D-PAK封装器件焊接大面积气泡改善的研究.pdf
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1、D-PAK 封装器件焊接大面积气泡改善的研究 一、焊接问题 法国客户用 X-RAY 检测产品 PCBA,发现 MOSFET 器件 D 极焊盘有大面积气泡。而对于空洞大小与器件温升之间的数值关系,查到一篇论文功率器件无铅焊料焊接层可靠性研究,从文中可以得出以下结论:A、空洞率对芯片表面温度及器件热阻有显著影响,不同的空洞的相对位置对芯片表面温度以及器件热阻的影响较小,不同位置热阻的变化小于1%。B、随着空洞率的增加,热阻也增加。当空洞率为 5%时,热阻的增加较小(1.06%);当空洞率为 20%时,热阻明显增加,6.53%;当空洞率为 79%时,热阻的增加达到 27.18%。C、随着空洞率的增加
2、,器件表面温度增加,当空洞率为 5%时,器件表面的最高温度只增加 0.8;当空洞率为 20%时,器件表面温度增加大约 5.1;当空洞率为 79%时,器件表面温度增加达到 27.2.因此对于孔洞(气泡)率的控制是此类封装元件的关键点,于是提出关于大面积散热焊盘焊接可靠性分析的问题讨论。主要以D-PAK封装为主做相关分析实验。二、原因分析 业界对于球栅阵列元器件焊点(比如:BGA)和波峰焊焊点气孔的产生关注研究较多,对于气孔大小也有相应的检验标准,而对于贴片元件在IPC 标准中没有体现,MOSFET 的 D 极焊盘及其它贴片元件的 D 极焊盘因具有极地及散热功能,开始被设计者门重视其散热效果是否良
3、好,因此很多客户开始要求这类焊接的面积也要达到 75%以上,有的行业甚至要求达到 90%以上。目前也开始有些文章开始讨论此类问题的解决分析方案,但直到现在还是没有一个很好的方案能过完全解决这类元件的气泡问题,而这篇文章只是将我们得到的工艺验证的心得和大家一起分享,希望能帮大家解决此问题。开始在我们产品上此类焊盘的焊接面积只能达到75%-80%,但是我们的客户要求是 90%以上,而且单个气泡的面积小于 5%,因此为了达到此要求我们做分析。焊盘底部产生空洞的直接原因分析有以下方面:1、助焊剂挥发不充分导致(回流挥发形成气泡)2、焊接面氧化物残留导致(界面杂质残留)3、器件、PCB 潮湿,回流中潮气
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