ACSM单板及编程.ppt

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1、Make Testing More ValuableMake Testing More Valuable AccoTEST硬件单板及编程硬件单板及编程 -ACSM_PLUSMake Testing More ValuableACSM_PLUSl 特性特性qACS:每模块四通道输出（共享同一交直流信号产生单元）可输出交流信号：正弦波、方波、三角波和锯齿波正弦波输出THD可达-80dB（Vpp=10V，Freq=1.0KHz）qACM:每模块四路交流表（共享同一路AD）高阻抗差分输入低速测试模式200KHz16Bits高速测试模式10MHz12Bits可测量DC、RMS、THD、SNR、SINAD

2、等参数THD测量可达-85dB（正弦波Vpp=10V，Freq=1.0KHz）q工作模式支持4工位并行测试支持乒乓（StationA/StationB）测试Make Testing More ValuableACS Waveform Sine、Square、Triangle、Saw-tooth AC Resolution 16 Bits AC Accuracy 0.1%（Vpp 1V）Output Frequency 0.05 KHz 200.0 KHz Frequency Accuracy 0.01%The Square Wave Duty Ratio Accuracy 0.02%(0.05

3、KHz Freq 0.9KHz)0.005%(0.9KHz Freq 1.1KHz)0.05%(1.1KHz Freq 10KHz)0.1%(10KHz Freq 20KHz)0.25%(20KHz Freq 50KHz)0.5%(50KHz SetTestResult(0,0,adresult0);RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板的交流信号，测量结果为有效值。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。最好采样被测信号的整周期。ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2

4、V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000。*bufACM低速LADC测量模式下，测量结果存放首地址。buf是double类型数组首地址，buf4。Make Testing More ValuableintACMLMeaDutData(inttestvrange,inttestcouple,intsamplenum,double*buf)ACMLMeaDutData(

5、)ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000。*bufACM低速LADC测量模式下，存放数据结果的数组，由用户定义，如：doubleresult2048=0.0;注意：1.Buf数组长度需不小于samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误。2

6、.建议把该数组定义成全局变量。RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板信号，返回所有测量的时域数据。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。Make Testing More ValuableACMLMeaDutData()Exampledoubleresult2048=0.0;acsm0.ACMLMeaDutData(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,result);注意：由于返回的是所有测量数据，因此根据采样点数，数组buf的空间应足够大，四工位的数据都将置于buf数组中。例如，采样点数为1000，四工位测试，则buf定义buf4

7、000。单工位测试，采样数据置于buf0buf999，其他无效。双工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf999，第二工位采样数据置于buf1000buf1999，其他无效。四工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf999，第二工位采样数据置于buf1000buf1999，第三工位采样数据置于buf2000buf2999，第四工位采样数据置于buf3000buf3999，其他无效。ACM_LADCMake Testing More ValuableintACMLMeaDutTHD(inttestvrange,inttestcouple,intsamplenum,intharmnum,i

8、ntharmtype,double*buf)ACMLMeaDutTHD()Exampledoubleadresult4=0.0;acsm0.ACMLMeaDutTHD(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,20,TOTAL_HARM,adresult);/lowspeedmode,sample=2048,20harmonic,readTHDTHD-SetTestResult(0,0,adresult0);RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板正弦波交流信号总谐波失真度。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。ACM_LADCParame

9、tersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合SamplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000harmnumACM低速LADC测量模式下，测量谐波次数，范围：250HarmtypeTOTAL_HARM：总谐波（缺省）ODD_HARM：奇次谐波EVEN_HARM：偶次谐波*bufACM低速LADC测量模式下，测量结果存放首地址。b

10、uf是double类型数组首地址，buf4。Make Testing More ValuableintACMGetFFTResult(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum,double*buf);ACMGetFFTResult()RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板交流信号，测量结果为FFT变换值。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。最好采样被测信号的整周期。ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V

11、,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*bufACM低速LADC测量模式下，存放FFT变换结果的数组，由用户定义，如：doublefft_result2048=0.0;注意：1.Buf数组长度需不小于samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误。2.建议把该数组定义成全局变量。Make Testing More ValuableNote:因ACM的四个通道共享一路AD，因此当多工

12、位测试时，所有工位的测试数据都将保存到buf数组中。因此buf数组的空间应该大于等于“工位数*采样点数”。例如，采样点数为1024，四工位测试，则buf需定义为buf4096。其中：Site1的采样数据置于buf0buf1023；Site2的采样数据置于buf1024buf2047；Site3的采样数据置于buf2048buf3071；Site4的采样数据置于buf3072buf4095；ACM_LADCACMGetFFTResult()Exampledoublefft_result2048=0.0;acsm0.ACMGetFFTResult(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048

13、,fft_result);Make Testing More ValuableintACMGetFFTDataBlackmanHarris(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum);ACMGetFFTDataBlackmanHarris()RemarksACM低速LADC测量模式下，加窗测量用户DUT板交流信号。与函数ACMGetFFTResultBlackmanHarris（）配合使用。ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20

14、V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000Make Testing More ValuableintACMGetFFTResultBlackmanHarris(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum,double*level10,double*window,double*buf);ACMGetFFTResultBlackmanHarris()RemarksACM低速LAD

15、C测量模式下，测量用户DUT板交流信号。测量结果为加窗后FFT变换值以及平均值。与函数ACMGetFFTResultBlackmanHarris（）配合使用。ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*level10ACM低速LADC测量模式下，测量

16、信号平均值存放首地址。level10是double类型数组首地址。*windowACM低速LADC测量模式下，由用户输入窗函数数据存放首地址。窗函数需用户定义。如：doublebhwin2048=0.0;注意：1.window数组长度需不小于samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误。2.建议把该数组定义成全局变量。Make Testing More ValuableACMGetFFTResultBlackmanHarris()Exampledoublelevel4=0.0;doublebhwin2048=0.0;doubleresult2048=0.0;/用户生成窗函数数据doub

17、leq;for(inti=0;iSetTestResult(0,0,adresult0);RemarksACM高速HADC测量模式下，测量用户DUT板交流信号，测量结果为有效值。高速HADC测量是利用12位10MHz的ADC芯片进行采样。最好采样被测信号的整周期。ACM_HADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM高

18、速HADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*bufACM高速HADC测量模式下，测量结果存放首地址。buf是double类型数组首地址，buf4。Make Testing More ValuableintACMHMeaDutData(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum,double*buf);ACMHMeaDutData()ACM_HADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_10

19、0VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合SamplenumACM高速HADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*bufACM高速HADC测量模式下，测量所有数据存放首地址。buf是double类型数组首地址，定义为全局变量。RemarksACM高速HADC测量模式下，测量用户DUT板信号，测量返回所有测量数据。高速HADC测量是利用12位10MHz的ADC芯片进行采样。Example:doubleresult20000=0.0;acsm0.ACMHMeaDutData(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,20000,re

20、sult);Make Testing More ValuableACMHMeaDutData()ACM_HADC注意：由于返回的是所有测量数据，因此根据采样点数，数组buf的空间应足够大，四工位的数据都将置于buf数组中。例如，采样点数为10000，四工位测试，则buf定义buf40000。单工位测试，采样数据置于buf0buf9999，其他无效。双工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf9999，第二工位采样数据置于buf10000buf19999，其他无效。四工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf9999，第二工位采样数据置于buf10000buf19999，第三工位采样数据置于

21、buf20000buf29999，第四工位采样数据置于buf30000buf39999，其他无效。Make Testing More ValuableProgramming Reviews(1)-ACS信号输出信号输出正弦波输出：acsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器delay_ms(1);acsm0.ACSSineConfig(10.0,8.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);/配置acsm0输出Fosc=10.0 KHz，Vpp=8V，Dcoffset=2V的正弦信号,不使用ACS板内滤波器acsm0.EnableACS();delay_ms(1);

22、Make Testing More ValuableProgramming Reviews(1)-ACS信号输出信号输出三角波输出：acsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器delay_ms(1);acsm0.ACSTriangleConfig(10.0,8.0,2.0,NORMAL_TRI);/配置acsm0输出Fosc=10.0KHz，Vpp=8V，Dcoffset=2V的三角波信号acsm0.EnableACS();delay_ms(1);Make Testing More ValuableProgramming Reviews(1)-ACS信号输出信号输出方

23、波输出：acsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器delay_ms(1);acsm0.ACSSquareConfig(10.0,4.0,2.0,0.5);/配置acsm0输出Fosc=10.0KHz，Vpp=4V，Dcoffset=2V，占空比50%的方波信号acsm0.EnableACS();delay_ms(1);Make Testing More Valuable时域图时域图正常波形时域图失真波形时域图在时域波形上可以对波形的频率、波形峰峰值进行分析，得出准确的测试值。Make Testing More Valuable频域图频域图正常波形频域图失真波形频域图

24、在频域波形上可以对波形的SINAD、SNR、THD进行定量的分析。Make Testing More ValuableRMS,THD,SNR,SINAD定义定义RMS：有效值RMS也称为均方根值。正弦量的有效值等于其幅值的 倍。THD：THD定义为总谐波失真，指谐波信号与有用信号功率之比，通常用dB表示。将1KHz信号作用到输入端，THD是在2KHz、3KHz、4KHz等整数频点的输出与1KHz频点输出能量的比。SNR：信噪比。即有用信号与噪声信号功率之比，数值越大，效果越好。通常用dB表示。SINAD：总谐波失真+信噪比。即有用信号与（噪声信号+谐波信号）功率之比。通常用dB表示。注意注意：

25、1.测量RMS，THD，SNR，SINAD时，最好采样被测信号的整周期。2.为快速傅里叶变换(FFT)，采样点数必须是2的整数幂。测量THD，SNR，SINAD时最好采样被测信号的整周期，因此要求输入信号的周期也是2的整数幂。如果条件输入频率f=1KHz，则频率需调整为f=（1000/1024）KHz=0.9765625KHz。如果条件输入频率f=2KHz，则频率需调整为f=（2000/1024）KHz=1.953125KHz。3.测试THD,SNR,SINAD采样点数计算方法：若在200KHz下采样，则采样间隔为5us，对于输入信号1KHz(周期1ms)的信号来说，采样一个周期所需点数为1m

26、s/5us=200，对于THD，SNR，SINAD来说，一般需采样几个整周期，且采样点数为2的整数幂。建议采样5个周期（1024点）或者10个周期(2048点)。Make Testing More ValuableProgramming Reviews(2)-RMS测试测试doubleadresult4=0.0;intsiteID=0;/sinewaveoutput：acsm0.ACSDutConnect();delay_ms(1);acsm0.ACSSineConfig(1,4.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);/sinewave,Fosc=1KHz，Vpp=4V，Dcoffset

27、=2V,NOACSfilteracsm0.EnableACS();delay_ms(2);acsm0.ACMLMeaDutAC(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,1000,adresult);/lowspeedmode,sample=1000（5cycle）,readRMSfor(siteID=0;siteIDSetTestResult(siteID,0,adresultsiteID);Make Testing More ValuableProgramming Reviews(3)-THD测试测试doubleadresult4=0.0;intsiteID=0;/sinewaveoutp

28、ut：acsm0.ACSDutConnect();delay_ms(1);acsm0.ACSSineConfig(0.9765625,4.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);/sinewave,Fosc=0.9765625KHz，Vpp=4V，Dcoffset=2V,NOACSfilteracsm0.EnableACS();delay_ms(2);acsm0.ACMLMeaDutTHD(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,20,TOTAL_HARM,adresult);/lowspeedmode,sample=2048,20harmonic,readTHDfor(sit

29、eID=0;siteIDSetTestResult(siteID,0,adresultsiteID);Make Testing More ValuableProgramming Reviews(4)-加窗加窗THD的测试的测试intsiteID=0;intj=0;intk=0;intsample=2048;doublelevel4=0.0;doublebhwin2048=0.0;doublefft_result9000=0.0;doubleP14=0;doubleP34=0;/sinewaveoutput：acsm0.ACSDutConnect();delay_ms(1);acsm0.ACSS

30、ineConfig(1,4.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);/sinewave,Fosc=1KHz，Vpp=4V，Dcoffset=2V,NOACSfilteracsm0.EnableACS();delay_ms(2);/generateBlackmanHarrisdatadoubleq=0;for(k=0;ksample;k+)q=2*PI*k/sample;/#definePI3.1415926bhwink=0.35875-0.48829*cos(1*q)+0.14128*cos(2*q)-0.01168*cos(3*q);/bhwink=1;Make Testing More

31、 ValuableProgramming Reviews(4)-加窗加窗THD的测试的测试acsm0.ACMGetFFTDataBlackmanHarris(LADC_VR_10V,DC_COUPLE,sample);delay_ms(12);/delaymustbemorethan(sample*intervaltime)acsm0.ACMGetFFTResultBlackmanHarris(LADC_VR_10V,DC_COUPLE,sample,level,bhwin,fft_result);for(siteID=0;siteIDSITENUM;siteID+)/effectivesig

32、nalP1siteID=fft_result10+siteID*sample*fft_result10+siteID*sample;/harmonicsignalfor(j=20;jSetTestResult(siteID,0,P3siteID);/dBMake Testing More ValuableProgramming Reviews(5)-SNR,SINAD测试测试intsample=2048;doublefft_result9000=0;intsiteID=0;intj=0;doubleP14=0;doubleP24=0;doubleP34=0;doubleP44=0;double

33、thd4=0;doublesnr4=0;doublesinad4=0;/sinewaveoutput：acsm0.ACSDutConnect();delay_ms(1);acsm0.ACSSineConfig(0.9765625,4.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);/sinewave,Fosc=0.9765625KHz，Vpp=4V，Dcoffset=2V,NOACSfilteracsm0.EnableACS();delay_ms(2);acsm0.ACMGetFFTResult(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,sample,fft_result);for(siteID=

34、0;siteIDSITENUM;siteID+)/effectivesignalP1siteID=fft_result10+siteID*sample*fft_result10+siteID*sample;Make Testing More Valuable/noisesignal+harmonicsignalfor(j=1;j10;j+)P2siteID=P2siteID+fft_resultj+siteID*sample*fft_resultj+siteID*sample;for(j=11;j201;j+)P2siteID=P2siteID+fft_resultj+siteID*sample*fft_resultj+siteID*sample;/harmonicsignalfor(j=20;jSetTestResult(siteID,0,thdsiteID);/dBSNR-SetTestResult(siteID,0,snrsiteID);/dBSINAD-SetTestResult(siteID,0,sinadsiteID);/dBMake Testing More ValuableMake Testing More Valuable