PIN光电二极管综合实验培训讲学.doc
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1、Good is good, but better carries it.精益求精,善益求善。PIN光电二极管综合实验-PIN光电二极管综合实验仪GCPIN-B实验指导书(V1.0)武汉光驰科技有限公司WUHANGUANGCHITECHNOLOGYCO.,LTD目录第一章PIN光电二极管综合实验仪说明-3-一、产品介绍-3-二、实验仪说明-3-1、电子电路部分结构分布-3-2、光通路组件-4-第二章实验指南-5-一、实验目的-5-二、实验内容-5-三、实验仪器-5-四、实验原理-6-五、实验准备-8-六、实验步骤-8-1、PIN光电二极管暗电流测试-8-2、PIN光电二极管光电流测试-9-3、P
2、IN光电二极管光照特性-9-4、PIN光电二极管伏安特性-10-5、PIN光电二极管时间响应特性测试-10-6、PIN光电二极管光谱特性测试-11-第一章 PIN光电二极管综合实验仪说明一、产品介绍对于以高速响应为目标的光电二极管来说,未来减少p-n节的电容,在p与n之间设计一个i层的高阻抗层结构,即在n型硅片上制作一层低掺杂的高阻层,即i层(本征层)在该层上在形成p层。其工作原理:来自p层外侧的入射光,主要由i层吸收,从而产生空穴和电子。使用元件时要外加反向偏压,以使空穴朝p层移动,而电子朝n层移动,再由两电极流到外电路。PIN硅光电二极管正常工作时,外加反向偏压使整个i层耗尽,i层有接近1
3、00%的量子效率,此外,比通常光电二极管宽的多的i层耗尽层,使得PIN管有小的多的单位面积结电容,因此,PIN管兼有灵敏度和响应速度的优点。但由于i层的存在,PIN型光电二极管的光谱灵敏度在短波方向减弱,使短波限红外,使用于近红外区域是最大灵敏度波长为1um。PIN型光电二极管可用于:电视摄像机等遥控装置、伺服跟踪信号检测器等。它的外形多作成半圆形的塑料透镜,所以其受光方向多为圆形。GCPIN-B型光电PIN光电二极管综合实验仪主要研究PIN光电二极管的基本特性,如光电流、暗电流、光照特性、光谱特性、伏安特性及时间相应特性等,以及这种光敏器件与其他光电器件的应用差别。二、实验仪说明1、电子电路
4、部分结构分布电子电路部分功能说明(1)电压表:独立电压表,可切换三档,200mV,2V,20V,通过拨段开关进行调节,白色所指示的位置即为所对应的档位。“+”“-”分别对应电压表的“正”“负”输入极。(2)电流表:独立电流表,可切换四档,200uA,2mA,20mA,200mA通过拨段开关进行调节,白色所指示的位置即为所对应的档位。“+”“-”分别对应电压表的“正”“负”输入极。(3)照度计电源:红色为照度计电源正极,黑色为照度计电源负极。()直流电源:012V可调,“012V”为直流电源的正极,另一端为负极。()信号测试单元:TP1:与T1直接相连TP2:与T2直接相连TP:光脉冲调制信号测
5、试端注:信号测试单元的GND与直流电源012V不共地。2、光通路组件图1光电二三极管光通路组件功能说明:分光镜:50%透过50%反射镜,将平行光一半给照度计探头,一半给等测光器件,实验测试方便简单,照度计可实时检测出等测器件所接收的光照度。光器件输出端:红色PIN光电二极管“P”极。黑色PIN光电二极管“N”极。第二章实验指南一、实验目的1、学习掌握PIN光电二极管的工作原理2、学习掌握PIN光电二极管的基本特性3、掌握PIN光电二极管特性测试的方法4、了解PIN光电二极管的基本应用二、实验内容1、PIN光电二极管暗电流测试实验2、PIN光电二极管光电流测试实验3、PIN光电二极管伏安特性测试
6、实验4、PIN光电二极管光电特性测试实验5、PIN光电二极管时间响应特性测试实验6、PIN光电二极管光谱特性测试实验三、实验仪器1、光电探测综合实验仪1个2、光通路组件1套3、光照度计1台4、PIN光电二极管及封装组件1套5、2#迭插头对(红色,50cm)10根6、2#迭插头对(黑色,50cm)10根7、三相电源线1根8、实验指导书1本9、示波器1台四、实验原理图5-1PIN光电二极管的结构和它在反向偏压下的电场分布图5-1是PIN光电二极管的结构和它在反向偏压下的电场分布。在高掺杂P型和N型半导体之间生长一层本征半导体材料或低掺杂半导体材料,称为I层。在半导体PN结中,掺杂浓度和耗尽层宽度有
7、如下关系:LP/LN=DN/DP其中:DP和DN分别为P区和N区的掺杂浓度;LP和LN分别为P区和N区的耗尽层的宽度。在PIN中,如对于P层和I层(低掺杂N型半导体)形成的PN结,由于I层近似于本征半导体,有DNDPLPEg因此对于不同的半导体材料,均存在着相应的下限频率fc或上限波长c,c亦称为光电二极管的截止波长。只有入射光的波长小于c时,光电二极管才能产生光电效应。Si-PIN的截止波长为1.06um,故可用于0.85um的短波长光检测;Ge-PIN和InGaAs-PIN的截止波长为1.7um,所以它们可用于1.3um、1.55um的长波长光检测。当入射光波长远远小于截止波长时,光电转换
8、效率会大大下降。因此,PIN光电二极管是对一定波长范围内的入射光进行光电转换,这一波长范围就是PIN光电二极管的波长响应范围。响应度和量子效率表征了二极管的光电转换效率。响应度R定义为R=IP/Pin其中:Pin为入射到光电二极管上的光功率;IP为在该入射功率下光电二极管产生的光电流。R的单位为AW。量子效率定义为:=光电转换产生的有效电子-空穴对数/入射光子数=(IP/q)/(Pin/hf)=R(hf/q)响应速度是光电二极管的一个重要参数。响应速度通常用响应时间来表示。响应时间为光电二极管对矩形光脉冲的响应电脉冲的上升或下降时间。响应速度主要受光生载流子的扩散时间、光生载流子通过耗尽层的渡
9、越时间及其结电容的影响。光电二极管的线性饱和指的是它有一定的功率检测范围,当入射功率太强时,光电流和光功率将不成正比,从而产生非线性失真。PIN光电二极管有非常宽的线性工作区,当入射光功率低于mW量级时,器件不会发生饱和。无光照时,PIN作为一种PN结器件,在反向偏压下也有反向电流流过,这一电流称为PIN光电二极管的暗电流。它主要由PN结内热效应产生的电子一空穴对形成。当偏置电压增大时,暗电流增大。当反向偏压增大到一定值时,暗电流激增,发生了反向击穿(即为非破坏性的雪崩击穿,如果此时不能尽快散热,就会变为破坏性的齐纳击穿)。发生反向击穿的电压值称为反向击穿电压。Si-PIN的典型击穿电压值为1
10、00多伏。PIN工作时的反向偏置都远离击穿电压,一般为1030V。五、实验准备1、实验之前,请仔细阅读光电探测综合实验仪说明,弄清实验箱各部分的功能及拨位开关的意义;2、当电压表和电流表显示为“1”是说明超过量程,应更换为合适量程;3、连线之前保证电源关闭。4、实验过程中,请勿同时拨开两种或两种以上的光源开关,这样会造成实验所测试的数据不准确。六、实验步骤1、PIN光电二极管暗电流测试实验装置原理框图如图5-3所示,但是在实际操作过程中,光电二极管和光电三极管的暗电流非常小,只有nA数量级,因此实验中对电流表的要求较高。本实验中,采用电路中串联大电阻的方法,图5-3中的RL选用RL21=20M
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