P-009-009MSA 量测系统分析.ppt
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1、MSA量测系统分析大纲一、量测系统的由来二、量测系统的统计特性二、量测系统的统计特性三、量测数据变异的类型三、量测数据变异的类型四、符合四、符合MSAMSA量测设备标示量测设备标示五、注意事项五、注意事项一、量测系统的由来在在ISO/TS16949ISO/TS16949标准中标准中,提供了一种量测系统分析方法提供了一种量测系统分析方法(Measurement Systems AnalysisMeasurement Systems Analysis),简称简称MSA,MSA,是是ISO/TS16949ISO/TS16949标准的五大手册之一标准的五大手册之一 量测系统量测系统:测量系统是用来对被
2、测特性定量测量或定测量系统是用来对被测特性定量测量或定 性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合;夹具、软件、人员、环境和假设的集合;用来用来 获得测量结果的整个过程。获得测量结果的整个过程。1.1.目的目的:为验证产品符合需求为验证产品符合需求,应运用适当的统计研究应运用适当的统计研究,藉以分析量测及试验设备系统的变异藉以分析量测及试验设备系统的变异,特定此特定此 办法办法.2.2.范围范围:适用于管制计划里所列的量测系统适用于管制计划里所列的量测系统.(对应对应 SPC)SPC)所采用的分析方法和允收准则应符合顾所采用的
3、分析方法和允收准则应符合顾 客量测系统分析参考手册的规定。客量测系统分析参考手册的规定。3.3.时机时机:当客户要求时当客户要求时,新产品、新设备新产品、新设备导入时、仪导入时、仪 器校正有问题时、量测手法改变时,每年选器校正有问题时、量测手法改变时,每年选 择择客户管制特性量测用量具客户管制特性量测用量具时,应评估量测时,应评估量测 系统,确保量测系统的适用性,安排于设备系统,确保量测系统的适用性,安排于设备 校正后执行。校正后执行。我们在量测某一个产品时我们在量测某一个产品时,是由检验者持检验设是由检验者持检验设备以规定的方法对产品作量测动作备以规定的方法对产品作量测动作.所以所以MSAM
4、SA就是检就是检验法、检验设备、规定方法及产品的组合。验法、检验设备、规定方法及产品的组合。二、量测系统的统计特性二、量测系统的统计特性1、量测系统均须在统计管制下,而其所产生量测系统均须在统计管制下,而其所产生 之变异应根源于共同原因,而非特殊原之变异应根源于共同原因,而非特殊原因。因。2、量测系统之差异须相对小于生产制程之量测系统之差异须相对小于生产制程之差异。差异。3、量测系统之最小刻度须相对小于产品制程量测系统之最小刻度须相对小于产品制程 变异或规格界限之较小者。变异或规格界限之较小者。量测过程量测过程:标准:标准:零件:零件:仪器:仪器:人:人/程序程序:环境:环境SW IPE量测量
5、测数数值值分析分析输入输入输出输出可接受可接受可能可接受可能可接受须改善须改善量量 测测 系系 统统分析分析 在了解量测系统后,接着就是要知道什么是量测系统分析在了解量测系统后,接着就是要知道什么是量测系统分析.所所谓量测系统分析就是分析并了解下列情形谓量测系统分析就是分析并了解下列情形这个量测系统是否具有足够的解析力。解析力就是所用的量这个量测系统是否具有足够的解析力。解析力就是所用的量 具系统,是否能够有效的侦测出制程的变异具系统,是否能够有效的侦测出制程的变异.例如一个产品的外例如一个产品的外径为径为5.405.40 0.03,0.03,若你使用一个最小刻度为若你使用一个最小刻度为0.0
6、10.01的量具来量测这个的量具来量测这个尺寸的话尺寸的话,则称为解析力不足则称为解析力不足.量具系统是否会因为时间之变化而产生不稳定之现象量具系统是否会因为时间之变化而产生不稳定之现象.量测的误差是否在可允许的范围内?量测的误差是否在可允许的范围内?解析力:解析力:仪器仪表对输入值微小变化的响应能力仪器仪表对输入值微小变化的响应能力(最小(最小刻度刻度/分辨率)分辨率)。三、量测数据变异的类型三、量测数据变异的类型(1)(1)偏倚偏倚 (Bias)(Bias)(2)(2)稳定性稳定性(Stability)(Stability)(3)(3)线性线性 (Linearity)(Linearity)
7、(4)(4)重复性重复性(Repeatability)(Repeatability)(5)(5)再现性再现性(Reproducibility(Reproducibility)(6)(6)重复性重复性+再现性再现性=GRR=GRR(7)Kappa(7)Kappa(计数型计数型)(1)偏倚偏倚(Bias)偏倚偏倚(Bias):通常被称为准确性,但准确性:通常被称为准确性,但准确性有多种解释,故有不同涵盖意思。有多种解释,故有不同涵盖意思。偏倚是指对相同零件上量测多次所得平偏倚是指对相同零件上量测多次所得平 均值均值与与基准值基准值之之间的间的差异。差异。偏移偏移=平均值平均值-基准值基准值 VT:
8、基准值(可由较高等级量:基准值(可由较高等级量 具多次量测之平均值)具多次量测之平均值)VA:量测平均值:量测平均值(至少(至少10次)次)偏倚偏倚(Bias)VA量测平均值量测平均值VT造成过大偏倚的可能原因:造成过大偏倚的可能原因:F 仪器需要校正;仪器需要校正;F 线性误差;线性误差;F 基准的磨损或损坏,基准偏差;基准的磨损或损坏,基准偏差;F 不适当的校正或使用基准设定;不适当的校正或使用基准设定;F 仪器质量不良设计或符合性;仪器质量不良设计或符合性;F 仪器、设备或夹具磨损;仪器、设备或夹具磨损;F 使用了错误的量具;使用了错误的量具;F 不同的测量方法作业准备、加载、夹紧、技巧
9、;不同的测量方法作业准备、加载、夹紧、技巧;F 量测的特性不对;量测的特性不对;F 变形变形(量具或零件量具或零件);F 环境温度、湿度、振动、清洁;环境温度、湿度、振动、清洁;F 错误的假设,应用的参数不对错误的假设,应用的参数不对F 应用零件数、位置、操作者技能、疲劳、观测误差应用零件数、位置、操作者技能、疲劳、观测误差(易读性、易读性、视差视差)。(2)稳定性稳定性(Stability)稳定性稳定性(Stability):又称漂移:又称漂移(Drift),指经过一段长,指经过一段长 期时间下,用相同的量测系统标期时间下,用相同的量测系统标 准,对同一基准或零件的同一特准,对同一基准或零件
10、的同一特 性性,量测所得到的变异。,量测所得到的变异。時間時間造成稳定性的可能原因:造成稳定性的可能原因:F 仪器需要校正,缩短校正周期;仪器需要校正,缩短校正周期;F 仪器、设备或夹具的磨损;仪器、设备或夹具的磨损;F 正常的老化或损坏;正常的老化或损坏;F 维护保养不好空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁;维护保养不好空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁;F 基准的磨损或损坏,基准的误差;基准的磨损或损坏,基准的误差;F 不适当的校正或使用基准设定;不适当的校正或使用基准设定;F 仪器质量不好设计或符合性;仪器质量不好设计或符合性;F 仪器缺少稳健的设计或方法;仪器缺少稳健的设
11、计或方法;F 不同的测量方法作业准备、加载、夹紧、技巧;不同的测量方法作业准备、加载、夹紧、技巧;F 变形变形(量测或零件量测或零件);F 环境变化温度、湿度、振动、清洁;环境变化温度、湿度、振动、清洁;F 错误的假设,应用的参数不对;错误的假设,应用的参数不对;F 应用零件数量、位置、操作者技能、疲劳、观测误差应用零件数量、位置、操作者技能、疲劳、观测误差(易读性、易读性、视差视差)。(3)线性线性(Linearity)线性线性(Linearity):线性是指量具在工作:线性是指量具在工作范范 围内,偏倚量之差异分布状况。围内,偏倚量之差异分布状况。數值數值A數值數值B偏倚偏倚小小偏倚偏倚大
12、大注:注:在量程范围内,偏倚不是基准值的线性函数。不具备线性的测量系统不是合格的,需要校正。观测的平均值 基准值 无偏倚有偏倚造成线性误差的可能原因:造成线性误差的可能原因:F 仪器需要校正,缩短校正周期;仪器需要校正,缩短校正周期;F 仪器、设备或夹具的磨损;仪器、设备或夹具的磨损;F 维护保养不好空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁;维护保养不好空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁;F 基准的磨损或损坏,基准的误差最小最大;基准的磨损或损坏,基准的误差最小最大;F 不适当的校正不适当的校正(没有涵盖操作范没有涵盖操作范圍圍)或使用基准设定;或使用基准设定;F 仪器质量不好设计或
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- P-009-009 MSA 量测系统分析 009 系统分析
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