AD转换技术的发展历程及其趋势15205.pdf
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1、 A/D转换电路的外特性研究以及A/D转换技术的发展历程和趋势 学院:专业:学号:学生:指导教师:目录 1 引言.3 2 A/D 转换器的发展历史.3 3 A/D 转换技术的发展现状.3 3.1 全并行模拟/数字转换.4 3.2 两步型模拟/数字转换.4 3.3 插值折叠型模拟/数字转换.5 3.4 流水线型模拟/数字转换.6 3.5 逐次逼近型模拟/数字转换.7 3.6 -模拟/数字转换.8 4 A/D 转换器的比较与分类.9 5 A/D 转换技术的发展趋势.10 A/D转换电路的外特性研究以及A/D转换技术的发展历程和趋势 1 引言 随着电子产业数字化程度的不断发展,逐渐形成了以数字系统为
2、主体的格局。A/D 转换器作为模拟和数字电路的接口,正受到日益广泛的关注。随着数字技术的飞速发展,人们对A/D 转换器的要求也越来越高,新型的模拟/数字转换技术不断涌现。本文主要介绍了当前几种常用的 A/D 转换技术;并通过对数字技术发展近况的分析,探讨了 A/D 转换技术未来的发展趋势。2 A/D 转换器的发展历史 计算机、数字通讯等数字系统是处理数字信号的电路系统。然而,在实际应用中,遇到的大都是连续变化的模拟量,因此,需要一种接口电路将模拟信号转换为数字信号。A/D 转换器正是基于这种要求应运而生的。1970 年代初,由于 MOS 工艺的精度还不够高,所以模拟部分一般采用双极工艺,而数字
3、部分则采用 MOS 工艺,而且模拟部分和数字部分还不能做在同一个芯片上。因此,A/D 转换器只能采用多芯片方式实现,成本很高。1975 年,一个采用 NMOS 工艺的 10 位逐次逼近型 A/D 转换器成为最早出现的单片A/D 转换器。1976 年,出现了分辨率为 11 位的单片 CMOS 积分型 A/D 转换器。此时的单片集成 A/D 转换器中,数字部分占主体,模拟部分只起次要作用;而且,此时的 MOS 工艺相对于双极工艺还存在许多不足。1980年代,出现了采用 BiCMOS 工艺制作的单片集成 A/D 转换器,但是工艺复杂,成本高。随着 CMOS 工艺的不断发展,采用 CMOS 工艺制作单
4、片 A/D 转换器已成为主流。这种 A/D 转换器的成本低、功耗小。1990年代,便携式电子产品的普遍应用要求 A/D 转换器的功耗尽可能地低。当时的 A/D 转换器功耗为 mW 级,而现在已经可以降到 W 级。A/D 转换器的转换精度和速度也在不断提高,目前,A/D 转换器的转换速度已达到数百 MSPS,分辨率已经达到 24 位。3 A/D 转换技术的发展现状 通常,A/D 转换器具有三个基本功能:采样、量化和编码。如何实现这三个功能,决定了 A/D 转换器的电路结构和工作性能。A/D 转换器的类型很多,下面介绍几种目前常用的模拟/数字转换技术。3.1 全并行模拟/数字转换 全并行 A/D
5、转换器的结构如图1所示。它的工作原理非常简单,模拟输入信号同时与2N-1个参考电压进行比较,只需一次转换就可以同时产生 n 位数字输出。它是迄今为止速度最快的 A/D 转换器,最高采样速率可以达到500MSPS。但是,它也存在很多不足。首先,硬件开销大,其功耗和面积与分辨率呈指数关系;其次,结构重复的并行比较器之间必须要精密匹配,任何失配都会造成静态误差。而且,这种A/D 转换器还容易产生离散和不确定的输出,即所谓的“闪烁码”。所以,全并行 A/D 转换器只适用于分辨率较低的情况。图1 N 位全并行 A/D 转换器结构框图 减小全并行 A/D 转换器的输入电容和电阻网络的级数是提高其性能的关键
6、。为了达到这一目的,采用了各种新技术,如将全并行结构与插值技术相结合,可降低功耗和面积,从而可使全并行 A/D 转换器进行更高精度的模拟/数字转换。Lane C.设计了一个10位60MSPS 转换速率的全并行 A/D 转换器,通过运用插值技术,将比较器的数目从 1023个减小到512个,大大节省了功耗和面积。3.2 两步型模拟/数字转换 两步型 A/D 转换器的结构如图2所示。首先,由一个粗分全并行 A/D 转换器对输入进行高位转换,产生 N1位的高位数字输出,并将此输出通过数字/模拟转换,恢复为模拟量;然后,将原输入电压与此模拟量相减,对剩余量进行放大,再送到一个更精细的全并行模拟/数字转换
7、器进行转换,产生 N2位的低位数字输出;最后,将这两个 A/D 转换器的输出并联,作为总的数字输出。与全并行 A/D 转换器相比,此种类型的 A/D 转换器虽然转换速度降低了,但是节省了功耗和面积,解决了全并行 A/D 转换器中分辨率提高与元件数目剧增的矛盾。因此,两步型A/D 转换器可用于10位以上的模拟/数字转换,但是,它对剩余量放大器的要求很高,剩余量必须被放大到充满第二个 A/D 转换器的输入模拟量围,否则,会产生非线性和失码。另外,第一级 A/D 转换器和 D/A 转换器的建立时间及精度是限制两步型 A/D转换器工作速度的一个重要因素,如果建立时间不充分,势必导致转换结果出现误差,所
8、以,大多数两步型 A/D 转换器都采用了数字校正技术来改善这一问题。Razavi,B.和 Wooley,B.A.采用校正技术研制的两步型 A/D 转换器,其第一级比较器的建立时间只需10ns,失调电压可达到5mV,转换速度高达5MSPS,分辨率为12位。图2 两步型 A/D 转换器的结构框图 3.3 插值折叠型模拟/数字转换 折叠结构如图3所示,其基本原理就是通过一个特殊的模拟预处理(图3中的阴影部分)产生余差电压,并随后进行数字化,获得最低有效位(LSB),最高有效位(MSB)则通过与折叠电路并行工作的粗分全并行 A/D 转换器得到,几乎在对信号采样的同时,对余差进行采样。图3 折叠结构框图
9、 图3中,折叠电路的传输函数是理想情况,实际电路很难实现。所以,一般的折叠结构都具有非线性,但其过零点处的非线性为0。若只考虑这些过零点,则 Vin 与 Vrj 之差的极性可以被正确确定,再采用插值的办法产生额外的过零点来解决低位。这就是插值折叠的基本思想,它既利用了折叠特性,又不带来额外的非线性。各种新技术的运用,使插值折叠型 A/D 转换器的性能不断提高。这里介绍两种新技术:电流式插值系统和级联结构。用电阻实现的电压式插值器,其精度受到电阻匹配度的限制,而在电流式插值器中,信号是由电流幅度表示的,其精度更高,而且更适合在低电源电压下工作。Li,Y-C 等人通过在细量化通路上采用电流模式信号
10、处理技术来降低电压摆幅,获得了具有300MSPS 转换速度、60MHz 输入信号带宽、7位分辨率的 A/D 转换器。另一种改进方法就是采用级联结构。在无需增加并行输入级和细分 A/D 转换器中比较器数目的条件下,级联结构可将转换 精度提高到8位以上。Vorenkamp,P.等人设计的 12位插值折叠型 A/D 转换器采用三步式级联结构,其中,3位粗分量化,3位中分量化,6位细分量化。该A/D 转换器只需50个比较器,转换速度为60MSPS。3.4 流水线型模拟/数字转换 流水线型 A/D 转换器是对两步型 A/D 转换器的进一步扩展,其结构如图4所示。它将一个高分辨率的 n 位模拟/数字转换分
11、成多级的低分辨率的转换,然后将各级的转换结果组合起来,构成总的输出。每一级电路由采样/保持电路(S/H)、低分辨率 A/D 转换器、D/A 转换器、减法器和可提供增益的级间放大器组成。图4 流水线型 A/D 转换器结构框图 这种类型的 A/D 转换器具有以下优点:每一级的冗余位优化了重叠误差的纠正,具有良好的线性和低失调;每一级都具有各自独立的采样保持放大器,因此允许流水线各级同时对多个采样进行处理,从而提高了转换速度;分辨率相同的情况下,电路规模及功耗大大降低。但它也存在一些缺点:复杂的基准电路和偏置结构;输入信号必须穿过数级电路,造成流水延迟;同步所有输出需要严格的锁存定时;对工艺缺陷和印
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