X射线衍射实验技术.ppt
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1、现代材料研究方法X射线粉晶衍射实验技术汤云晖技术指标lX射线发生部 3kW,CPU控制l测角仪 2,联动,或2 独立 l测量角度的重现性 0.001()l扫描角度范围 -6163(2),-180180()X射线粉晶衍射仪射线粉晶衍射仪岛津岛津XRD-7000型型 X射线粉晶衍射仪射线粉晶衍射仪l基本组成X光管测角仪探测器计算机系统X光管测角仪样品台探测器什么是什么是X射线?射线?X射线是波长射线是波长(0.01(0.01100100)的电的电磁波。磁波。nm m mm cm m km波波长长()()X射线射线可可见见光光微波微波无线电波无线电波紫外紫外线线红红外外线线 射线射线金属靶金属靶高压
2、电源-X射线射线热电子热电子X射线管射线管 真空中,用高电压加速熱电子轰击金属靶时,产生X射线。X射线的产生射线的产生特特征征射线发射线发生生的机制的机制主要主要靶金属的靶金属的特征特征X射线射线波波长长()靶靶 2 1 Cr2.2942.290 2.085Fe1.9401.9361.757Co1.7931.7891.621Cu1.5441.5411.392Mo0.71350.7093 0.6323Ag 0.5638 0.5594 0.4970W 0.21880.2090 0.1844布拉格方程布拉格方程布拉格定律 晶体是由许多平行的原子面组成的,晶体是由许多平行的原子面组成的,X X射线衍射
3、可以看作是原子面对入射线衍射可以看作是原子面对入射线的反射射线的反射。在。在X X射线照射到的原子面中所有原子的散射波在原子面反射方射线照射到的原子面中所有原子的散射波在原子面反射方向上的相位是相同的,是干涉加强的方向。向上的相位是相同的,是干涉加强的方向。X 射线在晶体中的衍射从从平行平行样品表样品表面面的的晶粒晶晶粒晶格面格面,观察,观察到衍射到衍射X射线。射线。入射入射X射线射线无衍射无衍射X射线。射线。单晶多晶入射入射X射线射线衍射仪工作原理 由X射线管发射出的X射线照射到试样上产生衍射现象,用辐射探测器接收衍射线的X线光子,经测量电路放大处理后在显示或记录装置上给出精确的衍射线位置、
4、强度和线形等衍射数据。这些衍射数据作为各种实际应用问题的原始数据。和和22角可以根据需要单独驱动或自动匹配连动角可以根据需要单独驱动或自动匹配连动和和 22角一般以角一般以1 1:2 2的角速度联合驱动的角速度联合驱动测角仪的扫描范围:正向测角仪的扫描范围:正向22可达可达165165,负向可达,负向可达-100-100,22角角测量的绝对精度为测量的绝对精度为0.020.02,重复精度为,重复精度为0.0010.001内容l衍射仪知识衍射仪知识l实验操作实验操作lPDF卡片与物相鉴定卡片与物相鉴定lX衍射应用衍射应用l软件介绍:软件介绍:Pcpdfwin,Jade样品要求 测试样品,可以为粉
5、末,或是块状、板状、片状、丝状,或是带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状。l粉末样品:一般要求0.5g,至少20mg(视密度和衍射能力而定),粒度要求100m(200-400目)。l块状样品:要求具有一个面积小于1.8cm X 1.8cm 的平面,无应力和织构。l薄膜样品:要求长、宽小于1.8cm。测试条件l扫描范围:常规20-80度l扫描方式:连续扫描-扫描速度快,工作效率高。进行全扫描测量,一般选用此法。测量精度受扫描速度和时间常数的影响。步进扫描-每步停留的测量时间较长,测量精度很高,适合作各种定量分析,扫描精度取决于步进宽度和步进时间。l狭缝宽度 (入射狭缝、防散射狭缝、接收狭缝)
6、DS SS 1度,RS 0.30mml扫描速度 2-5度/min(连续模式),0.6度/step(步进模式)l步长 0.02度/stepl检查仪器是否正常。l打开电源总闸。l依次打开循环冷凝水电源开关及面板开关,控制一定的循环水温度。l打开X-射线衍射仪主机电源开关,Power灯亮。l打开计算机进入Pmgr程序。l鼠标单击,打开三个工作窗口:系统参数窗口 测试条件设置窗口 测试窗口开机测试l制样,压片。要求样品表面应平整,样品槽外清洁。l打开主机门,将样品片插入主机的样品座中,关上机门。l输入样品名称、测试条件。l点击Start,开启X-射线管高压,机身左下面板中X-rays on指示灯亮,开
7、始对样品进行扫描。l测试完毕,X-射线管自动关闭。l重复操作进行下一个样品的测试。1.测试结束,退出Pmgr程序。注意:本着先开后关的原则依次关闭程序窗口。2.依次关闭主机电源及循环水电源,操作完毕。切记X-rays on指示灯灭后15分钟方可关闭。关机注意事项1.开关门时要轻开轻关,避免震动;2.测试过程中切忌打开或试图打开机门;一定要在X-射线管自动关闭后,即X-rays on指示灯灭后,才可开启机门;3.切记X-rays on指示灯灭后15分钟方可关闭主机电源及循环水电源;4.注意室内通风;测量部分测量部分原始数据原始数据处理处理检索检索匹配匹配定量定量计算计算高级的数据处理高级的数据处
8、理标准配置标准配置选购软件选购软件操作界面操作界面测测量条件量条件扫描模式选择:Continuous Scan-连续模式 Fixed Scan-步进模式扫描范围步长扫描速度计数时间管电压管电流DS入射狭缝SS防散射狭缝RS接收狭缝测量测量窗口窗口测量完成,数据自动以文件形式记录下来。原始数据处理原始数据处理。平平 滑滑扣本底扣本底扣扣K 2 寻寻 峰峰系统误系统误差校正差校正峰位峰位校正校正测试图谱2强度 I单位-Count CPS测试条件Cu靶(X射线波长1.5406埃),管电压40kV,管电流30mA测量范围:10-80度,步长:0.02度;计数时间:0.24秒 入射狭缝DS1.00度,防
9、散射狭缝SS1.00度,接收狭缝0.30mm衍射峰数据衍射峰数据,包括衍射角度2、对应的面网间距d、衍射强度I/I1,半高宽FWHM,强度、积分强度。I/I1以最强峰为100,其余峰强度与之相比乘以100。三三强强峰峰所所有有衍衍射射峰峰数数据据列列表表原始数据:.txt文件数据分为两列:衍射角度2Theta-衍射强度I。注意:这是原始数据,包括K1和K 2 衍射在内测试条件X光管Cu靶,管电压40kV,管电流30mA狭缝入射狭缝DS1.00度,防散射狭缝SS1.00度,接收狭缝0.30mm扫描测量范围:10-80度扫描模式:持续扫描步长:0.02度计数时间:0.24秒内容l衍射仪知识衍射仪知
10、识l实验操作实验操作lPDF卡片与物相鉴定卡片与物相鉴定lX衍射应用衍射应用l软件介绍:软件介绍:pcpdfwin,Jade在材料科学领域,相是指具有特定结构和性能的物质状态。材料中原子的排列方式决定了晶体的相结构,原子排列方式的变化导致了相结构的变化。在一种材料中可以同时存在几种相;同种材料在不同条件下可以不同的相存在。例如,一种材料,用化学分析方法知道由铁和氧元素组成,但不能知道是氧化铁FeFe2 2O O3 3还是氧化亚铁FeOFeO,或者是磁铁F F3 3O O4 4,或者是它们的混合物混合物,只能用X射线衍射方法来确定。特别要指出的是,所谓相,不是指化学元素,X射线衍射不能分析出材料
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- 关 键 词:
- 射线 衍射 实验 技术
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