集成电路封装与测试课程教学大纲.docx
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1、集成电路封装与测试技术教学大纲课程性质专业选修课课程编号xx417406课程名称集成电路封装与测试技术适用专业电子信息科学与技术先修课程电路、模拟/数字电子技术、模拟/数字集成电路分析与设计、信号与系统总学时32 其中理论 32学时,实验 0学时学分数2一、课程简介本课程是电子信息科学与技术专业的一门专业限选课,是在学生学完电子技术类基 础课程之后,为适应当前社会对集成电路封装与测试技术专业高级人才的培养需求。本课程的目的和任务是熟悉集成电路封装与技术的基本概念,了解集成电路封装 与测试技术的基本知识,了解封装与测试设备,为从事集成电路封装与测试提供必要的 基础知识二、课程教学目标通过本课程的
2、学习,学生应实现如下目标:1、知识目标:了解:集成电路封装与测试的基本概念、封装与测试的目的、相关基本技术。了解 集成电路封装与测试现状以及产业分布。了解集成电路封装与测试的加工过程。掌握:集成电路封装与测试实现方法与仪器设备。集成电路封装与测试流程,减少 寄生参数的增加。2、能力目标:(1)具备集成电路封装与测试设计的能力(2)掌握集成电路封装与测试的设计环境和方法三、课程教学基本要求为了更好地掌握本课程的知识,必须先修C语言设计、电路分析、模拟电子 技术、数字电子技术、信号与系统等课程。四、课程教学模块(或教学内容)与学时分配序号教学模块知识点学时1集成电路芯片封装概述了解:芯片封装的功能
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- 集成电路 封装 测试 课程 教学大纲
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