材料现代分析测试方法-rietveld.ppt
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1、李均钦、刘福生李均钦、刘福生深圳大学材料学院深圳大学材料学院2008.102.6 粉末衍射法测定晶体结构简介(参考资料:梁敬魁,粉末衍射法测定晶体结构,下册,第7、9章)2.6 粉末衍射法测定晶体结构简介 一、引言 物质的晶体结构与其性能密切,测定物质晶体结构一直是材料科学的重要组成部分。在通常情况下,晶体结构主要是用X射线单晶方法测定。但要生长完整的单晶不容易。粉末衍射法测定晶体结构的主要困难在于衍射线的重叠。例如,一个中等复杂的化合物,单晶衍射可能有30005000个数据,粉末衍射只有100200个数据。随着衍射仪精度的提高及计算机的发展,使粉末衍射法测定晶体结构成为可能。现在介绍我们常用
2、的经验方法。2.6 粉末衍射法测定晶体结构简介一、引言粉末衍射法测定晶体结构的主要步骤:1.新相衍射谱的确定。(可以从相图确定)2.衍射谱的指标化,确定晶系、点阵类型及点阵参数。3.单胞原子数、理想分子式和空间群的确定。4.原子参数的确定。5.Rietveld 结构精修。二、单胞理想分子式的确定。2.6 粉末衍射法测定晶体结构简介三、空间群的确定 根据衍射谱的指标化的结果及消光规律,确定晶系、点阵类型、点阵参数及可能的空间群。四、粉末衍射法测定晶体结构的经验方法1.同构型法在无机和金属间化合物中存在许多化学组分不同,但结构相同的化合物,例如:掺杂的固溶体一般具有同样的结构:NaSr4-xBax
3、B3O9(0 x4)具有相似化学式的化合物通常具有相似的结构:YBa2Cu3O7 and NdBa2Cu3O7;但有很多的例外,象 La2CuO4 and Nd2CuO42.6 粉末衍射法测定晶体结构简介四、粉末衍射法测定晶体结构的经验方法1.同构型法同构化合物有相似的X射线衍射谱,如果一个未知化合物的衍射谱与一结构已知的化合物X射线衍射谱相似,我们认为它们有相同的结构:如,YBa2Cu3O7 and NdBa2Cu3O7,我们就可以以已知结构去精修未知结构。2.尝试法假设一个结构模型,使计算的衍射线的强度与实验强度相符合。五、Rietveld结构精修 根据初始的结构模型,计算出衍射图谱,通过
4、与实验图谱进行全谱对比,进一步优化结构模型的方法。结构精确的作用:Lattice Parameters Quantitative phase AnalysisAtomic Positions Grain size,StrainAtomic Occupancy Incommensurate StructureDebye Temperatures CrystallinityMagnetic structures Phase transitionsStructure factors History ReviewRietveld originally introduced the Profile Re
5、finement method(Using step-scanned data rather than integrated Powder peak intensity)(1966,1967)Rietveld developed first computer Program for the analysis of neutron data for Fixed-wavelength diffractometers(1969)Malmos&Thomas first applied the Rietveld refinement method(RR)for analysis of x-ray pow
6、der data collected on a Ginier Hagg focusing Camera(1977)Khattack&Cox first applied the RR to x-ray powder data collected on a diffractometer(1977)Conference on Diffraction Profile Anlysis Sponsored by IUCr in Poland,suggested the term“Rietveld Method”(1978)Wiles and Yang developed a general compute
7、r program(D.B.W)for both x-ray&neutron diffraction data(fixed wavelength)(1981)Von Dreele,Jorgensen and Windsor extended to the program to the neutron diffraction data(1982)Fitch et al,193 refined parameters,UO2 DAs.4D2O(1982)Aminoff Prize,Stockholm,1995“晶体学诺贝尔奖”瑞士皇家科学院 H.M.Rietveld Acta crystallogr
8、.,22,151(1967).H.M.Riveted,J.Appl.Crystallogr.,2,65(1969).Structural model Raw dataRietveld RefinementRefined modelshift原理The RM refines a structure by minimizing a quantity through the Newton-Raphson algorithmwhere,yi is the observed intensity at a certain 2,yc,i is the calculated intensity at the
9、same angle,wi is a weight,we usually take wi=1/yi i=1,2,n =(1 2 p),the parameters to be refined.Given a solution=opt(1,2 p)that approximately satisfy the above equation.To find a better solution,we begin an iterative process by expanding into a Taylor series.Where RELAX is relaxtion factors that are
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