路的性能,实际上电源电压降低的比例通常小于器件尺寸的缩小比例器件尺寸将缩小倍,而电源电压则只变为原来的/倍第14页/共72页第15页/共72页微电子技术的微电子技
9、术的三个发展方向三个发展方向第16页/共72页硅微电子技术的三个主要发展方向特征尺寸继续等比例缩小集成电路(IC)将发展成为系统芯片(SOC)微电子技术与其它领域相结合将产生新的产业和新的学科,例如MEMS、DNA芯片等微电子技术的三个发展方向微电子技术的三个发展方向第17页/共72页第一个关键技术层次:微细加工目前0.25m和0.18 m已开始进入大生产0.15 m和0.13 m大生产技术也已经完成开发,具备大生产的条件当然仍有许多开发与研究工作要做,例如IP模块的开发,为EDA服务的器件模型模拟开发以及基于上述加工工艺的产品开发等在0.13-0.07um阶段,最关键的加工工艺光刻技术还是一
10、个大问题,尚未解决微电子器件的特征尺寸继续缩小第18页/共72页第19页/共72页第二个关键技术:互连技术铜互连已在0.25/0.18um技术代中使用;但是在0.13um以后,铜互连与低介电常数绝缘材料共同使用时的可靠性问题还有待研究开发微电子器件的特征尺寸继续缩小第20页/共72页互连技术与器件特征尺寸的缩小互连技术与器件特征尺寸的缩小(资料来源:(资料来源:Solidstate Technology Oct.,1998)第21页/共72页?第三个关键技术第三个关键技术新型器件结构新型器件结构新型材料体系新型材料体系高高K介质介质金属栅电极金属栅电极低低K介质介质SOI材料材料微电子器件的特
11、征尺寸继续缩小微电子器件的特征尺寸继续缩小第22页/共72页 传统的栅结构传统的栅结构 重掺杂多晶硅SiO2 硅化物 经验关系:L Tox Xj1/3栅介质的限制栅介质的限制第23页/共72页随着随着 t tgategate 的缩小,栅泄的缩小,栅泄的缩小,栅泄的缩小,栅泄漏电流呈指数性增长漏电流呈指数性增长漏电流呈指数性增长漏电流呈指数性增长超薄栅超薄栅氧化层氧化层栅氧化层的势垒栅氧化层的势垒GSD直接隧穿的泄漏电流直接隧穿的泄漏电流栅氧化层厚度小于栅氧化层厚度小于 3nm后后tgate大量的大量的晶体管晶体管 限制:限制:tgate 3 to 2 nm栅介质的限制栅介质的限制第24页/共7
12、2页栅介质的限制栅介质的限制 等效栅介质层的总厚度:等效栅介质层的总厚度:等效栅介质层的总厚度:等效栅介质层的总厚度:Tox 1nm+t栅介质层 Tox t多晶硅耗尽 t栅介质层 t量子效应+由多晶硅耗尽效应引起的等效厚度由多晶硅耗尽效应引起的等效厚度由多晶硅耗尽效应引起的等效厚度由多晶硅耗尽效应引起的等效厚度 :t多晶硅耗尽多晶硅耗尽 0.5nm 由量子效应引起的等效厚度由量子效应引起的等效厚度由量子效应引起的等效厚度由量子效应引起的等效厚度:t量子效应 0.5nm 限制:等效栅介质层的总厚度无法小于限制:等效栅介质层的总厚度无法小于限制:等效栅介质层的总厚度无法小于限制:等效栅介质层的总厚
13、度无法小于1nm1nm1nm1nm第25页/共72页随着器件缩小随着器件缩小致亚致亚50纳米纳米寻求介电常数大的高寻求介电常数大的高寻求介电常数大的高寻求介电常数大的高K K材料来替代材料来替代材料来替代材料来替代SiOSiO2 2SiO2无法适应亚无法适应亚50纳米器件的要求纳米器件的要求栅介质的限制栅介质的限制SiO2(3.9)SiO2/Si 界面界面硅基集成电路硅基集成电路发展的基石发展的基石得以使微电得以使微电子产业高速子产业高速和持续发展和持续发展第26页/共72页SOI(Silicon-On-Insulator:绝缘衬底上的硅绝缘衬底上的硅)技术技术第27页/共72页SOI技术:优
14、点完全实现了介质隔离,彻底消除了体硅CMOS集成电路中的寄生闩锁效应速度高集成密度高工艺简单减小了热载流子效应短沟道效应小,特别适合于小尺寸器件体效应小、寄生电容小,特别适合于低压器件第28页/共72页SOI材料价格高衬底浮置表层硅膜质量及其界面质量SOI技术:缺点第29页/共72页隧穿效应隧穿效应SiO2的性质的性质栅介质层栅介质层Tox1纳米纳米量子隧穿模型量子隧穿模型高高K介质介质?杂质涨落杂质涨落器件沟道区中的杂器件沟道区中的杂质数仅为百的量级质数仅为百的量级统计规律统计规律新型栅结构新型栅结构?电子输运的电子输运的渡越时间渡越时间碰撞时间碰撞时间介观物理的介观物理的输运理论输运理论?
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