1、内径千分尺正文.docx

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1、JJG中华人民共和国国家计量检定规程JJGXXXX-XXXX内径千分尺Internal Micrometers（征求意见稿）xxxx-xx-xx 发布xxxx-xx-xx 实施国家质量监督检验检疫总局发布4. 12校对用的卡规工作尺寸偏差和两工作面的平行度校对用的卡规工作尺寸偏差和两工作面的平行度应符合表3的规定。表3校对用的卡规工作尺寸偏差和两工作面的平行度mm工作尺寸工作尺寸偏差平行度50 和 750. 0020. 0021000. 0030. 0031500. 0040. 0042500. 0040. 0045通用技术要求1外观首次检定的内径千分尺及其校对用的卡规均不应有碰伤、锈蚀、镀层

2、脱落等外 观缺陷，刻线应清晰、平直、均匀、无断线。电子数显装置的数字显示屏应透明、 清洁、无划痕和气泡等影响读数的缺陷。内径千分尺上应刻有出厂编号、厂名或商标。后续检定及使用中检查的内径千分尺及校对用的卡规允许有不影响使用准确 度的外观缺陷。内径千分尺测量头球面中心不应明显偏离测量轴心线。内径千分尺必须附有组合尺寸的选用表。5.2各部分相互作用微分筒在全部工作行程内往返转动时必须灵活、平稳、无卡滞和摩擦现象，无 手感觉到的径向摆动和轴向窜动，测微头锁紧装置的作用应可靠。各接长杆装卸应灵活，连接要可靠，无手感觉到的晃动。接长杆内的量杆接触 应良好，移动应灵活。数显内径千分尺数字显示应清晰、完整及

3、无闪跳现象；各工作按钮应灵活可靠。6计量器具控制计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检查。5. 1检定条件检定内径千分尺的室内温度和受检内径千分尺在检定前放置在室内平衡温 度的时间，应符合表4的规定。被检内径千分尺和校对用的卡规若放置在室内的 金属平板上平衡温度时，其平衡温度时间应符合表4的规定。6.2检定项目和检定设备内径千分尺的检定项目和主要检定器具列于表5。表4检定内径千分尺室内温度及室内平衡温度时间表5检定项目和主要检定器具一览表内径千分尺的尺寸 范围L /mm检定室内温度/室内平衡温 度的时间/h金属平板上平 衡温度的时间/h检定时的温度 变化/(/h)内径千分尺校对用卡规50

4、 L W800203202420. 5800 L 1 600202420. 51 600 L W3 000201630.33 000 L W6 000201840.3序号检定项目主要检定器具检定类别首次 检定后续 检定使用中 检查1外观+2各部分相互作用+3测量头工作面的曲率半径半径样板MPE： 0.042mm；或工具显微镜MPE： (1+/100) pm； 或投影仪 MPE： (4+L/25) pm+4测量面表面粗糙度表面粗糙度比较样块：Ra对其标称值 的偏离量不应超过+12%-17%+5刻线宽度及宽度差工具显微镜MPE： (1 +L/100) pm+6微分筒锥面棱边至固定套管刻 线面的距离

5、塞尺 MPE： 16|jm或工具显微镜MPE： (1 +L/100) pm+7微分筒锥面的端面与固定套管 毫米刻线的相对位置+8测微头的示值误差测长机示值误差：毫米MPE： (0.6+ L/200) pm；微米MPE： 0.25pm+9测微头锁紧装置锁紧和松开时 的示值变化+10数值漂移+一11细分误差+12示值误差测长机示值误差：分米MPE： (0.5+ L/100) pm；毫米MPE： (0.6+ L/200) pm；微米MPE： 0.25pm+13刚性引起长度尺寸的变化值+14校对用的卡规工作尺寸及两工 作面的平行度卧式光学计MPE： +0. 25pm； 四等量块+注：表中“+表示应检定

6、，表示可以不检定。6. 3检定方法6. 3. 1外观目力观察。各部分相互作用目力观察和试验。测量头工作面的曲率半径用半径样板进行检定，也可以在工具显微镜上或投影仪上与标准圆弧进行比较测 量。测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块检定。刻线宽度及宽度差在工具显微镜上检定，微分筒和固定套管上至少各均匀分布地抽检3条刻线。 取测量结果中的最大值与最小值之差为刻线宽度差检定结果。微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离使用厚度为0.4mm的塞尺用比较法进行检定，检定时应在微分筒转动一周内 不少于3个均匀分布的位置上进行测量，也可以在工具显微镜上进行检定。微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置首先将内

7、径千分尺测量下限调整正确，然后使微分筒锥面的端面与固定套管 任意毫米刻线的右边缘相切，此时读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移 量即为离、压线的检定结果。测微头的示值误差测微头的示值误差在测长机上检定。对于测微头的示值误差范围不超过25mm 的，受检点应均匀分布5点；对于示值范围为50mm的，受检点应均匀分布10点。 测微头受检点的尺寸见表6。表6测微头的受检点mm注：/表示测量下限。测微头示值范围132550受检点尺寸4+2.12J+5. 125. 004+30. 37A+5. 25A+10. 25J+10.12J+35. 00J+7. 37J+15. 37J+15. 004+40.50

8、J+10.504+20. 50A+2Q. 254+45.00J+13.00A+25. 00A+25. 004+50. 006. 3.9测微头锁紧装置锁紧和松开时的示值变化检定时先在测长机头座和尾座的测杆上安装不小于e 8mm的平面测帽，并将 其两测帽的工作面调整平行。被检测微头直接或借助支撑架安置在仪器工作台 上，示值变化由同一受检点在微分筒固定和松开情况下测得值的差值确定。6. 3. 10数值漂移目测观察。在测量范围内的任意位置锁紧测微头，在lh内每隔15min观察1 次，记录实测值，取最大漂移的绝对值最为检定结果。6. 3. 11细分误差对于带有微分筒的数显内径千分尺测量细分误差时，在测量

9、范围任意位置 上，以微分筒刻度为基准，数字显示装置清零，每隔0.04 mm为测量点，共测量 12个点，读取各点数字显示与刻度显示之差为测量结果，取各测量结果中最大值 与最小值之差即为细分误差。6. 3. 12示值误差示值误差在测长机上检定。受检尺寸：首先将测微头对准测量下限，然后将测微头锁紧后分别与每根接 长杆组合，再将测微头与所有接长杆组合。在整个组合尺寸范围内至少选择均匀 分布的三组尺寸，这三组尺寸必须是接长杆数量较多的，而且接长杆尺寸偏差同 向较多的。对于组合尺寸大于200mm的，其支撑点离端面的距离应为组合尺寸的2/9处。 将内径千分尺绕测量轴旋转360 ,每转90测量一次，四次测量的

10、最大示值误 差作为检定结果。其示值误差由内径千分尺组合后的标称尺寸与仪器测得值的差 值确定。例如：被检组合尺寸标称值为300mm,仪器测得值为300.010mm,则组合尺 寸的示值误差=300-300.010=-0.010 (mm)3刚性引起长度尺寸的变化值在测长机上检定。检定时将内径千分尺全部尺寸组合后安装在测长机上，使 两支撑点位于离端面距离为受检尺寸的2/9处，将内径千分尺绕测量轴旋转360。, 每转90。测量一次，再把支撑点移至距离两端面200mm处，以上述同样方法测量。 前后两次测量的示值误差之差为检定结果。4校对用的卡规工作尺寸和两工作面的平行度在卧式光学计上检定。检定时在仪器上安

11、装内测附件，在卡规工作面上5点（如图5所示）的尺寸依次与四等量块和量块附件组合成内尺寸，以比较法检定。工作面中心的尺寸为卡规的工作尺寸；工作面上5点尺寸的最大值与最小值的差 值为两工作面的平行度。工作面距边缘0.5mm处允许有塌边。校对用卡规的工作尺寸与平行度，也可以使用其它相应准确度的仪器检定 （如有争议需要仲裁时，应在卧式光学计上检定）。0.5mm? 0.005mm,测微头示值范围为13mm 25mm 50mm测量范围为（506000）mm的 接杆内径千分尺、单杆式内径千分尺、数显接杆内径千分尺和数显单杆式内径千 分尺（以下不特殊说明统称内径千分尺）的首次检定、后续检定和使用中检查。 2引

12、用文件本规程引用下列文件：GB/T 8177-2004两点内径千分尺GB/T 22093-2008电子数显内径千分尺凡是注明日期的引用文件，仅注日期的版本适用于该规程；凡是不注日期的 引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规程。3概述内径千分尺主要用于测量工件的内径、槽宽和两个内表面之间的距离。其主 要结构形式分别为接杆内径千分尺（见图1）、单杆内径千分尺（见图2）、数显 接杆内径千分尺（见图3）、数显单杆式内径千分尺（见图4）。123456图1接杆内径千分尺示意图1固定测头；2接长杆；3锁紧装置；4固定套管；5微分筒；6可调测头12345图2单杆内径千分尺示意图1固定测头；2锁紧装

13、置；3固定套管；4微分筒；5可调测头000.000noon图3数显接杆内径千分尺示意图1 一固定测头；2接长杆；3电子数显装置；4锁紧装置；5固定套管；6-微分筒；7可调测头000.000000.000noon图4数显单杆内径千分尺示意图1固定测头；2电子数显装置；3锁紧装置；4固定套管；5微分筒；6可调测头4计量性能要求测量头工作面的曲率半径内径千分尺测量头工作面的曲率半径，应不大于内径千分尺测量下限的50%。4.1 测量面的表面粗糙度两测量头测量面的表面粗糙度凡应不大于刻线宽度及宽度差对微分筒固定套管直径不超过16mm的，固定套管上的纵刻线和微分筒上的刻 线宽度为(0.100.20) mm

14、,刻线宽度差应不大于0.03mm；固定套管直径大于16mm 的，固定套管上的纵刻线和微分筒上的刻线宽度为。150.25)mm,刻线宽度差 应不大于0.05mm。4.2 微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.40mm。4.3 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当测量下限调整正确后，微分筒的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒 锥面的端面与固定套管刻线的右边缘应相切；若不相切，压线应不大于0.05mm, 离线应不大于0.10mm。4.4 测微头的示值误差测微头的示值误差，对于尺寸至125mm的应不超过6|iim,对于尺寸大于 125mm的应不

15、超过8|iim。4.5 测微头锁紧装置锁紧和松开时的示值变化当测微头锁紧装置锁紧和松开时，引起的示值变化应不大于2Rm。4.6 数值漂移数显内径千分尺的数字漂移在lh内应不大于1个分辨力。4.7 细分误差电子数显装置的细分误差应不大于0. 002mmo4.8 示值误差内径千分尺的示值误差应符合表1的规定。表1 示值误差mm尺寸范围L示值误差尺寸范围L示值误差L W500. 004500 L W8000.01650 L 1000. 005800 L 1 2500. 022100 L W1500. 0061 250 L W1 6000. 027150 L W2000.0071 600 L W2 0

16、000. 032200 L W2500. 0082 000 L W2 5000. 040250 L W3000. 0092 500 L W3 0000. 050300 L W3500.0103 000 L W4 0000. 060350 L W4000. 0114 000 L W5 0000. 072400 L W4500.0125 000 L W6 0000. 090450 L W5000.0134.9 刚性引起长度尺寸的变化值对于测量上限大于1600mm的内径千分尺，当支撑点处于离端面200mm和支撑 点处于离端面距离为内径千分尺长度的2/9处时，两次测得的尺寸差值应符合表2 的规定。表2刚性引起长度尺寸的允许变化值mm尺寸范围力尺寸变化值尺寸范围七尺寸变化值1 600 L 2 0000.0103 000 L 4 0000. 0402 000 L W2 5000.0154 000 L 5 0000. 0602 500 L W3 0000. 0255 000 L W6 0000. 080