无机材料科学基础第三章晶体结构缺陷课件.ppt
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1、第三章第三章 晶体结构缺陷晶体结构缺陷总总 述述前前面面章章节节都都是是就就理理想想状状态态的的完完整整晶晶体体而而言言,即即晶晶体体中中所所有有的的原原子子都都在在各各自自的的平平衡衡位位置置,处处于于能能量量最最低低状状态态。然然而而在在实实际际晶晶体体中中原原子子的的排排列列不不可可能能这这样样规规则则和和完完整整,而而是是或或多多或或少少地地存存在在离离开开理理想想的的区区域域,出出现现不不完完整整性性。正正如如我我们们日日常常生生活活中中见见到到玉玉米米棒棒上上玉玉米米粒粒的的分分布布。通通常常把把这这种种偏偏离离完完整整性性的的区区域域称称为为晶晶体体缺缺陷陷(crystal de
2、fect,crystalline imperfection)。位错实验观测位错实验观测(dislocation.mpg)图图为为透透射射电电子子显显微微镜镜下下观观察察到到不不 锈锈 钢钢 316L(00Cr17Ni14Mo2)316L(00Cr17Ni14Mo2)的位错线与位错缠结的位错线与位错缠结完整不一定精彩完整不一定精彩 缺憾也是一种美缺憾也是一种美!总述总述 1、缺陷产生的原因、缺陷产生的原因热震动热震动 杂质杂质 2、缺陷定义缺陷定义实际晶体与理想晶体相比有一定程度实际晶体与理想晶体相比有一定程度的偏离或不完美性,的偏离或不完美性,把两种结构发生把两种结构发生偏离的区域叫缺陷。偏离
3、的区域叫缺陷。3、研究缺陷的意义、研究缺陷的意义导电、半导体、发色(色心)、导电、半导体、发色(色心)、发光、扩散、烧结、固相反应发光、扩散、烧结、固相反应。(材料科学的基础)(材料科学的基础)4、缺陷分类缺陷分类点缺陷、线缺陷、面缺陷点缺陷、线缺陷、面缺陷 3.1 缺陷的类型缺陷的类型 分类方式:分类方式:几何形态几何形态:点缺陷、线缺陷、面缺陷等:点缺陷、线缺陷、面缺陷等形成原因形成原因:热缺陷、杂质缺陷、非化学计量缺陷:热缺陷、杂质缺陷、非化学计量缺陷等等 晶体结构缺陷的含义:晶体结构缺陷的含义:晶体点阵结构中周期性势场的畸变。晶体点阵结构中周期性势场的畸变。Ideal crystal:
4、质点严格按照空间点阵排列。:质点严格按照空间点阵排列。Actual crystal:存在各种各样的结构不完整性。:存在各种各样的结构不完整性。缺陷对材料性能的影响缺陷对材料性能的影响:导电性、颜色、发光、材料高温动力学过程导电性、颜色、发光、材料高温动力学过程一、按缺陷的几何形态分类一、按缺陷的几何形态分类 1.点缺陷(点缺陷(point defect)2.线缺陷(线缺陷(line defect)3.面缺陷(面缺陷(face defect)4.体缺陷(体缺陷(body defect)晶体中的点缺陷晶体中的点缺陷(a)空位空位(b)杂质质点杂质质点(c)间隙质点间隙质点2.线缺陷(一维缺陷)线缺
5、陷(一维缺陷)指在一维方向上偏离理想晶体周期性、规则性指在一维方向上偏离理想晶体周期性、规则性排列所产生的缺陷排列所产生的缺陷,即缺陷尺寸在一维方向较长,即缺陷尺寸在一维方向较长,另外二维方向上很短。另外二维方向上很短。如:各种如:各种位错(位错(dislocation)。线缺陷的产生及运动与材料的韧性、脆性密切线缺陷的产生及运动与材料的韧性、脆性密切相关。相关。3.面缺陷(面缺陷(二维缺陷)二维缺陷)指在二维方向上偏离理想晶体周期性、规则指在二维方向上偏离理想晶体周期性、规则性排列而产生的缺陷性排列而产生的缺陷,即缺陷尺寸在二维方向,即缺陷尺寸在二维方向上延伸,在第三维方向上很小。上延伸,在
6、第三维方向上很小。如:如:表面表面、晶界晶界、堆积层错堆积层错、镶嵌结构镶嵌结构等。等。面缺陷的取向及分布与材料的断裂韧性有关。面缺陷的取向及分布与材料的断裂韧性有关。面缺陷堆积层错面缺陷堆积层错面心立方晶体中的抽出型层错面心立方晶体中的抽出型层错(a)和插入型层错和插入型层错(b)4.体缺陷(三维缺陷)体缺陷(三维缺陷)指在局部的三维空间偏离理想晶体的周指在局部的三维空间偏离理想晶体的周期性、规则性排列而产生的缺陷期性、规则性排列而产生的缺陷。如如第二相粒子团第二相粒子团、空位团空位团等。等。体缺陷与物系的分相、偏聚等过程有关。体缺陷与物系的分相、偏聚等过程有关。1.热缺陷热缺陷 指由于指由
7、于热起伏热起伏所产生的空位或间隙质点(原子所产生的空位或间隙质点(原子或离子),亦称为或离子),亦称为本征缺陷本征缺陷。热起伏热起伏:指能量的不均衡,质点中总有一部分高能:指能量的不均衡,质点中总有一部分高能质点能够克服周围质点对它的束缚而跃迁;质点能够克服周围质点对它的束缚而跃迁;热缺陷的产生和复合始终处于一种热缺陷的产生和复合始终处于一种动态平衡动态平衡。2.杂质缺陷杂质缺陷(固溶体)(固溶体)是由外加杂质的引入所产生的缺陷,亦称为是由外加杂质的引入所产生的缺陷,亦称为组成组成缺陷缺陷或或非非本征缺陷本征缺陷。特征:特征:若杂质含量在固溶体溶解度范围内,则杂质缺陷浓若杂质含量在固溶体溶解度
8、范围内,则杂质缺陷浓度与温度无关,只与杂质含量有关。度与温度无关,只与杂质含量有关。杂质缺陷对材料性能的影响:杂质缺陷对材料性能的影响:微量杂质缺陷会极大改变基微量杂质缺陷会极大改变基质晶体的物理性质,如:导电性、发光、颜色等,研究质晶体的物理性质,如:导电性、发光、颜色等,研究和利用这种缺陷的作用原理,对固溶体形成、材料改性、和利用这种缺陷的作用原理,对固溶体形成、材料改性、制备性能优越的固体器件等具有十分重要的意义。制备性能优越的固体器件等具有十分重要的意义。3.非化学计量缺陷非化学计量缺陷(非化学计量化合物非化学计量化合物)指组成上偏离化学中的定比定律所形成的缺陷。指组成上偏离化学中的定
9、比定律所形成的缺陷。实质:实质:由基质晶体与介质中某些组分发生交换而由基质晶体与介质中某些组分发生交换而产生,如产生,如TiO2-x、Fe1-xO、Zn1+xO等晶体中的等晶体中的缺陷。缺陷。特点特点:其化学组成和缺陷浓度随周围其化学组成和缺陷浓度随周围气氛性质气氛性质及及分压大小分压大小而变化,是一种半导体材料。而变化,是一种半导体材料。指质点排列的周期性未破坏,但因电子指质点排列的周期性未破坏,但因电子或空穴的产生,使周期性势场发生畸变而或空穴的产生,使周期性势场发生畸变而产生的缺陷。产生的缺陷。由能带理论,非金属固体具有价带、禁由能带理论,非金属固体具有价带、禁带或导带。温度接近带或导带
10、。温度接近0K时,其价带中电子时,其价带中电子全部排满,导带中全空。若价带中电子获全部排满,导带中全空。若价带中电子获得足够能量跃过禁带进入导带,则导带中得足够能量跃过禁带进入导带,则导带中的电子、价带中的空穴使晶体势场畸变而的电子、价带中的空穴使晶体势场畸变而产生电荷缺陷。产生电荷缺陷。4.电荷缺陷电荷缺陷电荷缺陷电荷缺陷 5.辐照缺陷辐照缺陷 指材料在辐照之下所产生的结构不完整性指材料在辐照之下所产生的结构不完整性。辐照可以使材料内部产生各种缺陷,如辐照可以使材料内部产生各种缺陷,如色心色心(color center)、)、位错环位错环等。等。核能利用、空间技术以及固体激光器的核能利用、空
11、间技术以及固体激光器的发展使材料的辐照效应引起人们的关注。发展使材料的辐照效应引起人们的关注。3.23.2 点缺陷点缺陷 一、类型一、类型 A A 根据对理想晶体偏离的根据对理想晶体偏离的几何位置几何位置来分,来分,有三类有三类空空 位位填填 隙隙 原原 子子杂杂 质质 原原 子子正常结点位置没有被质点占据,称为正常结点位置没有被质点占据,称为空空位位。质点质点进入间隙位置成为进入间隙位置成为填隙原子填隙原子。杂质原子进入晶格(结晶过程中混入或加杂质原子进入晶格(结晶过程中混入或加入,一般不大于入,一般不大于1,)。,)。进入进入间隙位置间隙位置间隙杂质原子间隙杂质原子正常结点正常结点取代(置
12、换)杂取代(置换)杂质原子质原子。固固溶溶体体B B 根据产生缺陷的原因分根据产生缺陷的原因分热热 缺缺 陷陷 杂杂 质质 缺缺 陷陷 非化学计量结构缺陷(电荷缺陷)非化学计量结构缺陷(电荷缺陷)热缺陷热缺陷:当晶体的温度高于绝对:当晶体的温度高于绝对0K时,由时,由于晶格内原子热运动,使一部分能量较大的于晶格内原子热运动,使一部分能量较大的原子离开平衡位置造成的缺陷。原子离开平衡位置造成的缺陷。(1)热缺陷类型)热缺陷类型 1)弗仑克尔缺陷)弗仑克尔缺陷(Frenkel defect)1926年由年由Frenkel发现发现并提出。并提出。形成机制形成机制:正常晶格质点跃入间隙位,在:正常晶格
13、质点跃入间隙位,在原晶格结点则出现空位。见图原晶格结点则出现空位。见图。特点特点:空位和间隙质点成对出现;:空位和间隙质点成对出现;晶体体积不发生改变。晶体体积不发生改变。2)肖特基缺陷)肖特基缺陷(Schottky defect)1934年由年由Schotteky发现发现并提出并提出。形成机制:形成机制:质点跃迁至表面形成新的结点,而质点跃迁至表面形成新的结点,而在晶体内部留下空位。见图在晶体内部留下空位。见图。特点特点:晶体中只有空位;:晶体中只有空位;正离子空位与负离子空位成对出现;正离子空位与负离子空位成对出现;晶体体积增大,晶格常数变化。晶体体积增大,晶格常数变化。Schottky缺
14、缺 陷陷 的的 产产 生生上(3)点缺陷形成与晶体结构的关系)点缺陷形成与晶体结构的关系晶体结构中空隙较小,且正、负离子半径相晶体结构中空隙较小,且正、负离子半径相差较小差较小 肖氏缺陷肖氏缺陷 如,如,NaCl型:型:NaCl、MgO、CaO等。等。晶体结构中空隙较大,且正、负离子半径相晶体结构中空隙较大,且正、负离子半径相差较大差较大 弗氏缺陷弗氏缺陷 如,金属晶体中:简单立方、体心立方;如,金属晶体中:简单立方、体心立方;离子晶体中:离子晶体中:CaF2型结构。型结构。Schttky缺陷的形成能量小,缺陷的形成能量小,Frankel 缺陷的缺陷的形成能量大,因此对于大多数晶体来说,形成能
15、量大,因此对于大多数晶体来说,Schttky 缺陷是主要的。缺陷是主要的。从形成缺陷的能量来分析从形成缺陷的能量来分析 (4)点缺陷对结构和性能的影响点缺陷对结构和性能的影响 点点缺缺陷陷引引起起晶晶晶晶格格格格畸畸畸畸变变变变(distortion(distortion of of lattice),lattice),能能量升高,结构不稳定,易发生转变。量升高,结构不稳定,易发生转变。点缺陷的存在会引起性能的变化:点缺陷的存在会引起性能的变化:(1)(1)物理性质、物理性质、如如V V、等;等;(2)(2)力力学学性性能能:采采用用高高温温急急冷冷(如如淬淬火火 quenching),que
16、nching),大大 量量 的的 冷冷 变变 形形(cold(cold working),working),高高 能能 粒粒 子子 辐辐 照照(radiation)(radiation)等等方方法法可可获获得得过过饱饱和和点点缺缺陷陷,如如使使屈屈服服强强度度S S提高;提高;(3)(3)影影响响固固态态相相变变,化化学学热热处处理理(chemical(chemical heat heat treatment)treatment)等等。(5)热缺陷与晶体的离子导电性热缺陷与晶体的离子导电性 纯净纯净MX晶体晶体:只有本征缺陷(即热缺陷):只有本征缺陷(即热缺陷)能斯特爱因斯坦(能斯特爱因斯坦(
17、Nernst-Einstein)方程:)方程:式中式中 D 带电粒子在晶体中的扩散系数;带电粒子在晶体中的扩散系数;n 单位体积的电荷载流子数,即单位体单位体积的电荷载流子数,即单位体 积的缺陷数。积的缺陷数。下标下标c、a 阳离子、阴离子阳离子、阴离子 综上所述,晶体的综上所述,晶体的离子电导率离子电导率取决于晶体取决于晶体中中热缺陷热缺陷的多少以及的多少以及缺陷在电场作用下的漂缺陷在电场作用下的漂移速度移速度的高低或的高低或扩散系数扩散系数的大小。通过控制的大小。通过控制缺陷的多少可以改变材料的导电性能。缺陷的多少可以改变材料的导电性能。2 杂质缺陷杂质缺陷概念概念杂质原子进入晶体而产生的
18、缺陷。原子进入杂质原子进入晶体而产生的缺陷。原子进入晶体的数量一般小于晶体的数量一般小于0.1%。种类种类间隙杂质间隙杂质 置换杂质置换杂质特点特点杂质缺陷的浓度杂质缺陷的浓度与温度无关与温度无关,只决定于溶解度只决定于溶解度。存在的原因存在的原因本身存在本身存在 有目的加入有目的加入(改善晶体的某种性能改善晶体的某种性能)3 非化学计量结构缺陷(电荷缺陷非化学计量结构缺陷(电荷缺陷)存在于非化学计量化合物中的结构缺陷,化合物化学存在于非化学计量化合物中的结构缺陷,化合物化学组成与周围环境组成与周围环境气氛气氛有关;不同种类的离子或原子数之比有关;不同种类的离子或原子数之比不能用简单整数表示。
19、如:不能用简单整数表示。如:;非化学计量缺陷非化学计量缺陷电荷缺陷价带产生空穴价带产生空穴导带存在电子导带存在电子附加附加电场电场周期排列不变周期排列不变周期势场畸变周期势场畸变产生电荷缺陷产生电荷缺陷二、缺陷化学反应表示法二、缺陷化学反应表示法 用一个主要符号表明缺陷的种类用一个主要符号表明缺陷的种类 用一个下标表示缺陷位置用一个下标表示缺陷位置 用一个上标表示缺陷的有效电荷用一个上标表示缺陷的有效电荷 如如“.”表示有效正电荷表示有效正电荷;“/”表示有效负电荷表示有效负电荷;“”表示有效零电荷。表示有效零电荷。用用MX离子晶体离子晶体为例(为例(M2;X2 ):):(1)空位空位:VM
20、表示表示M原子占有的位置,在原子占有的位置,在M原子移走后出现的空位;原子移走后出现的空位;VX 表示表示X原子占有的位置,在原子占有的位置,在X原子移走后出现的空位。原子移走后出现的空位。1.常用缺陷表示方法:(常用缺陷表示方法:(Kroger-Vink符号符号)把离子化合物看作完全由离子构成(这里不考虑化学键性质),则在 NaCl晶体中,如果取走一个Na+晶格中多了一个e,因此VNa 必然和这个e/相联系,形成带电的空位写作写作同样,如果取出一个Cl,即相当于取走一个Cl原子加一个e,那么氯空位上就留下一个电子空穴(h.)即(2)填隙原子填隙原子:用下标:用下标“i”表示表示 Mi 表示表
21、示M原子进入间隙位置;原子进入间隙位置;Xi 表示表示X原子进入间隙位置。原子进入间隙位置。(3)错放位置)错放位置(错位原子):(错位原子):MX 表示表示M原子占据了应是原子占据了应是X原子正常所处的平衡位置,不表示原子正常所处的平衡位置,不表示 占据了负离子位置上的正离子。占据了负离子位置上的正离子。XM 类似。类似。(4)溶质原子)溶质原子(杂质原子):(杂质原子):LM 表示溶质表示溶质L占据了占据了M的位置。如:的位置。如:CaNa SX 表示表示S溶质占据了溶质占据了X位置。位置。(5)自由电子及电子空穴自由电子及电子空穴:有些情况下,价电子并不一定属于某个特定位置的原子,在光、
22、电、热有些情况下,价电子并不一定属于某个特定位置的原子,在光、电、热的作用下可以在晶体中运动,原固定位置称的作用下可以在晶体中运动,原固定位置称次自由电子次自由电子(符号(符号e/)。同)。同样可以出现缺少电子,而出现样可以出现缺少电子,而出现电子空穴电子空穴(符号(符号h.),它也不属于某个特定的它也不属于某个特定的原子位置。原子位置。(6)带电缺陷)带电缺陷不同价离子之间取代如不同价离子之间取代如Ca2+取代取代Na+Ca Na Ca2+取代取代Zr4+Ca”Zr(7)缔合中心缔合中心 在晶体中除了单个缺陷外,有可能出现邻近两个缺陷在晶体中除了单个缺陷外,有可能出现邻近两个缺陷互相缔合,把
23、发生互相缔合,把发生 缔合的缺陷用小括号表示,也称缔合的缺陷用小括号表示,也称复合缺陷复合缺陷。在离子晶体中带相反电荷的点缺陷之间,存在一种有在离子晶体中带相反电荷的点缺陷之间,存在一种有利于缔合的库仑引力。利于缔合的库仑引力。如:在如:在NaCl晶体中,晶体中,2 书写点缺陷反应式的规则书写点缺陷反应式的规则 (1)位置关系)位置关系:对于对于计量化合物计量化合物(如(如NaCl、Al2O3),),在缺陷反应式中在缺陷反应式中作为作为溶剂溶剂的晶体所提供的的晶体所提供的位置比例应保持不变位置比例应保持不变,但每类位置,但每类位置总数可以改变。总数可以改变。例:例:对于对于非化学计量化合物非化
24、学计量化合物,当存在气氛不同时,原子之间的比,当存在气氛不同时,原子之间的比例是改变的。例是改变的。例:例:TiO2 由由 1:2 变成变成 1:2x (TiO2x )K:Cl=2:2 (2)位置增殖位置增殖 形成形成Schttky缺陷时缺陷时增加了位置数目增加了位置数目。能引起能引起位置增殖位置增殖的缺陷:空位的缺陷:空位(VM)、错位、错位(VX)、置换杂、置换杂质原子质原子(MX、XM)、表面位置、表面位置(XM)等。等。不发生不发生位置增殖的缺陷位置增殖的缺陷:e/,h.,Mi,Xi ,Li等。等。当表面原子迁移到内部与空位复合时,则减少了位置数当表面原子迁移到内部与空位复合时,则减少
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