北航电力电子实验报告.docx
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1、电力电子试验报告学号12031006姓名王自然试验一功率场效应晶体管MOSFET 特性与驱动电路争辩试验目的:1. 生疏 MOSFE 主要参数的测量方法2. 把握 MOSEE 对驱动电路的要求3. 把握一个有用驱动电路的工作原理与调试方法 二.试验设备和仪器1. NMCL-07 电力电子试验箱中的 MOSFE 与 PWM 波形发生器局部2. 双踪示波器3. 安培表试验箱自带PWM发生波形主电路图 2-2 MOSFE 试验电路4. 电压表使用万用表的直流电压档三.试验方法1. MOSFE 主要参数测试1开启阀值电压 V测试GSth开启阀值电压简称开启电压,是指器件流过肯定量的漏极电流时通常取漏极
2、电流 l =1mA 的最小栅源极电压。D在主回路的“ 1”端与 MOS 管的“25”端之间串入毫安表箱上 自带的数字安培表表头,测量漏极电流 ID ,将主回路的“ 3”与“ 4” 端分别与 MOST 的“ 24”与“23”相连,再在“24”与“23”端间接 入电压表,测量 MOSf 的栅源电压 Vgs,并将主回路电位器 RP 左旋到底,使 Vgs=0。将电位器 RP 渐渐向右旋转,边旋转边监视毫安表的读数,当漏极电流 l =1mA 寸的栅源电压值即为开启阀值电压 V。DS th)读取 67 组 I 、 Vgs,其中 l =1mA 必测,填入下表中DDlD(mAVg(V)0.22.640.515
3、5002.722.863.041003.502003.633.89双极型晶体管(GTR 通常用 h (B )表示其增益,功率 MOSFET 器件以跨导 gFEFs表示其增益。跨导的定义为漏极电流的小变化与相应的栅源电压小变化量之比,即 g =I / VoFsDGS留意典型的跨导额定值是在 1/2 额定漏极电流和=15V 下测得, 受条件限制,“s试验中只能测到 1/5 额定漏极电流值,因此重点是把握 跨导的测量及计算方法。依据上一步得到的测量数值,计算 gFS=0.0038QI D (mAVgs (V)0.22.640.52.7212.8653.04103.131003.52003.63500
4、3.89gFs0.0038 ( ).0036 0.222 0.05 560.2432 0.7692 1.1538(3) 导通电阻 R) S 测试DD导通电阻定义为 F=V/ISSD将电压表接至 MOS 管的“25”与“23”两端,测量 U其余接线 同上。转变 V 从Ds,Gs小到大读取 I 与对应的漏源电压 V测量 6 组数D值,填入下表中DS,ID(mA00.511050100200500VDS(V)14.7814.7714.7514.4613.6412.4810.363.74600a. 在主回路的“ 3”端与 MOS 管的“ 23”端之间串入安培表, 主回路的“ 4”端与 MOS 管的“2
5、5”端相连,在 MOS 管的“ 23”与“25”之间接入电压表,将 RP 右旋转到底,读取 对 I 与DV 的值。sDIVD=28.0mASD=0.58Vb. 将主回路的“ 3”端与 MOS 管的“ 23”端断开,在主回路“ 1”端与 MOSI 的“23”端之间串入安培表,其余接线与 测试方法同上,读取另一对 I 与 V的值。DSDIVD=648mASD=C。 72Vc. 将“ 1”端与“ 23”端断开,在在主回路“ 2”端与“ 23”端 之间串入安培表,其余接线与测试方法同上,读取第三对I 与 V 的值。DSDIVD=674mAsD=0.72V2. 快速光耦 6N137 输入、输出延时时间的
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