《测试技术与信号处理》实验指导书.pdf
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1、实验指导书实验项目名称:测试装置动态特性的测量实验项目性质:综合性所属课程名称:测试技术实验实验计划学时:2 一实验目的1了解差动变压器式位移传感器的工作原理2掌握测试装置动态特性的测试3掌握 m-k-c二阶系统动态特性参数的影响因素二实验容和要求1.差动变压器式位移传感器的标定2弹簧振子二阶系统的阻尼比和固有频率的测量三实验主要的仪器设备和材料该实验需要的主要仪器设备有:弹簧振子实验台、计算机、采集卡、电源。1弹簧振子实验台弹簧振子实验台的原理如图1 所示,主要由弹簧k、质量振子m、阻尼器 c、传感器、台架、振子位置调节器等组成。阻尼器由阻尼薄片和介质阻尼及传感器铁心运动副组成,更换不同面积
2、的阻尼薄片和介质,可获得不同的阻尼系数。实验台为一典型的m-k-c 二阶系统,系统的传递函数为21()G smscsk(1)系统的无阻尼固有频率为nkm(2)系统的无因次阻尼比为2cmk(3)系统的有阻尼固有频率21dn(4)2测量原理1)原理根据测量出的弹簧振子欠阻尼二阶系统的阶跃响应曲线来求系统图 1 弹簧振子实验台弹簧 k 振子 m 传感器台架阻尼 c USB 数据采集仪计算机调节器的动态特性:固有频率n和阻尼比。关于该方法的详细说明可参见教材。2)实验步骤先将质量振子偏离平衡,具有一定的初始位移,然后松开。该二阶系统在初始位移的作用下,产生一定的输出,位移传感器采集到系统的输出并传输给
3、计算机,该输出曲线如图2 所示。该输出是由初始状态引起的,可称之为零输入响应,也可看作是由初始位置到零的阶跃响应。(1)求有阻尼固有频率d阶跃响应的振荡频率为系统的有阻尼固有频率d。根据图 2 中的曲线的振荡周期,可测得2ddT(5)(2)求阻尼比利用任意两个超调量iM和i nM可求出其阻尼比,n 是该两个峰值相隔的某一整周期数。计算公式为图 2 欠阻尼二阶系统的阶跃响应Td Td M1 M2 M3 22224nnn(6)其中lnini nMM(7)当0.3时,可采用下面的简化公式ln2iinMMn(8)(3)求无阻尼固有频率n计算出有阻尼固有频率d、阻尼比之后,根据公式(4)可求出系统的固有
4、频率n21dn(9)(4)求弹簧的刚度和振子组件的质量振子组件主要由振子、滑杆、振子位置调节器、阻尼片、传感器连接杆等组成。利用已知质量的U 型质量块,求出弹簧的刚度K。mgKx(10)式中,m 为 U 型质量块的质量,x为将 U 型质量块叠放在振子上之后弹簧长度的变化量。求出系统的无阻尼固有频率n和弹簧刚度K 之后,就可以根据公式得出振子组件的质量mz,2znKm(11)3系统的组成质量振子在平衡位置的振动位移由计算机实现自动采集。计算机采集系统的原理框图如图3 所示。(1)差动变压器该系统利用差动变压器位移传感器来检测质量振子的位移。差动变压器的工作原理参见教材及传感器的说明书。该位移传感
5、器的测量围为 60mm,满量程输出为 10V 直流电压信号。其工作电源为 12V 直流电源。该位移传感器的电缆线由4 根线组成,红色的接+12V 电源,绿色线接-12V 电源,白色线为地线,兰色线为信号线。(2)USB7325A 数据采集仪USB7325A 数据采集仪可同时采集16 路信号,但面板上只接出了其中 10个通道。可选用其中任何一个通道来采集位移传感器的输出。USB7325A 数据采集仪接受差动变压器输出的 10V 围的模拟直流电压信号,在采集仪的部进行A/D 转换之后,将得到的数字量电压信号通过 USB 接口发送给计算机。(3)计算机及实验软件差动变压器质量振子台架+12V(红)-
6、12V(绿)地线(白)信号线(兰)USB 数据采集仪(A/D)12V 直流电源计算机图 3 计算机数据采集系统框图USB 运行于计算机的实验软件可实现实验数据的自动采集、保存、显示和处理等。实验软件可实现采集通道的选择和采集速度等设置。计算机采集得到的是差动变压器输出的电压信号,而我们需要的是位移信号。因此,在实验软件里,将采集得到的电压信号除以传感器的灵敏度 S 后,即可得到质量振子的位移信号。4系统参数的说明zm:质量振子组件(包括振子、水平滑杆、阻尼器)的质量,具体数值未知。1um:1 号 U 型质量块(长度约为40mm),其质量约为 mu1=130 克(无标注)或 mu1=115克(有
7、标注)2um:2 号 U 型质量块(长度约为60mm),其质量约为 mu2=210 克。1K:1 号弹簧(刚度小、直径约为12mm)的刚度,具体数值未知。2K:2 号弹簧(刚度大、直径约为10mm)的刚度,具体数值未知。1c:阻尼器放在空气中时系统的阻尼,具体数值未知。2c:阻尼器放在水中时系统的阻尼,具体数值未知。四、实验程序的操作(1)启动实验软件“测试装置动态特性测试.exe”。(2)用鼠标单击屏幕上“采集”框“采样设置”按钮,进行实验软件的参数设置,如采样频率和所选用的数据采集仪的采用通道、传感器的灵敏度等。(3)单击“采集”框的“开始采样”按钮,启动数据采集,传感器输出的电压信号被实
8、时采集到计算机里并以数字和曲线的形式显示在屏幕上。(4)利用振子位置调节器,调整振子的平衡位置,使传感器的输出接近为零。(5)用手将振子往下拉,使其偏离平衡位置一定距离后松手,振子将会振动起来。实验指导书实验项目名称:虚拟仪器(Labview)上机实验实验项目性质:综合性所属课程名称:测试技术实验实验计划学时:2 一、实验目的1掌握 LabView 的编程和上机调试;2了解热电偶温度传感器和应变片式力传感器的工作原理、特点和应用;3掌握温度和压力的测量。二、实验容和要求1LabView 的编程和调试、运行;2利用 LabView 实现温度和压力的测量。三、实验主要仪器设备和材料本实验的主要仪器
9、设备有:虚拟仪器开发平台LabView8.2,机械转子系统,USB 数据采集卡,热电偶温度传感器,应变片式力传感器,计算机。四实验方法和步骤(7325A 采集卡)(一)温度测量编程与调试。说明:一个完整的VI 程序包括程序前面板和程序框图两大部分。简单的采集过程为:打开采集卡初始化读取采集结果。1、启动LabView8.2 编程环境。从开始程序National Instruments LabVIEW 8.2或者双击桌面快捷图标。2、新建温度测试VI。在 LabView8.2 开始界面左上角文件新建栏,单击 VI。则生一对空白的前面板和框图窗口。如图示:3、在框图面板中放置顺序结构。方法:在框图
10、面板任意空白位置单击右键,弹出函数选择框,单击选中编程结构层叠式顺序结构,在框图中空白处单击以确定顺序结构放置的坐上角点,向右下拖动鼠标,再次单击以确定顺序结构放置的右下角点,可以通过拖动边框来改变结构位置和大小(类似结构放置方法一样)。在边框上单击右键,选中弹出菜单中的“在后面添加帧”项。这样操作两次后,就生成了具有三帧的层叠式顺序结构,编号依次为0、1、2。如图示:4、创建参数传递簇。在前面板空白处单击右键,在控件选择菜中单击选中新式数组、矩阵簇,放置于前面板,双击标签“簇”,修改为 BS。选中新式数值数值输入控件,放置于刚才创建的簇中,并更改数值控件标签为lIndex。右键单击数值控件,
11、在弹出的菜单中,选中表示法I32(长整型)。按照同样的方法在簇BS 中创建其余五个数值控件,数据类型均为 I32(长整型),标签分别为:lIndex、hHandle、nCh、lData、plData、lCode,输入初值分别为:0、0、6、512、0、1536。在前面板创建打开结果的数值显示控件,标签设置为“打开”,数据类型为I32(长整型)。建好后的 BS 簇如图示:建好簇 BS 后,在程序框图中将簇BS 图标拖到顺序结构外面,“打开”显示控件放在顺序结构里。5、打开采集设备程序。选择顺序结构的第0 帧为当前工作帧(可参照第3 步的图示,前面打钩的为当前工作帧)。在空白处单击右键,在弹出的程
12、序选中菜单中选中选择,通过弹出的选种对话框选择D:/labview上机实验/Open7325A.VI,置于顺序结构的第0 帧。用鼠标单击,连接簇 BS 端子和 Open7325A 子 VI 的输入端子,Open7325A子 VI 的输出端子和“打开”显示控件。如图示:6、初始化采集设备程序。切换到顺序结构的第1 帧。在前面板创建“初始化”显示控件,数据类型为I32(长整型)。用与上述类似的方法加载Init7325A.VI,其路径为:D:/labview上机实验/Init7325A.VI,并连线至如图所示:7、读数、处理程序。要连续地从采集卡中读取数据就必须将整个读数和数据转换程序放置在循环结构
13、中。切换至顺序帧的第2 帧,并创建“读数”显示控件,数据类型为I32(长整型)。在程序菜单中选中编程结构While循环,置于第二帧中(中间留出较大空间)。在 While 循环,调用 Read7325A.VI。连接簇 BS 和子 VI。在程序选择菜单中选择编程簇与变体按名称解除捆绑,与簇 BS 连接,单击该解绑函数,选择所要的元素lData。选择编程数组初始化数组,在编程数值数值常数,改常数值为2048。连线至图示。选择编程数值商与余数、除、乘、减函数和常数,并按图示连接。选择编程数组抽取一维数组,放置好后,拖动其下边框使得其有十个输出端子,输出数据从第六路引出(温度采集为第六通道)。选取编程数
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