实验地球化学课件.ppt
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1、实验地球化学实验地球化学Elements:Major Elements Trace Elements Rare Earth Elements(REE)XRF,ICP-AES,IC,HR-ICP-MS Isotopes:Stable IsotopesMAT 252 DELTAplus Radioactive Isotopes Triton TI 基本理论与应用基本理论与应用实验原理与流程实验原理与流程海洋地球化学中心海洋地球化学中心The TRITON in Bremen(at the NEPTUNE Fountain)TRITONblowinghis horn 1970s:1970s:电感耦合
2、等离子体发射光谱:电感耦合等离子体发射光谱:ICP-AES优点:高灵敏度,低检测限,宽动态范围,多元素同时分析优点:高灵敏度,低检测限,宽动态范围,多元素同时分析 缺点:基体的干扰,光谱的干扰缺点:基体的干扰,光谱的干扰 1980s:电感耦合等离子体质谱电感耦合等离子体质谱 Inductively Coupled Plsma-mass Spectrometry HR-ICP-MS(Element II)全世界:全世界:50005000台;台;中国:中国:300300台台 2006.9ICP-MS 的起源与发展的起源与发展 元素质谱分析要求:元素质谱分析要求:1)离子源应能使样品尽可能完全地解离
3、;)离子源应能使样品尽可能完全地解离;2)能产生高产率的单电荷离子,而多原子及双电荷离子的产率尽可能低)能产生高产率的单电荷离子,而多原子及双电荷离子的产率尽可能低 ICP 激发光源特点:激发光源特点:具有高温、高能量;具有高温、高能量;样品的高效率解离;样品的高效率解离;能产生高产率的单电荷离子(离子效率能产生高产率的单电荷离子(离子效率 90););谱线简单;谱线简单;成本低。成本低。重点:样品处理技术及样品引入技术重点:样品处理技术及样品引入技术2006.9ICP-MS 的起源与发展的起源与发展 同位素(同位素(isotopes):35Cl(75.78%)和)和37Cl(24.22%)同
4、质异位素同质异位素(isobars):质子数质子数不同、不同、质量几乎相同的粒子质量几乎相同的粒子 204Pb 与与 204Hg 检测限(检测限(detection limits):空白溶液信号响应的标准偏差空白溶液信号响应的标准偏差 ()的)的3倍所对应的待测元素的浓度倍所对应的待测元素的浓度 仪器仪器检测限:用去离子水检测限:用去离子水方法检测限:用样品整个制备过程空白溶液(包括所有试剂本底,方法检测限:用样品整个制备过程空白溶液(包括所有试剂本底,器皿的污染,样品基体的干扰等)器皿的污染,样品基体的干扰等)ICP-MS 分析中常用的基本概念分析中常用的基本概念 分辨率(分辨率(resol
5、ution):质谱仪将质量接近的离质谱仪将质量接近的离子分开的能力。子分开的能力。ICP-MS 分析中常用的基本概念分析中常用的基本概念 准确度(准确度(accuracy):评价测试值与评价测试值与“真值真值”之间的差别或接近程度之间的差别或接近程度 精密度(精密度(precision):评价分析方法对某一样品多次测量的重复程度:评价分析方法对某一样品多次测量的重复程度:RSDICP-MS 分析中常用的基本概念分析中常用的基本概念No Accuracy-No Precision.Accuracy.Precision.Accuracy and Precision.重现性(重现性(repreata
6、bility)评价分析方法或分析仪器的长期精密度评价分析方法或分析仪器的长期精密度。线性动态范围(线性动态范围(dynamic range)动态范围动态范围:在一次分析中能测定的最高与最低浓度的范围。在一次分析中能测定的最高与最低浓度的范围。线性线性动态范围动态范围:工作曲线呈线性时能涵盖的浓度范围。工作曲线呈线性时能涵盖的浓度范围。ICP-MS 分析中常用的基本概念分析中常用的基本概念 丰度灵敏度丰度灵敏度(aboundance sensitivity)质谱峰质谱峰M用于峰高及峰拖尾现用于峰高及峰拖尾现象而对相邻质谱峰(象而对相邻质谱峰(M+1 与与 M-1)所产生的重叠干扰的大小。所产生的
7、重叠干扰的大小。ICP-MS 分析中常用的基本概念分析中常用的基本概念 质量数范围质量数范围质谱计能够处理的最轻和最重离子之间的质量范围;质谱计能够处理的最轻和最重离子之间的质量范围;与加速电压、磁场强度等的可变范围有关。与加速电压、磁场强度等的可变范围有关。空白溶液(空白溶液(blank solution):方法空白方法空白 试剂空白试剂空白 背景值(背景值(background)代表了仪器的电子噪声、杂散光噪声、随机噪声等的程度。一般代表了仪器的电子噪声、杂散光噪声、随机噪声等的程度。一般在质量数在质量数5及及220处测定。处测定。ICP-MS 分析中常用的基本概念分析中常用的基本概念 定
8、量分析(定量分析(quantitative analysis):应用各种标准品和应用各种标准品和工作曲线等对目标元素的含量等进行精确的浓工作曲线等对目标元素的含量等进行精确的浓 度测定,包括外标校正曲线法、度测定,包括外标校正曲线法、内标校正法、内标校正法、标准加入法和同标准加入法和同 位素稀释法等。位素稀释法等。外标校正曲线法:外标校正曲线法:标样系列及空白在同一基体中配置(标样系列及空白在同一基体中配置(2稀硝酸);稀硝酸);标准曲线是信号响应强度随浓度变化的函数;标准曲线是信号响应强度随浓度变化的函数;通过校正曲线斜率计算未知样品的浓度。通过校正曲线斜率计算未知样品的浓度。内标校正法:内
9、标校正法:用一个元素作为参考点对其它元素的测定进行校正。用一个元素作为参考点对其它元素的测定进行校正。监测和校正信号的短期漂移;监测和校正信号的短期漂移;监测和校正信号的长期漂移;监测和校正信号的长期漂移;校正样品的基体影响校正样品的基体影响ICP-MS 分析中常用的基本概念分析中常用的基本概念 同质异位素重叠干扰:同质异位素重叠干扰:58Fe和和58Ni;40Ca和和40Ar 双电荷干扰(双电荷干扰(doubly charged ions):):88Sr(+2)44Ca 多原子离子多原子离子重叠重叠干扰干扰(polyatomic ions)Ar 等离子体背景分子离子等离子体背景分子离子干扰:
10、干扰:Ar+,ArO+,ArH+,ArC+Ca,Fe,K,Cr,Mg,Se.样品基质分子离子样品基质分子离子干扰干扰:ArClArCl+,ClO,ClO+对对AsAs、V V测定的干扰测定的干扰ICP-MS 分析技术的干扰分析技术的干扰 (interference)质谱干扰质谱干扰ICP-MS 分析技术的干扰分析技术的干扰 (interference)溶液中溶解或未溶解的固体产生的物理效应溶液中溶解或未溶解的固体产生的物理效应 被测物的抑制和增强效应被测物的抑制和增强效应 样品盐度:样品盐度:0.10.2时,才可保证仪器的长期稳定时,才可保证仪器的长期稳定ICP-MS 分析技术的干扰分析技术的
11、干扰 (interference)非质谱干扰:基体效应非质谱干扰:基体效应 电源波动电源波动 电子元器件噪声电子元器件噪声 等离子体放电噪声等离子体放电噪声 样品引入方式样品引入方式 样品的基体效应样品的基体效应ICP-MS的稳定性(的稳定性(stability of plasma)质谱仪的四个组成部分质谱仪的四个组成部分:均须抽真空至均须抽真空至10-6 10-9mmHg 进样系统进样系统 inlet system离子源离子源 ion source质量分析器质量分析器 mass analyzer离子检测器离子检测器 ion detector进样系统进样系统 inlet system分子流:分
12、子的自由路径长,气体颗粒互不影响分子流:分子的自由路径长,气体颗粒互不影响粘性气体流:分子的自由路径短,分子间碰撞频粘性气体流:分子的自由路径短,分子间碰撞频繁而使气体混合均匀,不会发生质繁而使气体混合均匀,不会发生质量分离(量分离(mass seperation)离子源离子源 ion source 中中性性原原子子或或分分子子被被电电离离成成离离子子,然然后后经经过过高高压压电电场场加加速速并并通通过过一一系系列列夹夹缝缝使使之之形形成成具具有有一一定定速速度度和和形形状状的的离离子子束束,以进入磁分析器进行质量偏转分离。以进入磁分析器进行质量偏转分离。离子源的种类按离子产生方式主要有:离子
13、源的种类按离子产生方式主要有:电子轰击:电子轰击:MAT252MAT252表面热电离:表面热电离:TIMSTIMS火花源等离子体:火花源等离子体:ICPICPMSMS光离子化光离子化二次离子化二次离子化质量分析器质量分析器 mass analyzer 磁分析器目的是把不同质量的离子分开。磁分析器由精心设计的电磁铁和置于其间的 离子飞行金属管道组成。所设计的电磁铁的两极的形状和位置保证磁 力线垂直于离子运动方向。离子检测器离子检测器 ion detector 当离子通过磁场,分离后的离子收集在当离子通过磁场,分离后的离子收集在离子检测器中,在离子检测器中,在此转化成电子脉冲,接着进入此转化成电子
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- 实验 地球化学 课件
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