电子陶瓷材料的纳米尺寸效应和纳米技术.pdf
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1、第卷第年期月功能材料与器件学报,文章编号一一一电子陶瓷材料的纳米尺寸效应和纳米技术张道礼,赵岚,徐建梅,胡云香,吕文中华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉中国地质大学材料与化学工程学院,湖北武汉摘要电子陶瓷材料的纳米尺寸效应、纳米技术以及代表纳米特征 的相关特征技术变得日益重要。本文讨论了电子陶瓷材料领域的纳米技术研究进展 以及将来的发展趋势。首先阐述了纳米氧化物陶瓷的尺寸效应,然后讨论纳米结晶陶瓷的制备方法和应用,最后叙述在纳米技术与半导体技术发展中并驾齐驱的集成陶瓷薄膜技术的发展趋势。关键词电子陶瓷材料纳米尺寸效应纳米技术纳米分析中图分类号文献标识码一,一,一,一,。,一,巧,一一引言论
2、纳米结晶陶瓷的制备方法和应用,最后介绍陶瓷纳米规模的尺寸效应已经研究了很长时间,近薄膜的微技术趋势。年来的趋势是利用这种效应,合成由尺寸效应决定性质的陶瓷,这对于块状、厚膜和薄膜陶瓷都适用。电子陶瓷材料的纳米尺寸效应本文首先介绍纳米氧化物陶瓷的尺寸效应,然后讨电子陶瓷领域的各类材料都存在纳米量级的尺收稿日期一一修订日期一一基金项目湖北省自然科学基金资助项目作者简介张道礼一,男,副教授,博士,主要从事光电功能材料与器件、纳米结构及其性能标征,计算材料学的研究一功能材料与器件学报卷寸效应。报道得最多的是离子导 电陶瓷和许多铁性陶瓷 如铁磁、铁电、铁弹性陶瓷的尺寸效应。对纳米尺寸效应 的直接观察是通
3、过纳米分析进行的。离子导电陶瓷 中的纳米尺寸效应些叠层层错是异质结构,其中日一和,一层交替出现,层间距是原子数量级。如果在,边界上存在界面效应,电导率的增加就可用空 间电荷效应解释。、和掺忆错酸盐等纳米晶 中也观察到这种 电导率增加的现象,如图所示。飞拼一、,月”旧困、。占味、丫注已窝、含召一,叮一滋,图掺忆错酸盐纳米晶试样电导率图,长期以来研究人员一直在研究和电导率有关的晶界效应,特别是固态离子化合物。然而,随着对纳米尺寸现象研究的深人,晶界和样品厚度效应变得日益重要。界面的导电性是一种复杂的现象尽管晶界同时阻碍电流的传输,而且与晶粒本身相比,晶界处离子电子 电导率的比率也许不同,但电导率的
4、提高与界面有关。理论上,很早就得出结论假如与德拜长度相 比,试样厚度或晶粒尺寸不大,那么空间电荷区域就会发生干扰,电荷可以完全穿过试样,电导率因此得到提高。最近在工。纳米复合材料中就观察到这种 电导率提高的现象。实验表明在界面上会产生叠层层错的界面结构。这在铁性陶瓷中的纳米尺寸效应随着材料粒度减小,具有可动畴壁铁性材料的特性有显著变化。陶瓷中宏观微粒和 晶粒有复杂的畴结构。当微粒尺寸减到足够小时,微粒为单畴。铁磁性,一刃微粒在约时发生这种转变,与理论估计值吻合。研究铁电微粒时,在聚合物复合材料中,向单畴微粒临界转变的粒度近似为。随着微粒尺寸进一步减小,具有清晰 极化方向的铁 性状 态经历着 向
5、“超顺磁”态的转变,特征是零 自发极化和电滞现象消失,但仍是非线性关系。这种转变与尺寸有关,这时伴随极化的体积自由能的减小是与热能处于同一个量级。对于,一,目前报道的临界尺寸大约为,而对于,发现临界尺寸约为,。微粒尺寸进一步减小将导致非线性特性消失,这时表面效应控制着”顺磁”态。研究人员详细研究过晶粒大小对铁电场陶瓷电容率和相变温度的影 响,图中室 温 下电容率与晶粒尺寸的关系曲线是从不同文献中得到的一。正如在。块状陶瓷中发现的,在平均晶粒尺寸约为时电容率有一个 明显的最大值。显而易见,这个最大值是两种效应叠加的结果在几微米的晶粒以下,由于应力的影响晶粒内部平均电容率会增加在大约以下。的下降可
6、用晶界处 的介质砖墙模型 的“本征死层效应”叮来解释。根据计算,。厚的低电容率层 的。,。值接近。通过高分辨率观察,晶界处没有次级相。本征死层可以用微粒和薄膜表面附近的偶极相互作用的局部场理论解释。此外,等还发现相变温度不依赖于晶粒大小,表明了所用的材料的纯度高。对比细晶块状陶瓷,相同平均晶粒尺寸的伍薄膜的电容率明显要低得多图助。这可以用本征死层效应、应力效应、薄膜 内微结构的影响和化学计量比的影响等综合解释。期张道礼等电子陶瓷材料的纳米尺寸效应和纳米技术八,一,、丫一,一,卜一一们拼哥。一,“砚、人甲一山盆几、嗽淤一一尸右尸,八,一,宜认,一、一,一 飞、一 飞奋飞,、一【丘,、一。州。一碱
7、一,一,。,二图块状 陶瓷及薄膜材料电容率与晶粒尺寸的关系”一气彩不扮卜一日口妇。招阅。国另一类可用纳米尺寸效应解释其不寻常特性的氧化物材料是铁电弛豫体。从年代初,内于弛豫体的大而无电滞的电致伸缩应变可用 于执行器,弛豫体吸引了科学界和工业界的兴趣。由于它们在一个很宽的温度范围内都具有大电容率且烧结温度相对低,因此一也成为有 吸引力的多层 电容器材料。直流偏压下它们有很高的压电系数,因此也是薄厚膜压电器件应用的兴趣所在。最近在铁电驰豫体晶界上取 向晶粒显示 出超过的压电稠合因数电子机械能量转换效率川。这个值比传统压电陶瓷的要高很多,因此最近的研究集中在制备与驰豫铁电单晶特性相似的陶瓷。驰豫行为
8、的原因已研究了年,但微观机制近年才提出来,并且得到了可靠实验数据的支持。驰豫体并没有宏观上的从顺电相到铁电相 的相变,但是它们形成了“失效”的铁电体。驰豫体是复杂的氧化物,“失效”的原因是纳米尺度上组分的不均匀性,导致特殊晶格点上部分位置错位。这种错位阻碍了向铁电相 的宏观转变。实验事实是冷却后在顺电基体中形成了一的铁电区域,而没有形成相应 的宏观铁电相。和离子漂移的中子衍射研究发现了纳米范 围铁电体的证据。在一个宽温度、不同频率、交流 电场和直流偏压下 的电容率可用极性纳米区和顺电基体间的“呼吸”边界模型解释。一些驰豫体如,在强偏压下冷却时会变成铁电体。在另一些弛豫体如,。,在某一温度范围内
9、会显示 出驰巨一一,一一,往,飞拓一“,一一介叮,一,图作为温度函数的电容率的实部 斗豫行为,而进一步冷却后会自发变成铁电体图。驰豫体特殊的介电特 性 是低维铁电区域的结果由于它们的介观尺寸,铁电区是电”柔软”的,所以可以伸缩”呼吸”,相应 的优良性能有很多在宽温度范围内具有高电容率大的电致伸缩效应在偏置场下具有强 的压电、顺电和电光响应。目前薄厚膜驰豫体都在研究之中,迄今为止,膜的特性不如体状陶瓷好。这可能由于束缚或晶格缺陷,使得纳米区域硬化。铁电薄膜在临界厚度以下 的自发极化的消失对功能材料与器件学报卷集成元件十分重要。和详细研究了这种效应和其它制约几何形状的效应”。很明显,膜厚的临界值强
10、烈取决于铁电材料的特性及膜的应力状况,还有退极化效应影 响和本征死层效应。目前报道的最薄的完全铁电开关膜 是用卜技术制备的共聚物薄膜,。对于钙钦矿 型薄膜,可以通过采用在上的异质外延,一 脸。晶格失配膜调整平面应力来改变,这样居里温度会显著升高。铁电薄膜电容器中的矫顽电场。常常随薄膜厚度减小而增加。对普通叠层结构,这个效应特别明显。上述电极界面处绝缘的、非铁电的、低介电常数值本征死层效应不能解释这种现象。虽然,死层导致了电滞回线的切断即永久极化率的下降,但仍保持原来的。值。由于死层 的低电容率,本征死层 中的电场比整个膜的平均电场大得多,因此电场大于闽值肠时,会发生 电极电荷住人,导致了膜中心
11、极化电荷屏蔽,这种效应可解释。与膜厚的依赖关系。此外,这个模型还可解释 由于疲劳影 响,有氧化物电极膜和薄膜对厚度依赖程度下降的原因。薄膜的另一种尺寸效应从用方法在掺杂上沉积和、等反铁电材料中观察到的。在临界厚度以下,膜具有铁电特性,显然与单畴厚度范围内薄膜生长过程中 自极化有关。增加厚度导致了多畴膜的产生,类似于有反铁电特性的块状陶瓷。对于有无额外绝缘层的半导体基底上的铁电膜,由于界面处能带弯曲,从理论上证实了其极化稳定性。部静电场和越过边晶界的电流分析,可以研究表面局部特性。由于目前正在致力于将铁电存储电容器向亚微米级发展,纳米级铁电膜极化反转特性的空间均匀性就成为非常重要的课题。这种尺寸
12、的电容器相当于几个晶粒,所以各个晶粒和亚 晶粒的响应特性都非常重要。扫描力显微技术与反压电效应的原位测量技术结合起来可观察有关极化状态的详细貌特征,得到所需的局部信息。压 电模式中的使用主要是基于由于对导 电探针施加外部交流电压引起铁电薄膜的压 电变化,或者在研究疲劳特性时,在底层电极和表层电极间施加交流电压,一个锁定放大器测定压 电变化的相位和振幅。在疲劳周期中铁电极化反转特性的变化可用来获得疲劳机理的信息。已有报道可以直接观察疲劳发生期间冷冻极化的存在、大小、形状和区域的演变。实验表 明疲劳是遵循“一个区域一个区域”即“开关过程”进行的而不是整个膜的反转极化的逐渐减小,这点对于开发铁电存储
13、器很重要。导 电探针用于局部”写”极化局部畴,研究它们的滞留特性。用这种方法可在外延生长于。单晶基体上的原子级光滑膜上写下成像直径小于,的点。图。,火纳米分析电子陶瓷的功能可以用结构特征技术和电测量技术进行解释。当特征尺寸减小时,局部探针技术必不可少。电子 陶瓷薄膜和纳米晶块状陶瓷中的磁畴和晶界现象的作用表征可用高分辨透射电子显微术和扫描探针显微技术来研究。分析用于 显 示 晶界上低浓度的掺杂和杂质。高分辨率用于观察晶界上原子结构和畴壁。目前探针显微技术已用于同步测定结构有时是原子尺度的以及 电子陶瓷表面的局部特性。用通过对金属和陶瓷间的接触势、晶界局一士口导电探针在原子级光滑膜上成像图纳米粉
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