(精品)锡须试验方案.ppt
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2、了元器件本身可能因为应物理位移,产生锡须现象,对于一些很精密的元件,除了元器件本身可能因为应力导致开裂外,产生的锡须会导致产品的跳火和短路等故障。力导致开裂外,产生的锡须会导致产品的跳火和短路等故障。因此在生产工艺中,对锡须生长的实验就对元件可靠性验证愈发重要。因此在生产工艺中,对锡须生长的实验就对元件可靠性验证愈发重要。Whiskers Seen Right After Plating Incubation period reported in literatures:3 weeks Can be as short as 80 min Very sensitive to current de
3、nsity,especially in the initial stage Whisker growing depends on the stress at the interface of Plating/Base metal地址:苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼;电话:0512-89579031;手机:13013781915;网址:www.cjseti.org 二、锡须试验所用设备回流焊炉回流焊炉回流焊炉回流焊炉温度范围:温度范围:常温+10+280温度波动度:温度波动度:0.5温度均匀度:温度均匀度:2作用:作用:模拟焊接过程中温度应力对材料内应力的激发交变湿热箱交变湿热箱交变湿
4、热箱交变湿热箱温度范围温度范围:-60+170升降温速率升降温速率:0.75/min波动度波动度/均匀度均匀度:0.5/2湿度范围湿度范围:常湿98%R.H湿度波动湿度波动:+2-3%电子扫描显微镜观察电子扫描显微镜观察用来观察物体表面形貌,并对发现的异物进行元素分析。应用范围包括晶圆,封装材料表面的微裂纹观察,断口观察分析,引线键合失效和芯片内部物理缺陷观察分析,锡须量测等。光学显微镜光学显微镜 用立体显微镜或者金相显微镜来对样品进行外观观察,常规可放大几十几千倍地址:苏州市吴中大道1168号国际教育园电子楼;电话:0512-67703240;传真:0512-66552016;网址:www.
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